JPWO2008066060A1 - ポリマーの製造方法、絶縁膜形成用組成物、ならびにシリカ系絶縁膜およびその製造方法 - Google Patents
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Abstract
ポリマーの製造方法は、(A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)下記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物で表される化合物から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理する工程を含む。
Description
本発明は、ポリマーの製造方法、絶縁膜形成用組成物、ならびにシリカ系絶縁膜およびその製造方法に関し、さらに詳しくは、半導体素子における層間絶縁膜などに好適に用いることができる絶縁膜形成用組成物、ポリマーの製造方法、ならびにシリカ系絶縁膜およびその製造方法に関する。
従来、半導体素子などにおける層間絶縁膜として、CVD(Chemical Vapor Deposition)法などの真空プロセスで形成されたシリカ(SiO2)膜が多用されている。そして、近年、より均一な層間絶縁膜を形成することを目的として、SOG(Spin on Glass)膜と呼ばれるテトラアルコキシランの加水分解生成物を主成分とする塗布型の絶縁膜が使用されるようになっている。また、半導体素子などの高集積化に伴い、有機SOGと呼ばれるポリオルガノシロキサンを主成分とする低比誘電率の層間絶縁膜が開発されている。
特に、半導体素子などのさらなる高集積化や多層化に伴い、より優れた導体間の電気絶縁性が要求されており、したがって、より低比誘電率でかつクラック耐性、機械的強度および密着性に優れた層間絶縁膜材料が求められるようになっている。
低比誘電率の材料としては、アンモニアの存在下でアルコキシシランを縮合して得られる微粒子と、アルコキシシランの塩基性部分加水分解物との混合物からなる組成物(特開平5−263045号公報、特開平5−315319号公報)や、ポリアルコキシシランの塩基性加水分解物をアンモニアの存在下で縮合することにより得られた塗布液(特開平11−340219号公報、特開平11−340220号公報)が提案されている。
絶縁膜中の炭素含有量を高めて各種プロセスに対する耐性を向上させるには、膜形成組成物中にポリカルボシラン成分を含めることが有効な方法の一つである。その一例として、ポリカルボシラン溶液およびポリシロキサン溶液を混合することにより塗布液を調製し、低誘電率絶縁膜を形成する方法(特開2001−127152号公報)が提案されている。しかしながら、この方法ではカルボシランとシロキサンのドメインがそれぞれ不均一な状態で塗膜中に分散してしまうという問題があった。
また、ポリカルボシランの存在下で加水分解性基含有シランモノマーを反応させることにより、加水分解性基含有シランモノマーに由来するポリシロキサンとポリカルボシランとの共縮合物を得て、そのポリマーを含有する膜形成用組成物を用いる方法を本出願人は提案している(国際公開番号WO2005/068540)。
しかしながら、国際公開番号WO2005/068540に記載されている方法を用いて、さらに炭素含有量を上げるために単純にポリカルボシランの成分比を高めると、ポリカルボシランと加水分解性シランモノマーとの共縮合が十分に起こらず、結果的に未反応のシラノール基がポリマー中に多く残り、得られたポリマーの吸湿性が高くなる場合がある。さらに、得られたポリマーの吸湿性が大きいと、エッチングや洗浄薬液などに対する耐性(プロセス耐性)が悪化することが知られており、炭素含有量を高めたことによるプロセス耐性の向上効果を相殺してしまうことがある。
また、低誘電率化を進めるにあたり、空孔を大きくするためにシロキサンポリマー1分子当たりの分子量を大きくする必要がある。しかしながら、ポリカルボシランとシロキサンモノマーとの反応性の違いによって、生成物のポリマー分子量分布が広がり、結果的に比誘電率が上昇することがある。加えて、ポリマーが高分子量となるため、粗大粒子が発生しやすく、発生した粗大粒子による濾過性の悪化を引き起こすことがある。特に、配線ピッチが細いほど、異物(粗大粒子)の発生を抑える必要性が高い。
本発明の目的は、高集積化および多層化が望まれている半導体素子などにおいて好適に用いることができ、分子量のばらつきが少なく、低比誘電率であり、機械的強度、保存安定性および薬液耐性などにも優れた絶縁膜を形成することができる絶縁膜形成用組成物および該組成物に使用可能なポリマーの製造方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、低比誘電率であり、機械的強度、保存安定性および薬液耐性などにも優れたシリカ系絶縁膜およびその製造方法を提供することにある。
本発明の一態様に係るポリマーの製造方法は、
(A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)下記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物で表される化合物から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理する工程を含む。
(A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)下記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物で表される化合物から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理する工程を含む。
(式中、R1は水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、アルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R2はハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、アルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R3,R4は同一または異なり、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、炭素数2〜6のアルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R5〜R7は同一または異なり、置換または非置換のメチレン基、アルキレン基、アルケニレン基、アルキニレン基、アリーレン基を示し、x,y,zは、それぞれ0〜10,000の数を示し、5<x+y+z<10,000の条件を満たす。)
R8 aSiZ4−a ・・・・・(2)
(式中、R8は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基またはアリール基、Zはハロゲン原子あるいはアルコキシ基、aは0〜3の整数を示す。)
本発明の一態様に係るポリマーの製造方法は、
(A)上記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)上記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物で表される化合物から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体および(E)上記一般式(2)で表される少なくとも1種の加水分解性シラン化合物を(D)塩基性触媒の存在下で処理する工程を含む。
上記ポリマーの製造方法において、前記金属キレート化合物は(C)下記一般式(3)で表されることができる。
R9 cM(OR10)b-c ・・・・・(3)
(式中、R9はキレート剤を示し、Mは金属原子を示し、R10はアルキル基またはアリール基を示し、bは金属Mの原子価を示し、cは1〜bの整数を表す。)
上記ポリマーの製造方法において、前記(D)塩基性触媒は下記一般式(4)で表される含窒素化合物であることができる。
(式中、R9はキレート剤を示し、Mは金属原子を示し、R10はアルキル基またはアリール基を示し、bは金属Mの原子価を示し、cは1〜bの整数を表す。)
上記ポリマーの製造方法において、前記(D)塩基性触媒は下記一般式(4)で表される含窒素化合物であることができる。
(X1X2X3X4N)gY ・・・・・(4)
(式中、X1,X2,X3,X4は同一または異なり、水素原子、炭素数1〜20のアルキル基、ヒドロキシアルキル基、アリール基、またはアリールアルキル基を示し、Yはハロゲン原子または1〜4価のアニオン性基を示し、gは1〜4の整数を表す。)
本発明の一態様にかかる絶縁膜形成用組成物は、上記製造方法によって製造されるポリマーと、有機溶剤とを含む。
(式中、X1,X2,X3,X4は同一または異なり、水素原子、炭素数1〜20のアルキル基、ヒドロキシアルキル基、アリール基、またはアリールアルキル基を示し、Yはハロゲン原子または1〜4価のアニオン性基を示し、gは1〜4の整数を表す。)
本発明の一態様にかかる絶縁膜形成用組成物は、上記製造方法によって製造されるポリマーと、有機溶剤とを含む。
上記絶縁膜形成用組成物において、前記ポリマーのMw/Mnが1.5〜4.0であることができる。
上記絶縁膜形成用組成物において、前記ポリマーは、炭素原子の含有率が8〜40原子%であることができる。
本発明の一態様に係る絶縁膜形成用組成物は、カルボシランオリゴマーおよびアルコキシシランモノマーの加水分解縮合物と、有機溶剤とを含有し、前記加水分解縮合物の炭素原子の含有率が8〜40原子%であり、かつ、前記加水分解縮合物のMw/Mnが1.5〜4.0である。
上記絶縁膜形成用組成物において、前記加水分解縮合物のSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して20%以下であることができる。
本発明の一態様に係るシリカ系絶縁膜の製造方法は、上記絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、30〜450℃に加熱することを含む。
本発明の一態様に係るシリカ系絶縁膜の製造方法は、上記絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、高エネルギー線を照射することを含む。
本発明の一態様に係るシリカ系絶縁膜は、上記シリカ系絶縁膜の製造方法により得られる。
上記ポリマーの製造方法によれば、効率的な加水分解縮合反応により、炭素原子を所定の割合で含み、分子量のバラつきが少なく、ゲル化が抑制されたポリマーを得ることができる。
上記絶縁膜形成用組成物によれば、(A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)下記一般式(2)で表される少なくとも1種の加水分解性シラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で反応させて得られたポリマーを含む。このポリマーは、(A)ポリカルボシラン化合物と(B)加水分解性シラン化合物との加水分解縮合反応が効果的に進行することにより得られたものであるため、分子量のバラつきが少なく、均一な三次構造を有するため、ゲル化が抑制されておりかつ比誘電率が低い。また、上記絶縁膜形成用組成物は、炭素原子を所定の割合で含み、かつ、分子量のバラつきが少ないポリマーを含むため、上記絶縁膜形成用組成物を用いて絶縁膜を形成することにより、薬液耐性やエッチング耐性などのプロセス耐性に優れ、膜中の層分離がなく、比誘電率が低い絶縁膜を得ることができる。
上記シリカ系絶縁膜は比誘電率が小さく、機械的強度、密着性、および薬液耐性やエッチング耐性などのプロセス耐性に優れ、かつ膜中の相分離がない。
以下、本発明の一実施形態に係るポリマーの製造方法、絶縁膜形成用組成物(以下、単に「膜形成用組成物」ともいう。)、ならびにシリカ系絶縁膜およびその製造方法について具体的に説明する。
1.ポリマーの製造方法
本発明の一実施形態に係るポリマーの製造方法は、(A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物(以下、「(A)成分」ともいう。)と、(B)下記一般式(2)で表される少なくとも1種の加水分解性シラン化合物(以下、「(B)成分」ともいう。)とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方(以下、「(C)成分」ともいう。)の存在下で反応(加水分解縮合)させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理させる工程を含む。該処理により、中間体の加水分解縮合反応が進行する。
本発明の一実施形態に係るポリマーの製造方法は、(A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物(以下、「(A)成分」ともいう。)と、(B)下記一般式(2)で表される少なくとも1種の加水分解性シラン化合物(以下、「(B)成分」ともいう。)とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方(以下、「(C)成分」ともいう。)の存在下で反応(加水分解縮合)させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理させる工程を含む。該処理により、中間体の加水分解縮合反応が進行する。
また、本発明の一実施形態に係るポリマーの製造方法は、(A)成分と(B)成分とを(C)成分の存在下で反応(加水分解縮合)させて中間体を得た後、該中間体および(E)下記一般式(2)で表される少なくとも1種の加水分解性シラン化合物(以下、「(E)成分」ともいう。)を(D)塩基性触媒の存在下で処理させる工程を含む。該処理により、中間体の加水分解縮合反応が進行する。
ここで、中間体を得た後、中間体を精製せずに(D)塩基性触媒の存在下で処理させることが好ましい。すなわち、(A)成分、(B)成分、および(C)成分を含む反応液中で反応を行なって中間体を得た後、(C)成分を除去せずに、この反応液中で(D)塩基性触媒の存在下で中間体の処理を行なうことにより、ポリマーを得ることが好ましい。ここで、(D)塩基性触媒を含む溶媒中にこの反応液を添加してもよいし、あるいは、この反応液中に(D)塩基性触媒を添加してもよい。
(式中、R1は水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、アルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R2はハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、アルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R3,R4は同一または異なり、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、炭素数2〜6のアルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R5〜R7は同一または異なり、置換または非置換のメチレン基、アルキレン基、アルケニレン基、アルキニレン基、またはアリーレン基を示し、x,y,zは、それぞれ0〜10,000の数を示し、5<x+y+z<10,000の条件を満たす。)
R8 aSiZ4−a ・・・・・(2)
(式中、R8は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基またはアリール基を示し、Zはハロゲン原子あるいはアルコキシ基を示し、aは0〜3の整数を表す。)
以下、本実施形態に係るポリマーを製造するために使用する各成分について説明する。
1.1.(A)成分
(A)成分は、上記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン(以下、「化合物1」ともいう。)であり、後述する(B)成分と縮合し、Si−O−Si結合を形成できる。なお、以下の説明において、(A)成分というとき、化合物1が有機溶剤に溶解している場合も含まれるものとする。
(A)成分は、上記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン(以下、「化合物1」ともいう。)であり、後述する(B)成分と縮合し、Si−O−Si結合を形成できる。なお、以下の説明において、(A)成分というとき、化合物1が有機溶剤に溶解している場合も含まれるものとする。
上記一般式(1)において、R1〜R4で表されるハロゲン原子としては、例えばフッ素原子、塩素原子、臭素原子などを挙げることができ、R1〜R4で表されるアルコキシ基としては、例えばメトキシ基、エトキシ基、プロピルオキシ基、ブトキシ基などを挙げることができ、R1〜R4で表されるアシロキシ基としては、例えばアセチルオキシ基、プロピオニルオキシ基などを挙げることができ、R1〜R4で表されるアルキル基としては、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基、シクロヘキシル基などを挙げることができ、R1〜R4で表されるアリール基としては、例えばフェニル基、ナフチル基、メチルフェニル基、エチルフェニル基、クロロフェニル基、ブロモフェニル基、フルオロフェニル基などを挙げることができる。
また、上記一般式(1)において、R5〜R7で表されるアルキレン基としては、例えばエチレン基、プロピレン基、ブチレン基、へキシレン基、デシレン基等などを挙げることができ、好ましくは炭素数2〜6であり、これらのアルキレン基は鎖状でも分岐していても、さらに環を形成していてもよく、水素原子がフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハロゲン原子で置換されていてもよい。R5〜R7で表されるアルケニレン基としては、炭素数2〜6(好ましくは1〜4)の直鎖あるいは分岐状のアルケニレン基が挙げられ、例えばビニレン基、プロペニレン基、ブテニレン基、ペンテニレン基、1−メチルビニレン基、1−メチルプロペニレン基、2−メチルプロペニレン基、1−メチルペンテニレン基、3−メチルペンテニレン基、1−エチルビニレン基、1−エチルプロペニレン基、1−エチルブテニレン基、3−エチルブテニレン基等を挙げることができる。これらのアルケニレン基中の水素原子はフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハロゲン原子で置換されていてもよい。R5〜R7で表されるアルキニレン基としては、炭素数2〜6(好ましくは1〜4)の直鎖あるいは分岐状のアルキニレン基が挙げられ、例えばエチニレン基、1−プロピニレン基、1−ブチニレン基、1−ペンチニレン基、1−ヘキシニレン基、2−ブチニレン基、2−ペンチニレン基、1−メチルエチニレン基、3−メチル−1−プロピニレン基、3−メチル−1−ブチニレン基等を挙げることができる。これらのアルキニレン基中の水素原子はフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハロゲン原子で置換されていてもよい。R5〜R7で表されるアリーレン基としては、例えばフェニレン基、ナフチレン基等を挙げることができ、水素原子がフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハロゲン原子で置換されていてもよい。
また、上記一般式(1)において、x,y,zは、0〜10,000の数で、5<x+y+z<10,000である。x+y+z<5の場合には、ポリマーの保存安定性が劣る場合があり、また10,000<x+y+zの場合には、(B)成分と層分離を起こし、均一な膜を形成しないことがある。好ましくは、x,y,zはそれぞれ、0≦x≦800、0≦y≦500、0≦z≦1,000であり、より好ましくは、0≦x≦500、0≦y≦300、0≦z≦500であり、さらに好ましくは、0≦x≦100、0≦y≦50、0≦z≦100である。
また、上記一般式(1)において、5<x+y+z<1,000であるのが好ましく、5<x+y+z<500であるのがより好ましく、5<x+y+z<250であるのがさらに好ましく、5<x+y+z<100であるのが最も好ましい。
(A)成分と(B)成分の混合比としては、(B)成分の完全加水分解縮合物100重量部に対して、(A)成分が1〜1000重量部であることが好ましく、特に5〜200重量部であることがより好ましく、5〜100重量部であることがさらに好ましい。(A)成分が1重量部未満である場合には、膜形成後に十分な薬液耐性を発現することができない場合があり、また1000重量部を越えると膜の低誘電率化を達成できない場合がある。
(A)成分のポリスチレン換算重量平均分子量は、400〜50,000であることが好ましく、500〜10,000であることがより好ましく、500〜3,000であることがさらに好ましい。(A)成分のポリスチレン換算重量平均分子量が50,000を超えると、(B)成分と層分離を起こし、均一な膜を形成しないことがある。
1.2.(B)成分
(B)成分は、上記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物(以下、「化合物2」ともいう。)である。
(B)成分は、上記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物(以下、「化合物2」ともいう。)である。
本発明において、「加水分解性シラン化合物」とは、本実施形態に係るポリマーの製造時に加水分解されうる基を有するシラン化合物をいう。加水分解性基としては、例えばハロゲン原子やアルコキシ基が挙げられる。
上記一般式(2)において、R8で表されるアルキル基およびアリール基としては、上記一般式(1)において、R1〜R4で表されるアルキル基およびアリール基として例示した基を挙げることができる。また、R8で表されるアルケニル基としては、炭素数2〜6(好ましくは1〜4)の直鎖あるいは分岐状のアルケニル基が挙げられ、例えばビニル基、1−プロペニル基、2−プロペニル基、イソプロペニル基、2−メチル−1−プロペニル基、3−メチル−1−プロペニル基、2−メチル−2−プロペニル基、3−メチル−2−プロペニル基、1−ブテニル基、2−ブテニル基、3−ブテニル基を挙げることができ、水素原子がフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハロゲン原子で置換されていてもよく、R8で表されるアルキニル基としては、炭素数3〜6(好ましくは1〜4)の直鎖あるいは分岐状のアルキニル基が挙げられ、例えばエチニル基、1−プロピニル基、2−プロピニル基、1−ブチニル基、2−ブチニル基、3−ブチニル基、3−メチル−1−プロピニル基、2−メチル−3−プロピニル基を挙げることができ、水素原子がフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子などのハロゲン原子で置換されていてもよい。
化合物2の具体例としては、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、メチルトリイソプロポキシシラン、メチルトリ−n−ブトキシシラン、メチルトリ−sec−ブトキシシラン、メチルトリ−tert−ブトキシシラン、メチルトリフェノキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、エチルトリ−n−プロポキシシラン、エチルトリイソプロポキシシラン、エチルトリ−n−ブトキシシラン、エチルトリ−sec−ブトキシシラン、エチルトリ−tert−ブトキシシラン、エチルトリフェノキシシラン、n−プロピルトリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラン、n−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、n−プロピルトリイソプロポキシシラン、n−プロピルトリ−n−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−sec−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−tert−ブトキシシラン、n−プロピルトリフェノキシシラン、イソプロピルトリメトキシシラン、イソプロピルトリエトキシシラン、イソプロピルトリ−n−プロポキシシラン、イソプロピルトリイソプロポキシシラン、イソプロピルトリ−n−ブトキシシラン、イソプロピルトリ−sec−ブトキシシラン、イソプロピルトリ−tert−ブトキシシラン、イソプロピルトリフェノキシシラン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ブチルトリエトキシシラン、n−ブチルトリ−n−プロポキシシラン、n−ブチルトリイソプロポキシシラン、n−ブチルトリ−n−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−sec−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、n−ブチルトリフェノキシシラン、sec−ブチルトリメトキシシラン、sec−ブチルイソトリエトキシシラン、sec−ブチルトリ−n−プロポキシシラン、sec−ブチルトリイソプロポキシシラン、sec−ブチルトリ−n−ブトキシシラン、sec−ブチルトリ−sec−ブトキシシラン、sec−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、sec−ブチルトリフェノキシシラン、tert−ブチルトリメトキシシラン、tert−ブチルトリエトキシシラン、tert−ブチルト−n−プロポキシシラン、tert−ブチルトリイソプロポキシシラン、tert−ブチルトリ−n−ブトキシシラン、tert−ブチルトリ−sec−ブトキシシラン、tert−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、tert−ブチルトリフェノキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリ−n−プロポキシシラン、フェニルトリイソプロポキシシラン、フェニルトリ−n−ブトキシシラン、フェニルトリ−sec−ブトキシシラン、フェニルトリ−tert−ブトキシシラン、フェニルトリフェノキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリ−n−プロポキシシラン、ビニルトリイソプロポキシシラン、ビニルトリ−n−ブトキシシラン、ビニルトリ−sec−ブトキシシラン、ビニルトリ−tert−ブトキシシラン、ビニルトリフェノキシシラン、トリメトキシシラン、トリエトキシシラン、トリ−n−プロポキシシラン、トリイソプロポキシシラン、トリ−n−ブトキシシラン、トリ−sec−ブトキシシラン、トリ−tert−ブトキシシラン、トリフェノキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジメチルジ−n−プロポキシシラン、ジメチルジイソプロポキシシラン、ジメチルジ−n−ブトキシシラン、ジメチルジ−sec−ブトキシシラン、ジメチルジ−tert−ブトキシシラン、ジメチルジフェノキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチルジ−n−プロポキシシラン、ジエチルジイソプロポキシシラン、ジエチルジ−n−ブトキシシラン、ジエチルジ−sec−ブトキシシラン、ジエチルジ−tert−ブトキシシラン、ジエチルジフェノキシシラン、ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピルジエトキシシラン、ジ−n−プロピルジ−n−プロポキシシラン、ジ−n−プロピルジイソプロポキシシラン、ジ−n−プロピルジ−n−ブトキシシラン、ジ−n−プロピルジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−プロピルジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−プロピルジ−フェノキシシラン、ジイソプロピルジメトキシシラン、ジイソプロピルジエトキシシラン、ジイソプロピルジ−n−プロポキシシラン、ジイソプロピルジイソプロポキシシラン、ジイソプロピルジ−n−ブトキシシラン、ジイソプロピルジ−sec−ブトキシシラン、ジイソプロピルジ−tert−ブトキシシラン、ジイソプロピルジフェノキシシラン、ジ−n−ブチルジメトキシシラン、ジ−n−ブチルジエトキシシラン、ジ−n−ブチルジ−n−プロポキシシラン、ジ−n−ブチルジイソプロポキシシラン、ジ−n−ブチルジ−n−ブトキシシラン、ジ−n−ブチルジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−ブチルジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−ブチルジ−フェノキシシラン、ジ−sec−ブチルジメトキシシラン、ジ−sec−ブチルジエトキシシラン、ジ−sec−ブチルジ−n−プロポキシシラン、ジ−sec−ブチルジイソプロポキシシラン、ジ−sec−ブチルジ−n−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチルジ−sec−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチルジ−tert−ブトキシシラン、ジ−sec−ブチルジ−フェノキシシラン、ジ−tert−ブチルジメトキシシラン、ジ−tert−ブチルジエトキシシラン、ジ−tert−ブチルジ−n−プロポキシシラン、ジ−tert−ブチルジイソプロポキシシラン、ジ−tert−ブチルジ−n−ブトキシシラン、ジ−tert−ブチルジ−sec−ブトキシシラン、ジ−tert−ブチルジ−tert−ブトキシシラン、ジ−tert−ブチルジ−フェノキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジ−エトキシシラン、ジフェニルジ−n−プロポキシシラン、ジフェニルジイソプロポキシシラン、ジフェニルジ−n−ブトキシシラン、ジフェニルジ−sec−ブトキシシラン、ジフェニルジ−tert−ブトキシシラン、ジフェニルジフェノキシシラン、ジビニルジメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−トリフルオロプロピルトリメトキシシラン、γ−トリフルオロプロピルトリエトキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトライソプロポキシシラン、テトラ−n−ブトキシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テトラ−tert−ブトキシシラン、テトラフェノキシシランなどが挙げられる。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
化合物2として特に好ましい化合物は、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、メチルトリイソプロポキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシランなどである。
1.3.(C)成分
上述したように、(C)成分は、金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方である。すなわち、(C)成分として、金属キレート化合物および酸性触媒のいずれか一方を使用してもよいし、あるいは両方を使用してもよい。
上述したように、(C)成分は、金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方である。すなわち、(C)成分として、金属キレート化合物および酸性触媒のいずれか一方を使用してもよいし、あるいは両方を使用してもよい。
1.3.1.金属キレート化合物
(C)成分として使用可能な金属キレート化合物は、下記一般式(3)で表される。
(C)成分として使用可能な金属キレート化合物は、下記一般式(3)で表される。
R9 cM(OR10)b−c ・・・・・(3)
(式中、R9はキレート剤、Mは金属原子、R10はアルキル基またはアリール基を示し、bは金属Mの原子価、cは1〜bの整数を表す。)
ここで、金属Mとしては、IIIB族金属(アルミニウム、ガリウム、インジウム、タリウム)およびIVA族金属(チタン、ジルコニウム、ハフニウム)より選ばれる少なくとも1種の金属であることが好ましく、チタン、アルミニウム、ジルコニウムがより好ましい。また、R10で表されるアルキル基またはアリール基としては、上述の一般式(1)におけるR1〜R4で表されるアルキル基またはアリール基を挙げることができる。
(式中、R9はキレート剤、Mは金属原子、R10はアルキル基またはアリール基を示し、bは金属Mの原子価、cは1〜bの整数を表す。)
ここで、金属Mとしては、IIIB族金属(アルミニウム、ガリウム、インジウム、タリウム)およびIVA族金属(チタン、ジルコニウム、ハフニウム)より選ばれる少なくとも1種の金属であることが好ましく、チタン、アルミニウム、ジルコニウムがより好ましい。また、R10で表されるアルキル基またはアリール基としては、上述の一般式(1)におけるR1〜R4で表されるアルキル基またはアリール基を挙げることができる。
金属キレート化合物の具体例としては、トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリイソプロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、トリ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノイソプロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、テトラキス(アセチルアセトナート)チタン、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリイソプロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノイソプロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタン、テトラキス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)チタン、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)チタン、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)チタン、等のチタンキレート化合物;トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリイソプロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノイソプロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、テトラキス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリイソプロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノイソプロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、等のジルコニウムキレート化合物;トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリイソプロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジエトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジイソプロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノイソプロポキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)アルミニウム、テトラキス(アセチルアセトナート)アルミニウム、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリイソプロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−n−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリ−tert−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジイソプロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ジ−tert−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノイソプロポキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ−tert−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、テトラキス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビス(エチルアセトアセテート)アルミニウム、トリス(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテート)アルミニウム、等のアルミニウムキレート化合物;等の1種または2種以上が挙げられる。
特に、(CH3(CH3)HCO)4−tTi(CH3COCH2COCH3)t,(CH3(CH3)HCO)4−tTi(CH3COCH2COOC2H5)t,(C4H9O)4−tTi(CH3COCH2COCH3)t,(C4H9O)4−tTi(CH3COCH2COOC2H5)t,(C2H5(CH3)CO)4−tTi(CH3COCH2COCH3)t,(C2H5(CH3)CO)4−tTi(CH3COCH2COOC2H5)t,(CH3(CH3)HCO)4−tZr(CH3COCH2COCH3)t,(CH3(CH3)HCO)4−tZr(CH3COCH2COOC2H5)t,(C4H9O)4−tZr(CH3COCH2COCH3)t,(C4H9O)4−tZr(CH3COCH2COOC2H5)t,(C2H5(CH3)CO)4−tZr(CH3COCH2COCH3)t,(C2H5(CH3)CO)4−tZr(CH3COCH2COOC2H5)t,(CH3(CH3)HCO)3−tAl(CH3COCH2COCH3)t,(CH3(CH3)HCO)3−tAl(CH3COCH2COOC2H5)t,(C4H9O)3−tAl(CH3COCH2COCH3)t,(C4H9O)3−tAl(CH3COCH2COOC2H5)t,(C2H5(CH3)CO)3−tAl(CH3COCH2COCH3)t,(C2H5(CH3)CO)3−tAl(CH3COCH2COOC2H5)t等の1種または2種以上が、使用される金属キレート化合物として好ましい。
金属キレート化合物の使用量は、(A)成分および(B)成分の総量100重量部(完全加水分解縮合物換算)に対して、0.0001〜10重量部、好ましくは0.001〜5重量部である。金属キレート化合物の使用割合が0.0001重量部未満であると、塗膜の塗布性が劣る場合があり、10重量部を超えるとポリマー成長を制御できずゲル化を起こす場合がある。また、金属キレート化合物は、加水分解縮合時に(D)成分とともに有機溶媒中にあらかじめ添加しておいてもよいし、水の添加時に水中に溶解あるいは分散させておいてもよい。
金属キレート化合物の存在下で(A)成分および(B)成分を加水分解縮合させる場合、(A)成分および(B)成分の総量1モル当たり0.5〜20モルの水を用いることが好ましく、1〜10モルの水を加えることが特に好ましい。添加する水の量が0.5モル未満であると加水分解反応が十分に進行せず、塗布性及び保存安定性に問題が生じる場合があり、20モルを越えると加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化が生じる場合がある。また、水は断続的あるいは連続的に添加されることが好ましい。
1.3.2.酸性触媒
(C)成分として使用可能な酸性触媒としては、有機酸または無機酸が例示でき、有機酸が好ましい。有機酸としては、例えば、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、無水マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸の加水分解物、無水マレイン酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物等を挙げることができる。無機酸としては、例えば、塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸等を挙げることができる。なかでも、加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化のおそれが少ない点で有機酸が好ましく、このうち、カルボキシル基を有する化合物がより好ましく、なかでも、酢酸、シュウ酸、マレイン酸、ギ酸、マロン酸、フタル酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸、無水マレイン酸の加水分解物などの有機酸が特に好ましい。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
(C)成分として使用可能な酸性触媒としては、有機酸または無機酸が例示でき、有機酸が好ましい。有機酸としては、例えば、酢酸、プロピオン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレイン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、シキミ酸、2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンスルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸、無水マレイン酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸の加水分解物、無水マレイン酸の加水分解物、無水フタル酸の加水分解物等を挙げることができる。無機酸としては、例えば、塩酸、硝酸、硫酸、フッ酸、リン酸等を挙げることができる。なかでも、加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化のおそれが少ない点で有機酸が好ましく、このうち、カルボキシル基を有する化合物がより好ましく、なかでも、酢酸、シュウ酸、マレイン酸、ギ酸、マロン酸、フタル酸、フマル酸、イタコン酸、コハク酸、メサコン酸、シトラコン酸、リンゴ酸、マロン酸、グルタル酸、無水マレイン酸の加水分解物などの有機酸が特に好ましい。これらは1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
酸性触媒の使用量は、(A)成分および(B)成分の総量100重量部(完全加水分解縮合物換算)に対して、0.0001〜10重量部、好ましくは0.001〜5重量部である。酸性触媒の使用割合が0.0001重量部未満であると、塗膜の塗布性が劣る場合があり、10重量部を超えると急激に加水分解縮合反応が進行しゲル化を起こす場合がある。また、酸性触媒は、加水分解縮合時に(A)成分および(B)成分とともに有機溶媒中にあらかじめ添加しておいてもよいし、水の添加時に水中に溶解あるいは分散させておいてもよい。
酸性触媒の存在下で(A)成分および(B)成分を加水分解縮合させる場合、(A)成分および(B)成分の総量1モル当たり0.5〜20モルの水を用いることが好ましく、1〜10モルの水を加えることが特に好ましい。添加する水の量が0.5モル未満であると加水分解反応が十分に進行せず、塗布性及び保存安定性に問題が生じる場合があり、20モルを越えると加水分解および縮合反応中のポリマーの析出やゲル化が生じる場合がある。また、水は断続的あるいは連続的に添加されることが好ましい。
1.4.(D)塩基性触媒
(D)塩基性触媒としては、例えば、メタノールアミン、エタノールアミン、プロパノールアミン、ブタノールアミン、N−メチルメタノールアミン、N−エチルメタノールアミン、N−プロピルメタノールアミン、N−ブチルメタノールアミン、N−メチルエタノールアミン、N−エチルエタノールアミン、N−プロピルエタノールアミン、N−ブチルエタノールアミン、N−メチルプロパノールアミン、N−エチルプロパノールアミン、N−プロピルプロパノールアミン、N−ブチルプロパノールアミン、N−メチルブタノールアミン、N−エチルブタノールアミン、N−プロピルブタノールアミン、N−ブチルブタノールアミン、N,N−ジメチルメタノールアミン、N,N−ジエチルメタノールアミン、N,N−ジプロピルメタノールアミン、N,N−ジブチルメタノールアミン、N,N−ジメチルエタノールアミン、N,N−ジエチルエタノールアミン、N,N−ジプロピルエタノールアミン、N,N−ジブチルエタノールアミン、N,N−ジメチルプロパノールアミン、N,N−ジエチルプロパノールアミン、N,N−ジプロピルプロパノールアミン、N,N−ジブチルプロパノールアミン、N,N−ジメチルブタノールアミン、N,N−ジエチルブタノールアミン、N,N−ジプロピルブタノールアミン、N,N−ジブチルブタノールアミン、N−メチルジメタノールアミン、N−エチルジメタノールアミン、N−プロピルジメタノールアミン、N−ブチルジメタノールアミン、N−メチルジエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン、N−プロピルジエタノールアミン、N−ブチルジエタノールアミン、N−メチルジプロパノールアミン、N−エチルジプロパノールアミン、N−プロピルジプロパノールアミン、N−ブチルジプロパノールアミン、N−メチルジブタノールアミン、N−エチルジブタノールアミン、N−プロピルジブタノールアミン、N−ブチルジブタノールアミン、N−(アミノメチル)メタノールアミン、N−(アミノメチル)エタノールアミン、N−(アミノメチル)プロパノールアミン、N−(アミノメチル)ブタノールアミン、N−(アミノエチル)メタノールアミン、N−(アミノエチル)エタノールアミン、N−(アミノエチル)プロパノールアミン、N−(アミノエチル)ブタノールアミン、N−(アミノプロピル)メタノールアミン、N−(アミノプロピル)エタノールアミン、N−(アミノプロピル)プロパノールアミン、N−(アミノプロピル)ブタノールアミン、N−(アミノブチル)メタノールアミン、N−(アミノブチル)エタノールアミン、N−(アミノブチル)プロパノールアミン、N−(アミノブチル)ブタノールアミン、メトキシメチルアミン、メトキシエチルアミン、メトキシプロピルアミン、メトキシブチルアミン、エトキシメチルアミン、エトキシエチルアミン、エトキシプロピルアミン、エトキシブチルアミン、プロポキシメチルアミン、プロポキシエチルアミン、プロポキシプロピルアミン、プロポキシブチルアミン、ブトキシメチルアミン、ブトキシエチルアミン、ブトキシプロピルアミン、ブトキシブチルアミン、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、N,N−ジメチルアミン、N,N−ジエチルアミン、N,N−ジプロピルアミン、N,N−ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、テトラメチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラメチルエチレンジアミン、テトラエチルエチレンジアミン、テトラプロピルエチレンジアミン、テトラブチルエチレンジアミン、メチルアミノメチルアミン、メチルアミノエチルアミン、メチルアミノプロピルアミン、メチルアミノブチルアミン、エチルアミノメチルアミン、エチルアミノエチルアミン、エチルアミノプロピルアミン、エチルアミノブチルアミン、プロピルアミノメチルアミン、プロピルアミノエチルアミン、プロピルアミノプロピルアミン、プロピルアミノブチルアミン、ブチルアミノメチルアミン、ブチルアミノエチルアミン、ブチルアミノプロピルアミン、ブチルアミノブチルアミン、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、モルホリン、メチルモルホリン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、アンモニア、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化バリウム、水酸化カルシウムなどを挙げることができる。
(D)塩基性触媒としては、例えば、メタノールアミン、エタノールアミン、プロパノールアミン、ブタノールアミン、N−メチルメタノールアミン、N−エチルメタノールアミン、N−プロピルメタノールアミン、N−ブチルメタノールアミン、N−メチルエタノールアミン、N−エチルエタノールアミン、N−プロピルエタノールアミン、N−ブチルエタノールアミン、N−メチルプロパノールアミン、N−エチルプロパノールアミン、N−プロピルプロパノールアミン、N−ブチルプロパノールアミン、N−メチルブタノールアミン、N−エチルブタノールアミン、N−プロピルブタノールアミン、N−ブチルブタノールアミン、N,N−ジメチルメタノールアミン、N,N−ジエチルメタノールアミン、N,N−ジプロピルメタノールアミン、N,N−ジブチルメタノールアミン、N,N−ジメチルエタノールアミン、N,N−ジエチルエタノールアミン、N,N−ジプロピルエタノールアミン、N,N−ジブチルエタノールアミン、N,N−ジメチルプロパノールアミン、N,N−ジエチルプロパノールアミン、N,N−ジプロピルプロパノールアミン、N,N−ジブチルプロパノールアミン、N,N−ジメチルブタノールアミン、N,N−ジエチルブタノールアミン、N,N−ジプロピルブタノールアミン、N,N−ジブチルブタノールアミン、N−メチルジメタノールアミン、N−エチルジメタノールアミン、N−プロピルジメタノールアミン、N−ブチルジメタノールアミン、N−メチルジエタノールアミン、N−エチルジエタノールアミン、N−プロピルジエタノールアミン、N−ブチルジエタノールアミン、N−メチルジプロパノールアミン、N−エチルジプロパノールアミン、N−プロピルジプロパノールアミン、N−ブチルジプロパノールアミン、N−メチルジブタノールアミン、N−エチルジブタノールアミン、N−プロピルジブタノールアミン、N−ブチルジブタノールアミン、N−(アミノメチル)メタノールアミン、N−(アミノメチル)エタノールアミン、N−(アミノメチル)プロパノールアミン、N−(アミノメチル)ブタノールアミン、N−(アミノエチル)メタノールアミン、N−(アミノエチル)エタノールアミン、N−(アミノエチル)プロパノールアミン、N−(アミノエチル)ブタノールアミン、N−(アミノプロピル)メタノールアミン、N−(アミノプロピル)エタノールアミン、N−(アミノプロピル)プロパノールアミン、N−(アミノプロピル)ブタノールアミン、N−(アミノブチル)メタノールアミン、N−(アミノブチル)エタノールアミン、N−(アミノブチル)プロパノールアミン、N−(アミノブチル)ブタノールアミン、メトキシメチルアミン、メトキシエチルアミン、メトキシプロピルアミン、メトキシブチルアミン、エトキシメチルアミン、エトキシエチルアミン、エトキシプロピルアミン、エトキシブチルアミン、プロポキシメチルアミン、プロポキシエチルアミン、プロポキシプロピルアミン、プロポキシブチルアミン、ブトキシメチルアミン、ブトキシエチルアミン、ブトキシプロピルアミン、ブトキシブチルアミン、メチルアミン、エチルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、N,N−ジメチルアミン、N,N−ジエチルアミン、N,N−ジプロピルアミン、N,N−ジブチルアミン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、テトラメチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラエチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラプロピルアンモニウムハイドロキサイド、テトラブチルアンモニウムハイドロキサイド、テトラメチルエチレンジアミン、テトラエチルエチレンジアミン、テトラプロピルエチレンジアミン、テトラブチルエチレンジアミン、メチルアミノメチルアミン、メチルアミノエチルアミン、メチルアミノプロピルアミン、メチルアミノブチルアミン、エチルアミノメチルアミン、エチルアミノエチルアミン、エチルアミノプロピルアミン、エチルアミノブチルアミン、プロピルアミノメチルアミン、プロピルアミノエチルアミン、プロピルアミノプロピルアミン、プロピルアミノブチルアミン、ブチルアミノメチルアミン、ブチルアミノエチルアミン、ブチルアミノプロピルアミン、ブチルアミノブチルアミン、ピリジン、ピロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリン、モルホリン、メチルモルホリン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシクロノナン、ジアザビシクロウンデセン、アンモニア、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、水酸化バリウム、水酸化カルシウムなどを挙げることができる。
(D)塩基性触媒としては、特に、下記一般式(4)で表される含窒素化合物(以下、化合物3ともいう)であることが好ましい。
(X1X2X3X4N)gY ・・・・・(4)
上記一般式(4)において、X1,X2,X3,X4は同一または異なり、それぞれ水素原子、炭素数1〜20のアルキル基(好ましくはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基など)、ヒドロキシアルキル基(好ましくはヒドロキシエチル基など)、アリール基(好ましくはフェニル基など)、アリールアルキル基(好ましくはフェニルメチル基など)を示し、Yはハロゲン原子(好ましくはフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子など)、1〜4価のアニオン性基(好ましくはヒドロキシ基など)を示し、gは1〜4の整数を示す。
上記一般式(4)において、X1,X2,X3,X4は同一または異なり、それぞれ水素原子、炭素数1〜20のアルキル基(好ましくはメチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基など)、ヒドロキシアルキル基(好ましくはヒドロキシエチル基など)、アリール基(好ましくはフェニル基など)、アリールアルキル基(好ましくはフェニルメチル基など)を示し、Yはハロゲン原子(好ましくはフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子など)、1〜4価のアニオン性基(好ましくはヒドロキシ基など)を示し、gは1〜4の整数を示す。
化合物3の具体例としては、水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化テトラエチルアンモニウム、水酸化テトラ−n−プロピルアンモニウム、水酸化テトラ−iso−プロピルアンモニウム、水酸化テトラ−n−ブチルアンモニウム、水酸化テトラ−iso−ブチルアンモニウム、水酸化テトラ−tert−ブチルアンモニウム、水酸化テトラペンチルアンモニウム、水酸化テトラヘキシルアンモニウム、水酸化テトラヘプチルアンモニウム、水酸化テトラオクチルアンモニウム、水酸化テトラノニルアンモニウム、水酸化テトラデシルアンモニウム、水酸化テトラウンデシルアンモニウム、水酸化テトラドデシルアンモニウム、臭化テトラメチルアンモニウム、塩化テトラメチルアンモニウム、臭化テトラエチルアンモニウム、塩化テトラエチルアンモニウム、臭化テトラ−n−プロピルアンモニウム、塩化テトラ−n−プロピルアンモニウム、臭化テトラ−n−ブチルアンモニウム、塩化テトラ−n−ブチルアンモニウム、水酸化ヘキサデシルトリメチルアンモニウム、臭化−n−ヘキサデシルトリメチルアンモニウム、水酸化−n−オクタデシルトリメチルアンモニウム、臭化−n−オクタデシルトリメチルアンモニウム、塩化セチルトリメチルアンモニウム、塩化ステアリルトリメチルアンモニウム、塩化ベンジルトリメチルアンモニウム、塩化ジデシルジメチルアンモニウム、塩化ジステアリルジメチルアンモニウム、塩化トリデシルメチルアンモニウム、テトラブチルアンモニウムハイドロジェンサルフェート、臭化トリブチルメチルアンモニウム、塩化トリオクチルメチルアンモニウム、塩化トリラウリルメチルアンモニウム、水酸化ベンジルトリメチルアンモニウム、臭化ベンジルトリエチルアンモニウム、臭化ベンジルトリブチルアンモニウム、臭化フェニルトリメチルアンモニウム、コリン等を好ましい例として挙げることができる。これらのうち特に好ましくは、水酸化テトラメチルアンモニウム、水酸化テトラエチルアンモニウム、水酸化テトラ−n−プロピルアンモニウム、水酸化テトラ−n−ブチルアンモニウム、臭化テトラメチルアンモニウム、塩化テトラメチルアンモニウム、臭化テトラエチルアンモニウム、塩化テトラエチルアンモニウム、臭化テトラ−n−プロピルアンモニウム、塩化テトラ−n−プロピルアンモニウムである。前記の化合物3は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
上述した(D)塩基性触媒の使用量は、化合物1〜2中の加水分解性基の総量1モルに対して、通常、0.00001〜10モル、好ましくは0.00005〜5モルである。
1.5.(E)成分
上述したように、(D)塩基性触媒の存在下で中間体を反応させる際に、中間体および(E)成分を処理してもよい。
上述したように、(D)塩基性触媒の存在下で中間体を反応させる際に、中間体および(E)成分を処理してもよい。
(E)成分としては、上記(B)成分として例示された化合物を用いることができる。このうち、(E)成分としては、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラン、テトライソプロポキシシランが好ましい。
(E)成分の使用量は、中間体の製造のために使用する(A)成分および(B)成分の合計量を100モル%としたとき、50モル%以下であることが好ましい。中間体の製造のために使用する(A)成分および(B)成分の合計量を100モル%としたとき、中間体中の(A)成分が10モル%未満である場合には、酸処理してもあまり効果が得られない。
1.6.有機溶剤
上述の中間体の製造において、(A)成分および(B)成分を有機溶媒に溶解させた状態で反応させることができる。また、上述のポリマーの製造において、中間体(および(E)成分)を有機溶媒に溶解させた状態で反応させることができる。
上述の中間体の製造において、(A)成分および(B)成分を有機溶媒に溶解させた状態で反応させることができる。また、上述のポリマーの製造において、中間体(および(E)成分)を有機溶媒に溶解させた状態で反応させることができる。
この場合に使用可能な有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、n−プロパノール、i−プロパノール、n−ブタノール、i−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール等のアルコール系溶媒;エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、2,4−ペンタンジオール、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,5−ヘキサンジオール、2,4−ヘプタンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価アルコール系溶媒;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶媒;エチルエーテル、i−プロピルエーテル、n−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロピレンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテルなどのエーテル系溶媒;アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、シクロヘプタノン、シクロオクタノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコール、などのケトン系溶媒が挙げられる。
中間体の製造において、有機溶媒中における(A)成分および(B)成分の合計量の濃度は1〜30重量%であることが好ましい。また、ポリマーの製造において、有機溶媒中における中間体(中間体と(E)成分とを反応させる場合は、中間体と(E)成分との合計量)の濃度は1〜30重量%であることが好ましい。
加水分解縮合における反応温度は0〜100℃、好ましくは20〜80℃、反応時間は30〜1000分、好ましくは30〜180分である。
各成分の添加順としては、特に限定されないが、例えば有機溶媒に(D)塩基性触媒を添加した液に、(A)成分および(B)成分をそれぞれ有機溶媒に添加したものを逐次添加していく方法が好ましい。
得られた特定加水分解縮合物のポリスチレン換算重量平均分子量は通常、1,0,000〜500,000であるのが好ましく、20,000〜300,000であるのがより好ましく、30,000〜100,000であるのがさらに好ましい。特定加水分解縮合物のポリスチレン換算重量平均分子量が10,000未満であると、目的とする比誘電率が得られない場合があり、一方、500,000を超えると、塗膜の面内均一性が劣る場合がある。
1.7.作用効果
本実施形態に係るポリマー(加水分解縮合物)の製造方法によれば、(A)成分として化合物1を用いて、(C)成分の存在下(A)成分および(B)成分を反応(加水分解縮合)させて中間体を得た後、(D)塩基性触媒の存在下で中間体(および(E)成分)を処理させることにより、分子量のバラつきが少なく、所定の炭素含量を有するポリマーを得ることができる。すなわち、得られるポリマーは、(A)成分(ポリカルボシラン)を核とするポリマーが、(B)成分(加水分解基含有シランモノマー)に由来するポリシロキサンの三次構造内に取り込まれた構造を有し、分子量が均一である。したがって、上記ポリマーを含む絶縁膜形成用組成物は、比誘電率が小さく、機械的強度および密着性、ならびにエッチング耐性および薬液耐性などのプロセス耐性が非常に優れ、かつ、該組成物を用いることにより、膜中の相分離がない絶縁膜を得ることができる。
本実施形態に係るポリマー(加水分解縮合物)の製造方法によれば、(A)成分として化合物1を用いて、(C)成分の存在下(A)成分および(B)成分を反応(加水分解縮合)させて中間体を得た後、(D)塩基性触媒の存在下で中間体(および(E)成分)を処理させることにより、分子量のバラつきが少なく、所定の炭素含量を有するポリマーを得ることができる。すなわち、得られるポリマーは、(A)成分(ポリカルボシラン)を核とするポリマーが、(B)成分(加水分解基含有シランモノマー)に由来するポリシロキサンの三次構造内に取り込まれた構造を有し、分子量が均一である。したがって、上記ポリマーを含む絶縁膜形成用組成物は、比誘電率が小さく、機械的強度および密着性、ならびにエッチング耐性および薬液耐性などのプロセス耐性が非常に優れ、かつ、該組成物を用いることにより、膜中の相分離がない絶縁膜を得ることができる。
1.8.ポリマー
上述したように、本実施形態に係る製造方法により得られたポリマーは、(i)(A)成分と(B)成分とを(C)成分の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理させて得てもよいし、あるいは、(ii)(A)成分と(B)成分とを(C)成分の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体および(E)成分を(D)塩基性触媒の存在下で処理させて得てもよい。
上述したように、本実施形態に係る製造方法により得られたポリマーは、(i)(A)成分と(B)成分とを(C)成分の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理させて得てもよいし、あるいは、(ii)(A)成分と(B)成分とを(C)成分の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体および(E)成分を(D)塩基性触媒の存在下で処理させて得てもよい。
本実施形態に係る製造方法により得られたポリマーは、カルボシランオリゴマーおよびアルコキシシランモノマーの加水分解縮合によって得られ、炭素原子の含有率が8〜40原子%(好ましくは8〜20原子%、特に好ましくは10〜18原子%)であり、かつ、Mw/Mnが1.5〜4.0(好ましくは1.5〜3.5)であることができる。ここで、カルボシランオリゴマーとしては、例えば上述の(A)成分が挙げられ、アルコキシシランモノマーとしては、例えば上述の(B)成分が挙げられる。この構造によれば、分子量のバラつきが少なく、ゲル化が抑制されており、かつ、炭素原子を所定量含むため、該ポリマーを含む膜形成用組成物を用いてシリカ系膜を形成した場合、プロセス耐性に優れ、かつ比誘電率が低いシリカ系膜を得ることができる。ここで、Mw/Mnが4.0を超えると、ろ過性に影響を与える高分子量体やk値の低下を阻害する低分子量体の発生が問題となる。
このポリマーにおいて、炭素原子の含有率は8〜40原子%であるのがより好ましく(さらに好ましくは8〜20原子%、特に好ましくは10〜18原子%)、Mw/Mnは1.5〜4.0であるのがより好ましい(さらに好ましくは1.5〜3.5)。
なお、ポリマーの炭素原子の含有率(原子%)は、ポリマーの調製に用いた成分((A)成分および(B)成分((E)成分を用いた場合はさらに(E)成分)の加水分解性基が完全に加水分解されてシラノール基となり、この生成したシラノール基が完全に縮合しシロキサン結合を形成した時の元素組成から求められ、具体的には以下の式から求められる。
炭素原子の含有率(原子%)=(有機シリカゾルの炭素原子数)/(有機シリカゾルの総原子数)×100
また、本実施形態に係るポリマーは、そのSi−OH結合の含量がSi−O結合の総量に対して好ましくは20%以下であり、より好ましくは15%以下であり、例えば0.1〜20%(好ましくは1〜15%)である。ここで、Si−O結合の総量とは、Si−O−Siに含まれるSi−O結合及びSi−OH結合の合計量をいう。ポリマー中にSi−OH結合が上記の割合を超えて存在すると、吸水性が高くなることがある。このSi−OH結合の含量は、ポリマーについて測定した29Si−NMRスペクトルにおけるピークの積算値から求めることができ、具体的には、29Si−NMRスペクトルにおいて、Si−OH結合の含量=Si−OH結合を示すピークの積算値/(Si−OH結合を示すピークの積算値+Si−O結合を示すピークの積算値)である。
また、本実施形態に係るポリマーは、そのSi−OH結合の含量がSi−O結合の総量に対して好ましくは20%以下であり、より好ましくは15%以下であり、例えば0.1〜20%(好ましくは1〜15%)である。ここで、Si−O結合の総量とは、Si−O−Siに含まれるSi−O結合及びSi−OH結合の合計量をいう。ポリマー中にSi−OH結合が上記の割合を超えて存在すると、吸水性が高くなることがある。このSi−OH結合の含量は、ポリマーについて測定した29Si−NMRスペクトルにおけるピークの積算値から求めることができ、具体的には、29Si−NMRスペクトルにおいて、Si−OH結合の含量=Si−OH結合を示すピークの積算値/(Si−OH結合を示すピークの積算値+Si−O結合を示すピークの積算値)である。
ポリマーの重量平均分子量(Mw)は、10,000〜200,000であることが好ましく、50,000〜150,000であることがより好ましく、100,000〜150,000であることが特に好ましい。ポリマーの重量平均分子量が200,000より大きいと、ゲル化が生じやすく、また、得られるシリカ系膜内の細孔が大きくなりすぎて好ましくない。一方、ポリマーの重量平均分子量が10,000より小さいと、塗布性や保存安定性に問題が生じやすい。また低誘電率化するための空孔が小さくなりすぎてしまう。
2.膜形成用組成物
本実施形態に係る膜形成用組成物は、上記ポリマーと有機溶剤とを含む。
本実施形態に係る膜形成用組成物は、上記ポリマーと有機溶剤とを含む。
また、本発明の一実施形態に係る絶縁膜形成用組成物は、カルボシランオリゴマーおよびアルコキシシランモノマーの加水分解縮合によって得られたポリマー(加水分解縮合物)と、有機溶剤とを含有し、該ポリマーの炭素原子の含有率が8〜40原子%であり、かつ、前記ポリマーのMw/Mnが1.5〜4.0であることができる。ここで、カルボシランオリゴマーとしては、例えば上述の(A)成分が挙げられ、アルコキシシランモノマーとしては、例えば上述の(B)成分が挙げられる。さらに、ポリマーの炭素原子の含有率は好ましくは8〜20原子%(特に好ましくは10〜18原子%)であり、ポリマーのMw/Mnは好ましくは1.5〜3.5であることができる。
2.1.有機溶剤
本実施形態に係る絶縁膜形成用組成物に含まれる有機溶剤としては、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒、エーテル系溶媒、エステル系溶媒、脂肪族炭化水素系溶媒、芳香族系溶媒および含ハロゲン溶媒の群から選ばれた少なくとも1種が挙げられる。
本実施形態に係る絶縁膜形成用組成物に含まれる有機溶剤としては、アルコール系溶媒、ケトン系溶媒、アミド系溶媒、エーテル系溶媒、エステル系溶媒、脂肪族炭化水素系溶媒、芳香族系溶媒および含ハロゲン溶媒の群から選ばれた少なくとも1種が挙げられる。
アルコール系溶媒としては、メタノール、エタノール、n−プロパノール、i−プロパノール、n−ブタノール、i−ブタノール、sec−ブタノール、t−ブタノール、n−ペンタノール、i−ペンタノール、2−メチルブタノール、sec−ペンタノール、t−ペンタノール、3−メトキシブタノール、n−ヘキサノール、2−メチルペンタノール、sec−ヘキサノール、2−エチルブタノール、sec−ヘプタノール、3−ヘプタノール、n−オクタノール、2−エチルヘキサノール、sec−オクタノール、n−ノニルアルコール、2,6−ジメチル−4−ヘプタノール、n−デカノール、sec−ウンデシルアルコール、トリメチルノニルアルコール、sec−テトラデシルアルコール、sec−ヘプタデシルアルコール、フルフリルアルコール、フェノール、シクロヘキサノール、メチルシクロヘキサノール、3,3,5−トリメチルシクロヘキサノール、ベンジルアルコール、ジアセトンアルコールなどのモノアルコール系溶媒;
エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、2,4−ペンタンジオール、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,5−ヘキサンジオール、2,4−ヘプタンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価アルコール系溶媒;
エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶媒;などを挙げることができる。これらのアルコール系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
エチレングリコール、1,2−プロピレングリコール、1,3−ブチレングリコール、2,4−ペンタンジオール、2−メチル−2,4−ペンタンジオール、2,5−ヘキサンジオール、2,4−ヘプタンジオール、2−エチル−1,3−ヘキサンジオール、ジエチレングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレングリコール、トリプロピレングリコールなどの多価アルコール系溶媒;
エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノプロピルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノプロピルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノヘキシルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテルなどの多価アルコール部分エーテル系溶媒;などを挙げることができる。これらのアルコール系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
ケトン系溶媒としては、アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、シクロヘプタノン、シクロオクタノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコール、アセトフェノン、フェンチョンなどのケトン系溶媒を挙げることができる。これらのケトン系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
アミド系溶媒としては、N,N−ジメチルイミダゾリジノン、N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−メチルピロリドンなどの含窒素系溶媒を挙げることができる。これらのアミド系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
エーテル溶媒系としては、エチルエーテル、i−プロピルエーテル、n−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロピレンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エトキシトリグリコール、テトラエチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフラン、2−メチルテトラヒドロフラン、ジフェニルエーテル、アニソールなどのエーテル系溶媒を挙げることができる。これらのエーテル系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
エステル系溶媒としては、ジエチルカーボネート、プロピレンカーボネート、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸n−ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸エチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノエチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノプロピルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノブチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジ酢酸グリコール、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−アミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミル、マロン酸ジエチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチルなどのエステル系溶媒を挙げることができる。これらのエステル系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
脂肪族炭化水素系溶媒としては、n−ペンタン、i−ペンタン、n−ヘキサン、i−ヘキサン、n−ヘプタン、i−ヘプタン、2,2,4−トリメチルペンタン、n−オクタン、i−オクタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサンなどの脂肪族炭化水素系溶媒を挙げることができる。これらの脂肪族炭化水素系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。
芳香族炭化水素系溶媒としては、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼン、メチルエチルベンゼン、n−プロピルベンセン、i−プロピルベンセン、ジエチルベンゼン、i−ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジ−i−プロピルベンセン、n−アミルナフタレン、トリメチルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒を挙げることができる。これらの芳香族炭化水素系溶媒は、1種あるいは2種以上を同時に使用してもよい。含ハロゲン溶媒としては、ジクロロメタン、クロロホルム、フロン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、などの含ハロゲン溶媒を挙げることができる。
本実施形態に係る絶縁膜形成用組成物においては、沸点が150℃未満の有機溶剤を使用することが望ましく、溶剤種としては、アルコール系溶剤、ケトン系溶剤、エステル系溶剤が特に望ましく、さらにそれらを1種あるいは2種以上を同時に使用することが望ましい。
これらの有機溶剤は、中間体および/またはポリマーの合成に用いたものと同じものであってもよいし、中間体および/またはポリマーの合成が終了した後に溶剤を所望の有機溶剤に置換することもできる。
本発明の一実施形態に係る膜形成用組成物の全固形分濃度は、好ましくは0.1〜20重量%であり、使用目的に応じて適宜調整される。本発明の一実施形態に係る膜形成用組成物の全固形分濃度が0.1〜20重量%であることにより、塗膜の膜厚が適当な範囲となり、より優れた保存安定性を有するものとなる。なお、この全固形分濃度の調整は、必要であれば、濃縮および有機溶媒による希釈によって行われる。
2.2.その他の添加物
本実施形態に係る絶縁膜形成用組成物には、さらに有機ポリマーや界面活性剤などの成分を添加してもよい。
本実施形態に係る絶縁膜形成用組成物には、さらに有機ポリマーや界面活性剤などの成分を添加してもよい。
2.2.1.有機ポリマー
有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構造を有する重合体、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビニル化合物系重合体、デンドリマー、ポリイミド,ポリアミック酸、ポリアリーレン、ポリアミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体などを挙げることができる。
有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構造を有する重合体、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビニル化合物系重合体、デンドリマー、ポリイミド,ポリアミック酸、ポリアリーレン、ポリアミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体などを挙げることができる。
ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキシド構造などが挙げられる。
具体的には、ポリオキシメチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオキシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホルマリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなどのエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エステル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエーテルエステル型化合物などを挙げることができる。
ポリオキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマーとしては、下記のようなブロック構造を有する化合物が挙げられる。
−(X′)l−(Y′)m−
−(X′)l−(Y′)m−(X′)n−
(式中、X′は−CH2CH2O−で表される基を、Y′は−CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、lは1〜90、mは10〜99、nは0〜90の数を示す。)
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。前述の有機ポリマーは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
−(X′)l−(Y′)m−(X′)n−
(式中、X′は−CH2CH2O−で表される基を、Y′は−CH2CH(CH3)O−で表される基を示し、lは1〜90、mは10〜99、nは0〜90の数を示す。)
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。前述の有機ポリマーは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
2.2.2.界面活性剤
界面活性剤としては、たとえば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
界面活性剤としては、たとえば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
界面活性剤の使用量は、得られる重合体100重量部に対して、通常、0.00001〜1重量部である。これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
3.絶縁膜の製造方法
本発明の一実施形態に係る絶縁膜(シリカ系絶縁膜)の製造方法は、上記絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、硬化処理を施す工程を含む。
本発明の一実施形態に係る絶縁膜(シリカ系絶縁膜)の製造方法は、上記絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、硬化処理を施す工程を含む。
絶縁膜形成用組成物が塗布される基板としては、Si、SiO2、SiN、SiC、SiCN等のSi含有層が挙げられる。絶縁膜形成用組成物を基板に塗布する方法としては、スピンコート、浸漬法、ロールコート法、スプレー法などの塗装手段が用いられる。基板に膜形成用組成物を塗布した後、溶剤を除去し塗膜を形成する。この際の膜厚は、乾燥膜厚として、1回塗りで厚さ0.05〜2.5μm、2回塗りでは厚さ0.1〜5.0μmの塗膜を形成することができる。その後、得られた塗膜に対して、硬化処理を施すことでシリカ系膜を形成することができる。
硬化処理としては、加熱、電子線や紫外線などの高エネルギー線照射、プラズマ処理、およびこれらの組み合わせを挙げることができ、加熱処理または高エネルギー線照射が好ましい。
加熱により硬化を行なう場合は、この塗膜を不活性雰囲気下または減圧下で80〜450℃(好ましくは300℃〜450℃)に加熱する。この際の加熱方法としては、ホットプレート、オーブン、ファーネスなどを使用することができ、加熱雰囲気としては、不活性雰囲気下または減圧下で行なうことができる。
また、上記塗膜の硬化速度を制御するため、必要に応じて、段階的に加熱したり、あるいは窒素、空気、酸素、減圧などの雰囲気を選択したりすることができる。このような工程により、シリカ系膜の製造を行なうことができる。
4.シリカ系膜
本発明の一実施形態に係るシリカ系膜(シリカ系絶縁膜)は、低誘電率であり、かつ表面平坦性に優れるため、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜として特に優れており、かつ、エッチングストッパー膜、半導体素子の表面コート膜などの保護膜、多層レジストを用いた半導体作製工程の中間層、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶表示素子用の保護膜や絶縁膜などに好適に用いることができる。また、本発明の一実施形態に係るシリカ系膜は、銅ダマシンプロセスを含む半導体装置に有用である。
本発明の一実施形態に係るシリカ系膜(シリカ系絶縁膜)は、低誘電率であり、かつ表面平坦性に優れるため、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜として特に優れており、かつ、エッチングストッパー膜、半導体素子の表面コート膜などの保護膜、多層レジストを用いた半導体作製工程の中間層、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶表示素子用の保護膜や絶縁膜などに好適に用いることができる。また、本発明の一実施形態に係るシリカ系膜は、銅ダマシンプロセスを含む半導体装置に有用である。
本発明の一実施形態に係るシリカ系膜は、その比誘電率が、好ましくは1.5〜3.5、より好ましくは1.8〜3.0、さらに好ましくは1.8〜2.5であり、その弾性率が、好ましくは2.5〜15.0GPa、より好ましくは3.0〜12.0GPaであり、その膜密度が、好ましくは0.7〜1.3g/cm3、より好ましくは0.8〜1.27g/cm3である。これらのことから、本発明の一実施形態に係る有機シリカ系膜は、機械的特性、比誘電率等の絶縁膜特性に極めて優れているといえる。
5.実施例
以下、本発明を、実施例を挙げてさらに具体的に説明する。本発明は以下の実施例に限定されるものではない。なお、実施例および比較例中の「部」および「%」は、特記しない限り、それぞれ重量部および重量%であることを示している。
以下、本発明を、実施例を挙げてさらに具体的に説明する。本発明は以下の実施例に限定されるものではない。なお、実施例および比較例中の「部」および「%」は、特記しない限り、それぞれ重量部および重量%であることを示している。
5.1.評価方法
各種の評価は、次のようにして行った。
各種の評価は、次のようにして行った。
なお、硬度、弾性率、薬液耐性、および膜の分離については、以下の方法で形成されたポリマー膜(シリカ系膜)を用いた。すなわち、各実施例および比較例で得られた組成物をスピンコート法でシリコンウエハ上に塗布したのち、ホットプレート上で、90℃で3分間、窒素雰囲気下200℃で3分間基板を乾燥し、さらに400℃の窒素雰囲気下にてホットプレートで基板を60分間焼成して、膜厚500μmのポリマー膜を得、このポリマー膜を上述の各種評価に使用した。
5.1.1.比誘電率測定,Δk
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて膜形成用組成物を塗布し、ホットプレート上にて90℃で3分間、次いで窒素雰囲気下200℃で3分間乾燥し、さらに50mTorrの減圧下(真空雰囲気)420℃の縦型ファーネスで1時間焼成した。得られた膜に、蒸着法によりアルミニウム電極パターンを形成し、比誘電率測定用サンプルを作成した。該サンプルについて、周波数100kHzの周波数で、横河・ヒューレットパッカード(株)製、HP16451B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメータを用いてCV法により、室温(24℃)および200℃での当該膜の比誘電率を測定した。
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて膜形成用組成物を塗布し、ホットプレート上にて90℃で3分間、次いで窒素雰囲気下200℃で3分間乾燥し、さらに50mTorrの減圧下(真空雰囲気)420℃の縦型ファーネスで1時間焼成した。得られた膜に、蒸着法によりアルミニウム電極パターンを形成し、比誘電率測定用サンプルを作成した。該サンプルについて、周波数100kHzの周波数で、横河・ヒューレットパッカード(株)製、HP16451B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメータを用いてCV法により、室温(24℃)および200℃での当該膜の比誘電率を測定した。
Δkは、室温(24℃)、40%RHの雰囲気で測定した比誘電率(k@RT)と、200℃、乾燥窒素雰囲気下で測定した比誘電率(k@200℃)との差(Δk=k@RT−k@200℃)である。かかるΔkにより、主に、膜の吸湿による比誘電率の上昇分を評価することができる。通常、Δkが0.25以上であると、吸水性の高い有機シリカ膜であるといえる。
5.1.2.絶縁膜の硬度および弾性率(ヤング率)評価
MTS社製超微少硬度計(Nanoindentator XP)にバーコビッチ型圧子を取り付け、得られたポリマー膜のユニバーサル硬度を求めた。また、弾性率は連続剛性測定法により測定した。
MTS社製超微少硬度計(Nanoindentator XP)にバーコビッチ型圧子を取り付け、得られたポリマー膜のユニバーサル硬度を求めた。また、弾性率は連続剛性測定法により測定した。
5.1.3.保存安定性
40℃で30日保存した膜形成用組成物を、スピンコート法を用いて基板に塗布し、ホットプレート上にて90℃で3分間、次いで窒素雰囲気下200℃で3分間基板を乾燥し、さらに50mTorrの減圧下にて420℃の縦型ファーネスで1時間焼成した。このようにして得られた塗膜の膜厚を、光学式膜厚計(Rudolph Technologies社製、Spectra Laser200)を用いて塗膜面内で50点測定した。得られた膜の膜厚を測定し、下式により求めた膜厚増加率により、保存安定性を評価した。
40℃で30日保存した膜形成用組成物を、スピンコート法を用いて基板に塗布し、ホットプレート上にて90℃で3分間、次いで窒素雰囲気下200℃で3分間基板を乾燥し、さらに50mTorrの減圧下にて420℃の縦型ファーネスで1時間焼成した。このようにして得られた塗膜の膜厚を、光学式膜厚計(Rudolph Technologies社製、Spectra Laser200)を用いて塗膜面内で50点測定した。得られた膜の膜厚を測定し、下式により求めた膜厚増加率により、保存安定性を評価した。
膜厚増加率(%)=((保存後の膜厚)−(保存前の膜厚))÷(保存前の膜厚)×100
A:膜厚増加率が4%以下である。
A:膜厚増加率が4%以下である。
B:膜厚増加率が4%を超える。
5.1.4.薬液耐性
ポリマー膜が形成された8インチウエハを、室温で0.2%の希フッ酸水溶液中に1分間浸漬し、浸漬前後のシリカ系膜の膜厚変化を観察した。下記に定義する残膜率が99%以上であれば、薬液耐性が良好であると判断する。
ポリマー膜が形成された8インチウエハを、室温で0.2%の希フッ酸水溶液中に1分間浸漬し、浸漬前後のシリカ系膜の膜厚変化を観察した。下記に定義する残膜率が99%以上であれば、薬液耐性が良好であると判断する。
残膜率(%)=(浸漬後の膜の膜厚)÷(浸漬前の膜の膜厚)×100
A:残膜率が99%以上である。
A:残膜率が99%以上である。
B:残膜率が99%未満である。
5.1.5.膜の相分離有無の確認
絶縁膜の断面を、集束イオンビーム法で観察用に加工し、TEMを用いて18000倍にて外観を調べた。判断結果を以下にして示す。
絶縁膜の断面を、集束イオンビーム法で観察用に加工し、TEMを用いて18000倍にて外観を調べた。判断結果を以下にして示す。
A:断面の形状観察では、均一な塗膜が得られている。
B:塗膜に海島状のドメイン相分離が確認される。
5.1.6.フィルターテスト
膜形成用組成物10mLが0.2μm孔径のテフロン(登録商標)製フィルターを通過するか否かを調べた。判断結果を以下に示す。
膜形成用組成物10mLが0.2μm孔径のテフロン(登録商標)製フィルターを通過するか否かを調べた。判断結果を以下に示す。
A:10mLすべてフィルターを通過した。
B:10mLすべてがフィルターを通過できなかった。
5.1.7.分子量(Mn,Mw)
下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定した。
下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定した。
試料:テトラヒドロフランを溶媒として使用し、ポリマー(加水分解縮合物)1gを、100ccのテトラヒドロフランに溶解して調製した。
標準ポリスチレン:米国プレッシャーケミカル社製の標準ポリスチレンを使用した。
装置:米国ウオーターズ社製の高温高速ゲル浸透クロマトグラム(モデル150−C ALC/GPC)
5.1.8.29Si−NMRスペクトル
下記装置を用いて、溶媒として重ベンゼンを用いて、ポリマーの29Si−NMRスペクトルを測定した。
5.1.8.29Si−NMRスペクトル
下記装置を用いて、溶媒として重ベンゼンを用いて、ポリマーの29Si−NMRスペクトルを測定した。
装置:BRUKER AVANCE 500型(ブルカー(Bruker)社製)
5.2.膜形成用組成物の製造
5.2.1.実施例1
石英製セパラブルフラスコ中で、下記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)47.1gおよびトリエトキシシラン150.4gを、メタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、1重量%マレイン酸水溶液51gおよびイオン交換水100gを添加し1時間攪拌した(反応液i)。
5.2.膜形成用組成物の製造
5.2.1.実施例1
石英製セパラブルフラスコ中で、下記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)47.1gおよびトリエトキシシラン150.4gを、メタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、1重量%マレイン酸水溶液51gおよびイオン交換水100gを添加し1時間攪拌した(反応液i)。
次に、石英製セパラブルフラスコに、メタノール2000g、イオン交換水1500g、25重量%テトラブチルアンモニウムハイドロキシド水溶液50.1gを入れ、液温を60℃に安定させた(反応液ii)。この反応液iiに反応液iおよびメチルトリメトキシシラン50.1gを加え、1時間反応させた。
次いで、酢酸の20%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液2000gを添加し、さらに10分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールと水とを含む溶液をエバポレーションで15%まで濃縮し、組成物A(組成物中のポリマーの炭素原子含有率:10原子%)を得た。また、29Si−NMRスペクトルの測定を行った結果、得られたポリマーのSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して10%であった。
5.2.2.実施例2
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)65.1g、メチルトリエトキシシラン175.5gおよびテトラメトキシシラン80.5gをメタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、1重量%シュウ酸水溶液51.0gおよびイオン交換水100gを添加し1時間攪拌した(反応液iii)。
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)65.1g、メチルトリエトキシシラン175.5gおよびテトラメトキシシラン80.5gをメタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、1重量%シュウ酸水溶液51.0gおよびイオン交換水100gを添加し1時間攪拌した(反応液iii)。
次に、石英製セパラブルフラスコに、メタノール2000g、イオン交換水1500g、および25重量%テトラブチルアンモニウムハイドロキシド水溶液36.7gを入れ、液温を60℃に安定させた。このフラスコへ反応液iiiを添加し、1時間反応させた。
次いで、酢酸の20%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液2500gを添加し、さらに10分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールおよび水を含む溶液をエバポレーションで15%まで濃縮し、組成物B(組成物中のポリマーの炭素原子含有率:14原子%)を得た。また、29Si−NMRスペクトルの測定を行った結果、得られたポリマーのSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して12%であった。
5.2.3.実施例3
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)250.1gおよびメチルトリイソプロポキシシラン250.2gをメタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、トリ−i−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン1.65gおよびイオン交換水200gを添加し、2時間攪拌した(反応液iv)。
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)250.1gおよびメチルトリイソプロポキシシラン250.2gをメタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、トリ−i−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン1.65gおよびイオン交換水200gを添加し、2時間攪拌した(反応液iv)。
次に、石英製セパラブルフラスコに、メタノール1000g、イオン交換水2000g、および25重量%テトラメチルアンモニウムハイドロキシド水溶液24.1gを入れ、液温を60℃に安定させた。このフラスコへ反応液ivを添加し、1時間反応させた。
次いで、酢酸の20%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液2500gを添加し、さらに10分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールおよび水を含む溶液をエバポレーションで15%まで濃縮し、組成物C(組成物中のポリマーの炭素原子含有率:17原子%)を得た。また、29Si−NMRスペクトルの測定を行った結果、得られたポリマーのSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して14%であった。
5.2.4.比較例1
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)47.1g、トリエトキシシラン150.4g、およびメチルトリメトキシシラン50.1gをメタノール2000gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、イオン交換水2000gおよび25重量%テトラメチルアンモニウムハイドロキシド水溶液20.1gを入れ、液温を60℃に安定させ、1時間反応させた。
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)47.1g、トリエトキシシラン150.4g、およびメチルトリメトキシシラン50.1gをメタノール2000gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、イオン交換水2000gおよび25重量%テトラメチルアンモニウムハイドロキシド水溶液20.1gを入れ、液温を60℃に安定させ、1時間反応させた。
次に、酢酸の20%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液2000gを添加し、さらに10分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールおよび水を含む溶液をエバポレーションで15%まで濃縮し、組成物D(組成物中のポリマーの炭素原子含有率:10原子%)を得た。また、29Si−NMRスペクトルの測定を行った結果、得られたポリマーのSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して14%であった。
5.2.5.比較例2
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)65.1g、メチルトリエトキシシラン175.5g、およびテトラメトキシシラン80.5gをメタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させ、メタノール1500g、イオン交換水2000g、および25重量%テトラブチルアンモニウムハイドロキシド水溶液90.7gを入れ、1時間反応させた。
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)65.1g、メチルトリエトキシシラン175.5g、およびテトラメトキシシラン80.5gをメタノール200gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させ、メタノール1500g、イオン交換水2000g、および25重量%テトラブチルアンモニウムハイドロキシド水溶液90.7gを入れ、1時間反応させた。
次に、酢酸の20%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液2500gを添加し、さらに10分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールおよび水を含む溶液をエバポレーションで15%まで濃縮し、組成物E(組成物中のポリマーの炭素原子含有率:14原子%)を得た。また、29Si−NMRスペクトルの測定を行った結果、得られたポリマーのSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して16%であった。
5.2.6.比較例3
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)250.1gおよびメチルトリイソプロポキシシラン250.2gをメタノール2000gに溶解させたのち、25重量%テトラメチルアンモニウムハイドロキシド水溶液22.1gを入れ、1時間反応させた。
石英製セパラブルフラスコ中で、上記構造式(5)を有するジエトキシポリカルボシラン(Mw=900)250.1gおよびメチルトリイソプロポキシシラン250.2gをメタノール2000gに溶解させたのち、25重量%テトラメチルアンモニウムハイドロキシド水溶液22.1gを入れ、1時間反応させた。
次に、酢酸の20%プロピレングリコールモノプロピルエーテル溶液2500gを添加し、さらに10分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールおよび水を含む溶液をエバポレーションで15%まで濃縮し、組成物F(組成物中のポリマーの炭素原子含有率:17原子%)を得た。また、29Si−NMRスペクトルの測定を行った結果、得られたポリマーのSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して18%であった。
5.3.評価結果
上記実施例および比較例で得られた組成物A〜Fに含まれるポリマーの分子量ならびに組成物A〜Fに対する保存安定性およびフィルターテストの結果、ならびに、組成物A〜Fを用いて得られた膜の比誘電率、弾性率、硬度、薬液耐性および断面観察結果を上述の方法にて評価を行った。評価結果を表1に示す。
上記実施例および比較例で得られた組成物A〜Fに含まれるポリマーの分子量ならびに組成物A〜Fに対する保存安定性およびフィルターテストの結果、ならびに、組成物A〜Fを用いて得られた膜の比誘電率、弾性率、硬度、薬液耐性および断面観察結果を上述の方法にて評価を行った。評価結果を表1に示す。
実施例1〜3で得られた組成物A、B、Cにおいては、酸処理を行ったため、0.2μmフィルターを10mL全量パスした。これに対して、比較例1〜3で得られた組成物D、E、Fにおいては、組成物の一部(それぞれ5mL、3mL、1mL)が0.2μmフィルターを通過したものの、途中で目詰まりしてしまった。その理由としては、比較例1〜3では、(D)塩基性触媒を用いた処理の前に、キレート触媒または酸性触媒の存在下での反応を行なわなかったため、組成物D、E、Fを調製するための反応中において、粗大粒子が生成してしまい、分子量が増大したためであると考えられる。
また、組成物A〜Fの分子量分布の広がりについて、Mw/Mnの値から考察すると、実施例1〜3で得られた組成物A、B、Cのように、(D)塩基性触媒を用いた処理前に酸性触媒または金属キレート化合物による処理を施した場合の方が、比較例1〜3で得られた組成物D、E、Fのように、(D)塩基性触媒を用いた処理前に酸性触媒または金属キレート化合物による処理を施さない場合に比べて分子量分布が狭かった(すなわちMw/Mnが小さかった)。このことは、低比誘電率の絶縁膜(例えば比誘電率が2.5以下の絶縁膜)を形成するために使用する絶縁膜形成用組成物に含まれるポリマーを合成する際に、高分子量体による粗大粒子の発生を抑えるとともに、低分子量体を所定の割合に抑制できることが理解できる。
以上により、本発明により得られるシリカ系膜は、機械的強度に優れ、比誘電率が低く、かつ、薬液耐性などのプロセス耐性および保存安定性において優れているため、半導体素子などの層間絶縁膜として好適である。
Claims (12)
- (A)下記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)下記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物で表される化合物から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体を(D)塩基性触媒の存在下で処理する工程を含む、ポリマーの製造方法。
(式中、R1は水素原子、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、アルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R2はハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、アルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R3,R4は同一または異なり、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アシロキシ基、スルホン基、メタンスルホン基、トリフルオロメタンスルホン基、炭素数2〜6のアルキル基、アリール基、アリル基およびグリシジル基からなる群より選ばれる基を示し、R5〜R7は同一または異なり、置換または非置換のメチレン基、アルキレン基、アルケニレン基、アルキニレン基、アリーレン基を示し、x,y,zは、それぞれ0〜10,000の数を示し、5<x+y+z<10,000の条件を満たす。)
R8 aSiZ4−a ・・・・・(2)
(式中、R8は水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基またはアリール基、Zはハロゲン原子あるいはアルコキシ基、aは0〜3の整数を示す。) - (A)上記一般式(1)で表される少なくとも1種のポリカルボシラン化合物と、(B)上記一般式(2)で表される加水分解性シラン化合物で表される化合物から選ばれた少なくとも1種のシラン化合物とを、(C)金属キレート化合物および酸性触媒もしくはいずれか一方の存在下で反応させて中間体を得た後、該中間体および(E)上記一般式(2)で表される少なくとも1種の加水分解性シラン化合物を(D)塩基性触媒の存在下で処理する工程を含む、ポリマーの製造方法。
- 請求項1または2において、
前記金属キレート化合物は(C)下記一般式(3)で表される、ポリマーの製造方法。
R9 cM(OR10)b-c ・・・・・(3)
(式中、R9はキレート剤を示し、Mは金属原子を示し、R10はアルキル基またはアリール基を示し、bは金属Mの原子価を示し、cは1〜bの整数を表す。) - 請求項1ないし3のいずれかにおいて、
前記(D)塩基性触媒は下記一般式(4)で表される含窒素化合物である、ポリマーの製造方法。
(X1X2X3X4N)gY ・・・・・(4)
(式中、X1,X2,X3,X4は同一または異なり、水素原子、炭素数1〜20のアルキル基、ヒドロキシアルキル基、アリール基、またはアリールアルキル基を示し、Yはハロゲン原子または1〜4価のアニオン性基を示し、gは1〜4の整数を表す。) - 請求項1ないし4のいずれかの製造方法によって製造されるポリマーと、有機溶剤とを含む絶縁膜形成用組成物。
- 請求項5において、
前記ポリマーのMw/Mnが1.5〜4.0である、絶縁膜形成用組成物。 - 請求項6において、
前記ポリマーは、炭素原子の含有率が8〜40原子%である、絶縁膜形成用組成物。 - カルボシランオリゴマーおよびアルコキシシランモノマーの加水分解縮合物と、有機溶剤とを含有し、
前記加水分解縮合物の炭素原子の含有率が8〜40原子%であり、かつ、前記加水分解縮合物のMw/Mnが1.5〜4.0である、絶縁膜形成用組成物。 - 請求項8において、
前記加水分解縮合物のSi−OH結合の含量はSi−O結合の総量に対して20%以下である、絶縁膜形成用組成物。 - 請求項5ないし9のいずれかに記載の絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、30〜450℃に加熱することを含む、シリカ系絶縁膜の製造方法。
- 請求項5ないし9のいずれかに記載の絶縁膜形成用組成物を基板に塗布し、高エネルギー線を照射することを含む、シリカ系絶縁膜の製造方法。
- 請求項10または11に記載のシリカ系絶縁膜の製造方法により得られる、シリカ系絶縁膜。
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