JPWO2009060539A1 - インライン型ウェハ搬送装置および基板搬送方法 - Google Patents

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Abstract

ウェハを搬入及び搬出するためのロードロックチャンバ(51)と、第1の搬送機構(54a)を有する第1の搬送モジュール(53a)と、第1のプロセスモジュール(52a)と、第2の搬送機構(54b)を有する第2の搬送モジュール(53b)と、第2のプロセスモジュール(52b)とを順次直列的に接続した構成を有する。ウェハ(55)は、第1の搬送機構により、ロードロックチャンバと第1のプロセスモジュールとの間で搬送され、第2の搬送機構により、第1のプロセスモジュールと第2のプロセスモジュールとの間で搬送される。

Description

本発明は半導体製造装置及び製造方法に関し、より詳細には、コンパクトな構成のインライン型ウェハ搬送装置に関する。
従来の半導体ウェハ搬送装置には幾つかの方式があり、そのいずれもが大きな欠点を有している。従来のクラスタ型のウェハ搬送装置は、中央に位置するロボットチャンバの周囲に複数のプロセスモジュールを放射状に配置した構成を有する。このようなクラスタ型ウェハ搬送装置は、設置のために大きなフットプリント(footprint)を必要とする。また、各プロセスモジュールでの処理が完了するたびに、ウェハはバッファ部などに一時的に置かれて次の処理まで待機するので、装置全体の処理速度は比較的遅い。さらに、設計上の都合により、クラスタ型ウェハ搬送装置におけるプロセスモジュールの数は、通常最大で5台又は6台程度に制限されてしまうことが多い。
インライン型のウェハ搬送装置はクラスタ型装置と比較して高い処理速度を有する。しかし、直線的な構造を有するため、最新の半導体製造設備の構造には適合しにくい。また、従来のインライン型ウェハ搬送装置においては、半導体製造過程における真空環境においては、ウェハを搬送する際、ウェハ搬送装置の構成部品同士の摩擦により、許容できないレベルのパーティクルが生じることもある。
従来のインライン型のウェハ搬送装置の平面図を図1に示す(例えば、特許文献1を参照)。ウェハ搬送装置10において、各プロセスモジュール13a乃至13gは隣接して配置され、インラインに接続される。各プロセスモジュールはゲートバルブ(図示せず)により分離されている。ウェハはロボットチャンバ11内のロボット12によりロードチャンバ14から最初のプロセスモジュール13aに搬送され、各プロセスモジュールにおいて順次に処理される。処理を終えたウェハはロボット12により最後のプロセスモジュール13gからアンロードチャンバ15へと搬送される。ウェハを搬送するための余分なロボットやロボットチャンバが不要であるので、ウェハ搬送装置10に必要とされるフットプリントは比較的小さい。
図1に示すインライン型のウェハ搬送装置10の一部の断面図を図2に示す。ウェハ21は、キャリア23に載せられて、あるプロセスモジュールから次のプロセスモジュールへと搬送される。各プロセスモジュール内において、ウェハ21はリフト台26によりキャリア23から持ち上げられて処理され、再びキャリア23に載せられて次のプロセスモジュールへと搬送される。キャリア23はローラ25などの移送機構を利用して移動される。ウェハ21が隣接する次のプロセスモジュールに搬送される際には、ゲートバルブ24が開かれ、隣接するプロセスモジュール同士が互いに密閉されない状態となる。あるプロセスモジュールにおける処理を終えたウェハ21は、次のプロセスモジュールが空くまで待機する。
従来の別のインライン型ウェハ搬送装置30の平面図を図3に示す(例えば、特許文献2参照)。ウェハ搬送装置30は2つのFOUP(front opening unified pod)31a及び31bを具備する。例えば、FOUP31aは、未処理ウェハを格納するカセットを各々が有する2つのロードチャンバ32a及び32bを具備し、FOUP31bは、処理済みウェハを格納するカセットを各々が有する2つのアンロードチャンバ33a及び33bを具備する。ウェハ搬送装置30は、さらに、搬送の際にウェハを一時的に置くためのバッファチャンバ36a乃至36dを具備する。処理の際、ウェハは、ロボットチャンバ34a内のロボット35aにより、ロードチャンバ32a又は32b内のカセットから最初のバッファチャンバ36aへ搬送される。図示するように、ウェハ搬送装置30は、バッファチャンバ同士の間にロボットチャンバ38a乃至38cを備えている。各バッファチャンバとそれに隣接するロボットチャンバとの間、各ロボットチャンバとそれに隣接するプロセスモジュールとの間には、図示されるようにゲートバルブ39が設けられている。一旦バッファチャンバ36aに置かれたウェハは、ロボットチャンバ38a内のロボットによって最初のプロセスモジュール37aへ搬送されて処理される。続いて、当該ウェハは、再びロボットチャンバ38a内のロボットにより第2のプロセスモジュール37bへ搬送されて処理される。第2のプロセモジュール37bでの処理を終えたウェハは、ロボットチャンバ38aのロボットにより第2のバッファチャンバ36bに置かれる。さらに、ウェハは第2のロボットチャンバ38bのロボットによってバッファチャンバ36bから第3のプロセスモジュール37cへ搬送される。以下同様にして、ウェハはプロセスモジュール37c乃至37fを順に移動して処理される。すべての処理を終えたウェハは、一旦バッファチャンバ36dに置かれた後、ロボットチャンバ34b内のロボット35bにより、FOUP31bのアンロードチャンバ33a又は33b内のカセットに格納される。ウェハ搬送装置30は、必要に応じて、プロセスモジュールの数を柔軟に増やせるという利点を有する。
従来のクラスタ型ウェハ搬送装置の平面図を図4に示す(例えば、特許文献3を参照)。ウェハ搬送装置40は、ウェハ46を外部から搬入及び搬出するための入口モジュール45a及び出口モジュール45b、プロセスモジュール41b、41c、41f及び41gにウェハを搬送するための搬送チャンバ42a及び42b、並びに、搬送チャンバ42a及び42b内に設けられた搬送ロボット43a及び43bを具備する。主制御器47は、各プロセスモジュール制御器P、入口モジュール45a及び出口モジュール45b並びにオペレータ制御パネルと標準通信バス48を介して通じている。入口モジュール45a内の処理されていないウェハ46は、搬送チャンバ42a内の搬送ロボット43aによりアライナー44に一旦置かれ、アライナー44上で向きを調整される。その後、アライナー44上のウェハは、搬送ロボット43a又は43bにより、例えばプロセスモジュール41b又は41cに搬送され、処理されて、再びアライナー44上に戻される。このような作業を繰り返した後、プロセスモジュール41b、41c、41f及び41gでの処理を終えたウェハは、搬送ロボット43aにより出口モジュール45bに戻される。
米国特許出願公開第2006/0102078号明細書 米国特許7210246号明細書 特表平1−500072号公報
しかしながら、図1及び図2に示すインライン型ウェハ搬送装置10は、ウェハ搬送装置10内で処理されるウェハを保持することができる移動式のキャリア23、及び当該キャリア23の移動のためのローラ25などの移送機構を具備する必要がある。この場合、ウェハ搬送装置10の構成は複雑になり、価格が高価となるという問題がある。また、ローラ25のような移送機構上でキャリア23を移動させることにより、これらの構成部品の摩擦によってパーティクルが発生しやすいという問題がある。発生したパーティクルがウェハ搬送装置10内を搬送されるウェハ21に付着すると、ウェハ上に形成される膜の品質が劣化する。
図3に示す従来のインライン型ウェハ搬送装置30は、ウェハを一時的に置くためのバッファチャンバ36a乃至36dを必要とするため、装置の複雑さが増すという問題がある。また、これらバッファチャンバが必要であることから、ウェハ搬送装置30に要求されるフットプリントは大きくなる。さらに、バッファチャンバ36a乃至36dを用いずにウェハ搬送装置30を実現しようとすれば、例えば、第2のプロセスモジュール37bでの処理を終えたウェハをロボットチャンバ38aから次のロボットチャンバ38bへ直接受け渡さなければならない。すなわち、ロボット同士の間でのウェハの受け渡しが必要となる。この構成を採用すると、ウェハ搬送装置30の動作の精度及び信頼性が低下するという問題が生じる。
また、図4に示す従来のクラスタ型ウェハ搬送装置40は、中央に位置する搬送チャンバ42a及び42bを中心として、プロセスモジュールを放射状に配置する構造を有しており、このためフットプリントが大きいという問題がある。さらに、クラスタ型ウェハ搬送装置40は、各プロセスモジュールにウェハを搬送する前に、一旦アライナー44にウェハを置く必要がある。このようなアライナーの必要性から、装置全体のフットプリントがさらに大きくなる。そして、1つの処理を終えるごとにウェハをアライナー44に置く必要があり、複雑な搬送作業が必要である。
上述の従来の問題点を解決すべく、本発明は、パーティクルの発生を抑制することができ、ロボット同士のウェハ受け渡しなどの複雑な搬送機構を必要とせず、且つフットプリントが小さい、シンプルな構成のインライン型ウェハ搬送装置を実現することを目的としている。
上記目的を達成するため、本発明のインライン型ウェハ搬送装置は、ウェハを搬入及び搬出するためのロードロックチャンバと、第1の搬送機構を有する第1の搬送モジュールと、第1のプロセスモジュールと、第2の搬送機構を有する第2の搬送モジュールと、第2のプロセスモジュールとを順次直列的に接続した構成を有する。このウェハ搬送装置において、ウェハは、第1の搬送機構により、ロードロックチャンバと第1のプロセスモジュールとの間で搬送され、第2の搬送機構により、第1のプロセスモジュールと第2のプロセスモジュールとの間で搬送される。
上記ロードロックチャンバは、外部から未処理ウェハを搬入するためのロード室と、処理済みウェハを外部へ搬出するためのアンロード室とを具備するように構成してもよい。
本発明によれば、パーティクルの発生を抑制することができ、複雑な搬送機構を必要とせず、且つフットプリントが小さいシンプルな構成のインライン型ウェハ搬送装置が実現される。
従来のインライン型ウェハ搬送装置の平面図である。 図1に示す従来のインライン型ウェハ搬送装置の一部の断面図である。 従来の別のインライン型ウェハ搬送装置の平面図である。 従来のクラスタ型ウェハ搬送装置の平面図 本発明によるインライン型ウェハ搬送装置の平面図である。
符号の説明
10 ウェハ搬送装置
11 ロボットチャンバ
12 ロボット
13a−13g プロセスモジュール
14 ロードチャンバ
15 アンロードチャンバ
21 ウェハ
23 キャリア
24 ゲートバルブ
25 ローラ
26 リフト台
30 ウェハ搬送装置
31a、31b FOUP
32a、32b ロードチャンバ
33a、33b プロセスモジュール
34a、34b ロボットチャンバ
35a、35b ロボット
36a−36d バッファチャンバ
37a−37f プロセスモジュール
38a−38c ロボットチャンバ
39 ゲートバルブ
40 ウェハ搬送装置
41b、41c、41f、41g プロセスモジュール
42a、42b 搬送チャンバ
43a、43b 搬送ロボット
44 アライナー
45a 入口モジュール
45b 出口モジュール
46 ウェハ
47 主制御器
48 標準通信バス
50 ウェハ搬送装置
51 ロードロックチャンバ
52a、52b プロセスモジュール
53a、53b 搬送チャンバ
54a、54b 搬送機構
55 ウェハ
56 ロード室
57 アンロード室
58a−58d ゲートバルブ
本発明によるインライン型ウェハ搬送装置50の平面図を図5に示す。ウェハ搬送装置50は、ロードロックチャンバ51と、第1のプロセスモジュール52a及び第2のプロセスモジュール52bとが順次直列的に接続されたインライン構成を有する。さらに、第1の搬送チャンバ53aがロードロックチャンバ51と第1のプロセスモジュール52aとの間に設けられ、第2の搬送チャンバ53bが第1のプロセスモジュール52aと第2のプロセスモジュール52bとの間に設けられる。このように、本発明のインライン型ウェハ搬送装置は、搬送チャンバとプロセスモジュールとが交互に直列的に接続された特徴的な構造を有する。ウェハ55は、第1の搬送チャンバ53a内に設けられた第1の搬送機構54aにより、ロードロックチャンバ51と第1のプロセスモジュール52aとの間で搬送される。ウェハはまた、第2の搬送チャンバ53b内に設けられた第2の搬送機構54bにより、第1のプロセスモジュール52aと第2のプロセスモジュール52bとの間で搬送される。第1の搬送機構54a及び第2の搬送機構54bは、例えば、ウェハを移動させるためのアームを有するロボットとして構成される。尚、ロードロックチャンバ51と第1の搬送チャンバ53aとの間、第1の搬送チャンバ53aと第1のプロセスモジュール52aとの間、第1のプロセスモジュール52aと第2の搬送チャンバ53bとの間、第2の搬送チャンバ53bと第2のプロセスモジュール52bとの間に、ゲートバルブ58a乃至58dをそれぞれ設ける構成としてもよい。
ロードロックチャンバ51は、外部(大気側)から未処理ウェハを搬入し、外部(大気側)に処理済みウェハを搬出するためのものであり、真空排気機構(図示せず)を備えている。ロードロックチャンバ51は、図5に示すように、外部(大気側)から搬入される未処理ウェハを格納するためのロード室56と、外部(大気側)に搬出される処理済みウェハ蓄積するためのアンロード室57とを別々に設けた構成であってもよい。
図5のインライン型ウェハ搬送装置50を用いたプロセスの一例について説明する。まず、外部(大気側)から未処理ウェハをロード室56に搬入し、ロード室56内を真空排気機構(図示せず)により真空状態にする。次に、第1の搬送チャンバ53aとロードロックチャンバ51との間のゲートバルブ58a及び第1の搬送チャンバ53aと第1のプロセスモジュール52aとの間のゲートバルブ58bを開く。第1の搬送チャンバ53a内の第1の搬送機構54aによりロードロックチャンバ51内の未処理ウェハを第1のプロセスモジュール52aに搬送し、開かれていたゲートバルブを閉じ、ウェハに対して処理(例えば、アニール)を行う。次に、第1のプロセスモジュール52aと第2の搬送チャンバ53bとの間のゲートバルブ58c及び第2の搬送チャンバ53bと第2のプロセスモジュール52bとの間のゲートバルブ58dを開き、第2の搬送チャンバ53b内の第2の搬送機構54bにより、第1のプロセスモジュール52a内のウェハを第2のプロセスモジュール52bに搬送し、開いていたゲートバルブを閉じ、ウェハに対して処理(例えば、スパッタ処理、エッチング処理など)を行う。その後、第2の搬送チャンバ53b及び第1の搬送チャンバ53a内の第2の搬送機構54b及び第1の搬送機構54aを用いて、処理済みウェハを第2のプロセスモジュール52bから第1のプロセスモジュール52aへ、さらに第1のプロセスモジュール52aからロードロックチャンバ51内のアンロード室57へと搬送して外部へ搬出する。なお、ロードロックチャンバ51は、外部(大気側)から未処理ウェハを搬入し、外部(大気側)に処理済みウェハを搬出するための複数のロード/アンロード室(図示せず)を内部に別途具備してもよい。この場合、一つのロード/アンロード室から第1の末端搬送チャンバ55aを用いてプロセスモジュール52aへと搬入されたウェハは、各プロセスモジュールでの処理をロードロックチャンバ51に戻される際、同一のロード/アンロード室もしくは別個のロード/アンロード室へ送られ、外部へ搬出される。この場合、ロード室56とアンロード室57は不要である。
高いスループットを得るため、各プロセスモジュールでの処理時間はほぼ同一とする必要がある。ウェハ搬送装置50全体にわたって1枚のウェハを処理するのに要するタクトタイムが36秒であれば、ウェハ搬送装置50のスループットは100pphであり、100枚のウェハを1時間で処理できる。タクトタイムが12秒であれば、スループットは300pphであり、1時間で300枚のウェハを処理できる。
図5に示すような本発明のインライン型ウェハ搬送装置は、図2に示すキャリア23及びローラ25のような移送機構を必要としない。このため、ウェハの搬送に際してパーティクルが発生しにくい。また、図3に示すようなバッファチャンバを使用する搬送装置と比較して構成がよりシンプルであり、フットプリントが小さい。さらに、ロボット同士が直接的にウェハの受け渡しをする必要がないので、高い信頼性をもつウェハ搬送装置を実現できる。加えて、図4に示すようなクラスタ型搬送装置と比較しても構成が非常にシンプルであり、フットプリントが小さい。このように、本発明によれば、上述した従来技術の問題点を総合的に解決することが可能である。
本実施例において例示したウェハ搬送装置50は、搬送チャンバ及びプロセスモジュールをそれぞれ2つずつ備えていた。しかし、所望のプロセスの数に応じて、必要な数の搬送チャンバ及びプロセスモジュールを直列的に接続することによって本発明のウェハ搬送装置を柔軟に実施できることは当業者にとって明らかであろう。より多くの搬送チャンバ及びプロセスモジュールを含む場合であっても、本発明のウェハ搬送装置は、フットプリントの小さいシンプルな構成として実現することができる。
本発明は半導体製造装置及び製造方法に関し、より詳細には、コンパクトな構成のインライン型ウェハ搬送装置および基板搬送方法に関する。
上述の従来の問題点を解決すべく、本発明は、パーティクルの発生を抑制することができ、ロボット同士のウェハ受け渡しなどの複雑な搬送機構を必要とせず、且つフットプリントが小さい、シンプルな構成のインライン型ウェハ搬送装置および基板搬送方法を実現することを目的としている。
上記目的を達成するため、本発明は、ウェハを搬入及び搬出するためのロードロックチャンバと、第1の搬送機構を有する第1の搬送モジュールと、第1のプロセスモジュールと、第2の搬送機構を有する第2の搬送モジュールと、第2のプロセスモジュールとを順次直列的に接続したインライン型ウェハ搬送装置であって、前記第1の搬送機構により、前記ロードロックチャンバと前記第1のプロセスモジュールとの間でウェハの搬送を行い、前記第2の搬送機構により、前記第1のプロセスモジュールと前記第2のプロセスモジュールとの間でウェハの搬送を行うものであり、前記ロードロックチャンバは、外部から未処理ウェハを搬入するためのロード室と、処理済みウェハを外部へ搬出するためのアンロード室とを具備し、前記第1の搬送機構及び前記第2の搬送機構は、ロード室から搬入した前記未処理ウエハを前記第1のプロセスモジュール及び前記第2のプロセスモジュールに搬送し、前記第1のプロセスモジュール及び前記第2のプロセスモジュールで処理した処理済みウェハを前記アンロード室に搬出することを特徴とする。
また、本発明は、基板搬送方法であって、未処理ウェハをロードロックチャンバが有するロード室に搬入し、該ロード室内を真空状態にする工程と、前記ロードロックチャンバに接続された第1の搬送チャンバと該ロードロックチャンバとの間の第1のゲートバルブ、及び前記第1の搬送チャンバと該第1の搬送チャンバに接続された第1のプロセスモジュールとの間の第2のゲートバルブを開き、前記第1の搬送チャンバ内の第1の搬送機構により前記ロードロックチャンバ内の未処理ウェハを前記第1のプロセスモジュールに搬送し、開かれていた前記第1および第2のゲートバルブを閉じ、前記未処理ウェハに対して第1の処理を行う工程と、前記第1のプロセスモジュールと該第1のプロセスモジュールに接続された第2の搬送チャンバとの間の第3のゲートバルブ、及び前記第2の搬送チャンバと該第2の搬送チャンバに接続された第2のプロセスモジュールとの間の第4のゲートバルブを開き、前記第2の搬送チャンバ内の第2の搬送機構により、前記第1のプロセスモジュール内の前記第1の処理が施されたウェハを前記第2のプロセスモジュールに搬送し、開いていた前記第3および第4のゲートバルブを閉じ、前記第1の処理が施されたウェハに対して第2の処理を行う工程と、前記第2の搬送機構用いて処理済みウェハを第2のプロセスモジュールから第1のプロセスモジュールへ搬送し、さらに前記第1の搬送機構を用いて前記処理済みウェハを前記第1のプロセスモジュールから前記ロードロックチャンバ内のアンロード室へと搬送して外部へ搬出する工程とを有することを特徴とする。


Claims (2)

  1. ウェハを搬入及び搬出するためのロードロックチャンバと、
    第1の搬送機構を有する第1の搬送モジュールと、
    第1のプロセスモジュールと、
    第2の搬送機構を有する第2の搬送モジュールと、
    第2のプロセスモジュールとを順次直列的に接続したインライン型ウェハ搬送装置であって、
    前記第1の搬送機構により、前記ロードロックチャンバと前記第1のプロセスモジュールとの間でウェハの搬送を行い、前記第2の搬送機構により、前記第1のプロセスモジュールと前記第2のプロセスモジュールとの間でウェハの搬送を行うことを特徴とするインライン型ウェハ搬送装置。
  2. 前記ロードロックチャンバが、外部から未処理ウェハを搬入するためのロード室と、処理済みウェハを外部へ搬出するためのアンロード室とを具備することを特徴する請求項1記載のインライン型ウェハ搬送装置。
JP2009539923A 2007-11-09 2007-11-09 インライン型ウェハ搬送装置および基板搬送方法 Active JP4494523B2 (ja)

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