JPWO2018110288A1 - チップ抵抗器およびその製造方法 - Google Patents

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Abstract

本開示は、長期信頼性の悪化を抑制できるチップ抵抗器およびその製造方法を提供することを目的とする。本開示のチップ抵抗器は、金属で構成された抵抗体(11)と、抵抗体(11)の第1主面(11a)の両端部に形成された一対の電極(12)と、を備える。さらに、抵抗体(11)の第1主面(11a)の裏側に位置する第2主面(11b)に形成された第1の保護膜(13)と、抵抗体(11)の第1主面(11a)において一対の電極(12)間に形成された第2の保護膜(14)と、抵抗体(11)の一対の電極(12)間に流れる電流の方向と平行な側面に形成された第3の保護膜とを備える。抵抗体(11)の側面は、電流の流れる方向から見て外方に突出する突出部を設けている。

Description

本開示は、各種電子機器に使用される金属板を抵抗体としたチップ抵抗器およびその製造方法に関する。
従来のこの種のチップ抵抗器は、図8および図9に示すように、金属で構成された抵抗体1と、抵抗体1の一面1aの両端部に形成された一対の電極2と、抵抗体1の一面1aとは反対側の他面1bに形成された第1の保護膜3と、抵抗体1の一面1aの一対の電極2間に形成された第2の保護膜4と、一対の電極2の露出面から抵抗体1の端面にかけて形成されためっき層5とを備えていた。また、抵抗体1の側面1cに第3の保護膜6を設けていた。
また、このチップ抵抗器の製造方法は、棒状抵抗体の一面全面に第1の保護膜3を形成し、棒状抵抗体の他の面に複数の電極を等間隔で形成し、隣り合う電極間に第2の保護膜4を形成した後、露出した棒状抵抗体の側面に第3の保護膜6を形成し、その後、切断して個片状に分割するようにしていた。
なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1が知られている。
特開2004−186541号公報
上記従来のチップ抵抗器は、第3の保護膜6が抵抗体1の平らな側面1cに形成されている。そのため、第3の保護膜6と抵抗体1との接着性が悪い。また、むき出しの棒状抵抗体の側面に第3の保護膜6を単独で形成した後、棒状抵抗を切断している。これらの結果、第3の保護膜6が抵抗体1から剥がれ易くなる。そのため、第3の保護膜6から抵抗体1が露出する。これにより、長期信頼性が悪化する可能性があるというという課題を有していた。
本開示は上記課題を解決するものであり、長期信頼性の悪化を抑制できるチップ抵抗器を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するために、本開示は、一対の電極間に流れる電流の方向と平行な抵抗体の側面に、抵抗体の側面に電流の流れる方向から見て外方に突出する突出部を設け、その突出部の側面を第3の保護膜で覆うようにしている。
また、シート状抵抗体の一主面とその反対側にある裏面の両方をエッチングしてシート状抵抗体に複数の溝部を設け、さらに、この複数の溝部の内部とシート状抵抗体の一主面とに一体的に保護部材を形成した後、隣接する溝部間に等間隔で複数の電極を形成している。
抵抗体の側面に突出部を設けているため、第3の保護膜と抵抗体の側面との接触面積が広がる。また、第1の保護膜、第3の保護膜となる保護部材を抵抗体の一主面から溝部内部にかけて形成しているため、保護部材を溝部内部に充填させることができる。これにより、第3の保護膜が剥がれ難くなる。そのため、第3の保護膜から抵抗体が露出するのを防ぐことができ、これにより、長期信頼性を維持させることができるという優れた効果を奏する。
本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器の側面図 同チップ抵抗器の断面図 同チップ抵抗器の製造方法に関し、レジスト塗布工程を示す上面図 同レジスト塗布工程を示す断面図 同チップ抵抗器の製造方法に関し、エッチング工程を示す上面図 同エッチング工程を示す断面図 同チップ抵抗器の製造方法に関し、保護部材形成工程を示す上面図 同保護部材形成工程を示す断面図 同チップ抵抗器の製造方法に関し、めっき工程を示す上面図 同めっき工程を示す断面図 同チップ抵抗器の製造方法に関し、研磨工程を示す上面図 同研磨工程を示す断面図 同チップ抵抗器の製造方法に関し、個片化工程を示す上面図 同個片化工程を示す断面図 同チップ抵抗器の第1変形例を示す側面図 同チップ抵抗器の第2変形例を示す断面図 従来のチップ抵抗器の側面図 同チップ抵抗器の断面図 本開示の一実施形態にかかるチップ抵抗器の他の例を示す断面図 本開示の一実施形態のチップ抵抗器の他の変形例にかかる突起部近傍の断面図 同チップ抵抗器の他の変形例にかかる突起部近傍の断面図 同チップ抵抗器の他の変形例にかかる突起部近傍の断面図 同チップ抵抗器の他の変形例にかかる凹部近傍の断面図 同チップ抵抗器の他の変形例にかかる凹部近傍の断面図 同チップ抵抗器の他の変形例にかかる凹部近傍の断面図 本開示の一実施形態にかかるチップ抵抗器の製造方法を示すフローチャート
本開示にかかるチップ抵抗器およびその製造方法の実施形態について、図面を用いて以下に詳述する。
(1)チップ抵抗器
図1は本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器の側面図、図2は図1のII−II線に沿って切った断面図である。
本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器は、図1および図2に示すように、抵抗体11と、電極12と、第1の保護膜13と、第2の保護膜14と、めっき層15と、第3の保護膜16とを備えている。抵抗体11は、CuMnNi等の合金で構成されている。また、抵抗体11は、第1主面11aと、第1主面からみて抵抗体11の裏面にあたる第2主面11bと、抵抗体11の側方にある端面11cと、側面11dとを有する。電極12は一対をなし、Cuにて構成され、かつ抵抗体11の第1主面11a上の両端部に形成されている。一対をなす電極12のそれぞれは、2つの端面11cのそれぞれの近傍に配置されている。側面11dは、一対をなす電極12を結ぶ線に平行に配置されている。
第1の保護膜13は、抵抗体11の第2主面11bに形成されている。第2の保護膜14は、抵抗体11の第1主面11aにおいて一対の電極12の間に形成されている。めっき層15は、電極12のそれぞれの上面から抵抗体11の端面11cにかけて形成されている。第3の保護膜16は、側面11dを覆っている。
図1において、紙面右から左へ向かう方向が正になるようにX軸が設けられ、下から上へ向かう方向が正になるようにZ軸が設けられる。また、当該紙面を見る人に向かう方向が正になるようにY軸が設けられる。図2においては、紙面左から右へ向かう方向が正になるようにY軸が設けられ、下から上へ向かう方向が正になるようにZ軸が設けられることになる。また、図2においては、当該紙面を見る人に向かう方向が正になるようにX軸が設けられることになる。
動作時において、抵抗体11の一対の電極12の間には、電流が流れる。すなわち、図1において、抵抗体11の中を、X軸に平行な方向に電流が流れる。
また、端面11cはYZ平面に平行であり、側面11dはX軸に平行である。
抵抗体11は、電流に沿う方向(X軸方向)に長い略柱状の形状を有する。さらに、電流に沿う方向から見た(図1のX1より矢印の方向へ向けて眺めた、または図2の紙面上方から見た)抵抗体11の断面形状は、六角形状となっている。すなわち、抵抗体11は、その側面11d側に突出部17が設けられ、電流の方向と直交する方向(Y軸方向)に長い六角形状となっている。したがって、抵抗体11は略六角柱の形状をしている。
突出部17は、電流の方向から見て、抵抗体11の側面11d側の、他の部分より外方に突出した部分である。つまり、突出部17は、第1主面11aの縁と第2主面11bの縁とを結ぶ平面(XZ平面に平行な面)より、電流の方向と直交する方向(Y軸方向)に外方に突出している。図2においては、突出部17は、一点鎖線より外側の部分にあたる。なお、この一点鎖線は、さきほど述べた第1主面11aの縁と第2主面11bの縁とを結ぶ平面の一部である。そして、突出部17を有する抵抗体11の側面11dは第3の保護膜16で覆われている。
なお、突出部17は、図2のように尖っているようにしてもよいし、図10に示す変形例のように、側面11dの一部が電流の方向と平行な平面を持つようにしてもよい。
また、突出部17として、図11Aに示す変形例のように、半球の側面形状を有していてもよく、図11Bに示す変形例のように三角錐状の突起を複数設けたものでもよく、図11Cに示す変形例のように半球状の突起を複数設けてもよい。突出部17として、上記半球の側面形状の代わりに円柱状の側面形状を有する突出部でもよい。突出部17として、複数の突起の形状は四角錐等の多角錐でもよく、円錐でもよく、多角柱でもよく、円柱でもよい。これら複数の突起の間隔は適宜選択することができる。また、突出部17が複数ある場合、その形状や大きさは必ずしも揃っている必要はなく、ランダムでもよい。なお、図11A,図11Bおよび図11Cは、抵抗体11の他の変形例にかかる突起部17近傍の拡大断面図である。
また、抵抗体11を構成する金属は、単体金属も可能であるが、抵抗温度係数(Temperature Coefficient of resistance、TCR)が0に近く、ペルチェ効果が小さいCuMnNi合金、またはCuMnSn合金が好ましい。
ここで、一対の電極12(めっき層15)が形成された面が実装用基板(以下、図示せず)に実装される。なお、実装用基板に実装される方向(一対の電極12側)を便宜上「上方」とする。
以下、完成したチップ抵抗器の寸法について、図1を参照して説明する。チップ抵抗器の大きさは、縦(Y方向)が0.8mm、横(X方向)が1.56mm、高さ(Z方向)が0.3mmである。また、抵抗体11の大きさは、縦(Y方向)が0.6mm、横(X方向)が1.56mm、高さ(Z方向)が0.2mmであり、CuMnNi合金よりなる。抵抗体11の突出部は、第1主面11aの縁と第2主面11bの縁とを結ぶ平面よりY方向に0.02mm突出している。一対の電極12は、Cuよりなり、大きさは縦(Y方向)が0.33mm、横(X方向)が0.5mm、厚さ(Z方向)が0.05mmである。また、一対の電極12の向かい合う両端間の間隔は、0.56mmである。また、第1の保護膜13、第2の保護膜14、第3の保護膜16は、それぞれエポキシ樹脂よりなり、厚さはそれぞれ0.05mm、0.05mm、0.1mmである。また、めっき層15は、抵抗体11に近い側よりCu、Ni、Snの3層よりなり、厚さは合計0.018mmである。
なお、これらの寸法や材料は一例であり、本開示のチップ抵抗器は必ずしもこれらの寸法や材料に限定されるわけではない。
(2)チップ抵抗器の製造方法
以下、本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器の製造方法について図面を参照しながら説明する。
なお、このチップ抵抗器の製造方法は、図13のフローチャートに示されるように、レジスト塗布工程、エッチング工程、保護部材形成工程、めっき工程、研磨工程および個片化形成工程の順に行われる。
(レジスト塗布工程)
チップ抵抗器の製造方法に関し、レジスト塗布工程を示す上面図を図3Aに、断面図を図3Bに示す。具体的には、図3Aはレジスト22を塗布した直後のシート状抵抗体21の上面図であり、図3Bは、図3AのIIIB−IIIB線に沿って切った断面図である。
まず、図3Aおよび図3Bに示すように、CuMnNi等からなる合金を板状に構成したシート状抵抗体21を用意し、このシート状抵抗体21の上面と下面の両方にレジスト22を貼り付ける。このレジスト22は、その開口部が等間隔で互いに平行になるように形成する。また、上面のレジスト22と下面のレジスト22においては上面視で同じ箇所に開口部を形成する。
なお、シート状抵抗体21の上面は、抵抗体11の第1主面11aに対応する。また、シート状抵抗体21の下面は、抵抗体11の第2主面11bに対応する。すなわち、シート状抵抗体21の上面と下面は、シート状抵抗体21の表面と裏面に対応する。
(エッチング工程)
チップ抵抗器の製造方法に関し、エッチング工程を示す上面図を図3Cに、断面図を図3Dに示す。なお、図3Dは、図3CのIIID−IIID線断面図である。
次に、図3Cおよび図3Dに示すように、シート状抵抗体21の上下面をエッチングしてシート状抵抗体21に複数の溝部23を形成し、その後、レジスト22を除去する。シート状抵抗体21の溝部23間の部分が個片状となったときのチップ抵抗器の抵抗体11に該当する。
このとき、上面と下面の両方からエッチングされるため、図2および図3Dに示すように、抵抗体11の側面(溝部23内面)に突出部17が形成される。このとき、突出部17の上下はエッチングの際に切り欠かれた部分である。また、上面と下面の両方からエッチングされることから、抵抗体11が厚い場合でもその形状を精度よく加工できるため、抵抗値精度も向上する。
(保護部材形成工程)
チップ抵抗器の製造方法に関し、保護部材形成工程を示す上面図を図4Aに、断面図を図4Bに示す。なお、図4Bは、図4AのIVB−IVB線断面図である。
次に、図4Aおよび図4Bに示すように、シート状抵抗体21の下面と溝部23の内部とに同時に保護部材24を形成する。保護部材24はエポキシ系樹脂からなるフィルムで、真空熱プレスによって流動性が増すものを使用し、シート状抵抗体21の下面に形成するとともに、溝部23の内部にも充填する。その後、保護部材24を硬化させる。なお、保護部材24の材料として、例えばエポキシ樹脂にシリカ、カーボンブラックを含有したものを主原料とすることができる。
なお、この保護部材24は、シート状抵抗体21の下面の部分が個片状となったときのチップ抵抗器の第1の保護膜13、溝部23の内部に充填された部分が第3の保護膜16となる。そして、第1の保護膜13と第3の保護膜16とが一体的に形成される。
(めっき工程)
チップ抵抗器の製造方法に関し、めっき工程を示す上面図を図4Cに、断面図を図4Dに示す。図4Dは、図4CのIVD−IVD線断面図である。
次に、図4Cおよび図4Dに示すように、シート状抵抗体21の上面に別のレジスト25を貼り付け、シート状抵抗体21の上面にめっきをする。このとき、レジスト25を、シート状抵抗体21の溝部23間の部分において露出する箇所が島状になるようにパターニングした後、Cuめっきをし、レジスト25を除去する。この結果、隣接する溝部23間の部分に等間隔でCuめっきからなる複数の電極26が形成される。
(研磨工程)
チップ抵抗器の製造方法に関し、研磨工程を示す上面図を図5Aに、断面図を図5Bに示す。図5Bは、図5AのVB−VB線断面図である。
次に、図5Aおよび図5Bに示すように、複数の電極26の間に第2の保護膜14を形成する。この第2の保護膜14は、エポキシ樹脂で構成される。すなわち、第2の保護膜14を、複数の電極26の間と複数の電極26の上面を覆うように形成し、硬化させる。その後、第2の保護膜14を、複数の電極26が露出するまで研磨する。
(個片化工程)
チップ抵抗器の製造方法に関し、個片化工程を示す上面図を図5Cに、断面図を図5Dに示す。図5Dは、図5CのVD−VD線断面図である。
次に、図5Cおよび図5Dに示すように、溝部23および複数の電極26の中央部(図5Cおよび図5Dの破線部)を切断して個片状に分割する。複数の電極26は、個片状の1つのチップ抵抗器の一対の電極12となる。
最後に、個片状に分割されたチップ抵抗器の一対の電極12の上面から抵抗体11の端面11cにかけてCuめっき、Niめっき、Snめっきを行い、めっき層15を形成し、図1および図2に示すような、個片状のチップ抵抗器を得る。
なお、説明を簡単にするために、図3A〜図5Dでは溝部23が12本、個片状のチップ抵抗器が縦5列、横4列のシート状に形成されている部分を示す。
さらに、適宜抵抗値を調整してもよい。抵抗値を調整する場合は、抵抗体11と同時に第1の保護膜13をレーザで切削してトリミング溝を形成する。これにより、バリの発生を抑制できる。その後、別の保護膜で少なくともトリミング溝を覆うようにする。
(3)効果
本開示の一実施の形態におけるチップ抵抗器は、抵抗体11の側面11dに電流の方向から見て外方に突出する突出部17を設けている。そのため、この突出部17を覆う第3の保護膜16と抵抗体11の側面11dとの接触面積が広がる。これにより、第3の保護膜16が剥がれ難くなるため、第3の保護膜16から抵抗体11が露出するのを防ぐことができる。また、これにより、長期信頼性を維持させることができるという効果が得られる。
すなわち、突出部17によって、抵抗体11の側面11dの面積が増え、また、上下方向の応力にも強くなる。
さらに、第3の保護膜16となる保護部材24をシート状抵抗体21の溝部23内部に充填しているため、第3の保護膜16を溝部23内部に確実に充填させることができる。これにより、第3の保護膜16が剥がれ難くなる。
すなわち、第3の保護膜16が溝部23(抵抗体11の側面11d)に食い込むため、第3の保護膜16を完全に被覆しやすくなる。
そして、第3の保護膜16を第1の保護膜13と同時に一体的に形成しているため、切断時において第3の保護膜16が抵抗体11から剥がれにくくなる。
また、抵抗体11の側面11dに突出部17を形成し、抵抗体11の側面11dに第3の保護膜16を形成した後、一対の電極12(26)を形成している。そのため、一対の電極12形成時に、めっきが抵抗体11の側面11d側に成長するのを防止でき、抵抗値が安定する。
そして、第3の保護膜16を溝部23に充填させることによって、溝部23に形成された第3の保護膜16上面と抵抗体11の上面との間の段差が小さくなる。そのため、第2の保護膜14の形成箇所の段差を小さくでき、抵抗体11の露出を防止できる。
(4)チップ抵抗器の第1変形例
なお、上記一実施の形態では、抵抗体11の側面11dに突出部17を形成しているが、図6に示すように、電流の流れる方向から見て(X方向、横方向)、抵抗体11の側面11dのうち他の部分より凹んだ凹部18を形成してもよい。つまり、凹部18は第1主面11aの縁と第2主面11bの縁とを結ぶ平面(XZ平面に平行な面)より、電流の方向と直交する方向(Y方向、縦方向)に内側に凹んでいる。凹部18を有する抵抗体11の側面11dは第3の保護膜16で覆われている。
凹部18を形成した場合も、突出部17と同様に、凹部18を覆う第3の保護膜16と抵抗体11の側面11dとの接触面積が広がり、これにより、第3の保護膜16が剥がれ難くなる。そのため、第3の保護膜16から抵抗体11が露出するのを防ぐことができ、これにより、長期信頼性を維持させることができる。
この凹部18は、図3Cおよび図3Dに示すシート状抵抗体21の上下面をエッチングする際、エッチングする時間を、突出部17を形成する時間より長くすることで形成される。エッチング時間を長くすれば、突出部17における突出した部分が削られ、さらに上面と下面の両方からのエッチング液に晒される側面11dの中央部が削られていく。
この第1変形例にかかるチップ抵抗器の寸法や材料は、図1にて示すチップ抵抗器と同様である。なお、凹部18は、は第1主面11aの縁と第2主面11bの縁とを結ぶ平面よりY方向に0.02mm凹んでいる。図6においては、凹部18は、一点鎖線(第1主面11aの縁と第2主面11bの縁とを結ぶ平面の一部)より内側の部分が該当する。
なお、本開示のチップ抵抗器は必ずしもこれらの寸法や材料に限定されるわけではない。
なお、凹部18として、図12Aに示す変形例のように、半球の側面形状を有する凹部でもよく、図12Bに示す変形例のように三角錐状の凹部を複数設けたものでもよく、図12Cに示す変形例のように半球形状の凹部を複数設けてもよい。凹部18として、上記半球の側面形状の代わりに円柱状の側面形状を有する凹部でもよい。凹部18として、複数の凹部の形状は四角錐等の多角錐でもよく、円錐でもよく、多角柱でもよく、円柱でもよい。これら複数の凹部の間隔は適宜選択することができる。また、凹部18が複数ある場合、その形状や大きさは必ずしも揃っている必要はなく、ランダムでもよい。なお、図12A,図12Bおよび図12Cは、抵抗体11の他の変形例にかかる凹部18近傍の拡大断面図である。
(5)チップ抵抗器の第2変形例
また、上記一実施の形態では、抵抗体11の第2主面11bには第1の保護膜13が形成されているが、図7に示すように、抵抗体11の第2主面11bに第1の保護膜13ではなく樹脂基板19を貼り付けてもよい。また、第1の保護膜13の上面に樹脂基板19を形成してもよい。
この樹脂基板19は、第1の保護膜13より厚みが厚く、実装用基板に使用される材料と同じガラスエポキシで構成されている。抵抗体11に樹脂基板19を直接形成する場合は、両者を熱圧着で接着する。
樹脂基板19によって曲げ応力に対して強くなり、生産工程内で持ち運びし易くなる。また、実装後の実装用基板との熱膨張率の違いによるはんだクラックを防止できる。なお、樹脂基板19の上面にさらに第1の保護膜13を形成してもよい。
本開示に係るチップ抵抗器およびその製造方法は、長期信頼性の悪化を抑制できるという効果を有するものである。本開示は、特に各種電子機器に使用される金属板を抵抗体としたチップ抵抗器等に適用することにより有用となるものである。
11 抵抗体
11a 第1主面
11b 第2主面
11c 端面
11d 側面
12,26 電極
13 第1の保護膜
14 第2の保護膜
15 めっき層
16 第3の保護膜
17 突出部
18 凹部
19 樹脂基板

Claims (5)

  1. 抵抗体と、一対の電極と、第1の保護膜と、第2の保護膜と、第3の保護膜と、を備え、
    前記抵抗体は、第1主面と、前記第1主面の反対側に位置する第2主面とを備えるとともに、前記第1主面の縁と前記第2主面の縁とを結ぶ平面より外側に突出した突出部を備え、
    前記一対の電極のそれぞれは、前記抵抗体の、前記第1主面上の両端部のそれぞれに形成され、かつ前記一対の電極同士を結ぶ方向は、前記第1主面の縁および前記第2主面の縁に沿う方向であり、
    前記第1の保護膜は、前記抵抗体の前記第2の主面上に形成され、
    前記第2の保護膜は、前記抵抗体の前記第1の主面上かつ前記一対の電極の間に形成され、
    前記第3の保護膜は、前記抵抗体の前記突出部上に形成された、チップ抵抗器。
  2. 抵抗体と、一対の電極と、第1の保護膜と、第2の保護膜と、第3の保護膜と、を備え、
    前記抵抗体は、第1主面と、前記第1主面の反対側に位置する第2主面とを備えるとともに、前記第1主面の縁と前記第2主面の縁とを結ぶ平面より内側に凹んだ凹部を備え、
    前記一対の電極のそれぞれは、前記抵抗体の、前記第1主面上の両端部のそれぞれに形成され、かつ前記一対の電極同士を結ぶ方向は、前記第1主面の縁および前記第2主面の縁に沿う方向であり、
    前記第1の保護膜は、前記抵抗体の前記第2の主面上に形成され、
    前記第2の保護膜は、前記抵抗体の前記第1の主面上かつ前記一対の電極の間に形成され、
    前記第3の保護膜は、前記抵抗体の前記凹部上に形成された、チップ抵抗器。
  3. 前記第1の保護膜は、樹脂基板よりなる請求項1または2に記載のチップ抵抗器。
  4. シート状抵抗体の主面と、前記主面からみてシート状抵抗体の反対側にある裏面とに複数の溝部を形成する工程と、
    前記シート状抵抗体の前記主面と前記複数の溝部の内部とに一体的に保護部材を形成する工程と、
    前記シート状抵抗体の前記裏面にレジストを貼り付け、前記シート状抵抗体の前記裏面にめっきをして、隣接する前記溝部間に等間隔で複数の電極を形成する工程と、
    前記複数の溝部および前記複数の電極の中央部を切断して個片状に分割する工程と、を備えたチップ抵抗器の製造方法。
  5. 前記複数の電極を形成する工程において、
    前記シート状抵抗体の前記主面と前記裏面とにレジストを貼り付け、前記シート状抵抗体の前記主面と前記裏面の両方をエッチングした後、前記レジストを除去することによって、前記シート状抵抗体に複数の溝部を設けるようにした、請求項4に記載のチップ抵抗器の製造方法。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6838240B2 (ja) * 2017-01-19 2021-03-03 日立Astemo株式会社 電子装置
DE112020000734T5 (de) * 2019-02-07 2021-10-21 Rohm Co., Ltd. Widerstand
TWI718971B (zh) * 2020-07-07 2021-02-11 旺詮股份有限公司 大批量產生微型電阻元件的製作方法
TWI718972B (zh) * 2020-07-07 2021-02-11 旺詮股份有限公司 具有精準電阻值之微型電阻元件的製作方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5830118A (ja) * 1981-08-14 1983-02-22 ティーディーケイ株式会社 電子部品、その製造方法及び製造装置
JP3294331B2 (ja) * 1992-08-28 2002-06-24 ローム株式会社 チップ抵抗器及びその製造方法
US7612429B2 (en) 2002-10-31 2009-11-03 Rohm Co., Ltd. Chip resistor, process for producing the same, and frame for use therein
JP2004153160A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Rohm Co Ltd チップ抵抗器およびその製造方法
JP3848247B2 (ja) 2002-12-05 2006-11-22 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
JP3967272B2 (ja) * 2003-02-25 2007-08-29 ローム株式会社 チップ抵抗器
JP4057462B2 (ja) * 2003-04-28 2008-03-05 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
JP4358664B2 (ja) * 2004-03-24 2009-11-04 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
US7190252B2 (en) * 2005-02-25 2007-03-13 Vishay Dale Electronics, Inc. Surface mount electrical resistor with thermally conductive, electrically insulative filler and method for using same
JP5490861B2 (ja) * 2012-10-01 2014-05-14 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
CN105453192B (zh) * 2013-08-07 2018-05-18 松下知识产权经营株式会社 电阻器及其制造方法
US9396849B1 (en) * 2014-03-10 2016-07-19 Vishay Dale Electronics Llc Resistor and method of manufacture
JP2016152301A (ja) * 2015-02-17 2016-08-22 ローム株式会社 チップ抵抗器およびその製造方法
US9997281B2 (en) * 2015-02-19 2018-06-12 Rohm Co., Ltd. Chip resistor and method for manufacturing the same
CN204991312U (zh) * 2015-07-29 2016-01-20 山东航天正和电子有限公司 高精密大功率散热型金属箔电阻器
JP6093054B2 (ja) * 2016-02-03 2017-03-08 ローム株式会社 電子部品の電極構造
US10438729B2 (en) * 2017-11-10 2019-10-08 Vishay Dale Electronics, Llc Resistor with upper surface heat dissipation

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