JPH08324886A - 巻枠の鍔の変形測定方法および装置 - Google Patents
巻枠の鍔の変形測定方法および装置Info
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- JPH08324886A JPH08324886A JP13354395A JP13354395A JPH08324886A JP H08324886 A JPH08324886 A JP H08324886A JP 13354395 A JP13354395 A JP 13354395A JP 13354395 A JP13354395 A JP 13354395A JP H08324886 A JPH08324886 A JP H08324886A
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- Filamentary Materials, Packages, And Safety Devices Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】鍔の変形測定に必要な測定値を全周にわたって
自動取得することによって、巻枠の鍔変形の全周に亘る
正確で迅速な測定を可能とする。 【構成】回転自在とした巻枠１０の径方向に移動する測
定ヘッド６を鍔１間に設ける。巻枠１０を回転の原点位
置にセットし、制御装置１３で移動駆動装置９を制御し
て測定ヘッド６を巻胴２から鍔縁１２までステップ状に
後退させながら、測定ヘッド６から両鍔面１ａ、１ｂま
での最短距離Ｌ、Ｌ′を測定していく。このとき位置セ
ンサ７で測定ヘッド６の巻枠半径方向位置ｒを、回転角
度センサ５で巻枠１０の回転角度θを測定する。測定
後、制御装置１３で回転駆動装置４を制御して巻枠１０
を所定角度回転させ、測定を繰り返す。これを巻枠１０
が１回転するまで行う。得られた巻枠半径方向位置ｒ、
最短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度θに基づき、両鍔間の寸法
および鍔の回転軸３に対する直角度を演算する。
自動取得することによって、巻枠の鍔変形の全周に亘る
正確で迅速な測定を可能とする。 【構成】回転自在とした巻枠１０の径方向に移動する測
定ヘッド６を鍔１間に設ける。巻枠１０を回転の原点位
置にセットし、制御装置１３で移動駆動装置９を制御し
て測定ヘッド６を巻胴２から鍔縁１２までステップ状に
後退させながら、測定ヘッド６から両鍔面１ａ、１ｂま
での最短距離Ｌ、Ｌ′を測定していく。このとき位置セ
ンサ７で測定ヘッド６の巻枠半径方向位置ｒを、回転角
度センサ５で巻枠１０の回転角度θを測定する。測定
後、制御装置１３で回転駆動装置４を制御して巻枠１０
を所定角度回転させ、測定を繰り返す。これを巻枠１０
が１回転するまで行う。得られた巻枠半径方向位置ｒ、
最短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度θに基づき、両鍔間の寸法
および鍔の回転軸３に対する直角度を演算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、巻枠の鍔の変形測定方
法および装置に係り、特に、測定ヘッドを使用し巻枠の
回転を制御することによって、鍔の変形測定に必要なデ
ータを自動取得するようにしたものに関する。
法および装置に係り、特に、測定ヘッドを使用し巻枠の
回転を制御することによって、鍔の変形測定に必要なデ
ータを自動取得するようにしたものに関する。
【０００２】
【従来の技術】鍔の変形したドラムまたはボビン（以
下、巻枠という）を生産工程で使用すると電線などの製
品の巻不良となる。製品巻不良は次工程で巻きほぐす場
合、もつれの原因や製品表面に傷が付く原因となる。し
たがって、巻枠の良否を判定するために巻枠の鍔の変形
を測定することが重要になる。
下、巻枠という）を生産工程で使用すると電線などの製
品の巻不良となる。製品巻不良は次工程で巻きほぐす場
合、もつれの原因や製品表面に傷が付く原因となる。し
たがって、巻枠の良否を判定するために巻枠の鍔の変形
を測定することが重要になる。
【０００３】この鍔変形を測定するには、従来は、作業
者がスケールおよび角度定規、または限界ゲージなどを
使って、図６に示すように、主に両鍔間距離Ｂと、鍔１
の広がり角度δないし広がり寸法Ａとを全周に亘って測
定していた。
者がスケールおよび角度定規、または限界ゲージなどを
使って、図６に示すように、主に両鍔間距離Ｂと、鍔１
の広がり角度δないし広がり寸法Ａとを全周に亘って測
定していた。
【０００４】しかし、上述した従来の鍔変形の測定は手
作業であったため、巻枠全周に亘る正確な測定が困難で
あり、そのため全周に亘って測定されない場合が多かっ
た。また、巻枠の測定が面倒で、付加価値の少ない仕事
でもあるため、作業者から敬遠されがちで、作業を怠っ
たために、変形した巻枠を生産工程で使用してしまうケ
ースもあった。
作業であったため、巻枠全周に亘る正確な測定が困難で
あり、そのため全周に亘って測定されない場合が多かっ
た。また、巻枠の測定が面倒で、付加価値の少ない仕事
でもあるため、作業者から敬遠されがちで、作業を怠っ
たために、変形した巻枠を生産工程で使用してしまうケ
ースもあった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
鍔変形の測定は手作業であったため、巻枠全周に亘る正
確で迅速な測定が困難であった。また、手作業の内容が
あまりにも複雑なため、それをそのまま自動化すること
が困難であり、省人化ができなかった。
鍔変形の測定は手作業であったため、巻枠全周に亘る正
確で迅速な測定が困難であった。また、手作業の内容が
あまりにも複雑なため、それをそのまま自動化すること
が困難であり、省人化ができなかった。
【０００６】本発明の目的は、鍔の変形測定に必要なデ
ータを全周にわたって自動取得することによって、上述
した従来技術の問題点を解消して、巻枠の鍔変形の正確
で迅速な測定を可能とした巻枠の鍔の変形測定方法およ
び装置を提供することにある。
ータを全周にわたって自動取得することによって、上述
した従来技術の問題点を解消して、巻枠の鍔変形の正確
で迅速な測定を可能とした巻枠の鍔の変形測定方法およ
び装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の巻枠の鍔の変形
測定方法は、測定ヘッドの移動および巻枠の回転を制御
することによって巻枠の鍔の変形を測定する方法であっ
て、回転軸を中心に巻枠を所定回転角度づつ回転させ、
所定回転角度毎に巻枠の両鍔間に配置した測定ヘッドを
巻枠の半径方向に移動して、所定移動距離毎に測定ヘッ
ドの巻枠半径方向位置ｒ、巻枠半径方向位置ｒにおける
測定ヘッドから一方の鍔面までの最短距離Ｌおよび他方
の鍔面までの最短距離Ｌ′を測定するとともに、そのと
きの巻枠回転角度θを測定し、これを１回転するまで繰
り返し、測定した巻枠半径方向位置ｒ、両鍔面までの最
短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度θに基づいて、両鍔間の寸
法、および鍔の回転軸に対する直角度を演算して、巻枠
の鍔の変形を測定するものである。
測定方法は、測定ヘッドの移動および巻枠の回転を制御
することによって巻枠の鍔の変形を測定する方法であっ
て、回転軸を中心に巻枠を所定回転角度づつ回転させ、
所定回転角度毎に巻枠の両鍔間に配置した測定ヘッドを
巻枠の半径方向に移動して、所定移動距離毎に測定ヘッ
ドの巻枠半径方向位置ｒ、巻枠半径方向位置ｒにおける
測定ヘッドから一方の鍔面までの最短距離Ｌおよび他方
の鍔面までの最短距離Ｌ′を測定するとともに、そのと
きの巻枠回転角度θを測定し、これを１回転するまで繰
り返し、測定した巻枠半径方向位置ｒ、両鍔面までの最
短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度θに基づいて、両鍔間の寸
法、および鍔の回転軸に対する直角度を演算して、巻枠
の鍔の変形を測定するものである。
【０００８】また、本発明の巻枠の鍔の変形測定装置
は、巻枠を回転自在に支持する回転軸と、回転軸を回転
して巻枠を回転させる回転駆動手段と、巻枠の両鍔間で
巻枠の径方向に移動自在に設けられ、移動地点から一方
の鍔面までの最短距離Ｌ、および他方の鍔面までの最短
距離Ｌ′を測定する測定ヘッドと、測定ヘッドを移動さ
せる移動駆動手段と、測定ヘッドの巻枠半径方向位置ｒ
を測定する位置センサと、回転軸を中心とした巻枠の回
転角度θを測定する回転角度センサと、制御手段と、演
算手段とを備えた巻枠の鍔の変形測定装置であって、制
御手段は、巻枠を所定回転角度づつ回転制御させるとと
もに、所定回転角度毎に測定ヘッドを巻枠の半径方向に
移動制御させるものであり、演算手段は、所定回転角度
毎に、測定ヘッドが半径方向に移動する際に、位置セン
サの巻枠半径方向位置ｒ、測定ヘッドの両鍔面までの最
短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度センサの巻枠回転角度θが入
力され、これらに基づいて両鍔間の寸法、および鍔の巻
枠回転軸に対する直角度を演算して出力するものであ
り、この出力から巻枠の鍔の変形を測定するようにした
ものである。
は、巻枠を回転自在に支持する回転軸と、回転軸を回転
して巻枠を回転させる回転駆動手段と、巻枠の両鍔間で
巻枠の径方向に移動自在に設けられ、移動地点から一方
の鍔面までの最短距離Ｌ、および他方の鍔面までの最短
距離Ｌ′を測定する測定ヘッドと、測定ヘッドを移動さ
せる移動駆動手段と、測定ヘッドの巻枠半径方向位置ｒ
を測定する位置センサと、回転軸を中心とした巻枠の回
転角度θを測定する回転角度センサと、制御手段と、演
算手段とを備えた巻枠の鍔の変形測定装置であって、制
御手段は、巻枠を所定回転角度づつ回転制御させるとと
もに、所定回転角度毎に測定ヘッドを巻枠の半径方向に
移動制御させるものであり、演算手段は、所定回転角度
毎に、測定ヘッドが半径方向に移動する際に、位置セン
サの巻枠半径方向位置ｒ、測定ヘッドの両鍔面までの最
短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度センサの巻枠回転角度θが入
力され、これらに基づいて両鍔間の寸法、および鍔の巻
枠回転軸に対する直角度を演算して出力するものであ
り、この出力から巻枠の鍔の変形を測定するようにした
ものである。
【０００９】これらの場合において、測定ヘッドを複数
にして同時に複数箇所の最短距離Ｌ、Ｌ′を測定できる
ようにしたり、あるいは巻枠を連続回転して測定値が連
続して得られるようにしてもよい。
にして同時に複数箇所の最短距離Ｌ、Ｌ′を測定できる
ようにしたり、あるいは巻枠を連続回転して測定値が連
続して得られるようにしてもよい。
【００１０】
【作用】図５に示すように、鍔までの距離を測定する測
定ヘッド６を採用し、制御装置により回転軸３を中心に
巻枠１０を回転させ、かつ測定ヘッド６を巻枠１０の半
径方向（図中矢印）に移動させることにより、両鍔間隔
Ｗと、鍔の回転軸に対する直角度δを次のように測定す
る。
定ヘッド６を採用し、制御装置により回転軸３を中心に
巻枠１０を回転させ、かつ測定ヘッド６を巻枠１０の半
径方向（図中矢印）に移動させることにより、両鍔間隔
Ｗと、鍔の回転軸に対する直角度δを次のように測定す
る。
【００１１】図５（ａ）、（ｂ）に示すように、測定ヘ
ッド６から一方の鍔面１ａまでの最短距離Ｌi 、および
他方の鍔面１ｂまでの最短距離Ｌ′i を測定する。ま
た、図５（ｃ）に示すように、巻枠半径方向位置ｒ1 に
おける測定ヘッド６から一方の鍔面１ａまでの最短距離
Ｌ1 と、移動後の巻枠半径方向位置ｒ2 における測定ヘ
ッド６から一方の鍔面１ａまでの最短距離Ｌ2 とを測定
する。これらの測定は、巻枠１０を一回転させる過程
で、所定の回転角度毎に行い、そのときの巻枠回転角度
θも測定する。
ッド６から一方の鍔面１ａまでの最短距離Ｌi 、および
他方の鍔面１ｂまでの最短距離Ｌ′i を測定する。ま
た、図５（ｃ）に示すように、巻枠半径方向位置ｒ1 に
おける測定ヘッド６から一方の鍔面１ａまでの最短距離
Ｌ1 と、移動後の巻枠半径方向位置ｒ2 における測定ヘ
ッド６から一方の鍔面１ａまでの最短距離Ｌ2 とを測定
する。これらの測定は、巻枠１０を一回転させる過程
で、所定の回転角度毎に行い、そのときの巻枠回転角度
θも測定する。
【００１２】測定後、最短距離Ｌi 、Ｌ′i から次式に
基づいて両鍔間隔Ｗを演算する。
基づいて両鍔間隔Ｗを演算する。
【００１３】 Ｗ＝Ｌi ＋Ｌ′i ＋ｗ (1) 但し、ｗは大きさをもつ測定ヘッドの寸法補正値 また、巻枠半径方向位置ｒ1 、ｒ2 、最短距離Ｌ1 、Ｌ
2 から次式に基づいて巻枠の回転軸に対する直角度δを
演算する。
2 から次式に基づいて巻枠の回転軸に対する直角度δを
演算する。
【００１４】 δ＝ｔａｎ-1（Ｌ2 −Ｌ1 ）／（ｒ2 −ｒ1 ） (2) そして、これらの演算結果から巻枠の円周方向、半径方
向の鍔の変形が測定できる。
向の鍔の変形が測定できる。
【００１５】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。図１は本
実施例による巻枠の鍔の変形測定装置の概略斜視図であ
る。
実施例による巻枠の鍔の変形測定装置の概略斜視図であ
る。
【００１６】本装置は、巻枠１０を回転自在に支持する
回転軸３と、ベルトを介して回転軸３を回転して巻枠１
０を回転させる回転駆動装置４と、巻枠１０の両鍔１、
１間で巻枠１０の径方向に移動自在に設けられ、移動地
点から一方の鍔面１ａまでの最短距離Ｌ、および他方の
鍔面１ｂまでの最短距離Ｌ′を測定する測定ヘッド６
と、測定ヘッド６を先端に取り付けたスライダ８を有
し、このスライダ８を進退させることによって測定ヘッ
ド６を移動させる移動駆動装置９と、測定ヘッド６の巻
枠半径方向位置ｒを測定する位置センサ７と、回転軸３
を中心とした巻枠１０の回転角度θを測定する回転角度
センサ５と、コンピュータ１４とを備えている。
回転軸３と、ベルトを介して回転軸３を回転して巻枠１
０を回転させる回転駆動装置４と、巻枠１０の両鍔１、
１間で巻枠１０の径方向に移動自在に設けられ、移動地
点から一方の鍔面１ａまでの最短距離Ｌ、および他方の
鍔面１ｂまでの最短距離Ｌ′を測定する測定ヘッド６
と、測定ヘッド６を先端に取り付けたスライダ８を有
し、このスライダ８を進退させることによって測定ヘッ
ド６を移動させる移動駆動装置９と、測定ヘッド６の巻
枠半径方向位置ｒを測定する位置センサ７と、回転軸３
を中心とした巻枠１０の回転角度θを測定する回転角度
センサ５と、コンピュータ１４とを備えている。
【００１７】ここで、例えば、測定ヘッド６は非接触で
距離を測定することができる反射型の光センサ、位置セ
ンサ７はマグネスケール、回転角度センサ５はロ−タリ
エンコーダで構成することができる。
距離を測定することができる反射型の光センサ、位置セ
ンサ７はマグネスケール、回転角度センサ５はロ−タリ
エンコーダで構成することができる。
【００１８】コンピュータ１４の制御装置１３は、制御
信号を回転駆動装置４に出力して、図２に示すように、
巻枠１０を所定分割角度βづつステップ回転させて１回
転するように制御する。また、移動駆動装置９に制御信
号を出力して、巻枠１０が所定の回転角度θ（＝ｉ・
β）に達する毎に、測定ヘッド６を、両鍔１間で、巻胴
２の近傍、すなわち鍔の付根付近０から鍔の縁１２付近
ｍまで後退させるように制御する。この後退制御はステ
ップ状に行い、その回数は半径方向に鍔１を分割した数
のｍ回分行う。また、測定ヘッド６の１ストロークは、
巻枠１０を円周方向に分割した数のｎ回分行う。なお、
測定ヘッド６は、鍔縁１２近傍位置ｍから付根近傍位置
０まで前進するように、あるいは所定の回転角度に達す
る毎に後退して測定する場合と、前進して測定する場合
を交互に切替えるように制御してもよい。
信号を回転駆動装置４に出力して、図２に示すように、
巻枠１０を所定分割角度βづつステップ回転させて１回
転するように制御する。また、移動駆動装置９に制御信
号を出力して、巻枠１０が所定の回転角度θ（＝ｉ・
β）に達する毎に、測定ヘッド６を、両鍔１間で、巻胴
２の近傍、すなわち鍔の付根付近０から鍔の縁１２付近
ｍまで後退させるように制御する。この後退制御はステ
ップ状に行い、その回数は半径方向に鍔１を分割した数
のｍ回分行う。また、測定ヘッド６の１ストロークは、
巻枠１０を円周方向に分割した数のｎ回分行う。なお、
測定ヘッド６は、鍔縁１２近傍位置ｍから付根近傍位置
０まで前進するように、あるいは所定の回転角度に達す
る毎に後退して測定する場合と、前進して測定する場合
を交互に切替えるように制御してもよい。
【００１９】このように巻枠１０および測定ヘッド６を
制御することにより、コンピュータ１４の演算装置１１
には、所定の回転角度毎に、測定ヘッド６の１ストロー
ク分の、位置センサ７からの巻枠半径方向位置ｒ、ｒ位
置での測定ヘッド６からの左右の鍔面１ａ、１ｂまでの
最短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度センサ５からの巻枠１０の
巻枠回転角度θ（＝ｉβ）が入力される。その入力によ
り、次に説明するフローチャートで示すように、両鍔１
間の寸法および鍔の回転軸に対する直角度を演算で求め
る。
制御することにより、コンピュータ１４の演算装置１１
には、所定の回転角度毎に、測定ヘッド６の１ストロー
ク分の、位置センサ７からの巻枠半径方向位置ｒ、ｒ位
置での測定ヘッド６からの左右の鍔面１ａ、１ｂまでの
最短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度センサ５からの巻枠１０の
巻枠回転角度θ（＝ｉβ）が入力される。その入力によ
り、次に説明するフローチャートで示すように、両鍔１
間の寸法および鍔の回転軸に対する直角度を演算で求め
る。
【００２０】図３は演算装置１１のソフトウェアを示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【００２１】まず、ステップ３０１で初期設定をする。
巻枠鍔径Ｄ0 、巻枠胴径Ｄb 、鍔測定円周分割数ｎ、鍔
半径方向測定箇所数ｍ、巻枠幅補正値ｗ、測定ヘッド半
径方向位置補正値△ｒとし、ｉ＝０、ｋ＝０とする。
巻枠鍔径Ｄ0 、巻枠胴径Ｄb 、鍔測定円周分割数ｎ、鍔
半径方向測定箇所数ｍ、巻枠幅補正値ｗ、測定ヘッド半
径方向位置補正値△ｒとし、ｉ＝０、ｋ＝０とする。
【００２２】図２から明らかなように、 ｒ（−１）＝Ｄb ／２＋Δｒ (3) α＝（Ｄ0 −Ｄb ）／２・（ｍ−１） (4) β＝３６０°／ｎ (5) となる。
【００２３】なお、ｒ（−１）は半径方向初期値であ
り、ｒ（ｋ）はｋまでの距離、ｒ（ｍ）はｍまでの距離
である。
り、ｒ（ｋ）はｋまでの距離、ｒ（ｍ）はｍまでの距離
である。
【００２４】次に、ステップ３０２で移動駆動装置９を
制御して巻枠回転中心Ｃから測定ヘッド６までの距離が ｒ（ｋ）＝ｒ（ｋ−１）＋ｋ・α (6) となるように測定ヘッド６を移動させる。このとき位置
センサ７で測定される測定ヘッド６の巻枠半径方向位置
ｒ（ｋ）を演算装置１１へデータ伝送する。
制御して巻枠回転中心Ｃから測定ヘッド６までの距離が ｒ（ｋ）＝ｒ（ｋ−１）＋ｋ・α (6) となるように測定ヘッド６を移動させる。このとき位置
センサ７で測定される測定ヘッド６の巻枠半径方向位置
ｒ（ｋ）を演算装置１１へデータ伝送する。
【００２５】次に、ステップ３０３で測定ヘッド６から
一方の鍔面１ａまでの距離Ｌki、および他方の鍔面１ｂ
までの距離Ｌ′kiを測定ヘッド６で測定し、その測定値
を演算装置１１へデータ伝送する。
一方の鍔面１ａまでの距離Ｌki、および他方の鍔面１ｂ
までの距離Ｌ′kiを測定ヘッド６で測定し、その測定値
を演算装置１１へデータ伝送する。
【００２６】そして、ステップ３０４で巻枠１０の原点
位置０からの回転角ｉ×βを回転角度センサ５から出力
して、演算装置１１へデータ伝送する。
位置０からの回転角ｉ×βを回転角度センサ５から出力
して、演算装置１１へデータ伝送する。
【００２７】ｉの値を１つインクリメントし、回転駆動
装置４により巻枠１０をβだけ回転させてから、ｉの値
がｎに達するまで上記ステップ３０２〜３０６を繰り返
す（ステップ３０５〜３０７）。ｉがｎに達したら、ｋ
の値を１つインクリメントした後、ｋの値がｍに達する
まで上記ステップ３０２〜３０８を繰り返す（ステップ
３０８〜３０９）。ｋの値がｍに達したら終了する。
装置４により巻枠１０をβだけ回転させてから、ｉの値
がｎに達するまで上記ステップ３０２〜３０６を繰り返
す（ステップ３０５〜３０７）。ｉがｎに達したら、ｋ
の値を１つインクリメントした後、ｋの値がｍに達する
まで上記ステップ３０２〜３０８を繰り返す（ステップ
３０８〜３０９）。ｋの値がｍに達したら終了する。
【００２８】ステップ３０１〜３０４によって、ｒ
（ｋ）、Ｌki、Ｌ′ki、ｉβがデータ伝送された演算装
置１１では、次のような組合わせデータとして記憶す
る。
（ｋ）、Ｌki、Ｌ′ki、ｉβがデータ伝送された演算装
置１１では、次のような組合わせデータとして記憶す
る。
【００２９】 ［｛ｒ（ｋ），Ｌki、Ｌ′ki，ｉβ｝i=0 〜n ］k=0 〜m (7) この組合わせデータに基づき、次式から鍔間隔Ｗki、鍔
の巻枠回転軸に対する直角度δk,k+1,i を演算する（ス
テップ３１０）。
の巻枠回転軸に対する直角度δk,k+1,i を演算する（ス
テップ３１０）。
【００３０】 Ｗki＝Ｌki＋Ｌ′ki＋ｗ (8) δk,k+1,i ＝ｔａｎ-1（Ｌ(k+1)i−Ｌki）／（ｒ（ｋ＋１）−ｒ（ｋ）） (9) この演算結果から鍔の変形出力をプリントアウトする
（ステップ３１１）。これをもとに、巻枠の良否を判定
する。
（ステップ３１１）。これをもとに、巻枠の良否を判定
する。
【００３１】以上述べたように本実施例により巻枠の鍔
の変形測定の自動化ができるようになったので、円周方
向、半径方向の変形量を正確かつ、迅速に測定すること
ができ、測定時間の短縮化が図れる。したがって、巻枠
の測定が面倒だとか、付加価値の少ない仕事であるとか
の理由で、作業者から敬遠されることもなくなり、変形
した巻枠が生産工程で使用されてしまうケースもなくな
る。
の変形測定の自動化ができるようになったので、円周方
向、半径方向の変形量を正確かつ、迅速に測定すること
ができ、測定時間の短縮化が図れる。したがって、巻枠
の測定が面倒だとか、付加価値の少ない仕事であるとか
の理由で、作業者から敬遠されることもなくなり、変形
した巻枠が生産工程で使用されてしまうケースもなくな
る。
【００３２】なお、上記実施例では巻枠を１回転させた
ときの測定値に基づいて鍔の形状を演算するようにした
が、２回転以上させて平均値を出すようにしてもよい。
ときの測定値に基づいて鍔の形状を演算するようにした
が、２回転以上させて平均値を出すようにしてもよい。
【００３３】また、図４に示すように、鍔の付根から鍔
の縁までカバーするように複数の測定ヘッド６を一列に
並べて、各測定ヘッド６から両鍔面１ａ、１ｂまでの最
短距離を同時に測定するようにした場合には、測定ヘッ
ド６は固定のままで移動させなくてもよい。
の縁までカバーするように複数の測定ヘッド６を一列に
並べて、各測定ヘッド６から両鍔面１ａ、１ｂまでの最
短距離を同時に測定するようにした場合には、測定ヘッ
ド６は固定のままで移動させなくてもよい。
【００３４】また、上述した実施例では、巻枠をステッ
プ的に回転させ、測定ヘッドから鍔面までの距離測定は
巻枠の回転を停止した状態で行い、距離データを不連続
データとして取り出すようにしたが、巻枠を連続的に回
転させ、鍔面までの距離データも連続量で取り出すよう
にしてもよい。
プ的に回転させ、測定ヘッドから鍔面までの距離測定は
巻枠の回転を停止した状態で行い、距離データを不連続
データとして取り出すようにしたが、巻枠を連続的に回
転させ、鍔面までの距離データも連続量で取り出すよう
にしてもよい。
【００３５】
【発明の効果】本発明によれば、鍔の変形測定を自動化
したので、円周方向、半径方向の鍔の変形量を正確かつ
迅速に測定することができる。
したので、円周方向、半径方向の鍔の変形量を正確かつ
迅速に測定することができる。
【００３６】また、測定ヘッドを複数設けた場合には、
各測定ヘッドから同時に最短距離データが取れるので、
測定ヘッドを固定とすることができ、移動駆動手段、位
置センサを省略して簡素化を図ることができる。
各測定ヘッドから同時に最短距離データが取れるので、
測定ヘッドを固定とすることができ、移動駆動手段、位
置センサを省略して簡素化を図ることができる。
【００３７】また、巻枠の回転および測定ヘッドの移動
を連続して行うと制御が容易になり、データも連続的に
取り出すことができるので、高精度な測定ができる。
を連続して行うと制御が容易になり、データも連続的に
取り出すことができるので、高精度な測定ができる。
【図１】本発明の実施例による巻枠の鍔の変形測定装置
の概略斜視図である。
の概略斜視図である。
【図２】本実施例の測定データの説明図である。
【図３】本実施例の演算装置のフローチャートである。
【図４】他の実施例による巻枠の鍔の変形測定装置の要
部の概略斜視図である。
部の概略斜視図である。
【図５】本発明の巻枠の測定箇所を示す説明図である。
【図６】従来例の巻枠の測定箇所を示す説明図である。
１ 鍔 １ａ 鍔面 １ｂ 鍔面 ３ 回転軸 ４ 回転駆動装置 ５ 回転角度センサ ６ 測定ヘッド ７ 位置センサ １０ 巻枠 １１ 演算装置 １２ 鍔の縁 １３ 制御装置 Ｌ 一方の鍔までの最短距離 Ｌ′ 他方の鍔までの最短距離 ｒ 測定ヘッドの巻枠半径方向位置 θ 巻枠の回転角度
Claims (6)
- 【請求項１】測定ヘッドの移動および巻枠の回転を制御
することによって巻枠の鍔の変形を測定する方法であっ
て、回転軸を中心に巻枠を所定回転角度づつ回転させ、
所定回転角度毎に巻枠の両鍔間に配置した測定ヘッドを
巻枠の半径方向に移動して、所定移動距離毎に測定ヘッ
ドの巻枠半径方向位置ｒ、巻枠半径方向位置ｒにおける
測定ヘッドから一方の鍔面までの最短距離Ｌおよび他方
の鍔面までの最短距離Ｌ′を測定するとともに、そのと
きの巻枠回転角度θを測定し、これを１回転するまで繰
り返し、測定した巻枠半径方向位置ｒ、両鍔面までの最
短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度θに基づいて、両鍔間の寸
法、および鍔の回転軸に対する直角度を演算して、巻枠
の鍔の変形を測定する巻枠の鍔の変形測定方法。 - 【請求項２】複数の測定ヘッドを使用し、巻枠の回転を
制御することによって巻枠の鍔の変形を測定する方法で
あって、１転軸を中心に巻枠を回転させ、所定回転角度
毎に、巻枠の両鍔間で巻枠の径方向に沿って配置した複
数の各測定ヘッドから一方の鍔面までの最短距離Ｌおよ
び他方の鍔面までの最短距離Ｌ′を測定するとともに、
そのときの巻枠回転角度θを測定し、これを１回転する
まで繰り返し、各測定ヘッドから両鍔面までの最短距離
Ｌ、Ｌ′、回転角度θに基づいて、両鍔間の寸法、およ
び鍔の回転軸に対する直角度を演算して、巻枠の鍔の変
形を測定する巻枠の鍔の変形測定方法。 - 【請求項３】請求項１または２に記載の巻枠の鍔の変形
測定方法において、巻枠を連続回転させて、測定を連続
測定するようにした巻枠の鍔の変形測定方法。 - 【請求項４】巻枠を回転自在に支持する回転軸と、回転
軸を回転して巻枠を回転させる回転駆動手段と、巻枠の
両鍔間で巻枠の径方向に移動自在に設けられ、移動地点
から一方の鍔面までの最短距離Ｌ、および他方の鍔面ま
での最短距離Ｌ′を測定する測定ヘッドと、測定ヘッド
を移動させる移動駆動手段と、測定ヘッドの巻枠半径方
向位置ｒを測定する位置センサと、回転軸を中心とした
巻枠の回転角度θを測定する回転角度センサと、制御手
段と、演算手段とを備えた巻枠の鍔の変形測定装置であ
って、制御手段は、巻枠を所定回転角度づつ回転制御さ
せるとともに、所定回転角度毎に測定ヘッドを巻枠の半
径方向に移動制御させるものであり、演算手段は、所定
回転角度毎に、測定ヘッドが半径方向に移動する際に、
位置センサの巻枠半径方向位置ｒ、測定ヘッドの両鍔面
までの最短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度センサの巻枠回転角
度θが入力され、これらに基づいて両鍔間の寸法、およ
び鍔の巻枠回転軸に対する直角度を演算して出力するも
のであり、この出力から巻枠の鍔の変形を測定する巻枠
の鍔の変形測定装置。 - 【請求項５】巻枠を回転自在に支持する回転軸と、回転
軸を回転して巻枠を回転させる回転駆動手段と、巻枠の
両鍔間で巻枠の径方向に沿って複数個配置されるととも
に、各配置点から一方の鍔面までの最短距離Ｌ、および
他方の鍔面までの最短距離Ｌ′を測定する測定ヘッド
と、巻枠回転軸を中心とした巻枠の回転角度θを測定す
る回転角度センサと、制御手段と、演算手段とを備えた
巻枠の鍔の変形測定装置であって、制御手段は、巻枠を
所定回転角度づつ回転制御させるものであり、演算手段
は、所定の回転角度毎に、各測定ヘッドの両鍔面までの
最短距離Ｌ、Ｌ′、回転角度センサの巻枠回転角度θが
入力され、これらに基づいて両鍔間の寸法、および鍔の
回転軸に対する直角度を演算して出力するものであり、
この出力から巻枠の変形を測定する巻枠の鍔の変形測定
装置。 - 【請求項６】請求項４または５に記載の巻枠の鍔の変形
測定装置において、上記制御手段が回転制御させる巻枠
を連続回転させ、演算手段に測定値が連続入力されるよ
うにした巻枠の鍔の変形測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13354395A JPH08324886A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 巻枠の鍔の変形測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13354395A JPH08324886A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 巻枠の鍔の変形測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08324886A true JPH08324886A (ja) | 1996-12-10 |
Family
ID=15107277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13354395A Pending JPH08324886A (ja) | 1995-05-31 | 1995-05-31 | 巻枠の鍔の変形測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08324886A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1048601A1 (de) * | 1999-04-30 | 2000-11-02 | Schärer Schweiter Mettler AG | Vorrichtung zum Aufwickeln eines Fadens |
| CN103604695A (zh) * | 2013-10-24 | 2014-02-26 | 西安交通大学 | 一种通过恒力接触实现材料径向形变测量的作动装置 |
| CN103698074A (zh) * | 2013-12-27 | 2014-04-02 | 机械科学研究总院先进制造技术研究中心 | 用于大型预应力钢丝缠绕机架残余预紧力的在线监测方法 |
-
1995
- 1995-05-31 JP JP13354395A patent/JPH08324886A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1048601A1 (de) * | 1999-04-30 | 2000-11-02 | Schärer Schweiter Mettler AG | Vorrichtung zum Aufwickeln eines Fadens |
| CN103604695A (zh) * | 2013-10-24 | 2014-02-26 | 西安交通大学 | 一种通过恒力接触实现材料径向形变测量的作动装置 |
| CN103698074A (zh) * | 2013-12-27 | 2014-04-02 | 机械科学研究总院先进制造技术研究中心 | 用于大型预应力钢丝缠绕机架残余预紧力的在线监测方法 |
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