JPWO2008062609A1 - タイヤの測定方法、同測定装置及びタイヤ成形装置 - Google Patents

Abstract

生タイヤの全表面の正確な測定を成形工程中で行う。タイヤ成形機（１）の成形ドラム（２）にリボンを貼り付ける貼付ローラ（２）上にレーザ変位計（１０）を一体に設け、リボンを貼り付けながら貼付け後の生タイヤのプロファイルの測定を行う。その際、前記変位計（１０）をリボンの貼付けに同期してＸ−Ｙ平面での移動と同平面内での回転による姿勢変更を可能にしてタイヤの全表面での測定を可能にし、かつ、得られたＹ軸方向のデータについて貼付ローラ（３）とレーザ変位計（１０）との位置ズレの補正を行う。

Description

本発明は、帯状ゴム部材をタイヤ成形ドラムに巻き付けて成形する工程で、成形された帯状ゴム部材を巻回して形成したタイヤのプロファイルを測定するタイヤ測定方法、同測定装置及びタイヤ成形装置に関する。

タイヤ成形において、押出機又は射出成形機から未加硫の帯状ゴム部材を成形ドラム上に連続的に供給して巻き付け、貼付ローラで積層状に貼り付けて、タイヤ構成部材を成形ドラム上で直接成形してタイヤを製造することが行われている。

このタイヤ成形装置では、例えば押出機をトラバース装置の上に設置して、トラバース装置をタイヤ成形ドラムの回転に同期させて、その幅方向に往復運動させることにより、押出機から送り出される帯状ゴム部材を所定の形状になるように、例えば帯状ゴム部材の押出速度とタイヤ成形ドラムの表面速度を一致させる制御をしたり、張力（テンション）を制御したりして巻き付けを行い、押し出された帯状のゴム部材を貼付ローラで既に巻回したゴム部材の上に貼り付け、ステッチングローラで貼り付けた帯状ゴム部材間のエアを排除しながら生タイヤを成形している。

ところで、タイヤ成形機で異なるタイヤを成形する場合、それぞれ異なるタイヤのプロファイルに対応するためにはトラバース装置の送りピッチの設定を要するが、その設定が適切に行われないか或いはタイヤ成形機が設定通りに動作しないと、目的のプロファイルが得られず、正規のプロファイルを備えたタイヤが成形されないことがある。

そこで、従来は、タイヤ成形工程においては、成形の良否を判定するために、帯状ゴム部材を巻き付けた後に、成形されたタイヤのプロファイルを、画像測定による方法（光切断）やレーザー式変位センサ等をその断面方向に走査させることによって測定し、成形の良否を判定している。

図８は、従来行われているレーザ式変位センサ（レーザ変位計）Ｓを用いた生タイヤの形状測定方法を模式的に説明するための図である。例えば、図８Ａに示すように、レーザ距離計（レーザー式変位センサ）Ｓを成形された生タイヤＴの周囲を移動させながら測定を行うか、或いは図８Ｂに示すように、前記生タイヤＴの周囲を例えば３個の固定位置に配置したレーザ距離計Ｓ１〜Ｓ３で測定して、その出力データを繋ぎ合わせてそのプロファイルを測定している。

しかしながら、これらの方法によると、生タイヤの成形後にプロファイルの測定を行うことから、測定時間を含めたタイヤ成形工程に要する時間が長くなるという問題がある。また、センサをタイヤ成形装置とは別装置として設置する場合には、そのためのスペースが必要となるという問題がある。

また、巻き付け成形では、帯状ゴムをタイヤ成形ドラムの幅方向（軸心方向）に往復運動させながら巻き付けていくため、幅方向のみならず、周方向（回転方向）のプロファイルを測定する必要があり、測定自体に時間を要するだけではなく、前記のように成形後に測定を行うため巻き付け途中で成形の良否を知ることができず、タイヤ成形終了後になって初めてタイヤが不良とされる場合が発生する。この場合は、それまで費やした材料や作業時間が無駄になるという問題もある。

そこで、この問題を解決するため、タイヤ成形ドラムとこのタイヤ成形ドラムの幅方向に往復移動するトラバース装置に搭載した帯状ゴム部材送り出し装置とを備えた成形装置において、帯状ゴム部材送り出し装置と共に移動する変位センサを設け、この変位センサから入力したデータをリアルタイムで処理することにより、帯状ゴム部材の巻き付けで成形されたプロファイルの測定と成形の良否判定を行うプロファイル測定装置が提案されている（特許文献１参照）。

このプロファイル測定装置は、前記帯状ゴム部材送り出し装置の送り出し口の近傍に配置され、巻き付け直後の帯状ゴム部材部位の変位量を測定する変位センサと、前記タイヤ成形ドラムの回転位置を検出する回転位置センサと、前記トラバース装置に配設され、前記変位センサのトラバース位置を検出するトラバース位置検出センサと、前記測定された変位量と前記回転位置と前記トラバース位置を入力し、前記回転位置と前記トラバース位置から前記タイヤ成形ドラム上における測定位置を算出し、該測定位置と前記測定された変位量から成形された帯状ゴム部材のプロファイルを算出するプロファイル算出手段を備えている。

しかしながら、この測定装置では、各センサは、タイヤ成形ドラムの幅方向に往復運動するトラバース装置に搭載されているため、前記各センサの移動方向はトラバース方向つまりＸ軸方向のみに限定されている。したがって、この測定装置では成形するタイヤの巾方向のみを測定するだけでその側面の測定はできない。
つまり、この測定装置では、使用されているレーザ変位計から一定の距離以上の離れた部位の測定は不可能であり、かつレーザー変位計の反射の原理により端面の傾斜角度は±４５゜以内でないと測定は不可能であるから、その測定装置をタイヤに沿ってトラバース方向に移動しても、タイヤ側面側を測定することはできない。
特開２００４−２９９１８４号公報

本発明は、前記従来の問題を解決するためになされたものであって、その目的は、リボンゴム押出機を備えたタイヤ成形機と同一の装置で、しかも成形と同時にタイヤの側面を含む全表面のプロファイルの測定を行えるようにすることである。

請求項１の発明は、タイヤ測定方法であって、成形用支持体上に帯状ゴム部材を積層して形成されたタイヤ表面を測定する工程と、得られた測定データを成形用支持体上の積層位置と測定位置の差に基き補正する工程とを有し、補正した測定データより積層位置での予測タイヤ表面データを得ることを特徴とする。
請求項２の発明は、請求項１に記載されたタイヤ測定方法において、タイヤ全表面に沿って測定を行うことを特徴とする。
請求項３の発明は、請求項２に記載されたタイヤ測定方法において、帯状ゴム部材の積層と同時に測定を行うことを特徴とする。
請求項４の発明は、帯状ゴムを成形支持体に巻回して積層して形成したタイヤ表面を測定する変位測定手段、該変位測定手段で測定した測定データをタイヤ成形支持体上の積層位置と測定装置の測定位置の差に応じて補正する手段とを有し、補正した前記測定データに基き積層位置でのタイヤの予測表面形状データを得ることを特徴とする。
請求項５の発明は、請求項４に記載されたタイヤ測定装置において、前記タイヤの予測表面形状データを、予め記憶した正規のタイヤ表面データと対比してその適否を判断する手段を有することを特徴とする。
請求項６の発明は、請求項４又は５に記載されたタイヤ測定装置において、変位計がレーザ変位計であることを特徴とする。
請求項７の発明は、請求項４ないし６のいずれかに記載されたタイヤ測定装置を、帯状ゴム部材の積層装置に配置したことを特徴とする。
請求項８の発明は、請求項７に記載されたタイヤ成形装置において、前記帯状ゴム部材の積層装置を、タイヤ成形支持体の主軸と平行な軸及びこれと直交する軸で規定される平面内で移動自在に支持するとともに前記平面内で回転自在に支持する支持手段を有することを特徴とする。
請求項９の発明は、請求項７又は８に記載されたタイヤ成形装置において、前記変位測定装置は、タイヤ回転軸を含む第１の水平面から所定の距離離れた第２の水平面内に配置され、前記補正する手段は、前記変位測定装置の測定データを前記第１および第２の水平面間の距離に応じて補正し、タイヤ表面形状の予測データを得ることを特徴とする。

（作用）
測定装置を貼付装置と共に平面運動と当該平面内の回転運動（姿勢変更）つまり３軸運動を可能にしたから、前記３軸運動を利用して、測定装置の位置及び姿勢を変更してタイヤの全表面の測定を行う。また、帯状ゴム部材を成形ドラムに積層状に貼り付けながら同時にその貼り付け形状を測定することができ、しかも、測定装置と貼付装置との位置ずれに基づく測定誤差を補正して、帯状ゴム部材の貼付位置におけるタイヤのプロファイルに対応するデータを得て、例えば、そのデータと予め記憶したデータとを比較することで、タイヤのプロファイルの適否を判断する。

本発明によれば、測定装置を平面運動と当該平面内の回転運動つまり３軸運動可能な積層装置に搭載したため、測定装置のための特別の駆動装置や余分なスペースを必要とせず、帯状ゴム部材の積層と同時にタイヤの側面を含む全表面を測定できる。また、タイヤの成形と同時にその全体のプロファイルを正確に測定できるから、データの良否をより高い精度で判断でき、不良品の発生をより確実に防止することができる。

本発明の生タイヤのプロファイルを測定するためのセンサを備えたタイヤ成形装置の１実施形態を概略的に示す斜視図である。 図２Ａは、図１に示すタイヤ成形装置１における貼付ローラとタイヤの一部を拡大して示した横断面図であり、図２Ｂは図２Ａの水平断面図である。 図３Ａは、タイヤの中心を通る切り口平面Ｐ１とレーザ変位計１０の高さのところの切り口平面Ｐ２とを対比して示した斜視図であり、図３Ｂは、図３Ａに示すタイヤを上から見たときの実際の外周形状Ｔ_Ｒと前記レーザ変位計の予測データＴ_ＩとをＸ−Ｙ平面上に投影して示した図である。 貼付ローラとレーザ変位計及びタイヤＴの一部を拡大した縦断面図である。 Ｘ−Ｙ平面内におけるレーザ変位計とタイヤＴとの位置関係を示す平面図である。 制御装置の一例を概略的に示すブロック図である。 本実施形態におけるタイヤ測定を説明する図である。 レーザ距離計（レーザ変位計）を用いた生タイヤの形状測定方法を説明するための図である。

符号の説明

１・・・タイヤ成形装置、２・・・タイヤ成形ドラム、３・・・貼付ローラ、５・・・・第１の移動台、７・・・第２の移動台、９・・・支持杆、１０・・・レーザ変位計、２０・・・制御装置、２２・・・ＣＰＵ、２４・・・記憶手段、Ｍ１，Ｍ２・・・ステッピングモータ。

本発明の測定装置の１実施形態を図面を参照して説明する。
図１は、本発明の生タイヤのプロファイルを測定するためのセンサを備えたタイヤ成形装置の１実施形態を概略的に示す斜視図である。
タイヤ成形装置１は、成形用支持体の１実施形態である円筒体から成る成形ドラム２に帯状ゴム部材Ｍを螺旋状に巻回して積層する積層装置の１実施形態である貼付ローラ３を備えている。この貼付ローラ３は帯状ゴム部材押出用のノズルを備えた従来の帯状ゴム部材押出機（図示せず）と一体に構成されている。

また、タイヤ成形装置１は、例えば、ステッピングモータＭ１で駆動されるネジ杆とボールネジ（又はラックとピニオンやシリンダー・ピストン機構などでもよい）で構成した駆動手段４で成形ドラム２に接離する方向（Ｙ軸方向という）に移動自在な第１の移動台５を有し、かつ、第１の移動台５は、第１の移動台５と同様にステッピングモータＭ２で駆動される駆動手段６により、第１の移動台５と直角方向、つまり、成形ドラム２の主軸に平行な方向（Ｘ軸方向という）に移動自在な第２の移動台７と一体に移動できるように同移動台７に取り付けられている。

ここで、貼付ローラ３を支える支持杆９は、第１の移動台５上に図示しない適当な駆動手段（例えば、歯車機構、シリンダー・ピストン機構等）により所定角度旋回自在な旋回台８に取り付けられている。
従って、貼付ローラ３は、前記第１及び第２の移動台５，７により成形ドラム２の主軸方向（Ｘ軸方法）及び同ドラム２に接離する方向（Ｙ軸方向）に移動自在であると共に、Ｘ軸、Ｙ軸と直交する旋回軸（Ｚ軸）、従ってその支持杆９を中心に旋回自在である。

ところで、本実施形態では、成形されるタイヤのプロファイルを測定するためのレーザ変位計１０は、前記貼付けローラ３の垂直上方位置でかつこれと一体に動くように取り付けられている。従って、レーザ変位計１０も、成形ドラム２の軸方向（Ｘ方向）及び同ドラム１に接離する方向（Ｙ方向）に移動自在であると共に、支持杆９の旋回によりＸ−Ｙ軸平面内において旋回可能である。つまり、レーザ変位計１０は、貼付ローラ３と同期して前後、左右及び旋回して、成形ドラム２に螺旋状に巻回・積層された帯状ゴム部材からなる生タイヤＴ全体のプロファイルを測定する。

このように、本実施形態においては、押出機が成形ドラム２の主軸に沿って移動しながら帯状ゴム部材を押し出し、かつ貼付ローラ３で圧延しながら成形ドラム２に螺旋状に巻回するに従い、前記レーザ変位計１０は、貼付ローラ３と共に成形ドラム２に対し前記Ｘ−Ｙ平面での移動と同平面内での回転を繰り返しながら、成形したタイヤ表面にレーザ光を照射しつつその反射波を受光してタイヤ表面までの距離を連続的に測定し、そのデータを図示しない制御装置に送信する。

図２Ａは、図１に示すタイヤ成形装置１における貼付ローラ３とタイヤＴの一部を拡大して示した横断面図であり、図２Ｂは、図２Ａの水平断面図である。図示のように、貼付ローラ３の軸芯とタイヤ軸心とは同一レベルつまり同じ高さで配置されており、かつレーザ変位計１０は、その共通水平面よりもＨだけ上方の位置で貼付ローラ３と一体に取り付けられている。レーザ変位計１０のレーザの出射位置は、貼付ローラ３の中心ｄ１を通る垂線（Ｚ軸）から貼付ローラ３の半径Ｄ_２と等しい位置に設定されている。つまり、両者のタイヤ方向の先端はＹ軸方向で同位置になるように設定されている。

レーザ変位計１０は、図２Ｂに示すように、そのレーザ光の方向がタイヤＴ表面から距離Ｉだけ離れ、かつタイヤの円弧面（正確には円弧に接する接線）に直角をなすようＺ軸（回転軸）の回りで角度θだけ回転させた状態にある。

図３Ａは、タイヤＴの中心を通る切り口平面Ｐ１とレーザ変位計１０の測定位置を通る切り口平面Ｐ２とを対比して示した斜視図である。
つまり、Ｐ１は、タイヤＴをその中心ｄ１を通る平面内で水平に輪切りしたときの断面つまり最大直径断面を、また、Ｐ２はレーザ変位計１０により測定する部位を含む断面を示す。

図３Ｂは、図３Ａに示すタイヤを上から見たときの実際の外周形状Ｔ_Ｒと前記レーザ変位計１０の測定データから得た外周形状Ｔ_ｉとをＸ−Ｙ平面上に投影して示した図であり、タイヤＴのレーザ変位計１０が測定した形状を破線で、かつ真の形状を実線で示している。この図から明らかなように、レーザ変位計１０による測定データから得た外周形状は、図３Ａに示すようにタイヤＴの本来の輪切り断面よりもＹ座標において縮小されている。そのため、このデータから真の断面形状を予測するためにはタイヤ半径方向のＹ座標における補正が必要である。なお、Ｘ座標については、タイヤは、一種の回転体であるため貼付ローラ３とレーザ変位計１０にそれぞれ対応する位置は同一である。

次に、その補正方法について説明する。
図４は、図１の貼付ローラ３とレーザ変位計１０及びタイヤＴの一部を拡大した縦断面図である。
（１）高さＨに対する補正
図４に示すように、貼付ローラ３がタイヤに接触する位置、つまりタイヤの外周の半径をＲ、レーザ変位計１０と貼付ローラ３との上下の高さの差をＨとし、かつ、レーザ変位計１０の測定平面で切断した水平方向のタイヤ寸法つまり、タイヤ外周の測定点から同タイヤの外周の中心を通るＺ軸に引いた垂線の長さをＡとすると、Ｒ^２＝Ａ^２＋Ｈ^２の関係が成り立つ。

ここで、貼付ローラ３は、タイヤの最大径のところでタイヤに接触しながらＸ軸・Ｙ軸に沿って、しかもそのローラ面を常にタイヤに対して直角にして移動するが、タイヤの外形の測定はその接触位置から垂直に高さＨだけ離れた部位で行われる。従って、測定されるタイヤ寸法、つまりレーザ変位計１０の測定平面で切断したタイヤの水平方向の寸法Ａは、実際の積層寸法のＡ／Ｒだけ縮小している。従って、補正値としては、Ｙ座標における実測寸法をＲ／Ａ倍すればよいことが分かる。即ち
Ｒ／Ａ＝Ｒ／（Ｒ^２−Ｈ^２）^１／２倍する。

（２）レーザ変位計１０の位置による補正
図５は，Ｘ−Ｙ平面内におけるレーザ変位計１０とタイヤＴとの位置関係を示す平面図である。
図５に示すように、Ｘ−Ｙ平面で貼付ローラ３、従ってレーザ変位計１０の移動座標を（Ｘ_１，Ｙ_１）とし、回転軸（Ｚ軸）の周りの傾きをθとしたとき、レーザ光が実際に照射されるタイヤ表面の位置での座標を（Ｘ_２，Ｙ_２）とすると、Ｘ_２＝Ｘ_１−ｌ・sinθ、Ｙ_２＝Ｙ_１−ｌ・cosθとなる。

レーザ変位計１０の先端と貼付ローラ３の中央部は同一座標で動くから、例えば、制御装置２０（図６）から貼付ローラ３に対して、移動指示座標として（Ｘ_１、Ｙ_１、θ）を指示すると、その指示に従って、図１に示すように、それぞれステッピングモータＭ１、Ｍ２等を駆動して貼付ローラ等をＸ軸及びＹ軸方向に駆動すると共に、回転角θに従って、回転軸（Ｚ軸）の周りでＹ軸の方向から角度θだけ回転させる。
その際、貼付ローラ３、従ってレーザ変位計１０の移動座標（Ｘ_１、Ｙ_１、θ）からタイヤ表面の測定位置座標即ち、前記座標（Ｘ_２，Ｙ_２）を算出する。
このようにレーザ変位計１０自体の位置補正を行うことで、前記座標（Ｘ_２，Ｙ_２）のところの切断面Ｐ２におけるタイヤ寸法Ａを計算し、前記タイヤ外周の半径Ｒと貼付ローラ３とレーザ変位計１０との高さの差Ｈから求めた前記拡大率Ｒ／Ａ（Ｒ／（Ｒ^２−Ｈ^２）^１／２）で測定データを拡大する。
以上のように、レーザ変位計１０の位置による補正と測定データの高さの差Ｈに伴う補正を行う。

図６は、制御装置の一例を概略的に示すブロック図である。
制御装置２０は、演算処理等を行うＣＰＵ２２と、演算プログラムやレーザ変位計１０等の動作制御用プログラム等を格納したＲＯＭや、一時的なデータ等の蓄積を行うＲＡＭ等からなる記憶手段２４を備えたマイクロコンピュータ、及び必要に応じてデータや、測定の結果得られた生タイヤのプロファイル等を表示する表示手段２６、レーザ変位計１０の出力を増幅するアンプ３０を介して測定データを取り込むため、或いは外部機器との通信を行うためのインターフェース部２８等を備える。
制御装置２０は、レーザ変位計１０で得られたデータに基づき生タイヤのプロファイルを算出すると共に、例えば、レーザ変位計１０の位置座標に基づく生タイヤの測定位置座標補正や、前記貼付ローラ３とレーザ変位計１０との高さの差Ｈに基づく補正を行い、その形成の良否を例えば、予め記憶した基準パターンとの対比から良否判断をするなどの処理を行う。

図７は、以上で説明した本実施形態におけるタイヤ測定を説明する図である。
図７Ａは、反射型レーザ変位計（距離計）１０により測定されたデータに基づく積層されたタイヤＴのプロファイルを示し、矢印Ｙは前記レーザ変位計１０の移動軌跡を示す。即ち、レーザ変位計１０は、図中左側から右側に向かってそのレーザ照射面が常にタイヤの表面に対して直角を向くように反時計方向に回転制御されつつ、タイヤＴの周りを移動することを示している。
つまり、図１に示す移動台５、７及び旋回台８の駆動によりタイヤ成形ドラム２上のタイヤの左側面から表面へ、更に表面から右側面へと順に測定する。

図７Ｂは、そのときの前記レーザ変位計１０のＸ軸方向の測定結果を示す。即ち、Ｘ軸に沿ったレーザ変位計１０の移動距離と時間の関係を示している。図示のように、レーザ変位計１０は右左側面に対しては表面に対してよりも高速で移動する。これは、貼付ローラ３が成形ドラム２の主軸に平行に、つまりＸ軸に沿って等速で移動する結果、タイヤ表面とレーザ変位計１０との相対速度が側部では、正面に対してよりも相対的に高くなるからである。

図７Ｃは、Ｙ軸つまりレーザ変位計１０の成形ドラム２に直交する方向における変位データをタイヤ周面の中心向きをプラス側にして時間経過と共に表したものである。

図７Ｄは、レーザ変位計１０の回転を時間の経過と共に表した図である。この実施形態ではタイヤの外周が略円弧をなすことから、レーザ変位計１０は、これに沿って一定の速度で反時計方向に回転することを示している。

図７Ｅは、レーザ変位計１０の出力データを縦軸に、かつ横軸に時間を採ってその出力を示している。
図７Ｆは、前記Ｘ軸、Ｙ軸方向の値と、レーザ出力データとから得られたレーザからの出力データに基づき合成したタイヤのプロファイルを示す。
本実施形態では、更に前記レーザ変位計１０自体の位置補正及び取付高さＨについての補正つまりＹ座標における測定データの補正を行う。図７Ｇは、その補正後のタイヤのプロファイルを示す。このプロファイルは、成形ドラム２上のタイヤをその中心と同じ高さのところで切った水平断面において得られる生タイヤの予測プロファイルを表す。

本実施形態において、貼付ローラ３とレーザ変位計１０とを高さＨだけ位置をずらしたのは、貼付ローラ３とレーザ変位計１０を同じ高さのところに配置することが物理的に不可能であるからである。そのため、レーザ変位計１０で測定したデータは、貼付ローラ３のところの実際のプロファイルを表さず、既に説明したように、Ｙ軸方向に前記一定割合で縮小されたものとなるため、本実施形態では、これを補正することで、タイヤをその中心を通る水平面で輪切りにしたときのデータに変換している。
また、それに加えて、センサであるレーザ変位計１０の移動は、Ｘ−Ｙ平面だけではなく、その平面内において自由に旋回できる、つまり、レーザ変位計１０は平面内の移動と姿勢変更が自由にできるから、タイヤ側面を含むその全表面の測定が可能である。

そのため、タイヤの正確な形状データを成形と同時に得ることができ、タイヤ成形中にそのプロファイルの適否を判断して対処することで不良の発生を未然に防止できる。
なお、以上の実施形態では、帯状材料を成形ドラムに貼り付ける場合を例に採って説明したが、剛性コアに貼り付けてもよい。また、タイヤの形状を測定するためのセンサとしてレーザ変位計を用いているが、センサはこれに限らず、それ以外の、例えば、静電容量の変化を感知するセンサ、音波を用いるセンサ等周知の種々の距離センサを用いることができる。

Claims (9)

1. 成形用支持体上に帯状ゴム部材を積層して形成されたタイヤ表面を測定する工程と、
   得られた測定データを成形用支持体上の積層位置と測定位置の差に基き補正する工程とを有し、
   補正した測定データより積層位置での予測タイヤ表面データを得ることを特徴とするタイヤ測定方法。
2. 請求項１に記載されたタイヤ測定方法において、
   タイヤ全表面に沿って測定を行うことを特徴とするタイヤ測定方法。
3. 請求項２に記載されたタイヤ測定方法において、帯状ゴム部材の積層と同時に測定を行うことを特徴とするタイヤ測定方法。
4. 帯状ゴムを成形支持体に巻回して積層して形成したタイヤ表面を測定する変位測定手段と、
   該変位測定手段で測定した測定データをタイヤ成形支持体上の積層位置と測定装置の測定位置の差に応じて補正する手段とを有し、
   補正した前記測定データに基き積層位置でのタイヤの予測表面形状データを得ることを特徴とするタイヤ測定装置。
5. 請求項４に記載されたタイヤ測定装置において、
   前記タイヤの予測表面形状データを、予め記憶した正規のタイヤ表面データと対比してその適否を判断する手段を有することを特徴とするタイヤ測定装置。
6. 請求項４又は５に記載されたタイヤ測定装置において、
   変位計がレーザ変位計であることを特徴とするタイヤ測定装置。
7. 請求項４ないし６のいずれかに記載されたタイヤ測定装置を、帯状ゴム部材の積層装置に配置したことを特徴とするタイヤ成形装置。
8. 請求項７に記載されたタイヤ成形装置において、
   前記帯状ゴム部材の積層装置を、タイヤ成形支持体の主軸と平行な軸及びこれと直交する軸で規定される平面内で移動自在に支持するとともに前記平面内で回転自在に支持する支持手段を有することを特徴とするタイヤ成形装置。
9. 請求項７又は８に記載されたタイヤ成形装置において、
   前記変位測定装置は、タイヤ回転軸を含む第１の水平面から所定の距離離れた第２の水平面内に配置され、前記補正する手段は、前記変位測定装置の測定データを前記第１および第２の水平面間の距離に応じて補正し、タイヤ表面形状の予測データを得ることを特徴とするタイヤ成形装置。

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