JPWO2016174926A1 - 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、工業部品や工業設備等の被検査体11の非破壊検査を行う非破壊検査装置10の全体構成を示す概略図である。図1に示すように、非破壊検査装置10は、被検査体11の放射線画像データ12(本発明の放射線画像に相当)を取得する。そして、この放射線画像データ12に基づき被検査体11内における欠陥の可能性を有する領域を表示する。ここでいう欠陥とは、例えば被検査体11に含まれる気泡や不純物や傷等であって所定の基準を上回る大きさや長さを有するものであるが、欠陥の判断基準については特に限定されるものではない。
図2は、画像処理装置15の電気的構成を示すブロック図である。図2に示すように、画像処理装置15は、大別して、CPU(Central Processing Unit)25と、メモリ26と、キーボード27と、マウス28と、ストレージ29と、画像入力I/F(interface)30と、表示部32と、を有している。
基準画像補正処理部41は、本発明の第1画像補正処理部及び第2画像補正処理部として機能する。基準画像補正処理部41は、後述の差分値検出部42による放射線画像データ12と基準画像データ20との対応画素間の画素値の差分値の検出前に、この基準画像データ20に対して画像補正処理を行う。
基準画像補正処理部41は、幾何変形処理を行う場合、最初に基準画像データ20と放射線画像データ12との間において特徴が一致(略一致も含む)する複数組の対応点を検出する。なお、対応点の検出方法については特に限定されないが、例えばブロックマッチング法などの公知技術を用いることができる。
図3(A),(B)は、基準画像補正処理部41による濃度補正処理を説明するためのものであり、基準画像データ20及び放射線画像データ12をそれぞれ構成する画素の画素値の分布を示すヒストグラムである。なお、図3(A),(B)において、横軸は基準画像データ20及び放射線画像データ12をそれぞれ構成する画素を表す画素番号であり、縦軸は基準画像データ20及び放射線画像データ12の各画素の画素値である。例えば、基準画像データ20及び放射線画像データ12がm×n(m、nは任意の自然数)の画素により構成されている場合、画素番号は1〜m・nとなる。また、基準画像データ20及び放射線画像データ12がそれぞれ8ビットの画像データである場合、画素値は0〜255となる。
図4は、差分値検出部42による放射線画像データ12と基準画像データ20との対応画素間の画素値の差分値の検出処理を説明するための説明図である。図4に示すように、差分値検出部42は、放射線画像取得部40から入力された放射線画像データ12と、基準画像補正処理部41から入力された基準画像データ20との対応画素間の画素値の差分値を画素毎に検出する。ここで本実施形態における差分値は、「放射線画像データ12の画素の画素値」から「基準画像データ20の画素の画素値」を引いた値であり、正の値及び負の値及びゼロ(ほぼゼロを含む)のいずれかになる。
図2に戻って、表示制御部43は、差分値検出部42から入力される差分値検出結果45に基づき、放射線画像データ12と基準画像データ20との差分領域47(図6参照)を、差分領域47における差分値の正負を判別可能に表示部32に表示させる。また、表示制御部43は、差分領域47の拡大表示を行う拡大表示部50と、差分領域47を差分値の正負に応じて選択的に表示部32に表示させる選択表示部51として機能する。
次に、図8を用いて上記構成の非破壊検査装置10の作用(本発明の画像処理方法に相当)について説明する。図8は、非破壊検査装置10による差分領域47の表示処理の流れを示すフローチャートである。
以上のように第1実施形態の非破壊検査装置10では、検査対象の被検査体11の放射線画像データ12と基準画像データ20との差分領域47を、差分領域47における差分値の正負を判別可能に表示部32に表示するため、被検査体11に含まれる可能性がある欠陥の状況(種類)及び各欠陥の分布を迅速かつ確実に把握することができる。
次に、本発明の第2実施形態の非破壊検査装置について説明を行う。上記第1実施形態の非破壊検査装置10では、差分値が生じている画素により構成される差分領域47を表示部32に表示している。これに対して第2実施形態の非破壊検査装置では、差分値の絶対値が予め定めた検査基準により規定される閾値よりも大きくなる画素により構成される差分領域47を表示部32に表示する。
次に、図12を用いて第2実施形態の非破壊検査装置10Aの作用について説明する。図12は、非破壊検査装置10Aによる差分領域47の表示処理の流れを示すフローチャートである。
図13は、非破壊検査装置10Aによる過去の放射線画像データ12についての差分領域47(欠陥候補領域)の再表示処理の流れを示すフローチャートである。
以上の通り、第2実施形態の非破壊検査装置10Aでは、差分領域47の中において差分値の絶対値が予め定めた検査基準により規定される閾値よりも大きくなる差分領域47、すなわち、欠陥の可能性が高い欠陥候補領域だけを、差分値の正負を判別可能に表示部32に表示させることができる。これにより、検査員は、欠陥の可能性が高い差分領域47を容易に特定することができるので、被検査体11に含まれる可能性がある欠陥の状況(種類)及び各欠陥の分布をより迅速かつ確実に把握することができる。さらに、差分値が正となる欠陥の種類、あるいは差分値が負となる欠陥の種類が複数存在する場合でも、欠陥の種類ごとに差分値の大きさが異なるような場合には、閾値を設定することにより特定の欠陥の可能性がある差分領域47だけを表示部32に表示させることができる。
次に、本発明の第3実施形態の非破壊検査装置について説明を行う。上記第1実施形態の非破壊検査装置10では、基準画像データ20に対して幾何変形処理や濃度補正処理を施すことにより、基準画像データ20と放射線画像データ12との間での傾き及び形状の誤差と濃度差とを補正しているが、複数の放射線画像データ12の間においても前述の撮影条件のばらつきに起因して濃度差が発生するおそれがある。この場合、複数の放射線画像データ12のそれぞれに基づき生成された複数の重ね合せ画像データ48に濃度差が生じる。その結果、検査員は、重ね合せ画像データ48間の濃度差が欠陥に起因するものであるか、あるいは撮影条件のばらつきに起因するものであるかを判断する必要が生じるため、検査に時間がかかるという問題が生じる。
次に、図16を用いて第3実施形態の非破壊検査装置10Bの作用について説明する。図16は、非破壊検査装置10Bによる差分領域47の表示処理、特に自動感度補正処理の流れを示すフローチャートである。
以上の通り、第3実施形態の非破壊検査装置10Bでは、複数の放射線画像データ12に対して、撮影条件のばらつきに起因する濃度差を補正する処理を行うので、複数の放射線画像データ12のそれぞれに基づき生成された複数の重ね合せ画像データ48間の濃度差が抑えられる。その結果、検査員は、複数の重ね合せ画像データ48間の濃度差が、欠陥に起因するのか或いは撮影条件のばらつきに起因するのかを判断する必要がなくなるので、検査にかかる時間を短縮することができる。
上記各実施形態では、差分値が正となる差分領域47と、差分値が負となる差分領域47とにそれぞれ異なる色を付すことにより、差分領域47の差分値の正負を判別可能に表示部32に表示させているが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、差分値の正負に応じて差分領域47の表示する際の濃度(輝度)を異ならせたり、差分領域47を囲む表示枠を設けて差分値の正負に応じて表示枠の表示態様を変えたり、差分領域47の正負を示す表示を行うなどの差分領域47における差分値の正負を判別可能な各種の表示を行ってもよい。
Claims (13)
- 放射線が照射された被検査体を撮影して得られた放射線画像を取得する放射線画像取得部と、
前記放射線画像取得部が取得する前記放射線画像と同一の撮影条件により撮影された正常な前記被検査体の放射線画像である基準画像を記憶する基準画像記憶部と、
前記放射線画像取得部が取得した前記放射線画像と、前記基準画像記憶部に記憶されている前記基準画像との対応画素間での画素値の差分値を検出する差分値検出部と、
前記差分値検出部の検出結果に基づき、前記放射線画像と前記基準画像との差分領域を、前記差分領域における前記差分値の正負を判別可能に表示部に表示させる表示制御部と、
を備える画像処理装置。 - 前記表示制御部は、前記差分値が正となる前記差分領域と、前記差分値が負となる前記差分領域とのいずれか一方を選択的に前記表示部に表示可能である請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記表示制御部は、前記差分値検出部の検出結果に基づき、前記差分値の絶対値が予め定められた閾値以上となる前記差分領域を、前記差分値の正負を判別可能に前記表示部に表示する請求項1または2に記載の画像処理装置。
- 前記差分値検出部が検出した前記差分値の検出結果を前記放射線画像別に記憶する検出結果記憶部と、
前記閾値を変更する閾値変更部と、を備え、
前記表示制御部は、前記閾値変更部により前記閾値が変更された場合に、前記検出結果記憶部に記憶されている前記差分値の検出結果に基づき、前記放射線画像別に、当該差分値の絶対値が変更後の前記閾値以上となる前記差分領域を、前記差分値の正負を判別可能に前記表示部に表示させる請求項3に記載の画像処理装置。 - 前記放射線画像を記憶する放射線画像記憶部と、
前記差分値検出部が検出した前記差分値の検出結果を、前記放射線画像に関連付けて前記放射線画像記憶部に記憶させる記憶制御部と、を備える請求項1から3のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記差分値検出部による前記差分値の検出前に、前記基準画像記憶部に記憶されている前記基準画像に対して、前記放射線画像との濃度差を補正する処理を行う第1画像補正処理部を備える請求項1から5のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記差分値検出部による前記差分値の検出前に、前記基準画像記憶部に記憶されている前記基準画像に対して、当該基準画像の傾き及び形状を前記放射線画像の傾き及び形状に合わせる補正を行う第2画像補正処理部を備える請求項1から6のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記放射線画像取得部が取得した複数の前記放射線画像に対して、前記放射線画像ごとの前記撮影条件のばらつきに起因する濃度差を補正する処理を行う第3画像補正処理部を備え、
前記差分値検出部は、第3画像補正処理部により補正された前記放射線画像と、前記基準画像との対応画素間での画素値の差分値を、前記放射線画像ごとに検出する請求項1から7のいずれか1項に記載の画像処理装置。 - 前記表示制御部は、前記放射線画像に前記差分領域を重ね合せた重ね合せ画像を前記表示部に表示させる請求項1から8のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 前記表示制御部は、前記重ね合せ画像内の前記差分領域を拡大した拡大画像を、前記重ね合せ画像と共に前記表示部に表示させる請求項9に記載の画像処理装置。
- 前記表示制御部は、前記差分値が正となる前記差分領域と、前記差分値が負となる前記差分領域とにそれぞれ異なる色を付して前記表示部に表示させる請求項1から10のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 放射線が照射された被検査体を撮影して得られた放射線画像を取得する放射線画像取得ステップと、
前記放射線画像取得ステップにおいて取得する前記放射線画像と同一の撮影条件により撮影された正常な前記被検査体の放射線画像である基準画像を基準画像記憶部に記憶させる基準画像記憶ステップと、
前記放射線画像取得ステップにおいて取得した前記放射線画像と、前記基準画像記憶部に記憶されている前記基準画像との対応画素間での画素値の差分値を検出する差分値検出ステップと、
前記差分値検出ステップの検出結果に基づき、前記放射線画像と前記基準画像との差分領域を、前記差分領域における前記差分値の正負を判別可能に表示部に表示させる表示制御ステップと、
を有する画像処理方法。 - 画像処理装置のコンピュータを、
放射線が照射された被検査体を撮影する撮影部から前記被検査体の放射線画像を取得する放射線画像取得部と、
前記放射線画像取得部が取得した前記放射線画像と、前記放射線画像取得部が取得する前記放射線画像と同一の撮影条件により撮影された正常な前記被検査体の放射線画像である基準画像との対応画素間での画素値の差分値を検出する差分値検出部と、
前記差分値検出部の検出結果に基づき、前記放射線画像と前記基準画像との差分領域を、前記差分領域における前記差分値の正負を判別可能に表示部に表示させる表示制御部として機能させるためのプログラム。
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Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7230608B2 (ja) * | 2019-03-19 | 2023-03-01 | 株式会社明電舎 | 変更点検出装置、変更点検出方法及び変更点検出プログラム |
US11448604B2 (en) * | 2019-07-08 | 2022-09-20 | Worldwide Nondestructive Testing, Inc. | System and method for inspecting fused plastic pipes |
JP7466280B2 (ja) * | 2019-09-05 | 2024-04-12 | キヤノン株式会社 | 検品装置とその制御方法、並びにプログラム |
JP7098591B2 (ja) | 2019-09-30 | 2022-07-11 | 本田技研工業株式会社 | 電極構造体検査方法 |
WO2021100243A1 (ja) * | 2019-11-18 | 2021-05-27 | 株式会社テクムズ | Ai外観検査方法、その装置及びそのコンピュータ用のプログラム |
JP2022073020A (ja) * | 2020-10-30 | 2022-05-17 | オリンパス株式会社 | 画像表示方法、表示制御装置、およびプログラム |
WO2023053768A1 (ja) | 2021-09-28 | 2023-04-06 | 富士フイルム株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
WO2023053727A1 (ja) * | 2021-09-30 | 2023-04-06 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置、処理システム、画像表示方法及びプログラム |
CN114092476B (zh) * | 2022-01-19 | 2022-05-27 | 阿里云计算有限公司 | 杂质检测方法、系统、装置、设备、存储介质及软件产品 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09166556A (ja) * | 1995-12-18 | 1997-06-24 | Kobe Steel Ltd | X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置 |
JPH09166555A (ja) * | 1995-12-18 | 1997-06-24 | Kobe Steel Ltd | X線画像記録再生装置のシェーディング補正方法及び装置 |
JP2001299733A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-10-30 | Konica Corp | Pci放射線画像処理装置、pci放射線画像検出処理装置、pci放射線画像出力装置及びpci画像診断支援装置 |
JP2003323861A (ja) * | 2002-04-30 | 2003-11-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 電子ビームを用いたパターン検査装置、並びに、それを用いた半導体デバイス製造方法 |
JP2004209152A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Konica Minolta Holdings Inc | X線画像撮影装置 |
JP2006352170A (ja) * | 2006-09-25 | 2006-12-28 | Hitachi Ltd | ウエハの検査方法 |
JP2011061047A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥レビュー支援装置,欠陥レビュー装置および検査支援装置 |
JP2012019220A (ja) * | 2011-08-01 | 2012-01-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 |
JP2014182064A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Ebara Corp | 検査用表示装置、欠陥判別方法、検査用表示プログラム |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03137548A (ja) | 1989-10-24 | 1991-06-12 | Toshiba Corp | 透視装置 |
JPH07119713B2 (ja) | 1990-01-12 | 1995-12-20 | 川崎重工業株式会社 | 放射線試験での溶接欠陥像の自動抽出処理方法 |
US5828775A (en) * | 1990-04-18 | 1998-10-27 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method and apparatus for adjusting read-out conditions and/or image processing conditions for radiation images , radiation image read-out apparatus, and radiation image analyzing method and apparatus |
JPH06189949A (ja) * | 1992-11-10 | 1994-07-12 | Philips Electron Nv | X線検査装置及びx線検査装置用調整制御手段 |
US5359513A (en) * | 1992-11-25 | 1994-10-25 | Arch Development Corporation | Method and system for detection of interval change in temporally sequential chest images |
EP0599345B1 (en) * | 1992-11-27 | 2002-06-05 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Method for adjusting positions of radiation images |
JP3545073B2 (ja) | 1994-11-25 | 2004-07-21 | 財団法人ファインセラミックスセンター | 差分画像処理を用いた放射線透視法 |
US6449390B1 (en) * | 1997-09-24 | 2002-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus and method therefor |
US7403646B2 (en) * | 2002-10-24 | 2008-07-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Image processing apparatus, image processing method, program, and recording medium for generating a difference image from a first radiographic image and second radiographic image |
JP4812484B2 (ja) * | 2006-03-24 | 2011-11-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | ボルテージコントラストを伴った欠陥をレビューする方法およびその装置 |
JP4988482B2 (ja) | 2006-09-15 | 2012-08-01 | トヨタ自動車株式会社 | 放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム |
JP4979125B2 (ja) * | 2007-05-18 | 2012-07-18 | 富士フイルム株式会社 | 放射線撮像システム及びプログラム |
US20110313479A1 (en) * | 2010-06-22 | 2011-12-22 | Philip Rubin | System and method for human anatomic mapping and positioning and therapy targeting |
JP2012061187A (ja) * | 2010-09-17 | 2012-03-29 | Fujifilm Corp | 放射線画像表示装置および方法 |
JP2012088291A (ja) | 2010-09-23 | 2012-05-10 | Meiwa E Tec:Kk | X線検査装置 |
JP6161346B2 (ja) * | 2013-03-19 | 2017-07-12 | キヤノン株式会社 | 撮像システム |
KR20140116009A (ko) | 2013-03-21 | 2014-10-01 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 검사 장치 및 검사용 화상 데이터의 생성 방법, 검사용 표시 장치, 결함 판별 방법 및 검사용 표시 프로그램이 기록된 기억 매체 |
-
2016
- 2016-03-08 JP JP2017515418A patent/JP6422573B2/ja active Active
- 2016-03-08 WO PCT/JP2016/057052 patent/WO2016174926A1/ja active Application Filing
-
2017
- 2017-10-19 US US15/788,033 patent/US10458927B2/en active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09166556A (ja) * | 1995-12-18 | 1997-06-24 | Kobe Steel Ltd | X線画像記録再生装置のデータ補正方法及び装置 |
JPH09166555A (ja) * | 1995-12-18 | 1997-06-24 | Kobe Steel Ltd | X線画像記録再生装置のシェーディング補正方法及び装置 |
JP2001299733A (ja) * | 2000-04-27 | 2001-10-30 | Konica Corp | Pci放射線画像処理装置、pci放射線画像検出処理装置、pci放射線画像出力装置及びpci画像診断支援装置 |
JP2003323861A (ja) * | 2002-04-30 | 2003-11-14 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 電子ビームを用いたパターン検査装置、並びに、それを用いた半導体デバイス製造方法 |
JP2004209152A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-07-29 | Konica Minolta Holdings Inc | X線画像撮影装置 |
JP2006352170A (ja) * | 2006-09-25 | 2006-12-28 | Hitachi Ltd | ウエハの検査方法 |
JP2011061047A (ja) * | 2009-09-11 | 2011-03-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 欠陥レビュー支援装置,欠陥レビュー装置および検査支援装置 |
JP2012019220A (ja) * | 2011-08-01 | 2012-01-26 | Hitachi High-Technologies Corp | 回路パターン検査装置、および回路パターン検査方法 |
JP2014182064A (ja) * | 2013-03-21 | 2014-09-29 | Ebara Corp | 検査用表示装置、欠陥判別方法、検査用表示プログラム |
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