KR0154157B1 - 반도체 소자의 부스트랩 회로 - Google Patents
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Abstract
본 발명의 저전위를 갖는 전원전압으로 반도체 소자를 구동하는 경우에 부스트랩 회로의 출력단인 부스트랩 노드가 충분히 부스트랩되지 못하는 것을 방지하기 위하여, 프리차지 동작시에 부스트랩 노드에 전원전압의 전위를 그대로 전달할 수 있도록 부스트랩 감지부와 전하 공급부를 포함시켜 구현한 부스트랩 회로에 관한 기술이다.
Description
제1도는 종래의 부스트랩 회로를 데이터 출력버퍼에 적용한 예를 도시한 회로도.
제2도는 본 발명에 의한 부스트랩 회로를 데이터 출력버퍼에 적용한 실시예도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
11 : 부스트랩 감지부 12 : 전하 공급부
13 : 부스트랩 회로
본 발명은 특정 노드의 전위를 전원전압 보다 훨씬 높은 전위로 승압시키는 부스트랩(bootstrap) 회로에 관한 것으로, 보다 상세하게는 프리차지 동작시에 부스트랩 노드에 전원전압의 전위를 그대로 전달할 수 있도록 부스트랩 감지부와 전하 공급부를 포함시켜 구현한 반도체 소자의 부스트랩 회로에 관한 것이다.
일반적으로, 부스트랩 회로에서 승압된 전압은 워드선(word line) 및 엔모스(NMOS)형 구동 트랜지스터(transistor)를 포함하는 데이타 출력 버퍼(data output buffer)의 풀-업 구동단(pull-up driver)을 구동하는데에 사용되어 소자의 고속 동작과 신뢰성을 향상시키게 된다.
이하, 데이타 출력버퍼에 부스트랩 회로를 적용한 경우를 예로 들어 부스트랩 회로의 구성과 그 동작을 설명하기로 한다.
제1도는 종래의 부스트랩 회로를 포함하는 데이타 출력버퍼의 한예를 도시한 것이다.
상기 부스트랩 회로는 데이타 출력버퍼의 풀-업 구동회로의 출력인 노드(N1)의 신호를 입력으로 하는 반전 게이트(IV1)와 상기 반전 게이트(IV1)의 출력노드에 드레인과 소오스가 연결되며 게이트가 부스트랩 노드(BT)에 접속된 부스트랩 캐패시터(MC1)로 이루어진 부스트랩 구동단과, 다이오드 구조로 전원 전압과 노드(BT) 사이에 접속된 엔모오스형 트랜지스터(MN2)와, 노드(BT)와 풀-업 구동 트랜지스터(MPU)의 게이트인 풀-업 노드(PU) 사이에 접속되며 게이트가 노드(N1)에 연결된 피모스형 트랜지스터(MP3)와, 로우 데이타 출력시와 스탠바이(standby) 동작시에 상기 풀-업 노드(PU)를 로우 상태로 유지시키기 위해 풀-업 노드(PU)와 접지전압 사이에 접속된 엔모스형 트랜지스터(MN3)로 구성된다.
그 동작은, 데이타 출력버퍼의 데이타 출력단(Dout)으로 하이 데이타를 출력하는 경우에 인에어블된 출력버퍼 동작 신호(OE)와 하이 상태로 인가된 데이타 신호(RD)에 의해 노드(N1)가 하이 상태에서 로우 상태로 천이하면 상기 엔모스형 트랜지스터(MN3)가 디에이블되고 상기 피모스형 트랜지스터(MP3)가 턴-온되며, 이어서 반전 게이트(IV1)의 출력노드가 로우 상태에서 하이 상태로 천이함으로써 초기에 전원전압 보다 트랜지스터(MN2)의 문턱전압 만큼 낮은 전위를 유지하던 부스트랩 노드(BT)가 전원전압 보다 높은 부스트랩 전위로 승압되고, 승압된 전위는 풀-업 노드(PU)로 전달되어 풀-업 구동 트랜지스터(MPU)를 동작시키게 된다.
로우 데이타를 데이타 출력단(Dout)으로 출력하는 경우는 상기와 반대의 동작으로 트랜지스터(MN3)가 턴-온되어 풀-업 노드(PU)를 로우 상태로 천이시킴으로써, 풀-업 구동 트랜지스터(MPU)는 턴-오프되고 대신 풀-다운 구동단의 동작으로 턴-온된 풀-다운 구동 트랜지스터(MPD)에 의해 데이타 출력단(Dout)에 로우 데이타가 출력된다.
상기에서 부스트랩되는 전위는 부스트랩 캐패시터(MC1)의 크기로 조정할 수 있다.
그러나, 낮은 전원전압으로 동작하는 소자에서 하이 데이타를 출력하는 경우에 셀 데이타가 전달된 데이타선(RD)에 짧은 순간 로우 상태로 변화하는 노이즈가 발생하게 되면 부스트랩 노드의 전위가 전원전압 이하로 강압된 후에 다시 부스트랩되므로 데이타 출력버퍼의 풀-업 노드(PU)에 고전위를 전달하는 부스트랩 노드가 충분히 높은 전위까지 부스트랩되지 못하여, 노이즈 이후에 출력되는 하이 데이타는 원하는 만큼 충분히 높은 하이 전위(VOH)를 데이타 출력단으로 전달하지 못하는 문제가 발생한다.
따라서, 본 발명에서는 저전위의 전원전압에서 동작하는 소자에 노이즈가 발생하더라도 부스트랩 노드가 충분히 높은 전위로 부스트랩될 수 있도록 하기 위하여, 부스트랩 회로가 동작하지 않는 프리차지 동안에 부스트랩 노드를 전원전압의 전위로 유지하도록 한 부스트랩 회로를 제공함을 그 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 부스트랩 제어신호에 의해 동작하며 부스트랩 노드의 전위를 부스트랩시키는 부스트랩 구동단을 구비한 반도체 소자의 부스트랩 회로에 있어서,
상기 부스트랩 제어신호에 따라 부스트랩 감지신호를 출력하는 부스트랩 감지부와, 이 부스트랩 감지부의 출력에 의해 제어되고 프리차지 동작시 상기 부스트랩 노드를 전압전압의 전위로 프리차지시키는 전하 공급부를 포함한 부스트랩 회로가 제공된다.
제2도는 본 발명에 의한 부스트랩 회로를 데이타 출력버퍼에 적용한 실시예로서, 본 발명의 실시예의 부스트랩 회로(13)는 부스트랩 제어신호를 입력받아 부스트랩 감지신호를 출력하는 부스트랩 감지부(11)와, 이 부스트랩 감지부(11)의 출력에 의해 제어되고 프리차지 동작시 상기 부스트랩 노드에 전원전압을 전달하는 전하 공급부(12)를 구비한다.
상기 부스트랩 감지부(11)는 공통노드(N2)와 접지전압 사이에 접속되며 게이트가 노드(N1)의 신호에 의해 제어되는 엔모스형 트랜지스터(MN1)와, 상기 공동노드(N2)와 부스트랩 노드(BT) 사이에 접속되고 게이트가 상기 엔모스형 트랜지스터(MN1)의 게이트와 연결되며 상기 노드(N1)의 신호에 의해 제어되는 피모스형 트랜지스터(MP1)로 이루어진다.
상기 전하 공급부(12)는 전원전압과 노드(BT) 사이에 접속되며 게이트가 상기 노드(N2)의 신호에 의해 제어되는 피모스형 트랜지스터(MP2)로 구성된다.
제2도를 참조하여 그 동작을 살펴보면, 우선 데이타 출력버퍼가 디스에이블되어 있는 스탠바이 동작시에 데이타 출력버퍼 동작신호(OE)가 디스에이블된 로우 상태를 유지하고 있으면 노드(N1)는 하이 상태가 되어 트랜지스터(MN1)를 턴-온시킴으로써 노드(N2)는 로우 상태가 되고, 로우 상태의 노드(N2)에 의해 트랜지스터(MP2)가 턴-온되어 부스트랩 노드(BT)에 전원전압을 전달한다. 상기에서 노드(N1)가 하이 상태이므로 트랜지스터(MP3)는 턴-오프, 트랜지스터(MN3)는 턴-온되어 풀-업 노드(PU)가 로우 상태를 갖게 되므로 풀-업 구동 트랜지스터(MPU)가 턴-오프된다.
이때, 풀-다운 구동 트랜지스터(MPD)도 데이타 출력버퍼 동작신호(OE)가 디스에이블되어 있으므로 턴--오프되어 있다.
데이타 출력버퍼가 동작하는 액티브(active) 동작시에 데이타 출력단(Dout)으로 하이 데이타를 출력하는 경우는, 데이타선(RD)에 하이 상태가 전달된 후에 데이타 출력버퍼 동작신호(OE)가 하이 상태로 인에이블되면 노드(N1)가 로우 상태가 되고 이에 트랜지스터(MN1)와 트랜지스터(MN3)는 턴-오프된다. 트랜지스터(MP1)는 로우 상태인 노드(N1)에 의해 턴-온되고 이에 노드(N2)는 부스트랩 노드(BT)와 연결되어 동일한 전위를 유지하게 되므로 트랜지스터(MP2)는 턴-오프된다. 또한, 트랜지스터(MP3)가 턴-온되어 노드(BT)는 풀-업노드(PU)에 연결되고 반전 게이트(IV1)에 의해 드레인과 소오스의 접속노드로 하이 상태가 전달되면 부스트랩 캐패시터(MC1)는 노드(BT)를 높은 전위로 부스트랩시킨다. 노드(BT)가 높은 전위로 부스트랩되므로 노드(N2)도 노드(BT)와 동일한 전위가 되며 턴-온되어 있는 트랜지스터(MP3)에 의해 풀-업 노드(PU)도 부스트랩 노드(BT)와 동일한 전위가 되고, 이것에 의해 풀-업 구동 트랜지스터(MPU)가 턴-온되어 데이타 출력단(Dout)으로 하이 데이타가 출력된다.
데이타 출력버퍼 동작신호(OE)가 하이 상태로 인에이블된 상태에서 데이타선(RD)이 로우 상태로 천이하면 노드(N1)가 하이 상태로 천이하므로 트랜지스터(MP3)는 턴-오프되고 트랜지스터(MN3)가 턴-온되어 풀-업 노드(PU)는 로우 상태로 천이한다. 노드(N1)가 하이 상태로 천이하므로 트랜지스터(MN1)가 턴-온, 트랜지스터(MP1)가 턴-오프되어 노드(N2)는 로우 상태로 된다. 노드(N2)가 로우 상태로 되므로 트랜지스터(MP2)가 턴-온되어 부스트랩 노드(BT)로는 다시 전원전압이 전달되며, 풀-업 노드(PU)가 로우 상태로 천이하므로 풀-업 구동 트랜지스터(MPU)는 턴-오프된다.
즉, 본 발명의 부스트랩 회로를 사용하게 되면 하이 데이타를 출력하는 데이타 출력하는 데이타 출력버퍼의 데이타선(RD)에 짧은 시간 동안 로우 상태를 갖는 노이즈가 발생하더라도 부스트랩 노드(BT)가 전원전압 이하로 강압되지 않기 때문에 다시 부스트랩될 경우에 충분히 높은 전위로 부스트랩되어 풀-업 구동 트랜지스터를 구동할 수 있으므로, 데이타 출력단에 충분히 높은 하이 전위(VOH)를 전달 할 수 있다.
본 발명에 의한 부스트랩 회로는 데이타 출력버퍼 뿐만 아니라, 전원전압 보다 높은 전위를 필요로 하는 다른 회로 - 예를 들어, 엔모스형 전달 트랜지스터로 구현된 셀의 워드선에 전원전압 보다 높은 전위를 전달하기 위한 고전압 발생회로 - 에도 적용될 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명의 부스트랩 회로를 반도체 소자 내부에 구현하게 되면 낮은 전위를 갖는 전원전압에서 소자 내부에 노이즈가 발생하여 부스트랩 회로로 인가되는 신호에 노이즈가 전달되더라도 부스트랩 노드를 충분히 높은 전위로 부스트랩시킬 수 있으므로, 부스트랩 회로를 포함하는 회로가 안정되게 동작하여 칩의 안정화를 이루는 효과가 있다.
Claims (3)
- 부스트랩 제어신호에 의해 동작하며 부스트랩 노드의 전위를 부스트랩시키는 부스트랩 구동단을 구비한 반도체 소자의 부스트랩 회로에 있어서, 상기 부스트랩 제어신호에 따라 부스트랩 감지신호를 출력하는 부스트랩 감지부와, 상기 부스트랩 감지부의 출력에 의해 제어되고 프리차지 동작시 상기 부스트랩 노드를 전원전압의 전위로 프리차지시키는 전하 공급부를 포함하는 것을 특징으로 하는 부스트랩 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 부스트랩 감지부는 상기 부스트랩 제어신호단과 접지전압단 사이에 접속되며 게이트가 상기 부스트랩 제어신호에 의해 제어되는 엔모스형 트랜지스터와, 상기 부스트랩 제어신호단과 상기 부스트랩 노드 사이에 접속되면서 게이트는 상기 앤모스형 트랜지스터의 게이트에 접속되어 상기 부스트랩 제어신호에 의해 스위칭제어되는 피모스형 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 부스트랩 회로.
- 제1항에 있어서, 상기 전하 공급부는 상기 전원전압단과 상기 부스트랩 노드 사이에 접속되며 게이트가 상기 부스트랩 감지부의 출력에 의해 제어되는 피모스형 트랜지스터를 구비하는 것을 특징으로 하는 부스트랩 회로.
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Families Citing this family (33)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6072353A (en) * | 1995-04-26 | 2000-06-06 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Logic circuit with overdriven off-state switching |
US5723994A (en) * | 1996-06-10 | 1998-03-03 | Etron Technology, Inc. | Level boost restoration circuit |
TW361010B (en) * | 1996-09-30 | 1999-06-11 | Hitachi Ltd | Semiconductor device |
US5767729A (en) * | 1996-10-31 | 1998-06-16 | Integrated Silicon Solution Inc. | Distribution charge pump for nonvolatile memory device |
TW344131B (en) * | 1997-06-03 | 1998-11-01 | Nat Science Council | A 1.5V bootstrapped all-N-logic true-single-phase CMOS dynamic logic circuit suitable for low supply voltage and high speed pipelined |
KR100266901B1 (ko) * | 1997-09-04 | 2000-10-02 | 윤종용 | 내부 전원 전압 발생 회로 및 그것을 이용한 반도체 메모리 장치 |
US5952851A (en) * | 1997-09-16 | 1999-09-14 | Programmable Microelectronics Corporation | Boosted voltage driver |
US5945872A (en) * | 1997-11-06 | 1999-08-31 | Analog Devices, Inc. | Two-phase boosted CMOS switch drive technique and circuit |
US6118326A (en) * | 1997-11-06 | 2000-09-12 | Analog Devices, Inc. | Two-phase bootstrapped CMOS switch drive technique and circuit |
GB2332793A (en) * | 1997-12-24 | 1999-06-30 | Ericsson Telefon Ab L M | Voltage doubling circuit for MOS transistor gate drive |
US6133748A (en) * | 1998-03-06 | 2000-10-17 | Vanguard International Semiconductor Corp | Crow-bar current reduction circuit |
US6069516A (en) * | 1998-04-28 | 2000-05-30 | Maxim Integrated Products, Inc. | Compact voltage biasing circuitry for enhancement of power MOSFET |
US6066977A (en) * | 1998-05-21 | 2000-05-23 | Lattice Semiconductor Corporation | Programmable output voltage levels |
KR100542946B1 (ko) * | 1998-10-28 | 2006-09-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 부트스트랩 회로 |
US6141263A (en) * | 1999-03-01 | 2000-10-31 | Micron Technology, Inc. | Circuit and method for a high data transfer rate output driver |
JP4354056B2 (ja) * | 1999-10-12 | 2009-10-28 | 株式会社 沖マイクロデザイン | 半導体集積回路 |
US6294959B1 (en) | 1999-11-12 | 2001-09-25 | Macmillan Bruce E. | Circuit that operates in a manner substantially complementary to an amplifying device included therein and apparatus incorporating same |
JP2002026254A (ja) * | 2000-07-03 | 2002-01-25 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路および不揮発性メモリ |
US7218349B2 (en) * | 2001-08-09 | 2007-05-15 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
KR100495854B1 (ko) * | 2002-07-11 | 2005-06-16 | 주식회사 하이닉스반도체 | 부스팅 회로 |
US7053692B2 (en) * | 2002-12-19 | 2006-05-30 | United Memories, Inc. | Powergate control using boosted and negative voltages |
US6909318B2 (en) * | 2003-01-06 | 2005-06-21 | Texas Instruments Incorporated | CMOS voltage booster circuit |
US6864738B2 (en) * | 2003-01-06 | 2005-03-08 | Texas Instruments Incorporated | CMOS voltage booster circuits |
US7233194B2 (en) * | 2003-01-06 | 2007-06-19 | Texas Instruments Incorporated | CMOS voltage booster circuits |
DE10357785B3 (de) * | 2003-12-10 | 2005-05-04 | Infineon Technologies Ag | SC-Schaltungsanordnung |
JP4727261B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2011-07-20 | 三菱電機株式会社 | 分周回路、電源回路及び表示装置 |
WO2007034384A2 (en) * | 2005-09-20 | 2007-03-29 | Nxp B.V. | Single threshold and single conductivity type logic |
US20070146020A1 (en) * | 2005-11-29 | 2007-06-28 | Advanced Analogic Technologies, Inc | High Frequency Power MESFET Gate Drive Circuits |
US7592858B1 (en) * | 2008-04-15 | 2009-09-22 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Circuit and method for a gate control circuit with reduced voltage stress |
ITMI20120650A1 (it) * | 2012-04-19 | 2013-10-20 | St Microelectronics Srl | Interruttore elettronico per applicazioni a bassa tensione ed elevate velocita' di commutazione |
US20160283243A1 (en) * | 2015-03-28 | 2016-09-29 | Yong-Kyu Jung | Branch look-ahead instruction disassembling, assembling, and delivering system apparatus and method for microprocessor system |
WO2017100661A1 (en) | 2015-12-11 | 2017-06-15 | Freebird Semiconductor Corporation | A multi-function power control circuit using enhancement mode gallium nitride (gan) high electron mobility transistors (hemts) |
US20240250677A1 (en) * | 2023-01-24 | 2024-07-25 | Blue Cheetah Analog Design Inc. | Data communication link with capacitor-based pumped output |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4071783A (en) * | 1976-11-29 | 1978-01-31 | International Business Machines Corporation | Enhancement/depletion mode field effect transistor driver |
JPS5693422A (en) * | 1979-12-05 | 1981-07-29 | Fujitsu Ltd | Level-up circuit |
DE3031299A1 (de) * | 1980-08-19 | 1982-03-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Treiberstufe fuer eine statische mos-halbleiter-digitalschaltung |
US4772812A (en) * | 1981-07-27 | 1988-09-20 | Data General Corporation | Tri-state output buffer circuit including a capacitor and dynamic depletion mode switching device |
JPS594223A (ja) * | 1982-06-30 | 1984-01-11 | Fujitsu Ltd | クロツク発生回路 |
JPS6320913A (ja) * | 1986-07-14 | 1988-01-28 | Nec Corp | 出力回路 |
KR930003929B1 (ko) * | 1990-08-09 | 1993-05-15 | 삼성전자 주식회사 | 데이타 출력버퍼 |
JP2570984B2 (ja) * | 1993-10-06 | 1997-01-16 | 日本電気株式会社 | 出力回路 |
-
1994
- 1994-04-29 KR KR1019940009309A patent/KR0154157B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1995
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