JPWO2013162000A1 - 基板支持装置及び基板支持装置に熱電対を配設する方法 - Google Patents

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Abstract

内蔵した熱電対を簡便に交換可能な基板支持装置を提供する。また、基板支持装置に熱電対を交換可能に配設する方法を提供する。本発明の基板支持装置は、プレート部と、プレート部に接続したシャフト部と、プレート部の内部に配設された発熱体と、プレート部とシャフト部との内部に配設され、中空形状のガイド部と、プレート部とシャフト部との内部にガイド部を介して配設された熱電対と、を備え、ガイド部はR形状を備える。熱電対は、シャフト部と平行な第1の方向から挿入され、ガイド部で第1の方向と直交する第2の方向へ屈曲して、プレート部に配設される。

Description

本発明は半導体装置の製造に用いる基板支持装置及び基板支持装置に熱電対を配設する方法に関する。特に内蔵した熱電対を交換可能な基板支持装置及び基板支持装置に熱電対を配設する方法に関する。
半導体装置の製造において、化学気相成長(CVD)、表面改質等の処理工程では、基板支持装置が半導体製造装置内に配設される。このような基板支持装置は、金属やセラミックで形成されたプレートをシャフトで支持する構造を備える。また、基板支持装置を発熱させて使用する場合には、プレートの内部に発熱体とともに温度測定用のシース熱電対等の温度センサを配設し、シャフト内部に配設された配線を介して、半導体製造装置の外部に設置された制御装置に接続する。このような、温度センサの測定結果に基づいてヒータの温度調節器を制御することにより、ウエハの温度を予め設定された温度にフィードバック制御することが、一般的である(特許文献1)。
しかし、従来の金属製の基板支持装置へのシース熱電対の取付けは、ろう付界面に埋設して行うため、熱電対が故障した際に交換することができず、基板支持装置ごと交換する必要があった。特許文献2には、石英製の導波棒を有する放射温度計を使用した基板支持装置において、クランク形状に屈曲した保護管の管壁に導波棒の直径よりも幅が広いスリットを開設することにより、保護管から導波棒を取り外してメンテナンスや交換を可能にする技術が開示されている。しかし、特許文献2に開示された基板支持装置においても、石英製の導波棒を取り外すためには、保護管が配設された基板やシャフトを一旦取り外す必要があり、交換作業が煩雑であった。
特許4098112号 特開2003−007692号公報
一般に用いられるシース熱電対を用いる場合、基板支持装置のプレート部の中央付近の温度を測定するシース熱電対は、シャフト部と平行に一直線状に配置するため、抜き差しは容易である。一方、プレート部の外周付近の温度を測定するシース熱電対を配設するためには、シース熱電対を事前に90°に折り曲げ、シャフト部及びプレート部に埋設していた。このような構造の従来のシース熱電対は、シース熱電対を抜き差しして交換することは困難であり、簡易に交換可能な基板支持装置の開発が望まれる。
本発明は、上述の問題を解決するものであって、内蔵した熱電対を簡便に交換可能な基板支持装置を提供する。また、基板支持装置に熱電対を交換可能に配設する方法を提供する。
本発明の一実施形態によると、プレート部と、前記プレート部に接続したシャフト部と、前記プレート部の内部に配設された発熱体と、前記プレート部と前記シャフト部との内部に配設されたガイド部と、前記プレート部と前記シャフト部との内部に前記ガイド部を介して配設された熱電対と、を備え、前記ガイド部はR形状を備える基板支持装置が提供される。
前記基板支持装置において、前記熱電対は、前記シャフト部と平行な第1の方向から挿入され、前記ガイド部で前記第1の方向と直交する第2の方向へ屈曲して、前記プレート部に配設されてもよい。
前記基板支持装置において、前記ガイド部はR30mm以上R100mm以下の形状を備え、前記熱電対を前記第1の方向から前記第2の方向へ屈曲させてもよい。
前記基板支持装置において、前記ガイド部は、前記プレート部と前記シャフト部との接続部に配設された中空状の部材であってもよい。
前記基板支持装置において、前記ガイド部は、前記プレート部と前記シャフト部との接続部に配設され、前記シャフト部の端部まで延伸した中空状の部材であってもよい。
前記基板支持装置において、前記ガイド部は、前記プレート部と前記シャフト部との接続部に形成された溝部であってもよい。
前記基板支持装置において、前記ガイド部は、前記シャフト部から前記プレート部へ形成された螺旋状の溝部であってもよい。
前記基板支持装置において、前記熱電対は、シース熱電対であってもよい。
また、本発明の一実施形態によると、シャフト部と平行な第1の方向から熱電対を挿入し、プレート部と前記シャフト部との内部に配設されたR形状を備えるガイド部で、前記第1の方向と直交する第2の方向へ前記熱電対を屈曲させ、前記プレート部に前記熱電対を配設する、基板支持装置に熱電対を配設する方法が提供される。
前記基板支持装置に熱電対を配設する方法において、前記ガイド部はR30mm以上R100mm以下の形状を備え、前記熱電対を前記第1の方向から前記第2の方向へ屈曲させてもよい。
前記基板支持装置に熱電対を配設する方法において、前記ガイド部は、前記シャフト部から前記プレート部へ形成された螺旋状の溝部であり、前記熱電対は前記螺旋状の溝部に沿って配設されてもよい。
前記基板支持装置に熱電対を配設する方法において、前記熱電対は、シース熱電対であってもよい。
本発明によると、内蔵した熱電対を簡便に交換可能な基板支持装置を提供することができる。また、基板支持装置に熱電対を交換可能に配設する方法を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る基板支持装置100の斜視図である。 本発明の一実施形態に係る基板支持装置100の図1のAA’における断面図である。 (a)は、基板支持装置100の変形例である基板支持装置200の上下左右を反転した図であり(b)〜(d)は、本実施形態に係るガイド部140とその変形例を示す図である。 本発明の一実施形態に係るガイド部140を介してプレート部110の内部に熱電対131を挿入する様子を示す模式図である。 本発明の一実施形態に係る基板支持装置300の模式図である。 本発明の一実施形態に係る基板支持装置400の模式図である。 本発明の一実施形態に係る基板支持装置500の模式図である。
以下に一実施形態に係る本発明の基板支持装置及び基板支持装置に熱電対を配設する方法について、図を参照して説明する。なお、以下の実施形態は本発明の基板支持装置及び基板支持装置に熱電対を配設する方法の一例であり、本発明の基板支持装置及び基板支持装置に熱電対を配設する方法は以下の実施形態に限定されるわけではない。
シース熱電対は2種類の金属線を接合して温接点を形成した構造であり、金属線を保護するための保護管を有する場合でも、剛体である石英製の導波棒に対して、比較的柔軟に変形可能である。この性質を利用して、シース熱電対の抜き差しが可能な基板支持装置の構造を鋭意検討した。プレート部の外周付近の温度を測定するようにシース熱電対を配設するためには、シャフト部と平行に挿入したシース熱電対をプレート部の外周方向へ略90°に折り曲げる必要がある。本発明者らは、少なくともシャフト部とプレート部と接合部にガイド部を配設することにより、シャフト部と平行に挿入したシース熱電対をプレート部の外周方向へ方向転換させることを想到した。R形状を備えたガイド部を用いることにより、シース熱電対の円滑な方向転換を行い、熱電対を簡便に交換可能な基板支持装置を実現することに想到した。
(実施形態1)
図1は、本発明の一実施形態に係る基板支持装置100を示す模式図である。また、図2は、図1のAA’における基板支持装置100の断面図を示す。基板支持装置100は、プレート部110と、プレート部110に接続したシャフト部150とを備える。プレート部110は、半導体製造工程において、基板を支持するとともに、基板を加熱する。シャフト部150は、プレート部110を支持する部材である。
プレート部110は、例えば、3つの部材111、113及び115で構成される。プレート部110の内部には、発熱体120と、熱電対131及び133とが配設される。発熱体120は、プレート部110の部材113または115に溝を形成して配設する。また、プレート部110の部材113に溝を設けて、熱電対131及び133を配設し、部材111で熱電対131を封止する。本実施形態において、熱電対131はプレート部110の外周付近の温度を測定し、熱電対133はプレート部110の中央付近の温度を測定する。本実施形態に係る熱電対には、柔軟に変形可能なシース熱電対を好適に用いることができる。
プレート部110の基板を保持する面と反対側の中央部には、シャフト部150が接続する。シャフト部150は、中空構造170を有する。シャフト部150の中空構造170には、発熱体120に接続し、外部の制御装置(図示せず)に接続する配線160が配設される。また、中空構造170には、熱電対131及び133がプレート部110から延伸して配設される。
本実施形態に係る基板支持装置100は、プレート部110とシャフト部150との内部に配設され、中空形状のガイド部140を備える。ガイド部140はR形状を備え、熱電対131は、シャフト部150と平行な第1の方向から挿入され、ガイド部140で第1の方向と直交する第2の方向(プレート部110の幅方向)へ屈曲して、プレート部110に配設される。このようにして、熱電対131は、プレート部110とシャフト部150との内部にガイド部140を介して配設される。
図3(a)は、基板支持装置100の変形例である基板支持装置200の上下左右を反転した図である。また、図3(b)〜(d)は、本実施形態に係るガイド部140とその変形例を示す図である。基板支持装置200においては、部材213に空間を設けて熱電対131を配設する。基板支持装置100においては、ガイド部140は、部材111と部材113内部の上面及び側面とに固定される。基板支持装置200においては、ガイド部140は、部材211と、部材213内部の上下面及び側面に固定される。
ガイド部140は、R形状を備えることにより、熱電対131を第1の方向から第2の方向へ円滑に屈曲させることができる。本実施形態において、ガイド部140のR形状は、R30以上R100以下の形状とすることが好ましい。本実施形態において、R30以上R100以下の形状とは、図3(b)に示したように、ガイド部の屈曲部の形状を指す。つまり、ガイド部の曲線部の中心線の形状を意味する。また、本実施形態においては、基板支持装置のスケールから、R30mm以上R100mm以下の形状となる。本実施形態においては、熱電対131は一般に基板支持装置に配設される公知のシース熱電対を用いることができる。R30以上であれば、このような熱電対131のガイド部を介したプレート部への挿入が可能である。また、ガイド部のRは大きいほうがより円滑に熱電対131を屈曲させることが可能であるが、シャフト部150の中空構造170の幅の制約があり、R100を超えると基板支持装置の内部にガイド部を設けることが一般に設計上困難となる。本実施形態においては、R40の形状であることがより好ましい。熱電対131の材質や太さにも依存するが、R40前後であれば、ガイド部は、熱電対131を円滑に屈曲させることができる。
本実施形態に係るガイド部140は、図3(b)に示した円筒を折り曲げた形状に限定されない。例えば、図3(c)に示したような折り曲げた円筒の一方の内側を潰した形状であってもよい。このような形状を有するガイド部141は、図3(a)に示したように固定する場合に、部材213との固定が容易になる。また、図3(d)に示したような断面が矩形のガイド部143を用いてもよい。熱電対131を第1の方向から第2の方向へ円滑に屈曲させることが可能であれば、断面が円形に限定されるものではない。
本実施形態に係るプレート部110、シャフト部150及びガイド部140は、金属またはセラミックスを用いて形成される。プレート部110及びガイド部140が金属製である場合には、ろう付けや溶接により接合される。また、プレート部110及びシャフト部150が金属で形成される場合には、ろう付けや溶接により接合される。利用可能な金属としては、基板支持装置の製造に用いられる公知の材料から選択可能であり、例えば、アルミニウム、ステンレス鋼、銅、ニッケル、チタン等が挙げられる。プレート部110を金属で形成した場合は、少なくとも基板を支持する面には絶縁膜115を形成するのが好ましい。
プレート部110及びシャフト部150に金属を材料として用いると、図2に示した冷媒流路190をシャフト部150に形成することも可能である。冷媒流路190は、空気などの気体、あるいはオイル、エチレングリコール水溶液等の液体を還流させて、シャフト部150でヒータ温度の調整を助けるための機構である。この機構によれば、より高度な温度調整の手段が提供される。
ここで、本実施形態に係るガイド部140を介して、熱電対131をプレート部110の内部に配設する方法を説明する。図4は、ガイド部140を介してプレート部110の内部に熱電対131を挿入する様子を示す模式図である。シャフト部150から挿入された熱電対131は、ガイド部140の曲面にあたると、先端部が折り曲がる。さらに、熱電対131を挿入すると、熱電対131の先端部がガイド部140の内周側の面(図4においてはガイド部140の内部の上側)にあたって、プレート部110の幅方向へ向きを変える。さらに、熱電対131の先端部が部材213内部に侵入し、プレート部110の外周付近に位置するように配設される。このように、ガイド部140がR形状を有することにより、熱電対131をプレート部110の幅方向へ円滑に屈曲させることができる。また、熱電対131は、ガイド部140がR形状を有するため、内部で引っかからずに、引き抜くことも可能となる。
以上説明したように、本実施形態に係る基板支持装置は、R形状を有するガイド部を備えることにより、熱電対をシャフト部と平行な第1の方向から挿入して、ガイド部で第1の方向と直交する第2の方向へ屈曲させて、プレート部の内部に配設することができる。このような構造を有することにより、本実施形態に係る基板支持装置は、内蔵した熱電対を簡便に交換可能である。
(実施形態2)
上述した実施形態においては、プレート部110とシャフト部150との接続部にガイド部140を配設した例を説明した。本実施形態に係る基板支持装置300は、シャフト部150の端部まで延伸したガイド部340を用いる点で異なる。
図5は、本実施形態に係る基板支持装置300の模式図である。本実施形態に係るガイド部340は、シャフト部150の端部まで延伸することにより、熱電対131の挿入が容易になる。また、ガイド部340とシャフト部150の内部の側面との接する部分で、ガイド部340を固定することができる。
なお、本実施形態に係るガイド部340は、図3(b)〜図3(d)に示したような様々な形状の部材であってもよい。
(実施形態3)
上述した実施形態においては、ガイド部として、中空状の部材をプレート部110とシャフト部150とに配設する例を説明した。本実施形態においては、プレート部の部材を加工して、ガイド部を形成する例について説明する。図6は、本実施形態に係る基板支持装置400の模式図である。基板支持装置400は、部材411、413a、413b及び414を有する。他の構成については、上述した実施形態と同様であるため、詳細な説明は省略する。
図6に示したように、基板支持装置400においては、部材413aと部材413bとにR加工が施される。基板支持装置400においては、部材413aに形成された溝部と部材413bとにより、ガイド部440が形成される。なお、部材413aと部材413bとを一体形成してもよい。また、部材413bを部材411と一体形成してもよい。
このような構成を有することにより、基板支持装置400は、熱電対をシャフト部と平行な第1の方向から挿入して、ガイド部で第1の方向と直交する第2の方向へ屈曲させて、プレート部の内部に配設することができる。
(実施形態4)
上述した実施形態においては、プレート部とシャフト部との接続部のみで熱電対を屈曲させている。本実施形態においては、熱電対をシャフト部内部に螺旋状に配設して、プレート部の内部に配設する例を説明する。図7は、本実施形態に係る基板支持装置500の模式図である。基板支持装置500は、シャフト部550の中空構造170側に螺旋状の溝部555を有する。他の構成は、上述した実施形態と同様であるため、詳細な説明は省略する。
基板支持装置500においては、熱電対131をシャフト部550から挿入すると、熱電対131が螺旋状の溝部555に沿って変形して、ガイド部540に到達する。熱電対131は、上述した実施形態で説明したように屈曲して、プレート部110の内部に配設される。本実施形態に係るガイド部540は、螺旋状の溝部555に接続した一体構造を有する。ガイド部540は、上述した実施形態の何れの形状のガイド部であってもよい。
以上説明したように、本実施形態に係る基板支持装置は、シャフト部に螺旋状の溝部を配設することにより、熱電対は螺旋状の溝部に沿って変形して、ガイド部に到達する。また、溝部に接続して一体に構成されるR形状を有するガイド部を備えることにより、熱電対をシャフト部からガイド部で屈曲させて、プレート部の内部に配設することができる。本実施形態に係る基板支持装置は、シャフト部に形成された溝部に沿ってプレート部の内部に配設されるため、シャフト部中央の空間を他の部材等のために空けることができる。
実施例として、図2に示した基板支持装置100を用い、ガイド部140のRを変えて、シース熱電対を挿入した。本実施例においては、一例として、インコネル600で形成されたΦ1mmのシース熱電対(株式会社岡崎製作所製)を用い、ガイド部140のR値と挿入する具合の関係を検討した。判定結果を表1に示す。この結果から、R30以上であれば、プレート部へのガイド部を介した熱電対の挿入が可能であることが明らかである。
Figure 2013162000
100 基板支持装置、110 プレート部、111 部材、113 部材、115 部材、120 発熱体、131 熱電対、133 熱電対、140 ガイド部、141 ガイド部、143 ガイド部、150 シャフト部、160 配線、170 中空構造、190 冷媒流路、200 基板支持装置、210 プレート部、部材211 、部材213 、部材215 、300 基板支持装置、340 ガイド部、400 基板支持装置、410 プレート部、部材411 、部材413a 、部材413b 、部材415 、340 ガイド部、500 基板支持装置、540 ガイド部、550 シャフト部、555 溝部、570 中空構造

Claims (12)

  1. プレート部と、
    前記プレート部に接続したシャフト部と、
    前記プレート部の内部に配設された発熱体と、
    前記プレート部と前記シャフト部との内部に配設されたガイド部と、
    前記プレート部と前記シャフト部との内部に前記ガイド部を介して配設された熱電対と、を備え、
    前記ガイド部はR形状を備えることを特徴とする基板支持装置。
  2. 前記熱電対は、前記シャフト部と平行な第1の方向から挿入され、前記ガイド部で前記第1の方向と直交する第2の方向へ屈曲して、前記プレート部に配設されることを特徴とする請求項1に記載の基板支持装置。
  3. 前記ガイド部はR30mm以上R100mm以下の形状を備え、前記熱電対を前記第1の方向から前記第2の方向へ屈曲させることを特徴とする請求項2に記載の基板支持装置。
  4. 前記ガイド部は、前記プレート部と前記シャフト部との接続部に配設された中空状の部材であることを特徴とする請求項1に記載の基板支持装置。
  5. 前記ガイド部は、前記プレート部と前記シャフト部との接続部に配設され、前記シャフト部の端部まで延伸した中空状の部材であることを特徴とする請求項1に記載の基板支持装置。
  6. 前記ガイド部は、前記プレート部と前記シャフト部との接続部に形成された溝部であることを特徴とする請求項1に記載の基板支持装置。
  7. 前記ガイド部は、前記シャフト部から前記プレート部へ形成された螺旋状の溝部であることを特徴とする請求項1に記載の基板支持装置。
  8. 前記熱電対は、シース熱電対であることを特徴とする請求項1に記載の基板支持装置。
  9. シャフト部と平行な第1の方向から熱電対を挿入し、
    プレート部と前記シャフト部との内部に配設されたR形状を備えるガイド部で、前記第1の方向と直交する第2の方向へ前記熱電対を屈曲させ、
    前記プレート部に前記熱電対を配設することを特徴とする基板支持装置に熱電対を配設する方法。
  10. 前記ガイド部はR30mm以上R100mm以下の形状を備え、前記熱電対を前記第1の方向から前記第2の方向へ屈曲させることを特徴とする請求項9に記載の基板支持装置に熱電対を配設する方法。
  11. 前記ガイド部は、前記シャフト部から前記プレート部へ形成された螺旋状の溝部であり、前記熱電対は前記螺旋状の溝部に沿って配設されることを特徴とする請求項9に記載の基板支持装置に熱電対を配設する方法。
  12. 前記熱電対は、シース熱電対であることを特徴とする請求項9に記載の基板支持装置に熱電対を配設する方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2018159189A1 (ja) * 2017-02-28 2019-12-19 日本発條株式会社 基板支持ユニット、および基板支持ユニットを有する成膜装置
US10973088B2 (en) 2016-04-18 2021-04-06 Applied Materials, Inc. Optically heated substrate support assembly with removable optical fibers
US20210242053A1 (en) * 2020-02-03 2021-08-05 Ngk Insulators, Ltd. Ceramic heater

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106471609B (zh) 2014-07-02 2019-10-15 应用材料公司 用于使用嵌入光纤光学器件及环氧树脂光学散射器的基板温度控制的装置、系统与方法
US10840117B2 (en) 2016-09-12 2020-11-17 Ngk Spark Plug Co., Ltd. Holding apparatus
JP6704821B2 (ja) * 2016-09-12 2020-06-03 日本特殊陶業株式会社 保持装置
JP6694787B2 (ja) * 2016-09-12 2020-05-20 日本特殊陶業株式会社 保持装置
JP6704837B2 (ja) * 2016-10-31 2020-06-03 日本特殊陶業株式会社 保持装置
JP6715757B2 (ja) * 2016-12-22 2020-07-01 日本特殊陶業株式会社 載置部材およびその製造方法
KR101990999B1 (ko) * 2017-05-23 2019-07-01 (주)티티에스 쿼츠 히터
WO2019157023A1 (en) * 2018-02-09 2019-08-15 Applied Materials, Inc. Semiconductor processing apparatus having improved temperature control
KR102023440B1 (ko) * 2018-12-18 2019-09-23 (주)티티에스 쿼츠 히터
KR102090999B1 (ko) * 2019-05-13 2020-03-20 (주)티티에스 쿼츠 히터
JP7210492B2 (ja) * 2020-02-03 2023-01-23 日本碍子株式会社 セラミックヒータ
JP7240341B2 (ja) * 2020-02-03 2023-03-15 日本碍子株式会社 セラミックヒータ及び熱電対ガイド
JP2021125463A (ja) * 2020-02-03 2021-08-30 日本碍子株式会社 セラミックヒータ及びその製法
JP7197534B2 (ja) * 2020-06-12 2022-12-27 日本碍子株式会社 セラミックヒータ
JP7212006B2 (ja) * 2020-06-12 2023-01-24 日本碍子株式会社 熱電対ガイド及びセラミックヒータ

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5522937A (en) * 1994-05-03 1996-06-04 Applied Materials, Inc. Welded susceptor assembly
US6179924B1 (en) * 1998-04-28 2001-01-30 Applied Materials, Inc. Heater for use in substrate processing apparatus to deposit tungsten
WO2012039453A1 (ja) * 2010-09-24 2012-03-29 日本碍子株式会社 半導体製造装置部材

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10973088B2 (en) 2016-04-18 2021-04-06 Applied Materials, Inc. Optically heated substrate support assembly with removable optical fibers
JPWO2018159189A1 (ja) * 2017-02-28 2019-12-19 日本発條株式会社 基板支持ユニット、および基板支持ユニットを有する成膜装置
US20210242053A1 (en) * 2020-02-03 2021-08-05 Ngk Insulators, Ltd. Ceramic heater

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