JPH03137548A - 透視装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、被検体に放射線を照射して得られる透過放射
線から被検体の内部構成等を検査する際に用いられる透
視装置に関する。

（従来の技術） 従来、被検体の内部構成等を検査する際には、Ｘ線管か
ら放射され、被検体を透過した透過Ｘ線を可視像に変換
して検査するために、Ｘ線蛍光増倍管（Ｘ−Ｒａｙ　Ｉ
ｍａｇｅ　Ｉｎｔｅｎｓ１ｆ’１ｅｒ）とＣＣＤカメラ
等の撮像手段とを用いて検出する透視装置が一般的に用
いられる。

これら従来の透視装置においては、透視して得られた透
視画像データに対してスムージング処理を施した後、当
該透視画像データと前記スムージング処理によって得ら
れた画像データの差分及びこの差分に対する微分演算を
行なう。さらに、これら多値画像に対する２値化処理を
行なって得られる２値化画像に対してラベリング、面積
測定及び論理フィルタリングを行ない欠陥を検出するよ
うにしていた。

（発明が解決しようとする課題） しかしながら上述した従来の透視装置においては、透視
によって得られる画像データ毎にスムージング処理を行
ない、このスムージング処理によって得られたスムージ
ング画像データと原画像データとの差分を求める等の各
種演算を行なうようにしているため、画像処理に時間が
かかり、またこれら画像処理を行なうには各工程に応じ
て熟練した技術が必要とされた。

本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的
としては、被検体内部の検査を熟練した技術を必要とす
ることなく容易かつ迅速に行なうことのできる透視装置
を提供することにある。

［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 上記目的を達成するため、本発明の透視装置は、放射線
を被検体に向けて放射する放射線発生手段と、この放射
線発生手段から放射された放射線を検出する検出手段と
、前記放射線発生手段から放射され、被検体を透過した
放射線を前記検出手段で検出して得られる複数の透視画
像データから良好な領域の抽出及び合成を行ない良品画
像データを作成する良品画像データ作成手段と、この良
品画像データ作成手段で作成される良品画像データを記
憶する記憶手段と、この記憶手段で記憶される良品画像
データと前記放射線発生手段から放射され、被検体を透
過した放射線を前記検出手段で検出して得られる透視画
像データとの差分に係るデータの演算を行なう演算手段
と、この演算手段で得られる演算データを表示する表示
手段とを有して構成した。

（作用） 本発明における透視装置においては、放射線発生手段か
ら放射され、被検体を透過した放射線を前記検出手段で
検出して得られる透視画像データの内、欠陥等がなく良
好な領域を選択し、良品画像データ作成手段によってこ
の良好な領域を抽出すると共に、同様に他の複数の透視
画像データから得られる良好な領域とを合成して、全領
域において欠陥等のない良好な透視画像を作成して、こ
の得られた良品画像データを記憶手段に記憶するように
している。

次に、被検体の検査の際にはこの記憶手段で記憶される
良品画像データを用いて、演算手段が前記放射線発生手
段から放射され、被検体を透過した放射線を前記検出手
段で検出して得られる透視画像データとの差分に係るデ
ータの演算を行ない、さらに表示手段にこの演算手段で
得られる演算データを表示するようにしている。

（実施例） 以下、図面を用いて、本発明の詳細な説明する。

第１図は、本発明の透視装置に係る一実施例の概略の構
成を示すブロック図である。

Ｘ線管１は、Ｘ線を被検体位置決め機構３上に載置固定
される被検体Ｔに向けて連続的、若しくはパルス状に放
射する。

被検体位置決め機構３は、被検体Ｔの位置を前後左右に
移動すると共に向きを所定の方向に回転するための位置
決め機構を有し、該被検体Ｔを当該被検体位置決め機構
３へ搬送するベルトコンベア等の搬送手段と連動して、
自動的に所定の位置に搬送され、位置決めされるように
構成される。

Ｘ線蛍光増倍部５は、シンチレータ等のＸ線／光変換手
段であって、Ｘ線管１から放射され被検体Ｔを透過して
得られる透過Ｘ線像を受けて、可視像に変換する。この
可視像はレンズ等の光学系部材７を介してＣＣＤカメラ
等の撮像部９で撮像され電気信号に変換される。この映
像信号は撮像部制御ユニット　（ＣＣＵ：Ｃａｍｅｒａ
　Ｃｏｎｔｒｏｌ　Ｕｎｉｔ）　１１を介して中央制御
装置３０のインタフェース（Ｉ／Ｆ）３１へ出力される
と共１：ｃＲＴ、ＣＣＤエリアセンサ等のデイスプレィ
装置へ出力され、可視像として表示される。またＸ線蛍
光増倍部５と光学系部材７と撮像部９と撮像部制御ユニ
ット１１及びデイスプレィ装置１３とは、データ収集装
置１０を構成するものであって、必要に応じて図示しな
い積分器、マルチプレクサ及びＡ／Ｄ変換器等が含まれ
る。

次に中央制御装置３０の構成について説明する。

インタフェース（１／Ｆ）３１は、データ収集袋２１０
と中央制御装置３０との間にあって、信号レベル等の整
合を計るものである。入力画像ブタ記憶部（ＶＭＩ　：
ＶＩｄｅｏ　ｆｒａｍｅ　ｂｕｒｉ’ｅｒ　Ｍｅｏ＋ｏ
ｒｙＩ）３３は、インタフェース３１を介して撮像部制
御ユニット１１から入力される透視画像データを記憶す
るものである。

良品画像データ記憶部（ＶＭｎ）３５は、後述する画像
間演算部で透視画像データから作成される良品画像デー
タを記憶するものである。

差分画像データ記憶部（ＶＭＩＩ［）３７は、後述する
引算器３９で演算される画像間の差分に係る画像である
差分画像データを記憶するものである。

引算器（ＳＵＢ）３９は、入力される画像間でサブトラ
クションを行ない得られた差分画像を出力するものであ
る。

画像処理器（ＩＰ：ＩＩＩａｇｅ　Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ
）　４１は２値化処理手段、ラベリング手段、面積測定
手段、円形度測定手段、空間フィルタリング、論理フィ
ルタリング等、の各種画像処理手段と、画像処理の高速
化を計るための高速動作型のプログラムメモリとデータ
メモリとを有する。また、引算器３９と画像処理器４１
とは、画像間演算部を構成するものである。

画像インタフェース（ＤＩＳＰ　Ｉ／Ｐ）　４３は、当
該中央制御装置３０の外部に接続される入力装置７１、
デイスプレィ装置７３との間のインタフェースであって
信号レベル等の整合を計るものである。

尚、前述したインタフェース３１、入力画像データ記憶
部３３、良品画像データ記憶部３５、差分画像データ記
憶部３７、引算器３９、画像処理器４１及び画像インタ
フェース４３は、画像バス４９及び制御バス５１とそれ
ぞれ接続される。

また、制御バス５１はバスインタフェース５３を介して
Ｖ　Ｍ　Ｅ　（Ｖｅｒｓａ　Ｍｏｄｕｌｅ　Ｅｕｒｏｐ
ｅａｐ）バス５５と接続される。このＶＭＥバス５５に
はＩ／Ｃ５７、Ｉ　１０５９、中央制御ユニット６１、
システムディスク６５、フロッピーディスクドライブ６
７等が接続される。ｌ１０５７は通常図示しない機構制
御部を介して被検体位置決め機構３及び同じく図示しな
いＸ線制御部１１を介してＸ線管１と接続される。ｌ１
０５９は外部の装置へ、得られた判定結果等の出力を行
なう。

中央制御ユニット６１は、メインメモリ６３を具備して
おり、当該中央制御装置３０全体を制御するものである
。

入力装置７１は、デイスプレィ装置１３．７３の表示画
面を目視しながら、透視画像上の関心領域（Ｒｏｔ：Ｒ
ｅｇｉｏｎ　ｏｆ’　Ｉｎｔｅｒｅｓｔ）を設定するた
めの、１、）わゆるＲＯＩ指定器であって、マウス、ト
ラックボール、ジョイスティック、ライトペン、タッチ
パネル等が適宜用いられる。

次に、第２図を参照して、良品画像の作成手順について
説明す喝。

まず、Ｘ線管１を作動させてＸ線の放射を開始する。こ
のとき被検体Ｔは被検体位置決め機構３によって所定の
位置に精密に位置決めされる。

次に、良品画像の作成にあたっては、欠陥のより少ない
被検体の透視画像を初期画像として入力する（ステップ
Ｓｌ）と共にデイスプレィ装置１３に表示する（ステッ
プＳ３）。検査者はこのデイスプレィ装置１３に表示さ
れた初期画像を見ながら入力装置７１としてのトラック
ボールを操作して、欠陥の存在する領域、すなわち関心
領域の設定を行なう（ステップＳ５）。このとき、当該
関心領域の数は初期画像に存在する欠陥の多少によって
異なり、通常欠陥の集中している領域毎に複数の関心領
域が設定される。

次に、前記初期画像に設定した任意の関心領域を特定し
、この特定した関心領域に欠陥のない透視画像を、デイ
スプレィ装置１３に表示される透視画像から特定し、欠
陥無領域の抽出を行ない（ステップＳ７．Ｓ９，５ｌｌ
）、さらに当該欠陥無領域に対応する初期画像の欠陥を
含む関心領域との入れ換えを行なう（ステップ８１３）
。

次に、初期画像から第１回目の欠陥の除去を行なった後
、ステップＳ１５において初期画像に欠陥有領域が存在
しているか否かを判別し、未だ欠陥有領域があるときに
はステップＳ７へ戻り欠陥有領域を欠陥無領域と入れ換
え、初期画像から欠陥が存在しなくなるまでステップＳ
７からステップ３１３までの操作を行ない順次欠陥を除
去する。

このようにして初期画像から全ての欠陥を除去した画像
を良品画像としてデイスプレィ装置１３に表示した後、
良品画像データ記憶部３５へ記ｔαして良品画像の作成
を終了する（ステップ５１７）次に第３図及び第４図を
参照して、被検体Ｔの透視検査の手順について説明する
。

まず、被検体位置決め機構３に被検体Ｔを載置し、Ｘ線
管１とＸ線蛍光増倍部５との間の所定の位置に精密に位
置決めする。Ｘ線管１からＸ線を被検体Ｔに向けて照射
し、当該被検体Ｔの透視画像を得る。

当該透視画像データは一旦入力画像データ記憶部３３へ
入力され（ステップ５２１）、被検査画像データとして
記憶される。続いて、ステップＳ２３では引算器３９が
良品画像データ記憶部３５に記憶される良品画像を読み
出し、この良品画像（第４図中Ａで示す）と入力画像デ
ータ記憶部３３に記憶される被検査画像（第４図中Ｂで
示す、尚図中斜線領域ｄは被検体Ｔに存在する欠陥を示
す。）とのサブトラクションを行なう（ステップ５２５
）。この間、各処理工程で得られる画像は画像インタフ
ェース４３を介してデイスプレィ装置７３に表示される
。

このサブトラクションで得られた差分画像データは、差
分画像データ記憶部３７に記憶される。

この差分画像には第４図りに示すように、良品画像と被
検査画像との差分として得ようとする欠陥に係る画像ｄ
、の他、位置決め精度の不良等に起因する偽欠陥ｄｌ＋
　ノイズや他の小さい構造体に起因する陰影ｄ２が存在
する。

続いて、バスインタフェース５３を介して入力する中央
制御ユニット６１のコマンドにより１、これら偽欠陥ｄ
１．陰影ｄ２を除去するために、差分画像データ記憶部
３７に記憶される差分画像データを読み出し、画像間演
算部に入力され画像処理器４１のメモリに記憶される。

画像処理器４１では、まず差分画像データの２値化処理
を行ない（ステップ５２７）、得られる差分画像を２値
化画像（第４図Ｅに示す）とする。

以下、この２値化された差分画像に対してラベリング（
ステップ５２９）を行なった後、面積算出と円形度測定
（ステップ５３１）によって小さいノイズｄ２や偽欠陥
ｄ、を除去し、欠陥判定（ステップ８３３）及び各種フ
ィルタリング等の欠陥検出のための汎用的な画像処理を
行なう。

この判定結果は、バスインタフェース５３．ｌ１０５９
を介して外部へ出力され（ステップ５３５）、続いて次
の被検査画像に対する欠陥判定のために、ステップ２１
へ戻る。

上述したように、本実施例によれば、良品画像を被検体
に係る複数の透視画像から合成して作成するようにした
ので、良品画像の作成アルゴリズムに特殊性がなく、被
検体に対応した良品画像を熟練した技術を必要とするこ
となく容易に作成することができ、また欠陥の検出にあ
っては当該良品画像と被検体の透視画像の差分を用いる
ようにしているため画像処理を高速化することができる
。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば複数の透視画像デ
ータから良好な領域を抽出及び合成し良品画像を作成し
、この良品画像と被検体を透視して得られる透視画像と
の差分を得て、この差分に係る画像から被検体の欠陥を
検出するようにしたので、被検体内部の検査を容易かつ
迅速に行なうことができ、またこれら操作には熟練した
技術も必要とされない等の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る実施例の構成を示すブロック図、
第２図は良品画像作成のフローチャート、第３図は欠陥
判定のフローチャート、第４図はサブトラクションを説
明する図である。 １・・・Ｘ線管　　　　５・・・Ｘ線蛍光増倍部７・・
・光学系部材　　９・・・撮像部１３・・・デイスプレ
ィ装置 ３３・・・入力画像データ記憶部 ３５・・・良品画像データ記憶部 ３７・・・差分画像データ記憶部

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 放射線を被検体に向けて放射する放射線発生手段と、 この放射線発生手段から放射された放射線を検出する検
   出手段と、 前記放射線発生手段から放射され、被検体を透過した放
   射線を前記検出手段で検出して得られる複数の透視画像
   データから良好な領域の抽出及び合成を行ない良品画像
   データを作成する良品画像データ作成手段と、 この良品画像データ作成手段で作成される良品画像デー
   タを記憶する記憶手段と、 この記憶手段で記憶される良品画像データと前記放射線
   発生手段から放射され、被検体を透過した放射線を前記
   検出手段で検出して得られる透視画像データとの差分に
   係るデータの演算を行なう演算手段と、 この演算手段で得られる演算データを表示する表示手段
   と、 を有することを特徴とする透視装置。