JPWO2011132225A1 - ピンカードおよびそれを用いた試験装置 - Google Patents
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Abstract
Description
DC試験では、直流試験ユニットによって直流電圧(DC電圧)または電流信号をDUTに供給し、DUTの入出力インピーダンス、漏電電流をはじめとするDC特性を試験する。
反対にDC試験時にはスイッチSW1がオフ、スイッチSW2がオンされる。このときドライバDRおよびタイミングコンパレータTCPがDUT1と切り離され、直流試験ユニットPMUがDUT1と接続される。
この態様によれば、主としてフェライトビーズによって寄生容量の影響を低減でき、抵抗素子によって光半導体スイッチに対する制御信号の電流量を制御できる。つまり、回路設計の自由度を高めることができる。
この態様によれば、主としてインダクタによって寄生容量の影響を低減でき、抵抗素子によって光半導体スイッチに対する制御信号の電流量を制御できる。つまり、回路設計の自由度を高めることができる。なおインダクタは、フェライトインダクタであってもよい。
抵抗素子の抵抗値を、制御信号の振幅が最適となるように決定した場合に、その抵抗値が寄生容量の影響を低減するのに足る十分大きな値を有する場合には、フェライトビーズやインダクタを省略することにより、回路を簡素化、低コスト化することができる。
高価なMEMSスイッチの代わりに安価な光半導体スイッチを用いることにより、試験装置のコストを下げることができる。
図4(a)、(b)は、光半導体スイッチ10がマウントされる2種類の高周波基板の断面図を示す。高周波基板は、比誘電率εrが3.5〜3.7程度の誘電体層と、銅の配線層が積層される。図4(a)では、誘電体層の厚みdは0.335mm、図4(b)では0.570mmである。マイクロストリップラインMSLの線幅Wは、その特性インピーダンスが50Ωとなるように設計されており、図4(a)では0.4mm、図4(b)では1.14mmである。
これに対して実線(I)に示すように、第1インピーダンス回路20および第2インピーダンス回路22を設け、誘電体層の厚い基板を用いることにより、周波数帯域(3dB減衰)を2倍以上拡大することができる。
Claims (10)
- 被試験デバイスと接続されるべき入出力端子と、
前記被試験デバイスの直流試験を行う直流試験ユニットと、
その第1端子が前記被試験デバイスの交流試験を行うための交流試験ユニットと接続され、その第2端子が前記入出力端子および前記被試験デバイスの直流試験を行う直流試験ユニットと接続され、その正および負の制御端子に入力される制御信号に応じて、前記第1端子と前記第2端子の間の導通、遮断状態が切りかえ可能に構成された光半導体スイッチと、
前記光半導体スイッチの前記正の制御端子に対する前記制御信号の信号経路に設けられた第1インピーダンス回路と、
前記光半導体スイッチの前記負の制御端子に対する前記制御信号の信号経路に設けられた第2インピーダンス回路と、
を備えることを特徴とするピンカード。 - 直流試験を行う際には、光半導体スイッチを遮断状態とするとともに前記交流試験ユニットをサイレントな状態に制御することを特徴とする請求項1に記載のピンカード。
- 前記第1、第2インピーダンス回路の少なくとも一方は、直列または並列に設けられたフェライトビーズおよび抵抗素子を含むことを特徴とする請求項1または2に記載のピンカード。
- 前記フェライトビーズの1〜10GHzにおけるインピーダンスは、100Ω〜1MΩであることを特徴とする請求項3に記載のピンカード。
- 前記第1、第2インピーダンス回路の少なくとも一方は、抵抗素子を含むことを特徴とする請求項1または2に記載のピンカード。
- 前記第1、第2インピーダンス回路の少なくとも一方は、直列または並列に設けられたインダクタおよび抵抗を含むことを特徴とする請求項1または2に記載のピンカード。
- 前記第1インピーダンス回路および前記第2インピーダンス回路の少なくとも一方は、容量可変素子を含み、
本ピンカードの通過帯域は、前記容量可変素子の容量値に応じて制御可能であることを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のピンカード。 - 請求項1から7のいずれかに記載のピンカードを備えることを特徴とする試験装置。
- 被試験デバイスと接続されるべき入出力端子と、
前記被試験デバイスの交流試験を行う交流試験ユニットと、
前記被試験デバイスの直流試験を行う直流試験ユニットと、
その第1端子が前記交流試験ユニットと接続され、その第2端子が前記入出力端子と接続され、その正および負の制御端子に入力される制御信号に応じて、前記第1端子と前記第2端子の間の導通、遮断状態が切りかえ可能に構成された光半導体スイッチと、
前記光半導体スイッチの前記正の制御端子に対する前記制御信号の信号経路に設けられた第1インピーダンス回路と、
前記光半導体スイッチの前記負の制御端子に対する前記制御信号の信号経路に設けられた第2インピーダンス回路と、
を備えることを特徴とする試験装置。 - 直流試験を行う際には、光半導体スイッチを遮断状態とするとともに前記交流試験ユニットをサイレントな状態に制御することを特徴とする請求項9に記載の試験装置。
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