KR0149024B1 - 전자부품의 유지위치를 광학적으로 검출하기 위한 장치 - Google Patents

Abstract

본 발명의 목적은 전자부품의 크기가 변함에도 불구하고 개선된 신뢰성으로 전자부품의 유지위치를 검출할 수 있는 검출장치를 제공하는데 있다.

상기 목적을 위해 본 발명은 전자부품의 위치를 검출하기 위한 검출장치를 제공한다. 본발명에 따른 검출장치에서 부품은 유지구에 의해서 유지되며, 검출장치는 전자부품의 근방쪽으로 제1빛을 방사하는 제1발광체, 상기 제1빛을 흡수하며, 상기전자부품쪽으로 상기 제1빛과 다른 파장을 가진 제2빛을 방사하는 제2발광체, 및 상기 제1빛은 감광하지 않으며, 상기 제2빛에 의해서 형성된 전자부품의 투영상을 수용하며, 제2발광체로부터 멀리 떨어진 전자부품의 대향면들중의 하나에 배치된 광전자부재를 포함한다.

Description

전자부품의 유지위치를 광학적으로 검출하기 위한 장치

제1도는 본 발명에 따라서 검출장치의 실시예 1를 포함하는 전자부품을 유지하기 위한 유지장치를 도시한 부분단면 정면도.

제2도는 제1도의 검출장치에서 사용되는 제2 발광체의 또다른 형태를 도시한 정면도.

제3도는 본 발명에 따라서 검출장치의 다른 실시예를 포함하는 전자부품 유지장치를 도시한 부분단면 정면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

66, 100, 106 : 제2 발광체 78, 112 : 유지부재

80 : 전자부품 84 : 광전자부재

90, 104 : 제1 발광체

본 발명은 전자부품에 빛을 방사하여 전자 부품의 투영상(投影像)을 촬영함에 의해 유지부재에 대한 전자부품의 위치를 검출하는 검출장치에 관한 것이다.

더욱 상세히는 본 발명은 간단하고 정확한 검출을 위한 검출장치의 개량에 관한 것이다.

상기와 같은 유형의 검출장치는 종래에 알려져 있다. 이러한 검출장치의 일예는 일본공개 특허출원 제 60-28298호에 개시되어 있는데, 여기에서 발광체는 빛을 반사판에 방사하여 빛이 반사판에 의해서 전자부품쪽으로 반사되고, 그리고 전자부품의 투영상을 제공하도록 촬영장치(charge-coupled device) 에 의해서 수용된다. 이러한 유형의 장치에서, 반사판과 촬영장치는 전자부품의 대향면에 배치되는 한편, 발광체는 반사판쪽으로 빛을 방사하도록 촬영장치와 동일한 면에 배치되어 있다. 이러한 배치에서, 발광체로 부터 방사된 빛이 전자부품에 직접 투사되고 반사되어 그 반사광이 촬영장치에 의해 수용되면, 전자부품의 투영상에 밝은 부분이 발생하여 명료한 투영상이 얻어지지 않으므로 검출 정밀도를 저하시킨다. 이러한 단점을 피하기 위해, 전자부품에는 발광체로부터 방사된 빛이 부품에 직접 투사되는 것을 방지하기 위해서 차폐판이 구비되어 있다.

하지만, 장치에 의해서 유지되는 전자부품의 크기가 변한다면, 전자부품을 차폐하기 위한 차폐판은 부품의 크기에 따라서 다른 것으로 교환되어야만 한다. 이점에 관해서, 전자부품이 투영상을 제공하기 위해 반사판에 의하여 반사된 빛에 노출될 때, 차폐판은 발광체로부터 방사된 빛에 전자부품이 직접 노출되는 것을 방지하고, 부품 유지구에 충분히 가까운 반사판의 부분에 빛이 부딪히는 것을 허용하여, 반사판이 부품의 가장자리 밖의 둘러싸는 부분 및 전자부품의 아웃라인내에 놓여있는 부분에서도 빛을 반사할 수 있게 할 필요가 있다.

이러한 요구는 전자부품의 크기가 작아짐에 따라 증가한다. 비교적 큰 전자부품용으로 적합한 차폐판이 비교적 작은 부품을 차폐하기 위해서 사용될 때, 부품 유지구로부터 멀리 떨어진, 반사판의 위치에 발광체로부터의 빛이 방사되어 반사판에 의해서 반사된 빛이 불충분한 양이 된다. 한편, 비교적 작은 전자 부품에 적합한 차폐판이 비교적 큰 부품을 차폐하기 위해 사용될 때, 차폐판은 발광체로부터 방사된 빛에 전자부품의 직접노출을 충분히 방지할 수가 없다. 이러한 이유로, 전자부품의 각각의 크기에 적합한 차폐판을 제공하는 것이 필요하고 이것은 검출장치의 원가를 증가시키며, 여러종류의 차폐판을 필요로 한다. 더욱이, 전자부품의 크기가 변할때마다 차폐판을 바꾸는 성가신 절차를 거쳐야 한다.

본 발명의 목적은 전자부품의 크기가 변함에도 불구하고 개선된 신뢰성으로 전자부품의 유지위치를 검출할 수 있는 검출장치를 제공하는데 있다.

상기 목적은 본 발명의 원리에 따라서 달성되며, 본발명은 전자부품의 위치를 검출하기 위한 검출장치를 제공한다. 본발명에서 따른 검출장치에서 부품은 유지구에 의해서 유지되며, 검출장치는 전자부품의 근방쪽으로 제1 빛을 방사하는 제1 발광체, 상기 제1빛을 흡수하며, 상기 전자부품쪽으로 상기 제1 빛과 다른 파장을 가진 제2 빛을 방사하는 상기 유지구의 근방에 배치된 제2 발광체, 및 상기 제1 빛은 감광하지 않으며, 상기 제2 빛에 의해서 형성된 전자부품의 투영상을 수용하며, 제2 발광체로부터 멀리 떨어진 전자부품의 대향면들중의 하나에 배치된 광전자 부재를 포함한다.

상기에서 지적한 제1 및 제2 빛은 가시광선뿐만 아니라 적외선, 자외선, X선, γ선 등과 같은 다른종류의 빛도 포함된다. 예를 들면, 제1 빛은 자외선으로 구성되는 한편 제2 빛은 가시광선으로 구성된다. 대안으로서, 제1 및 제2 빛은 각각 다른 파장을 갖춘 가시광선을 구성된다.

상기에서 언급한 바와같이 구성된 검출장치에서, 광전자 부재는 제2 발광체에 의해서 방사된 제2 빛을 기초로 전자부품의 투영상을 만들도록 채택되었다. 상기 광전자 부재가 제1 발광체에 의해서 방사된 제1 빛을 감광하지 않으므로, 광전자 부재가 전자부품 또는 유지장치의 주변부분에 의해서 반사된 제1 빛에 노출될지라도, 또는 제1 빛이 직접 광전자 부재에 도달할지라도, 제1 빛에 의해서 영향을 받지 않는다. 그러므로, 전자부품의 선명한 투영상을 얻을 수 있다.

상기에서 설명한 바와같이, 본 발명에 따른 검출장치는 제1 발광체로부터의 제1 빛이 전자부품의 투영상에 영향을 미치지 않으므로 전자부품을 차폐하기 위하여 종래에 사용된 차폐판의 대체 또는 설비가 필요치 않게 되었다. 그러므로, 본 검출 장치는 부품이 유지구에 의해서 유지되는 전자부품의 유지위치를 용이하게 그리고 정확하게 검출할 수 있게 된다.

본 발명의 상기 및 선택적인 목적, 특징 그리고 장점은 첨부된 도면을 참조하여 다음의 바람직한 실시예를 이해함으로서 더욱 잘 이해될 것이다.

제1도를 참조하면, 프린트 기판에 전자부품을 위치시키도록 전자부품을 유지하기 위한 유지장치가 예시되어 있다. 제1도에서, 8은 프레임을 나타내며, X-Y 테이블(10)이 부착되어 있어서 X-Y 테이블(10)은 서로 직각으로 교차하는 X, Y 방향에서 수평면으로 이동가능하다. X-Y 테이블(10)은 서보모우터(servomotor) 또는 다른 구동시스템에 의해서 구동되어 수평면내의 임의의 위치로 고정밀도로 위치된다. 또한 X-Y 테이블(10)은 구동시스템(도시하지 않음)에 의해서수직방향으로 움직이는 선형 슬라이드(12)가 구비되어 있다. 수평방향으로 하부끝 부분으로부터 뻗어있는 아암부분(16)을 갖춘 유지구(14)가 선형 슬라이드(12)에 고정되어 있다. 원통형부재(18)는 슬리브(20)를 통해서 유지구(14)의 아암부분(16)에 의해서 지지되어, 원통형부재(18)는 아암부분(16)의 연장방향과 수직인 수직축선에 대하여 회전 가능하다.

원통형 부재(18)는 단차형상을 취하고 있는데, 말하자면 소직경 부분(26)과 대직경부분(28)으로 구성되어 있다. 원통형부분(18)의 소직경 부분(26)은 슬리브(20)의 내부표면과 맞물려 원통형부재(18)의 슬리그(20)에 대하여 축선방향으로 미끄럼 이동가능하게 되어 있다. 동시에, 원통형 부재(18)는 대직경부분(28)에 형성된 결합구멍(30)과 슬리브(20)의 상부끝면에 구비된 결합 돌출부(32)와의 사이에서 결합으로 인하여 슬리브(20)에 대하여 회전이 방지된다. 더욱이, 원통형 부재(18)는 전체적인 축선길이상에 방사형으로 중앙부분을 통해서 형성된 공기통로(34)와, 원통형부재(18)의 상부끝면에 고정된 너트(36)를 갖추고 있다. 커넥터(40)는 진공고무호스(38)와 연결을 위하여 너트(36)에 나사식으로 맞물려 있어서, 원통형 부재(18)는 너트(36), 커넥터(40), 진공호스(38)를 통해서 진공원(도시하지 않음)과 연결되어 있다. 슬리브(20)로부터 돌출한 원통형 부재(18)의 하부부분과 슬리브(20)와의 사이에서, 슬리브(20)의 상부끝면과 접촉하는 원통형부재(18)의 대직경부분(28)을 유지하도록 압축코일스프링(46)이 제공되어 있다.

유지장치는 아암부분(16)으로부터 상향으로 돌출한 상부끝부분에서 슬리브(20)의 부분으로서 형성된 대직경기어(50)와 대직경기어(50)와 맞물리며 아암부분(16)에 의해서 외전식으로 지지된 소직경기어(52)를 포함하고 있다. 소직경기어(52)는 중간기어(54)에 고정되어 있는데, 이것은 구동기어(58)와 맞물려 있다. 작용시에, 구동기어(58)는 브래킷(bracket)(59)에 의해서 선형슬라이드(12)에 부착된 서보모우터(60)에 의해서 회전한다. 결과적으로, 슬리브(20)와 일체로 된 대직경기어(50)는 중간기어(54)와 소직경기어(52)를 통하여 구동기어(58)에 의해서 회전하며, 이어서 슬리브(20)는 원통형 부재(18)와 함께 회전한다. 원통형부재(18)는 슬리브(20)로부터 하향으로 돌출한 하부끝 부분에 형성된 외부플랜지(64)를 갖추고 있다. 빛 방사판(66)이 스크류(68)에 의해서 외부 플랜지(64)의 하부표면에 체결되어 있다. 빛 방사판(66)은 외부플랜지(64)에 고정된 몸체(70)와 형광페인트로 몸체(70)의 하부 표면에 코팅함으로서 형성된 빛 방사층(72)을 포함하고 있다. 빛 방사판(66)은 두께방향으로 형성된 공기통로(74)를 갖추고 있어서, 공기통로(74)는 원통형부재(18)를 통하여 형성된 공기통로(34)와 동심이다. 공기통로(74)는 빛 방사층(72)의 표면의 중앙부분에서 한끝이 개방되어 있고, 공기통로(34)를 통하여 진공원에 다른 끝이 연결되어 있다. 유지장치는 빛 방사층(72)의 표면에서 개방된 공기통로(74)의 한끝에 압입 끼움된 내마모성이 우수한 금속제 흡입튜우브(78)를 더 갖추고 있다. 흡입튜우브(78)는 유지장치에 의해서 지지되는 전자부품(80)의 단면보다 작은 단면적을 갖추고 있다. 흡입튜우브(78)는 형광페인트로 코팅된 외주표면을 갖추고 있으며, 이것에 의해 빛 방사판(66)의 몸체(70)상에 형성된 빛 방사판(72)으로부터 뻗어 있는 빛 방사판(82)을 형성한다. 작동중에, 흡입 튜우브(78)는 진공원의 전자(電磁)방향 제어밸브의 변환작용에 따라서 전자부품(80)을 흡입 또는 방출한다.

빛 방사판(66)은 흡입튜우브(78)에 의해서 공기의 흡입하에 유지되는 전자부품(80)의 위치를 검출하기 위한 검출장치의 부분이다. 검출장치는 프레임(8) 에 부착된 촬영장치(84 : CCD)의 형태로 광전자부재를 더 포하하고 있다. 촬영장치(84)는 렌즈(86)와 카메라(88)를 갖추고 있으며, 및 방사판(66)과 면하도록 배치되어, 흡입튜우브(78)에 의해서 유지되는 전자부품(80)은 흡입튜우브(78)가 촬영장치(84) 상의 바로 위에 위치할때 촬영장치(84)와 판(66)과의 사이에 삽입배치된다. 촬영장치(84)의 렌즈(86) 주변에, 제1 발광체가 링램프(90)의 형태로 배치되며, 브래킷(도시하지 않음)을 통해서 프레임(8)에 부착되어 있다. 링 램프(90)는 자외선인 제1 빛을 발생하도록 채택되었다. 빛 방사판(66)과 면해 있는 링 램프(90)의 대향면의 한쪽에서 자외선만이 투과 되도록 상기에서 언급한 브래킷에 의해서 지지된 환형 제1 필터(92)가 배치되어 있다. 이러한 배열에서, 빛 방사판(66)은 링 램프(90)에 의해서 발생하여 제1 필터(92)를 통해서 투과되는 자외선에만 노출된다. 형광페인트의 형태로 된 판(66)의 빛 방사층(72, 82)은 자외선에 노출됨에 따라 가시광선을 방사하고, 자외선을 흡수할 수 있다. 말하자면, 빛방사판(66)이 노출되는, 투사되는 빛의 파장은 빛 방사판(66)에 의해서 방사되는 빛 파장과는 다르다. 촬영자치(84)는 전자부품(80)과 면하도록 렌즈(86)와 인접한 그리고 필터(92)내에 배치된, 그리고 제1 필터(92)를 지지하는 브래킷에 의해서 지지되는 제2 필터(94)를 더 포함하고 있다. 상기 제2 필터(94)는 가시광선이 투과되는 것을 허용하고 자외선을 흡수하도록 채택되었다. 그러므로, 촬영장치(84)는 빛 방사층(72, 82)에 의헤서 방사되는 가시광선만을 수용한다.

상기에서 언급한 바와같이 구성된 유지장치는 잘 알려진 부품공급장치로부터 전자부품(80)을 픽엎하도록 작동되며 부품(80)을 프린트기판상에 위치시킨다. 촬영장치(84)는 유지장치가 전자부품(80)을 픽엎(pickup)하는 위치와 전자부품(80)이 프린트 기판상에 놓이는 위치와의 사이에 배치되어, 유지장치에 의해서 유지되는 전자부품(80)의 위치는 촬영장치(84)에 의해서 검출된다. 전자부품(80)은 후술하는 방식으로 부품(80)의 유지위치에서 어떤 실수가 수정된 후에 프린트 기판상에 위치하게 된다.

유지장치가 전자부품(80)을 공급장치로부터 픽엎할 때, 흡입튜우브(78)는 프린트 기판에 설치될 전자부품(80)상에 정확히 위치하며, 선형 슬라이드(12)는 흡입튜우브(78)를 전자부품(80)의 상부표면과 접촉하도록 하강시킨다. 흡입튜우브(78)가 부품(80)과 접합한 후 선형 슬라이드(12)가 약간 하강할지라도, 압축코일스프링(46)의 압축으로 인하여 슬리브(20)에 대해 상방향으로 흡입튜우브(78)가 움직일 수 있으므로, 전자부품(80)과 흡입튜우브(78)는 손상되지 않는다. 이러한 상태에서, 흡입튜우브(78)는 전자부품(80)을 흡입하도록 진공원과 연결되어 있다.

계속해서, 선형슬라이드(12)는 상승하고, X-Y 테이블(10)은 흡입튜우브(78)를 촬영장치(84) 바로 위의 위치까지 옮기도록 수평면으로 운동한다. 그리고, 링램프(90)는 단지 자외선만이 빛방사판(66)에 방사하도록 제1 필터(92)를 통해서 투과되는 빛을 발생한다. 결과적으로, 빛 방사판(66)의 빛 방사층(72, 82)은 자외선을 흡수하고 가시광선을 전자부품(80)쪽으로 방사하여, 가시광선이 렌즈(86)를 통과하여, 촬영장치(84)의 고체 전하결합소자에 전자부품(80)의 투영상을 만든다. 이러한 경우에, 링 램프(84)에 의해서 방사된 자외선은 전자부품(80) 및 유지장치의 주변부분을 비추며, 이들 전자부품(80) 및 부분에 의해서 반사된 광선은 촬영장치(84)쪽으로 향한다. 그럼에도 불구하고, 제2 필터(94)가 자외선을 흡수하기 위해 제공되므로, 촬영장치(84)는 전자부품(80)과 장치의 주변성분에 의해서 반사된 링 램프(90)의 자외선에 영향을 받지 않고 빛 방사판(66)에 의해서 방사된 가시광선에 의해서 전자부품(80)의 선명한 상을 만들 수 있다. 촬영장치(84)는 투영상을 적절한 제어장치에 공급되는 2진법 코오드 신호로 전환된다. 제어장치는 2진법 코오드 신호를 전자부품(80)의 정규위치를 나타내는 참조위치신호와 비교하며, 참조위치 신호는 중심(즉, 흡입파이프(78)의 중심선)에 대한 정규위치로부터 전자부품(80)의 각도 또는 회전에러(△θ)와 부품(80)의 중심이 각각 X, Y 방향으로 정규위치로부터 편차된 에러(△X, △Y)를 계산하기 위해서 제어장치의 메모리에 저장된다.

전자부품(80)의 위치가 촬영위치(84)에 의해서 검출된 후, 부품(80)은 부품(80)이 프린트기판에 설치되는 위치로 움직인다. 부품(80)의 설치전에 X-Y위치에러(△X, △Y)는 X-Y 테이블(10)의 수평운동 거리를 조절함으로서 수정되며, 회전에러(△θ)는 적절한 각도로 흡입튜우브(78)를 회전시키도록 서보모우터(60)를 구동함으로서 수정된다. 따라서, 흡입튜우브(78)가 프린트기판상에 전자부품(80)이 놓이는 위치에 위치할 때, 부품(80)과 프린트기판은 서로 적절한 위치관계를 유지하여 부품(80)이 기판에 적절히 설치되게 한다. 이러한 상태에서, 선형 슬라이드(12)는 하강하며, 흡입튜우브(78)에 의해서 유지되는 전자부품(80)은 프린트기판에 대해 밀어지며, 예를 들면 접착에 의해서 소정의 위치에 고정된다. 동시에, 흡입튜우브(78)는 상기에서 지적한 전자방향 제어밸브의 전환조작에 의해서 대기와 통하며, 이것에 의해 전자부품(80)은 흡입튜우브(78)로부터 방출된다. 그러므로, 프린트기판상에 부품(80)의 설치는 흡입튜우브(78)가 기판으로부터 상승할때 이루어진다.

본 실시예의 유지장치에서, 흡입튜우브(78)에 의해서 유지된 전자부품(80)은, 촬영장치(84)측에 배치된 링램프(90)에 의해서 방사된 빛을 기초로 검출된다. 제2 필터(94)가 링램프(90)에 의해서 방사된 그리고 유지장치에 의해서 반사된 빛을 방해하는 작용을 하므로, 촬영장치(84)는 링 램프(90)에 의해서 발생된 반사빛의 수용을 방지한다. 그러므로, 본 검출장치는 링램프(90)의 빛으로부터 전자부품(80)을 차폐하기 위한 차폐판이 필요치 않고, 부품(80)의 선명한 투영상을 얻으며, 쉽고 정확하게 전자부품(80)의 유지위치를 검출할 수 있다.

본 실시예에서, 빛 방사판(66)의 표면과 마찬가지로 흡입튜우브(78)의 외부 주변표면이 가시광선을 방사하기 위하여 빛 방사층(82)을 형성하도록, 형광페인트로 코팅되어 있으므로, 검출장치는 부품(80)의 크기가 상당히 작을지라도 전자부품(80)의 선명한 투영상을 제공할 수 있다.

더욱이, 빛 방사판(66)은, 빛 방사층(72, 82)의 형광페인트를 비추기 위해 링램프(90)에 의해 방사된 자외선에 대응하여 가시광선을 방사하도록 채택되었다. 그러므로, 전원으로부터의 전기공급으로 빛을 발생하는 빛 방사 요소 또는 장치와 달리, 본 검출장치의 빛 방사판(66)은 판(66)과 전원과의 사이에서 전기연결을 위한 전기케이블 또는 다른 동력 연결성분이 필요치 않다. 말하자면, 판(66)이 원통형 부재(18)와 함께 상승 또는 회전될때 전기케이블의 꼬임을 피하기 위해 특별한 설비가 필요치 않다. 그러므로, 본 검출장치는 구조가 간단하게 된다.

더욱이, 본 발명의 부품 검출장치는 빛 방사요소의 복잡함을 갖춘 빛 방사장치를 사용하는 종래의 장치와 비교하여 낮은 가격으로 이용 가능하다.

빛 방사판(66)이 제1도의 실시예에서 몸체(77)와 빛 방사층(72)으로 구성되어 있는 한편, 빛 방사판(66)은 형광페인트를 내포하는 아크릴수지 또는 폴리아세탈수지(즉, 폴리플라스틱(주)로부터의 듀라콘(Duracon), 및 듀퐁(주)로부터 델린(Delin)과 같은 합성수지로 형성된 빛 방사판(100)에 의해서 대체될 수 있다. 빛 방사판(100)용 소재의 일예는 타키론(Takiron)으로부터의 클리어칼라이다.

제1도 및 제2도의 실시예에서, 링 램프(90)는 촬영장치 주위에 배치되어서, 램프(90)는 빛 방사판(66, 100)으로부터 떨어진 전자부품(80)측에 위치해 있다. 하지만, 제3도에 도시한 바와같이 활영장치(84)로부터 떨어진 전자부품(80)의 다른쪽에 링램프(104)를 제공하여도 가능하므로, 링램프(104)는 빛 방사판(106)의 상부표면을 비추도록 하향으로 빛을 방사한다. 상기에서 언급한 링 램프(90)와 동일한 형태의 링램프(104)는 원통형부재(18)주위에 배치되어 브래킷(도시하지 않음)에 의해 지지된다. 상기 수정 실시예에서 채용한 빛 방사판(106)은 원통형부재(18)의 외부플랜지(64)에 부착된 몸체(108)와, 링 램프(104)와 면한 몸체(108)의 상부표면에 형성된 그리고 형광페인트로 구성된 빛 방사층(110)으로 이루어져 있다. 빛 방사판(106)의 몸체(108)는 빛 산란의 특성을 갖춘 반투명 재질로 만들어졌다. 본 실시예에서, 흡입튜우브(112)는 촬영장치(84)와 면한 몸체(108)의 바닥표면에 체결되어 있다. 이런 실시예에서와 같이, 촬영장치(84)는 자외선을 흡수할 수 있고 파장이 자외선과 다른 빛을 투과할 수 있는 필터(114)를 갖추고 있다.

본 수정실시예에서, 빛 방사층(110)은 링램프(104)에 의해서 방사된 자외선을 흡수하고 가시광선을 발생하는 기능을 한다. 빛 방사층(110)에 의해서 방사된 가시광선은 반투명 몸체(108)를 통해서 투과하는 한편, 가시광선이 부품(80)의 투영상을 형성하기 위해 촬영장치(84)에 의해서 수용되도록 산란되어 결과적으로 전자부품(80)을 비춘다. 그러므로, 흡입튜우브(78)에 의해서 유지되는 전자부품(80)의 위치는 검출된다. 링 램프(104)가 촬영장치(84)로부터 떨어진 빛 방사판(106)측에 배치되어 있으므로, 링 램프(104)에 의해 서 방사된 대부분의 자외선은 전자부품(80)의 투영상을 자외선이 영향을 주지 않고 빛 방사층(110)에 의해 흡수된다. 어떤 경우에는, 링램프(104)에 의해서 발생된 자외선이 촬영장치(84)로 향하게 된다. 예를 들면, 링램프(104)의 자외선의 부분은 장치의 주변부분에 부딪히고 촬영장치(84)쪽으로 이들 부분에 의해 반사된다. 빛 방사판(106) 이 더욱 작은 다른 하나에 의해서 대체될 때, 전자부품(80)의 크기가 줄어들면서, 링램프(104)의 빛의 부분은 빛 방사판(106)을 넘어 촬영장치(84)에 도달한다. 이들 경우에서, 대부분의 자외선은 촬영장치(84)에 구비된 필터(114)에 의해서 흡수되며, 전자부품(80)의 투영상은 링램프(104)의 빛에 의해서 덜 영향을 받아서, 본 검출장치의 개선된 감지정밀성을 보장한다.

반투명몸체(108)가 수정된 실시예에서 빛 방사판(108)을 위해 사용되는 한편, 몸체(108)는 투명한 재질로 만들어졌다.

본 실시예에서 자외선과 함께 링램프(104)에 의해서 발생된 가시광선을 흡수하기 위한 필터를 구비하는 것이 가능하다.

제1 발광체가 예시된 실시예에서 전자부품(80) 상하에 배치되는 한편, 전자부품(80)의 측면과 면하도록 배치되거나 또는 전자부품(80)의 좌우측에 또는 상하에 배치 가능하여 제1 발광체는는 예시된 실시예에서 이들(상하방향)과 다른 방향으로 빛을방사한다. 이러한 경우에, 적절한 필터는 제1 발광체가 촬영장치 또는 전자부품을 비춘다면, 제2 발광체에 의해서 방사된 빛과 동일한 파장을 갖춘 빛을 제거하기 위해 구비되어 있다.

제1 발광체는 자외선을 발생하도록 채택된 한편 제2 발광체는 예시된 실시예에서 가시광선을 발생하며, 이들 제1 및 제2 발광체는 자외선과 가시광선과 다른 빛의 파장을 각각 발생한다. 예를 들면, 제1 발광체는 적외선을 발생하는 한편 제2 발광체는 적외선을 흡수하며 가시광선을 발생한다. 제1 및 제2 발광체는 다른 파장을 갖춘 각각의 가시광선을 발생하는 것이 역시 가능하다.

더욱이, 제1 발광체 및 촬영장치용 필터설비는 본 발명의 원리에는 중요치 않다. 더욱이, 제1 발광체용 필터는 제1 발광체가 빛의 특정 파장만을 발생한다면 제거될 수 있다. 촬영장치용 필터는 촬영장치가 제1 발광체에 의해서 방사된 빛을 감광하지 못하고 제2 발광체에 의해서 방사된 빛만을 감광함다면 제거 가능하다.

제2 발광체가 예기한 실시예에서 판의 형태를 취하는 한편, 경사진 관형 또는 어떤 다른 적절한 형태를 취할 수도 있다. 원통형 부재(18)가 수직방향과 다른 방향으로 움직이는 한편 전자부품이 유지장치에 의해서 유지된다면, 제2 발광체는 경사진 자세로 배치되는 것도 가능하다. 이들 경우에서, 제1 발광체는 제2 발광체쪽으로 빛을 발생하도록 향해 있는 제1 발광체를 구비한 링팸프와 다른 적절한 형태를 취할 수 있다. 본 발명에 따라서, 제1 및 제2 발광쳉 의해 방사된 빛이 다른 파장을 갖추고 있으므로, 전자부품의 투영상은 제1 발광체의 빛에 의해서 야기된 악영향을 받지 않는다. 따라서, 제1 발광체는 제2 발광체가 전자부품을 단일하게 충분히 비추는 것을 가능하게 하는 어떤 위치에서 위치해 있다. 본 발명이 전자부품의 대응수는 유지하기 위한 복수의 흡입튜우브를 갖춘 유지장치에서 통합된 검출 장치에 적용되는 경우에, 전자부품의 선명한 투영상을 얻도록 흡입튜우브에 의해서 유지된 모두 전자부품이 제2 발광체의 빛에 의해 단일하게 비추어지도록, 제1 발광체는 어느곳이든 위치 가능하다.

빛 방사판(66, 100,106)이 예시된 실시예에서 흡입튜우브(78, 112)를 유지 또는 지지하도록 채택되어 전자부품(80)은 부품(80)에 상당시 밀접하게 위치해 있는 한편, 빛 방사판은 아암부턴(16)에 고정되거나 또는 흡입튜우브(78, 112)와 다른 적절한 부품에 고정되어 있다.

본 발명이 예시된 실시예의 상세한 설명에 한정되지 않고, 당해기술에 숙련된 자는 첨부된 특허청구의 범위에 한정된 바와같이 본 발명의 범위 및 사상에서 벗어나지 않고 다양한 변화, 수정 및 개선을 가할 수 있다는 것은 이해하여야만 한다.

Claims (15)

1. 유지부재에 의해서 유지되는 전자부품의 위치를 검출하기 위한 검출장치에 있어서, 상기 전자부품(80)의 근방쪽으로 제1 빛을 방사하기 위한 제1 발광체(90, 104) : 상기 제1 빛을 흡수하며, 상기 전자부품쪽으로 상기 제1 빛의 파장과 다른 파장을 가진 제2 빛을 방사하는, 상기 유지부재(78, 112)의 근방에 배치된 제2 발광체(66, 100, 106) : 및 상기 제2 빛에 의해서 형성된 상기 전자부품의 투영상을 수용하며 상기 제1 빛에 감광되지 않고, 상기 제2 발광체로부터 멀리 떨어진 상기 전자부품의 대향면의 한쪽에 배치된 광전자부재(84) :를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 제1 빛은 자외선으로 이루어지며 상기 제2 빛은 가시광선으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 검출장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 제1 빛과 제2 빛은 각각 다른 파장을 갖춘 가시광선인 것을 특징으로 하는 검출장치.
4. 제1항 내지 제3항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제1 발광체는 적어도 상기 유지부재 및 상기 광전자 부재가 서로 동심원 위치관계에 있을때, 상기 유지부재(78, 112) 및 상기 광전자부재(84)와 동심원인 링램프(90, 104)를 포함하는 것을 특징으로 하는 검출장치.
5. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 제2 발광체(66)는 몸체(70), 및 상기 전자부품(80)과 대면하도록 상기 몸체상에 형성된 빛 방사층(72, 82)을 포함하는 것을 특징으로 하는 검출장치.
6. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 유지부재(78)는 자유단에서 개방된 공기 흡입통로(34)를 구비한 흡입튜우브(78)를 포함하며, 상기 제2 발광체(66)는 상기 흡입튜우브의 외부표면으로부터 방사상으로 외부로 뻗어 있는 플랜지(70)와, 상기 흡입통로의 상기 자유단 근처에 위치한 상기 플랜지의 대향표면들중 하나와 상기 흡입튜우브의 상기 외부표면에 형성된 빛 방사층(72, 82)으로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검출장치.
7. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 제2 발광체(106)는 서로 겹쳐진 산란층(108)과 빛 방사층(110)으로 구성되어 있으며, 상기 산란층은 상기 빛 방사층으로부터 수용된 상기 제2 빛을 산란시키며, 상기 빛 방사층은 상기 제1 발광체와 대면하는 한편, 상기 산란층은 상기 유지부재(112)에 의해서 유지되는 상기 전자부품(80)과 대면하는 것을 특징으로 하는 검출장치.
8. 제5항에 있어서, 상기 빛 방사층(72, 82)은 형광페인트로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검출장치.
9. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 제2 발광체(100)는 빛 방사입자를 함유하는 반투명부재로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 검출장치.
10. 제9항에 있어서, 상기 빛 방사입자는 형광입자인 것을 특징으로 하는 검출장치.
11. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 제1 발광체(90) 및 제2 발광체(66) 사이에 배치된 제1 필터(92)와, 상기 제2 발광체(66)와 상기 광전자부재(88)와의 사이에 배치된 제2 필터(94, 114)들중 최소한 하나를 더 포함하며, 상기 제1 필터는 상기 제1 빛이 투과되는 것을 허용하는 한편 제2 빛이 투과되는 것을 방지하며, 상기 제2필터는 상기 제2 빛이 투과되는 것을 허용하는 한편 상기 제1 빛이 투과되는 것을 방지하는 것을 특징으로 하는 검출장치.
12. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 유지부재는 자유단에서 개방된 공기 흡입통로(34)를 갖춘 흡입튜우브(70, 112)로 구성되어 있으며, 상기 제2 발광체(66, 100, 106)는 상기 흡입튜우브 주위에 배치된 것을 특징으로 하는 검출장치
13. 제1항 내지 제3항중 어느 한항에 있어서, 상기 유지부재(78, 112)는 중심선에 평행한 제1 선형운동과, 상기 중심선에 수직인 제2 선형운동과, 상기 중심선에 대한 제3 회전운동들중 최소한 하나를 실시할 수 있는 것을 특징으로 하는 검출장치.
14. 제6항에 있어서, 상기 빛 반사층(72, 82)이 형광페인트로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검출장치.
15. 제7항에 있어서, 상기 빛 반사층(110)이 형광페인트로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 검출장치.