KR20190108805A - 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기 및 그 검사방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 대상물을 검사대에 고정시키는 고정부, 고정된 대상물의 검사 부위를 촬영하는 촬영부, 촬영부를 검사대 위에서 대상물과 소정의 거리만큼 이격시켜 수평으로 이동시키기 위한 이동 가이드부, 비전 검사 모드를 설정하기 위한 사용자로부터의 입력을 수신하는 사용자입력수신부, 비전 검사 모드 및 촬영부에 의해 촬영된 이미지를 기초로 대상물의 검사 부위에서의 불량 발생 유무를 판단하는 비교판단부 및 비교판단부로부터 제공된 판단 결과를 출력하는 출력부가 포함될 수 있다.
Description
본 발명은 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기 및 그 검사방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 인서트(INSERT) 사출된 너트(NUT)부에 원재료 가공(예컨대, OVER FLOW 여부 등) 상태를 검사하기 위한 장치로서 비전검사기를 구동하기 위한 그래픽유저인터페이스(Graphic User Interface) 및 다양한 비전 검사 모드를 제공하여 대상물에서의 결함 발생 유무를 빠르고 정확하게 효과적으로 검사하기 위한 비전 검사 장치에 관한 것이다.
전자 산업의 비약적인 발전 및 수요 증대에 힘입어 체결요소 부품도 전자제품의 트렌드를 따라 소형화 및 정밀화 되고 있다. 이러한 전자제품의 고품질화에는 체결요소 부품의 품질 신뢰도 향상도 수반하게 되었으며, 체결요소 부품의 검사는 품질관리의 중요한 부분으로 정착되고 있다.
체결요소 부품의 검사 방식으로서 일찍이 육안 검사법이 시행되고 있으나, 인력에 의존하는 것이므로 시간과 비용의 소요가 과대하며 신뢰도를 보장하기 어렵다. 기계식 선별기도 사용되고 있으나 검사 내용이 한정적이어서 다른 검사법에 의하여 보완되어야 한다는 한계가 있다.
체결요소 부품의 자동화 검사 장비의 하나로서 비전 검사 장치는 자동화된 공급장치와 광학장치 및 소프트웨어를 이용하여 제품의 외관을 검사할 수 있게 구성된 것으로, 제품을 촬영한 이미지를 토대로 제품의 불량을 판별한다. 비전 검사 장치에 의해 선별되는 항목도 제품의 크기 또는 표면의 크랙의 존재여부 등으로서 이전의 검사 방법에 비해 증가되었다.
다만, 종래의 이러한 검사장치 및 그를 이용한 검사법은 사용자의 입장에서 색에 대한 밝기, 명암 등을 조절할 수 없고, 사용자가 조작을 통해 검사 환경을 변경하기가 어려워 불편함이 초래한다는 점에서, 사용자 편의 및 검사의 정확성을 동시에 효과적으로 높일 수단의 개발 필요성이 강하게 대두되고 있다.
본 발명은 전술한 종래의 문제점에 대한 일 대응 방안으로써 안출된 것으로, 자동 비전 검사 시 다양한 모드 설정으로써 결함 발생 유무 등의 검사의 정확성을 높이고, 사용자의 간편한 조작을 통해 비전 검사 변수 등을 쉽게 조작(변경)할 수 있도록 함으로써 효율적인 비전 검사가 이루어질 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예로써, 대상물(100)의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기가 제공될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 대상물(100)을 검사대에 고정시키는 고정부(1100), 고정된 대상물(100)의 검사 부위를 촬영하는 촬영부(1200), 촬영부(1200)를 검사대 위에서 대상물(100)과 소정의 거리만큼 이격시켜 수평으로 이동시키기 위한 이동 가이드부(1300), 비전 검사 모드를 설정하기 위한 사용자로부터의 입력을 수신하는 사용자입력수신부(1400), 비전 검사 모드 및 촬영부(1200)에 의해 촬영된 이미지를 기초로 대상물(100)의 검사 부위에서의 불량 발생 유무를 판단하는 비교판단부(1500) 및 비교판단부(1500)로부터 제공된 판단 결과를 출력하는 출력부(1600)가 포함될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 출력부(1600)에서는 비전 검사 관련 정보가 표시되는 복수개의 블록들이 포함된 화면이 출력되고, 비전 검사 모드는 이미지의 명암대비를 변경할 수 있는 룩업(Lookup) 모드, 확인하고자 하는 관심 영역에 대한 정보를 변경할 수 있는 관심영역(ROI) 모드, 관심 영역의 밝기에 따른 값을 측정하기 위한 임계(Threshold) 모드, 이미지 내의 원형을 찾기 위한 원형 탐색(Circle Search) 모드 및 이미지 내의 원을 찾아 반지름을 측정하기 위한 원반경(Circle Radius) 모드가 포함될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 룩업(Lookup) 모드에서는 적색, 녹색 및 청색 각각의 밝기, 명암대비 및 감마보정 값이 각각 표시된 블록에서의 정보가 사용자입력수신부(1400)로부터 수신된 입력에 따라 변경될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 관심영역(ROI) 모드에서는 사용자입력수신부(1400)로부터 수신된 입력에 따라 새로운 관심영역을 추가하는 기능, 기존의 관심영역을 삭제하는 기능, 관심영역의 측정 방법을 선택하는 기능, 관심영역의 이름을 변경하는 기능, 관심영역에서의 추가적인 선택 기능, 관심영역의 모양을 변경하는 기능, 관심영역의 이미지를 확대 또는 축소하는 기능, 관심영역의 이미지 전체를 볼 수 있는 기능 또는 관심영역의 상태 변경 이전의 상태로 되돌아갈 수 있는 기능 중 적어도 하나가 수행될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 임계(Threshold) 모드에서는 적색, 녹색 및 청색 밝기 임계값이 각각 표시된 블록에서의 정보가 사용자입력수신부(1400)로부터 수신된 입력에 따라 변경될 수 있다.
본 발명의 일 실시예로써, 대상물(100)의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기를 이용하는 검사방법이 제공될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 대상물(100)의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기를 이용하는 검사방법은 대상물(100)을 검사대에 고정시키는 단계, 검사대 위에서 이동 가이드부(1300)에 의해서 비전검사기의 촬영부(1200)가 대상물(100)과 소정의 거리만큼 이격되어 수평 이동하면서 대상물(100)의 검사 부위를 촬영하는 단계, 비전 검사 모드를 설정하기 위해 사용자로부터의 입력을 수신하는 단계, 비전 검사 모드 및 촬영부(1200)에 의해 촬영된 이미지를 기초로 비교판단부(1500)에서 대상물(100)의 검사 부위에서의 불량 발생 유무를 판단하는 단계 및 비전검사기의 출력부(1600)에서 비교판단부(1500)에 의한 판단 결과를 출력하는 단계가 포함될 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예로써, 전술한 방법을 구현하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체가 제공될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기를 이용하면 자동 비전 검사 시 다양한 모드를 이용하여 검사의 정확성(accuracy)을 종래 대비 대폭 향상시킬 수 있다.
검사 시 촬영된 이미지의 색에 대한 밝기, 명암 및 감마 보정 값을 사용자의 입력에 따라 조절할 수 있도록 함으로써 대상물의 종류, 검사 환경 등의 조건 변화가 있더라도 그에 적응적으로 빠르게 대처할 수 있으며, 사용자가 관심이 있는 검사 부위, 검사 사항 등에 대해 결함 발생 유무 등의 검사가 정확하고 효율적으로 이루어 질 수 있다.
비전 검사 조작 시 그래픽유저인터페이스(Graphic User Interface)를 사용하여 간편하게 조작할 수 있으며, 검사 이력 관리를 할 수 있도록 하여 사용자로 하여금 이전 검사 결과에 대한 정보를 토대로 향후 체계적이고, 단계적인 검사 계획을 수립 및 수행하도록 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기를 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기에서 고정부(1100), 촬영부(1200), 이동 가이드부(1300), 비교판단부(1500) 및 출력부(1600)를 나타낸 도면이다.
도 3(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기에 대상물(100)이 고정된 상태를 나타내며, 도 3(b)는 도 3(a)에서 대상물(100)의 검사 부위를 표현한 도면이다.
도 4은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 메인 화면(1610)의 일 예를 나타낸다.
도 5은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 모델 시험 설정화면의 일 예를 나타낸다.
도 6는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 시험 항목 설정화면의 일 예를 나타낸다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 룩업 모드 화면(1640)의 일 예를 나타낸다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 관심영역 모드 화면(1650)의 일 예를 나타낸다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 임계 모드 화면에서의 임계값 정보를 변경하는 블록의 일 예를 나타낸다.
도 10(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 촬영부(1200)에 의해 촬영된 이미지의 일 예를 나타내며, 도 10(b)는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 임계 모드가 적용된 이미지의 일 예를 나타낸다.
도 11(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 원형 탐색 모드 화면에서의 원형 탐색 정보를 변경하는 블록의 일 예를 나타내며, 도 11(b)는 원형 탐색 모드 화면의 원형 탐색 정보를 변경하는 블록의 또 다른 예를 나타낸다.
도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 원반경 모드 화면에서의 원반경 정보를 변경하는 블록의 일 예를 나타낸다.
도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 디바이스 설정 및 신호 제어를 위한 블록의 일 예를 나타낸다.
도 14은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 측정 기준값 설정을 위한 블록의 일 예를 나타낸다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기에서 고정부(1100), 촬영부(1200), 이동 가이드부(1300), 비교판단부(1500) 및 출력부(1600)를 나타낸 도면이다.
도 3(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기에 대상물(100)이 고정된 상태를 나타내며, 도 3(b)는 도 3(a)에서 대상물(100)의 검사 부위를 표현한 도면이다.
도 4은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 메인 화면(1610)의 일 예를 나타낸다.
도 5은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 모델 시험 설정화면의 일 예를 나타낸다.
도 6는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 시험 항목 설정화면의 일 예를 나타낸다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 룩업 모드 화면(1640)의 일 예를 나타낸다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 관심영역 모드 화면(1650)의 일 예를 나타낸다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 임계 모드 화면에서의 임계값 정보를 변경하는 블록의 일 예를 나타낸다.
도 10(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 촬영부(1200)에 의해 촬영된 이미지의 일 예를 나타내며, 도 10(b)는 본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 임계 모드가 적용된 이미지의 일 예를 나타낸다.
도 11(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 원형 탐색 모드 화면에서의 원형 탐색 정보를 변경하는 블록의 일 예를 나타내며, 도 11(b)는 원형 탐색 모드 화면의 원형 탐색 정보를 변경하는 블록의 또 다른 예를 나타낸다.
도 12는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 원반경 모드 화면에서의 원반경 정보를 변경하는 블록의 일 예를 나타낸다.
도 13은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 디바이스 설정 및 신호 제어를 위한 블록의 일 예를 나타낸다.
도 14은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기의 출력부(1600)의 측정 기준값 설정을 위한 블록의 일 예를 나타낸다.
아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
본 명세서에서 사용되는 용어에 대해 간략히 설명하고, 본 발명에 대해 구체적으로 설명하기로 한다.
본 발명에서 사용되는 용어는 본 발명에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 발명에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 발명의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다. 또한, 명세서 전체에서 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, "그 중간에 다른 소자를 사이에 두고" 연결되어 있는 경우도 포함한다.
이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명을 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기를 나타낸 블록도이며, 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기에서 고정부(1100), 촬영부(1200), 이동 가이드부(1300), 비교판단부(1500) 및 출력부(1600)를 나타낸 도면이다. 도 3(a)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기에서 대상물(100)이 고정된 상태를 나타내며, 도 3(b)는 도 3(a)에서 대상물(100)의 검사 부위를 표현한 도면이다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 비전검사기(1000)는 대상물(100)을 검사대에 고정시키는 고정부(1100), 고정된 대상물(100)의 검사 부위를 촬영하는 촬영부(1200), 촬영부(1200)를 검사대 위에서 대상물(100)과 소정의 거리만큼 이격시켜 수평으로 이동시키기 위한 이동 가이드부(1300), 비전 검사 모드를 설정하기 위한 사용자로부터의 입력을 수신하는 사용자입력수신부(1400), 비전 검사 모드 및 촬영부(1200)에 의해 촬영된 이미지를 기초로 대상물(100)의 검사 부위에서의 불량 발생 유무를 판단하는 비교판단부(1500) 및 비교판단부(1500)로부터 제공된 판단 결과를 출력하는 출력부(1600)가 포함될 수 있다.
고정부(1100)는 대상물(100)을 비전검사기(1000)의 검사대에서 움직이지 않도록 지지함으로써 고정시킬 수 있다. 비전검사기(1000)를 통한 검사 과정에서 비교판단부(1500)에서의 진동 발생, 촬영부(1200)에서 촬영 시 발생하는 진동 및 이동 가이드부(1300)에서의 전동기 등이 동작할 경우 비전검사기가 흔들릴 수 있는데, 이를 막아 검사의 정확성, 정밀성을 높이기 위함이다. 고정부(1100)는 지그(JIG), 클램프(CLAMP), 체결구 등의 고정 장치를 적어도 하나 이상 포함할 수 있다. 도 3(a)에서와 같이 고정부(1100)는 지지대(1110)를 포함하여 대상물(100)을 촬영부(1200)의 카메라 높이에 맞출 수 있다. 또한, 고정의 정도를 조절하기 위한 체결구(1120)를 포함할 수 있다. 대상물(100)의 일측 단부만을 고정시킬 수 있지만, 양측 단부를 동시에 고정시킬 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.
촬영부(1200)는 대상물(100)의 검사 부위를 흑백 또는 칼라 이미지로 촬영하는 카메라 등 촬영장치를 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 촬영부(1200)는 이동 가이드부(1300)에 부착되어 대상물(100)의 여러 개소 촬영을 위해 이동 가이드부(1300)에 의해 이동될 수 있다. 광원의 각도, 위치에 따라 대상물(100)에 대한 측정이 달라질 수 있으므로, 대상물(100)을 여러 각도에서 다양한 포인트를 촬영함으로써 보다 정확한 비교판단이 가능할 수 있다. 도 3(b)에서와 같이 대상물(100)의 제 1 포인트(110)를 촬영할 수 있고, 이동 가이드부(1300)에 의해서 수평으로 이동하여 대상물(100)의 제 2 포인트를 촬영할 수 있다.
이동 가이드부(1300)는 촬영부(1200)를 검사대 위에서 대상물(100)과 소정의 거리만큼 이격시켜 수평으로 이동시킬 수 있다. 이동 가이드부(1300)는 가이드레일(1310), 카메라고정부(1320) 및 구동부를 포함할 수 있다. 가이드레일(1310)은 카메라고정부(1320)가 구동부에 의해서 이동되는 레일을 포함할 수 있다. 카메라고정부(1320)는 촬영부(1200)의 카메라 등을 구동부에 의해서 이동 시에 움직이지 않도록 고정할 수 있는 장치를 포함할 수 있다. 구동부는 카메라고정부(1320)를 가이드레일(1310)을 따라 이동시키기 위한 것으로 리니어 모터, 스테핑 모터, 서보 모터, BLDC 모터 등을 포함할 수 있다. 도면 3(b)에서와 같이 대상물(100)의 제 1 포인트와 나란하게 촬영부(1200)를 위치시킬 수 있으며, 대상물(100)의 제 2 포인트를 촬영하기 위해 이동 가이드부(1300)는 구동부의 동작에 의해 카메라고정부(1320)가 가이드레일(1310)을 따라 수평으로 제 2 포인트와 촬영부(1200)를 나란하게 위치시킬 수 있다.
사용자입력수신부(1400)는 비전 검사 모드를 설정하기 위한 사용자로부터의 입력을 수신할 수 있다. 사용자의 입력은 마우스, 키보드, 터치패드 등의 입력장치를 통해서 이루어질 수 있으며, 휴대폰 등 무선 단말기 등 다른 기기를 통해서도 사용자의 입력이 이루어질 수 있다. 사용자에 의해서 선택된 비전 검사 모드에서 사용자는 각 비전 검사 모드에 따른 비전 검사 정보들을 입력, 변경 및 삭제 등 편집할 수 있다.
비교판단부(1500)는 비전 검사 모드 및 촬영부(1200)에서 촬영된 이미지를 기초로 대상물(100)의 검사 부위에서 불량 발생 유무를 판단할 수 있다. 비교판단부(1500)는 비전 검사 모드에 따라 결정된 촬영된 이미지 정보 및 촬영된 이미지를 촬영부(1200)로부터 전달받아 이를 저장할 수 있다. 비교판단부(1500)는 저장된 이미지 정보 및 이미지를 영상처리 한 후 불량 여부를 검출할 수 있다. 비교판단부(1500)는 대상물(100)의 불량 여부 검출 결과를 통신부를 출력부(1600)에 전달할 수 있다. 통신부는 무선 매체를 이용한 통신이나 유선 매체를 이용한 통신을 이용한 통신 장치를 포함할 수 있다. 도 2에서와 같이 비교판단부(1500)는 일반 PC와 같이 중앙처리장치(CPU)를 포함할 수 있으며, 유선 케이블 통신에 의해서 출력부(1600)와 연결되어 출력부(1600)에 검사 결과를 전송할 수 있다.
출력부(1600)는 통신부로부터 비교판단부(1500)의 판단 결과를 전송받아 그래픽이나 텍스트로 표시하기 위하여 그래픽 유저 인터페이스(Graphic User Interface, GUI)를 제공할 수 있다.
도 4는 출력부(1600)의 메인 화면(1610)의 일 예를 나타내고, 도 5는 출력부(1600)의 모델 시험 설정 화면(1620)의 일 예를 나타내며, 도 6은 출력부(1600)의 시험 항목 설정 화면(1630)의 일 예를 나타낸다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 출력부(1600)에서는 비전 검사 관련 정보가 표시되는 복수개의 블록들이 포함된 화면이 출력되고, 비전 검사 모드는 이미지의 명암대비를 변경할 수 있는 룩업(Lookup) 모드, 확인하고자 하는 관심 영역에 대한 정보를 변경할 수 있는 관심영역(ROI) 모드, 관심 영역의 밝기에 따른 값을 측정하기 위한 임계(Threshold) 모드, 이미지 내의 원형을 찾기 위한 원형 탐색(Circle Search) 모드 및 이미지 내의 원을 찾아 반지름을 측정하기 위한 원반경(Circle Radius) 모드가 포함될 수 있다.
도 4의 메인 화면(1610)에는 촬영 이미지 블록(1611), 시험 모델 블록(1612), 시험 수량 정보 블록(1613), 디지털 입력 신호표시 블록(1614), 검사 상태 표시 블록(1615), 이미지 측정 항목 리스트 블록(1616), 이미지 측정 항목 관심영역 별 결과 표시 블록(1617) 및 프로그램 진행 상태 블록(1618)을 포함할 수 있다. 촬영 이미지 블록(1611)에서는 촬영부(1200)에서 캡쳐된 이미지가 표시될 수 있다. 시험 모델 블록(1612)에서는 시험 진행 시간, 시험 모델에 대한 정보 및 선택한 시험 모델 사양이 표시될 수 있다. 시험 수량 정보 블록(1613)에서는 총 검사 제품, 합격 제품 및 불합격 제품에 대한 시험 진행 횟수가 표시될 수 있으며, 사용자입력수신부(1400)에 의해서 수신된 입력 신호에 의해서 시험 수량이 초기화될 수 있다. 디지털 입력 신호표시 블록(1614)에서는 사용자입력수신부(1400)에 의해서 신호 입력이 가능하며, 검사 시작을 위한 START 블록, 수동 조작을 위한 Manual 블록, 자동 시작을 위한 AUTO 블록, 검사 재시작을 위한 RESET 블록, 테스트 진행 중 비상 정지를 위한 EMG 블록, CAM1의 우측 상황을 표시하기 위한 CAM1 우측 블록, CAM1의 좌측 상황을 표시하기 위한 CAM1 좌측 블록, 셔터를 닫기 위한 Shutter Close 블록, 셔터를 열기 위한 Shutter Open 블록 및 실린더 에어의 상태를 알려주는 AIR 꺼짐(또는 AIR 켜짐) 블록을 포함할 수 있다. 검사 상태 표시 블록(1615)에서는 비전 검사 상태에 대한 정보를 표시할 수 있는데, 검사 대기 중인 경우에는 "대기..."를, 검사 완료 후 시험 결과 합격인 경우 "합격"을, 검사 완료 후 시험 결과가 불합격인 경우 "불합격"을, 검사 진행 중인 경우에는 "시험..."을 표시하고, 검사 준비가 완료된 경우에는 "준비완료"를 표시할 수 있다. 이미지 측정 항목 리스트 블록(1616)에서는 선택된 모델에 대한 시험 항목 및 결과를 표시할 수 있다. 구체적으로 시험 순서, 해당 시험 항목명, 해당 이미지를 취득하는 카메라 이름, 해당 이미지를 취득하는 카메라 위치, 해당 항목 결과 및 상태를 표시할 수 있고, 초기 상태는 흰색으로, 합격 상태는 녹색으로, 불합격 상태는 적색으로 표시하는 구성을 포함할 수 있다. 이미지 측정 항목 관심영역 별 결과 표시 블록(1617)에서는 측정 항목 리스트에서 선택된 항목에 대한 판정 기준 과 그 결과를 표시할 수 있다. 구체적으로 검사 번호, 측정 타입, 판정 영역 이름, 판정 기준 값, 판정 결과 값 및 그 결과를 표시할 수 있다. 프로그램 진행 상태 블록(1618)에서는 현재 프로그램 진행 상태를 확인할 수 있다. 구체적으로 프로그램 구동이 초기화된 경우에는 "초기화", 설정 파일을 로드 중인 경우에는 "대기", 시험 준비가 완료된 상태인 경우 "시험준비 완료", 수동 조작의 경우에는 "매뉴얼 모드", 자동 시험 시작된 경우에는 "자동시작", 촬영부(1200)의 카메라가 이동 가이드부(1300)에 의해서 이동하면서 이미지를 촬영하고 있는 경우에는 "이미지 촬영", 검사 결과가 판정되고 데이터가 저장되고 있는 경우에는 "시험 결과 확인", 비전 검사 결과 합격 판정된 경우에는 "시험 합격", 비전 검사 결과 불합격 판정인 경우에는 "시험 불합격", 비전검사가 완료된 경우에는 "테스트완료", 테스트 진행 중 디바이스에 각종 에러가 발생한 경우에는 "시험 에러", 테스트 진행 중 비상정지(EMG) 신호를 사용자가 입력한 경우에는 "비상 정지 모드" 및 프로그램이 종료되는 경우 "종료"를 표시할 수 있다.
도 5의 모델 시험 설정 화면(1620)은 모델 리스트 블록(1621), 사양 리스트 블록(1622), 시험 항목 리스트 블록(1623), 관심 영역 리스트 블록(1624), 전체 시험 항목 리스트 블록(1625) 및 컨트롤 블록(1626)을 포함하여, 현재까지 설정된 시험 항목을 확인하고 새로운 항목을 생성, 변경하거나 삭제할 수 있다. 모델 리스트 블록(1621)에서는 번호에 따라 모델 이름이 표시될 수 있으며, 컨트롤 블록(1626)이 포함되어 있어, 모델을 추가, 삭제 및 선택된 모델에 대한 변경 사항을 적용할 수 있다. 사양 리스트 블록(1622)에서는 번호에 따라 사양 이름이 표시될 수 있으며, 컨트롤 블록(1626)이 포함되어 있어, 사양을 추가, 삭제 및 선택된 사양에 대한 변경 사항을 적용할 수 있다. 시험 항목 리스트 블록(1623)에서는 모델 리스트 블록(1621)에서 선택된 모델에 대한 시험 항목을 표시할 수 있다. 시험 항목 리스트 블록(1623)은 번호에 따라 시험 항목 이름을 표시하는 구성, 시험 항목에서 사용하는 카메라 인터페이스 이름을 표시하는 구성 및 시험 항목을 삭제 및 저장할 수 있는 컨트롤 블록을 포함할 수 있다. 관심 영역 리스트 블록(1624)에서는 시험 항목 리스트 블록(1623)에서 선택된 시험 항목에서 설정된 관심 영역에 대한 정보를 표시할 수 있다. 관심 영역 리스트 블록(1624)은 순서를 표시하는 구성, 시험 진행 시 판정 유무를 표시하는 구성, 관심영역 판정방법을 표시하는 구성 및 관심영역의 이름을 표시하는 구성을 포함할 수 있다. 전체 시험 항목 리스트 블록(1625)에서는 설정되어 있는 모든 시험 항목을 표시할 수 있다. 전체 시험 항목 리스트 블록(1625)는 리스트 박스 블록(1625-1), 추가 컨트롤 블록(1625-2), 설정 블록(1625-3)을 포함할 수 있다. 리스트 박스 블록(1625-1)은 순서에 따라 시험 항목 이름을 표시하는 구성, 시험 항목에서 사용되는 카메라 인터페이스 이름을 표시하는 구성, 시험 항목에서 사용하는 카메라의 위치를 표시하는 구성을 표시하는 구성을 포함할 수 있다. 추가 컨트롤 블록(1625-2)에서는 시험 항목 리스트에 현재 선택된 시험 항목을 추가할 수 있다. 설정 블록(1625-3)에서는 기존 작성된 시험 항목을 편집, 삭제 또는 추가할 수 있는 별도의 팝업 창이 활성화될 수 있다.
도 6의 시험 항목 설정 화면(1630)은 시험 항목 리스트 블록(1631), 시험 항목 정보 블록(1632), 촬영 이미지 블록(1633), 모드 설정 블록(1634), 디바이스 설정 및 신호 제어 블록(1635)을 포함할 수 있다. 시험 항목 리스트 블록(1631)은 시험 항목 순서에 따라 시험 항목 이름을 표시하는 구성, 카메라 인터페이스 이름을 표시하는 구성, 카메라 인터페이스 위치를 표시하는 구성 및 시험 항목의 추가, 삭제 및 선택된 시험 항목에 대한 변경 사항을 적용하는 컨트롤 블록이 포함할 수 있다. 시험 항목 정보 블록(1632)은 시험 항목 리스트 블록(1631)에서 선택된 항목 이름을 표시하고 항목의 변경이 가능한 구성과 시험 항목 리스트 블록(1631)에서 선택된 항목에 대한 부가 설명을 표시하거나 변경 가능한 구성을 포함할 수 있다. 촬영 이미지 블록(1633)은 촬영 또는 캡쳐된 이미지를 표시하는 구성과 이미지 컨트롤 블록(1633-1)을 포함할 수 있다. 이미지 컨트롤 블록(1633-1)은 이미지를 실시간으로 촬영할 수 있는 PlayOFF 블록, 이미지를 1회 촬영할 수 있는 Snap 블록, 이미지의 센터를 십자선으로 표시하는 Center 블록을 포함할 수 있다. 모드 설정 블록(1634)에서는 사용자에 의해서 비전 검사 모드가 변경될 수 있는 구성, Offset이 적용되는 블록, Offset을 설정하는 블록이 포함될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 룩업(Lookup) 모드에서는 적색, 녹색 및 청색 각각의 밝기, 명암대비 및 감마보정 값이 각각 표시된 블록에서의 정보가 사용자입력수신부(1400)로부터 수신된 입력에 따라 변경될 수 있다. 룩업 모드는 사용자가 특정한 색을 더 강조하여 비전 검사의 정확도를 향상시키거나 특정색깔의 명암대비 값 등을 조절하여 특정 색깔을 가진 검사 부위를 중점적으로 검사하기 위한 경우에 사용될 수 있으며, 도 7에서와 같이 룩업 모드 화면(1640)은 이미지 블록(1641), 모드 설정 블록(1642), 룩업 모드 셋팅 블록(1643)을 포함할 수 있다. 이미지 블록(1641)에서는 촬영부(1200)에 의해 촬영된 이미지가 표시될 수 있다. 모드 설정 블록(1642)에서는 사용자 입력에 의해 비전 검사 모드가 변경될 수 있다. 룩업 모드 셋팅 블록(1643)에서는 이미지 명암대비를 변경할 수 있다. 룩업 모드 셋팅 블록(1643)은 룩업 모드 상태 블록(1644), 적색 BCG 값 블록(1645), 녹색 BCG 값 블록(1646) 및 청색 BCG 값 블록(1647)을 포함할 수 있다. 룩업 모드 상태 블록(1644)에서는 룩업 모드 사용 여부가 사용자에 의해서 선택될 수 있다. 적색 BCG 값 블록(1645)에서는 적색 색상의 밝기, 적색 색상의 명암 대비 및 적색 감마 보정 값이 조절될 수 있다. 녹색 BCG 값 블록(1646)에서는 녹색 색상의 밝기, 녹색 색상의 명암 대비 및 녹색 감마 보정 값이 조절될 수 있다. 청색 BCG 값 블록(1647)에서는 청색 색상의 밝기, 청색 색상의 명암 대비 및 청색 감마 보정 값이 조절될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 관심영역(ROI) 모드에서는 사용자입력수신부(1400)로부터 수신된 입력에 따라 새로운 관심영역을 추가하는 기능, 기존의 관심영역을 삭제하는 기능, 관심영역의 측정 방법을 선택하는 기능, 관심영역의 이름을 변경하는 기능, 관심영역에서의 추가적인 선택 기능, 관심영역의 모양을 변경하는 기능, 관심영역의 이미지를 확대 또는 축소하는 기능, 관심영역의 이미지 전체를 볼 수 있는 기능 또는 관심영역의 상태 변경 이전의 상태로 되돌아갈 수 있는 기능 중 적어도 하나가 수행될 수 있다.
관심영역 모드는 촬영된 이미지 상에서 확인하고자 하는 관심영역을 설정하여 설정된 관심영역을 중심으로 측정방법을 달리하여 검사할 수 있다. 도 8에서와 같이 관심영역 모드 화면(1650)은 이미지 블록(1651), 관심영역 정보 블록(1652), 비전 검사 모드 설정 블록(1653) 및 관심영역 셋팅 블록(1654)를 포함할 수 있다. 이미지 블록(1651)은 촬영된 이미지를 표시할 수 있다. 관심영역 정보 블록(1652)은 선택된 관심영역의 정보를 표시하는 구성(1652), 설정된 Pattern 이미지를 표시하는 구성(1656) 및 관심영역 복구 버퍼(1657)를 포함할 수 있다. 선택된 관심영역의 정보를 표시하는 구성(1652)에서는 선택된 관심영역의 이름을 표시하는 구성 및 선택된 관심영역의 측정 타입을 표시하는 구성을 포함할 수 있다. 설정된 Pattern 이미지를 표시하는 구성(1656)은 다수의 패턴 이미지를 등록할 수 있으며, 비전 검사의 목적 및 환경에 따라 최대로 설정할 수 있는 패턴 이미지를 결정할 수 있다. 관심영역 복구 버퍼(1657)는 이전 단계로 돌릴 수 있는 횟수를 표시하는 구성을 포함할 수 있다. 비전 검사 모드 설정 블록(1653)에서는 사용자에 의하여 비전 검사 모드가 변경될 수 있다. 관심영역 셋팅 블록(1654)에서는 관심영역의 추가, 관심영역의 삭제, 관심영역의 이름 변경, 관심영역 재선택, 관심영역 모양변경, 이미지 확대 또는 축소, 이미지 전체 관찰 및 이전 상태로의 변경을 할 수 있다. 관심영역 셋팅 블록(1654)은 사용자가 이미지 블록(1651)에 마우스를 통한 입력에 따라 팝업창으로 활성화 될 수 있다. 관심영역 셋팅 블록(1654)에서 관심영역의 모양변경 기능은 사용자의 입력에 따라 관심영역을 설정할 수 있는 모양이 사각형, 원형, 삼각형, 고리형 등 다양하게 변경될 수 있다. 관심영역 셋팅 블록(1654)에서 이미지 확대 또는 축소 기능은 사용자의 입력에 의해서 관심영역의 이미지가 확대되거나 축소될 수 있다. 관심영역 셋팅 블록(1654)에서 이전단계로 되돌아가는 기능은 사용자가 관심영역에 관한 설정 변경을 잘못한 경우에 이전의 설정 상태로 다시 설정하는 것에 따른 불편함을 막기 위해 사용될 수 있다. 이에 따라 관심영역을 변경 이전의 위치로 되돌아가거나 관심영역의 모양을 변경 이전의 모양으로 되돌아가거나 변경전 관심영역의 이름으로 되돌아갈 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 비전검사기는 임계(Threshold) 모드에서는 적색, 녹색 및 청색 밝기 임계값이 각각 표시된 블록에서의 정보가 사용자입력수신부(1400)로부터 수신된 입력에 따라 변경될 수 있다. 도 9의 임계 모드 설정 화면에서 임계 모드 설정 블록(1660)은 이미지 마스크 블록(1661), 임계 범위 블록(1662), 적색 임계 범위 블록(1663), 녹색 임계 범위 블록(1664) 및 청색 임계 범위 블록(1665)를 포함할 수 있다. 이미지 마스크 블록(1661)에서는 임계 모드의 적용 유무를 선택할 수 있는 셋팅버튼 블록, 관심영역 설정 블록(1661-2) 및 쉬링크 블록(1661-3)이 포함될 수 있다. 이미지 마스크 블록(1661)에서 관심영역 설정 블록(1661-2)에서는 설정된 관심영역만 임계 모드를 적용하거나 설정된 관심영역 외의 나머지 부분에만 임계 모드를 적용할 수 있다. 이미지 마스크 블록(1661)의 쉬링크 블록(1661-3)에서는 임계 모드에서 관심영역만 확대할 수 있다. 따라서, 사용자는 관심영역 또는 관심영역 외의 부분으로 나누어 각 색깔 별로 임계 밝기를 조절하여 검사 형태를 다양하게 진행할 수 있다. 임계 범위 조절과 관련하여 임계 범위 블록(1662)에서와 같이 모든 색의 임계 밝기를 조절할 수도 있지만, 적색, 녹색 및 청색에 따라 각각의 밝기 임계점을 조절할 수 있도록 하여 사용자가 강조하려는 색상에 따라 각각 개별적으로 조절할 수 있다. 흑백 이미지의 경우에는 임계 범위 블록(1662)에 따라 개별 색깔을 조절하는 것이 아닌 전체 적용을 사용하여 설정할 수 있다. 도 9에서와 같이 하한 값 입력은 Lower 블록에 사용자의 입력에 의해서, 상한 값 입력은 Upper 블록에 사용자의 입력에 의해서 조절이 가능하다. 또한, 사용자가 마우스 입력 등을 통해서 바 위치를 바꾸면서 각 색별로 임계 밝기를 조절하거나, 이 외에도 사용자가 직접 수동으로 조절할 수도 있다. 임계 밝기의 가장 어두운 밝기인 하한 값을 0으로 가장 밝은 밝기일 때인 상한 값을 255로 설정할 수 있다.
도 10(a)는 임계 모드 적용을 하지 않은 기본 이미지이고, 도 10(b)는 임계 모드가 적용된 이미지에 해당한다. 도 10(b)에서와 같이 임계 모드가 적용된 경우에는 설정된 임계 밝기 값에 해당하는 부분만 빨간색으로 표시가 될 수 있으며, 관심영역 안에 빨간색으로 표시된 부분이 얼마나 있는지를 기초로 검사 결과를 판단할 수 있다.
원형 탐색 모드는 대상물(100)의 검사 부품이 원형인 경우 혹은 부품이 삽입되어 연결된 형태가 원형인 경우 이를 탐색하여 비전 검사가 효율적으로 이루어지도록 하기 위함이다. 도 11(a)에서와 같이 원형 탐색 모드 화면에서 원형 탐색 모드 블록(1670)은 셋팅 블록(1672)에 따라 1번 셋팅과 2번 셋팅으로 나뉠 수 있으며, 1번 셋팅인 경우 원형 파라미터 블록(1673)과 대상 원형 블록(1674)를 포함할 수 있으며, 2번 셋팅인 경우 매치 옵션 블록(1676)을 포함할 수 있다. 원형 파라미터 블록(1673)은 추출 모드 블록(1673-1), 임계 블록(1673-2), 에지 필터의 블록(1673-3), 최소 길이 블록(1673-4), 행 스텝 사이즈 블록(1673-5), 열 스텝 사이즈 블록(1673-6), 최대 간격 블록(1673-7), 닫힘 블록(1673-8) 및 서브 픽셀 블록(1673-9)을 포함할 수 있다. 추출 모드 블록(1673-1)에서는 픽셀 값에 상관 없이 원형을 찾는 기본 모드 또는 픽셀 값이 균일한 원형만 찾는 추출 모드가 선택될 수 있다. 임계 블록(1673-2)에서는 찾아낼 원형의 임계 값이 설정될 수 있다. 최소 길이 블록(1673-3)에서는 가장자리(edge) 필터의 크기가 보통으로 설정되거나 가장자리(edge) 필터의 크기가 미세하게 조정되도록 설정될 수 있다. 최소 길이 블록(1673-4)에서는 가장 작은 곡선의 길이가 지정될 수 있다. 행 스텝 사이즈 블록(1673-5)에서는 곡선 시드 포인트를 검사하는 이미지 행 사이의 Y방향 거리가 지정될 수 있다. 열 스텝 사이즈 블록(1673-6)에서는 곡선 시드 포인트를 검사하는 이미지 열 사이의 X방향 거리가 지정될 수 있다. 최대 간격 블록(1673-7)에서는 곡선의 끝점 사이의 최대 간격이 지정될 수 있다. 닫힘 블록(1673-8)에서는 닫힌 커브만 식별되는 경우 "Disable"이 표시될 수 있고, 닫힌 커브와 열린 커브 모두 식별되는 경우에는 "Enable"이 표시될 수 있다. 서브 픽셀 블록(1673-9)에서는 서브 픽셀 정확도를 통해서 곡선점을 감지하는 경우 "Enable"이 표시될 수 있고, 서브 픽셀 정확도에 기초하여 곡선점을 감지하지 않는 경우 "Disable"이 표시될 수 있다. 대상 원형 블록(1674)에서는 찾아야 할 원의 크기가 지정될 수 있는데, 최소 원의 반경은 Min Radius 블록에, 최대 원의 반경은 Max Radius 블록에 사용자의 입력을 통하여 지정될 수 있다. 원형 탐색 모드 블록(1670)이 2번 셋팅인 경우, 매치 옵션 블록(1676)을 포함될 수 있다. 매치 옵션 블록(1676)에서는 1번 셋팅에서 원형 파라미터 블록(1673)과 대상 원형 블록(1674)에서 설정된 원형에 대해서 원형을 탐색할 때 모양을 감지하여 탐색할 수 있다. 매치 옵션 블록(1676)에서는 회전 여부에 대한 설정 기능, 모양의 스케일링 여부 설정 기능, 폐색 시 검색 기능, 회전 각도, 스케일링 정도 및 폐색 정도에 대한 모드를 설정하는 기능, 설정된 모드에 기초하여 최소 및 최대 범위를 지정하는 기능 및 반환 된 도형이 가질 수 있는 최소 점수를 계산하여 표시하는 기능이 포함될 수 있다.
원반경(Circle Radius) 모드는 대상물(100)의 가장자리(edge)로부터 윤곽을 추출하고 그 윤곽선과의 차이가 큰 부분을 인식하여 부품에 결함이 있는지를 파악하기 위한 비전 검사 모드이다. 도 12에서와 같이 원반경 모드 블록(1680)은 검색 유형 블록(1683-1), 최대 픽셀 반경 블록(1683-2), 스텝 사이즈 블록(1683-3), 에지 극성 블록(1684-1), 최소 에지 강도 블록(1684-2), 커널 사이즈 블록(1684-3), 보간 타입 블록(1684-4), 너비 블록(1684-5) 및 데이터 처리 블록(1684-6)을 포함할 수 있다. 검색 유형 블록(1683-1)에서는 검색 유형을 선택할 수 있는데, 이러한 검색 유형에는 가장 처음의 가장자리(edge)를 반환하는 유형, 처음과 마지막 가장자리(edge)를 반환하는 유형, 모든 가장자리(edge)를 반환하는 유형 및 원을 만들 때 주변의 가장자리(edge)와 비교하여 가장 좋은 가장자리(edge)를 반환하는 유형이 포함될 수 있다. 최대 픽셀 반경 블록(1683-2)에서는 찾는 원형의 일부로 간주되는 반지름의 길이가 설정될 수 있다. 스텝 사이즈 블록(1683-3)에서는 둥근 영역의 방사형 선 사이의 각도가 설정될 수 있다. 에지 극성 블록(1684-1)에서는 가장자리(edge)의 극성을 설정할 수 있는데, 모든 가장자리(edge)를 검색하거나 상승 또는 하강 가장자리(edge)를 검색하는 구성이 포함될 수 있다. 최소 에지 강도 블록(1684-2)에서는 최소 에지의 강도(Minimum Edge Strength)가 설정될 수 있다. 커널 사이즈 블록(1684-3)에서는 가장자리(edge) 감지 터널의 크기가 설정될 수 있다. 보간 타입 블록(1684-4)에서는 가장자리(edge)를 찾는 보간 방법(Interpolation Type)을 지정할 수 있는데, 이러한 보간 방법(Interpolation Type)에는 가장 가까운 적분 가장자리(edge) 위치로 반올림하는 방법(Zero Order Type), 쌍 선형 보간으로 가장자리(edge) 위치를 계산하는 방법(Bilinear Type) 또는 쌍 선형 보간의 고정 소수점으로 가장자리(edge) 위치를 계산하는 방법(Bilinear Fixed Type)이 포함될 수 있다. 너비 블록(1684-5)에서는 관심영역(ROI)를 따라 가장자리(edge) 프로파일 강도를 계산하기 위해 검색 방향에 수직으로 평균화된 픽셀 수가 지정될 수 있다. 데이터 처리 블록(1684-6)에서는 반환된 데이터를 처리하는 방법이 지정될 수 있는데, 이러한 방법에는 데이터 평균화(average) 방법 또는 데이터의 중앙 값(Median)에 의한 방법이 포함될 수 있다.
비전 검사기의 비전 검사 모드 외에도 디바이스 설정 및 신호 제어가 가능한데 이는 도 13에서와 같이 디바이스 설정 및 신호 제어 블록(1635)에 의해서 이루어질 수 있다. 디바이스 설정 및 신호 제어 블록(1635)에서는 모드 변경 블록(1634-1), 카메라 설정 블록(1636), 스위치류 및 기타 센서 동작 확인 블록(1637-1), 타워 램프 제어 블록(1637-2), 조명 설정 블록(1638), 셔터 상승/하강 블록(1639-1) 및 카메라 실린더 제어 블록(1639-2)가 포함될 수 있다. 모드 변경 블록(1634-1)에서는 비전 검사 모드 외에 디바이스 설정 및 신호 제어 모드 및 측정 기준값 설정 모드를 선택할 수 있다. 카메라 설정 블록(1636)에서는 카메라 및 카메라의 위치가 선택할 수 있다. 스위치류 및 기타 센서 동작 확인 블록(1637-1)에서는 시작 신호(START)를 수신하였는지 여부, 비상상황 신호(EMG)를 수신하였는지 여부, 리셋 신호(RESET)를 수신하였는지 여부, 수동 조작 신호(MANUAL)를 수신하였는지 여부 및 자동 조작 신호(AUTO)를 수신하였는지 여부를 확인할 수 있다. 타워 램프 제어 블록(1637-2)에서는 검사 준비, 검사 합격, 검사 불합격 및 부저음 전원 ON/OFF 여부에 관하여 사용자의 신호에 따라 타워 램프가 ON/OFF 될 수 있다. 조명 설정 블록(1638)에서는 전체 조명이 ON/OFF 되거나, 카메라 및 바 각각의 조명이 ON/OFF 될 수 있다. 셔터 상승/하강 블록(1639-1)에서는 셔터의 상승 또는 하강이 조절될 수 있으며, 셔터의 상승 또는 하강 여부에 대한 알림이 ON/OFF 될 수 있다. 카메라 실린더 제어 블록(1639-2)에서는 카메라 실린더의 우측 또는 좌측 이동이 조절될 수 있으며, 실린더 우측 또는 좌측 이동 여부에 대한 알림이 ON/OFF 될 수 있다.
비전 검사기의 비전 검사 모드 설정 외에도 측정 기준값 설정이 가능하다. 도 14에서와 같이 측정 기준값 설정 블록(1690)에서는 모드 변경 블록(1691), 측정 컨트롤 블록(1692), 관심영역 리스트 블록(1693), 측정 기준값 입력 블록(1694) 및 측정 기준값 적용 블록(1695)이 포함될 수 있다. 모드 변경 블록(1691)에서는 비전 검사 모드 외에 디바이스 설정 및 신호 제어 모드 및 측정 기준값 설정 모드를 선택할 수 있다. 측정 컨트롤 블록(1692)에서는 현재 촬영된 이미지에 대한 측정을 시작하는 신호를 사용자로부터 입력 받을 수 있다. 관심영역 리스트 블록(1693)에서는 번호에 따라 측정 방법, 관심영역 이름, 합격/불합격 기준 값 및 측정된 값이 표시될 수 있다. 측정 기준값 입력 블록(1694)에서는 관심영역 리스트 블록(1693)에 선택된 이름(Name), 최소값(Spec Min) 및 최대값(Spec Max)을 사용자로부터 입력 받을 수 있다. 측정 기준값 적용 블록(1695)에서는 관심 영역 리스트 블록(1693)에서 선택되어 사용자로부터 이름(Name), 최소값(Spec Min) 및 최대값(Spec Max)을 입력 받은 값을 적용할 지에 대한 신호를 받을 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예로써, 전술한 방법을 구현하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체가 제공될 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 방법과 관련하여서는 전술한 장치(예를 들면 비전검사기)에 대한 내용이 적용될 수 있다. 따라서, 방법과 관련하여, 전술한 장치에 대한 내용과 동일한 내용에 대하여는 설명을 생략하였다.
한편, 전술한 방법은 컴퓨터에서 실행될 수 있는 프로그램으로 작성 가능하고, 컴퓨터 판독 가능 매체를 이용하여 상기 프로그램을 동작시키는 범용 디지털 컴퓨터에서 구현될 수 있다. 또한, 상술한 방법에서 사용된 데이터의 구조는 컴퓨터 판독 가능 매체에 여러 수단을 통하여 기록될 수 있다. 본 발명의 다양한 방법들을 수행하기 위한 실행 가능한 컴퓨터 프로그램이나 코드를 기록하는 기록 매체는, 반송파(carrier waves)나 신호들과 같이 일시적인 대상들은 포함하는 것으로 이해되지는 않아야 한다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 마그네틱 저장매체(예를 들면, 롬, 플로피 디스크, 하드 디스크 등), 광학적 판독 매체(예를 들면, 시디롬, DVD 등)와 같은 저장 매체를 포함할 수 있다.
전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100 : 대상물
1000 : 비전검사기
1100 : 고정부
1110 : 지지대
1200 : 촬영부
1300 : 이동 가이드부
1310 : 가이드레일
1320 : 카메라고정부
1400 : 사용자입력수신부
1500 : 비교판단부
1600 : 출력부
1610 : 메인 화면
1620 : 모델 시험 설정 화면
1630 : 시험 항목 설정 화면
1640 : 룩업 모드 화면
1650 : 관심영역 모드 화면
1660 : 임계 모드 설정 블록
1670 : 원형 탐색 모드 블록
1680 : 원반경 모드 블록
1000 : 비전검사기
1100 : 고정부
1110 : 지지대
1200 : 촬영부
1300 : 이동 가이드부
1310 : 가이드레일
1320 : 카메라고정부
1400 : 사용자입력수신부
1500 : 비교판단부
1600 : 출력부
1610 : 메인 화면
1620 : 모델 시험 설정 화면
1630 : 시험 항목 설정 화면
1640 : 룩업 모드 화면
1650 : 관심영역 모드 화면
1660 : 임계 모드 설정 블록
1670 : 원형 탐색 모드 블록
1680 : 원반경 모드 블록
Claims (7)
- 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기에 있어서,
상기 대상물을 검사대에 고정시키는 고정부;
상기 고정된 대상물의 검사 부위를 촬영하는 촬영부;
상기 촬영부를 상기 검사대 위에서 상기 대상물과 소정의 거리만큼 이격시켜 수평으로 이동시키기 위한 이동 가이드부;
비전 검사 모드를 설정하기 위한 사용자로부터의 입력을 수신하는 사용자입력수신부;
상기 비전 검사 모드 및 상기 촬영부에 의해 촬영된 이미지를 기초로 상기 대상물의 상기 검사 부위에서의 불량 발생 유무를 판단하는 비교판단부; 및
상기 비교판단부로부터 제공된 판단 결과를 출력하는 출력부를 포함하는 비전검사기.
- 제1항에 있어서,
상기 출력부에서는 비전 검사 관련 정보가 표시되는 복수개의 블록들이 포함된 화면이 출력되고,
상기 비전 검사 모드는 상기 이미지의 명암대비를 변경할 수 있는 룩업(Lookup) 모드, 확인하고자 하는 관심 영역에 대한 정보를 변경할 수 있는 관심영역(ROI) 모드, 상기 관심 영역의 밝기에 따른 값을 측정하기 위한 임계(Threshold) 모드, 상기 이미지 내의 원형을 찾기 위한 원형 탐색(Circle Search) 모드 및 상기 이미지 내의 원을 찾아 반지름을 측정하기 위한 원반경(Circle Radius) 모드를 포함하는 비전검사기.
- 제2항에 있어서,
상기 룩업(Lookup) 모드에서는 적색, 녹색 및 청색 각각의 밝기, 명암대비 및 감마보정 값이 각각 표시된 블록에서의 정보가 상기 사용자입력수신부로부터 수신된 입력에 따라 변경되는 비전검사기.
- 제2항에 있어서,
상기 관심영역(ROI) 모드에서는 상기 사용자입력수신부로부터 수신된 입력에 따라 새로운 관심영역을 추가하는 기능, 기존의 관심영역을 삭제하는 기능, 상기 관심영역의 측정 방법을 선택하는 기능, 상기 관심영역의 이름을 변경하는 기능, 상기 관심영역에서의 추가적인 선택 기능, 상기 관심영역의 모양을 변경하는 기능, 상기 관심영역의 이미지를 확대 또는 축소하는 기능, 상기 관심영역의 이미지 전체를 볼 수 있는 기능 또는 상기 관심영역의 상태 변경 이전의 상태로 되돌아갈 수 있는 기능 중 적어도 하나가 수행되는 비전검사기.
- 제2항에 있어서,
상기 임계(Threshold) 모드에서는 적색, 녹색 및 청색 밝기 임계값이 각각 표시된 블록에서의 정보가 상기 사용자입력수신부로부터 수신된 입력에 따라 변경되는 비전검사기.
- 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기를 이용하는 검사방법에 있어서,
상기 대상물을 검사대에 고정시키는 단계;
상기 검사대 위에서 이동 가이드부에 의해서 상기 비전검사기의 촬영부가 상기 대상물과 소정의 거리만큼 이격되어 수평 이동하면서 상기 대상물의 검사 부위를 촬영하는 단계;
비전 검사 모드를 설정하기 위해 사용자로부터의 입력을 수신하는 단계;
상기 비전 검사 모드 및 상기 촬영부에 의해 촬영된 이미지를 기초로 비교판단부에서 상기 대상물의 검사 부위에서의 불량 발생 유무를 판단하는 단계; 및
상기 비전검사기의 출력부에서 상기 비교판단부에 의한 판단 결과를 출력하는 단계를 포함하는 검사방법.
- 제 6 항의 방법을 구현하기 위한 프로그램이 기록된 컴퓨터로 판독 가능한 기록매체.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180030331A KR20190108805A (ko) | 2018-03-15 | 2018-03-15 | 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기 및 그 검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180030331A KR20190108805A (ko) | 2018-03-15 | 2018-03-15 | 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기 및 그 검사방법 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20190108805A true KR20190108805A (ko) | 2019-09-25 |
Family
ID=68068219
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020180030331A Ceased KR20190108805A (ko) | 2018-03-15 | 2018-03-15 | 대상물의 결함 발생 유무를 검사하는 비전검사기 및 그 검사방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20190108805A (ko) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102250058B1 (ko) * | 2021-02-25 | 2021-05-07 | 나동원 | 모터용 스테이터의 제조 공정에서 퓨징 및 터미널의 비전검사용 애플리케이션을 구현하기 위하여 매체에 저장된 컴퓨터로 읽을 수 있는 프로그램 |
| KR20220065559A (ko) | 2020-11-13 | 2022-05-20 | 김희원 | 메인보드의 오염 방지 기능을 갖는 비전 검사장치 |
| KR20230061726A (ko) * | 2021-10-29 | 2023-05-09 | 주식회사 서연이화 | 배터리 캐리어 사출품의 변형 감지 방법 및 시스템 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101067647B1 (ko) | 2009-03-03 | 2011-09-27 | 주식회사 서울금속 | 정밀나사용 헤드 측면부의 크랙검사장치 |
-
2018
- 2018-03-15 KR KR1020180030331A patent/KR20190108805A/ko not_active Ceased
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20180315 |
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| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20180620 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20180315 Comment text: Patent Application |
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Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20191113 Patent event code: PE09021S01D |
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Patent event date: 20200210 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20191113 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |