JPWO2006068046A1 - 電気スズおよびスズ合金めっき液 - Google Patents

電気スズおよびスズ合金めっき液 Download PDF

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Abstract

電気スズめっきおよび電気スズ合金めっきのはんだぬれ性を良好にし、はんだ付け後の信頼性を高くすることにある。また、めっき速度およびめっき後の外観を向上させることにある。
イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物を1種または2種類以上含む電気スズおよびスズ合金めっき液。前記化合物としては、下記式(1)で表されるイミダゾールアルコール化合物が好ましい。
【化1】

(一般式(1)中、R、R、Rはそれぞれ水素、ビニル基、または炭素数1〜20のアルキル基であって、RとRとで芳香環を形成していてもよく、Rは水素、ビニル基、炭素数1〜20のアルキル基、フェニル基、あるいは―(CHCH(R)O)H、Rは水素、炭素数1〜20のアルキル基、Xは水素、炭素数1〜6のアルキル基、またはN、Oを含んでいてもよい置換基を表し、mは0〜20の整数、n、lは1〜3の整数、kは1〜20の整数を表す。)

Description

本発明は、電気スズめっき液および電気スズ合金めっき液に関する。
従来、電気スズめっきや電気スズ合金めっき、特にスズ亜鉛合金めっきは、はんだぬれ性に難があるため、はんだ付け後の信頼性が低く、実用されていなかった。また、めっき工程においても、陰極電流効率が悪く、めっき速度が遅く、得られためっき膜の粒子が粗く無光沢という外観上の問題も有していた。
こうした実情のもとで、本発明の第1の目的は、電気スズめっきおよび電気スズ合金めっきのはんだぬれ性を良好にし、はんだ付け後の信頼性を高くすることにある。また、従来問題とされていた、めっき速度およびめっき後の外観を向上させることにある。
本発明者らは、上記問題を鋭意検討した結果、従来の電気スズまたはスズ合金めっき液に対して、イミダゾール基と水酸基の両者を1分子中に有する化合物を添加しためっき液を使用することにより、上記問題を解決し得ることを見出した。
すなわち、本発明は、
[1] イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物を1種または2種類以上含むことを特徴とする電気スズおよびスズ合金めっき液。
[2] 前記イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物が、下記一般式(1)で表されるイミダゾールアルコール化合物であることを特徴とする前記[1]記載の電気スズおよびスズ合金めっき液。
(一般式(1)中、R、R、Rはそれぞれ水素、ビニル基、または炭素数1〜20のアルキル基であって、RとRとで芳香環を形成していてもよく、Rは水素、ビニル基、炭素数1〜20のアルキル基、フェニル基、あるいは―(CHCH(R)O)H、Rは水素、炭素数1〜20のアルキル基、Xは水素、炭素数1〜6のアルキル基、またはN、Oを含んでいてもよい置換基を表し、mは0〜20の整数、n、lは1〜3の整数、kは1〜20の整数を表す。)
[3] 前記一般式(1)で表される化合物が、下記一般式(2)で表されるイミダゾール化合物と下記一般式(3)で表されるエポキシ化合物を反応させて得られたイミダゾールアルコール化合物であることを特徴とする前記[2]記載の電気スズおよびスズ合金めっき液。
(一般式(2)、(3)中、R、R、Rはそれぞれ水素、ビニル基、または炭素数1〜20のアルキル基であって、RとRとで芳香環を形成していてもよく、Rは水素、ビニル基、炭素数1〜20のアルキル基、フェニル基、あるいは―(CHCH(R)O)H、Rは水素、炭素数1〜20のアルキル基、Xは水素、炭素数1〜6のアルキル基、またはN、Oを含んでいてもよい置換基を表し、mは0〜20の整数、n、lは1〜3の整数、kは1〜20の整数を表す。)
本発明の電気スズめっき液および電気スズ合金めっき液を使用することにより、めっきされためっき物のはんだ濡れ性および外観を向上させることができる。また、本発明のめっき液を使用することによりめっき速度も向上させることができる。
本発明の電気スズめっき液および電気スズ合金めっき液は、基本的には、従来検討されてきた電気スズめっき液や電気スズ合金めっき液を用いることができ、これに前記特定のイミダゾールアルコール化合物を添加するものである。
電気スズめっき液、電気スズ合金めっき液とは、めっき皮膜金属成分となるスズ塩またはスズ塩とスズと合金を形成する金属塩、金属塩の安定剤(スズが2価から4価になることを防ぐ安定剤)、光沢剤(平滑化剤, 異常析出防止)、伝導塩、pH調整剤などで構成されている。
具体的には、めっき皮膜金属成分となるスズ塩およびスズと合金を形成する金属塩として、例えば、スズ塩としては、硫酸スズ、塩化スズ、スルファミン酸スズ、メタンスルホン酸スズなどを例示することが出来る。また、スズと合金を形成する金属としては、例えば、亜鉛、インジウム、ビスマス、金、銀、銅、ニッケルなどを例示することができ、塩としてはスズと同様な塩を用いることができる。
電気スズめっき液中、スズ塩の濃度としては、金属として1〜60g/Lが好ましく、また、電気スズ合金めっき液の場合は、前記濃度のスズ塩と、スズと合金を形成する金属塩を金属として0.01〜50g/L含有するのが好ましい。
金属塩の安定剤としては、基本的にスズの酸化防止の機能を有するもので、アスコルビン酸、エリソルビン酸、多価フェノール、次亜リン酸塩などを用いることが出来る。
めっき液中、金属塩の安定剤は、次亜リン酸塩を用いた場合は1〜50g/L、その他の場合は0.05〜10g/L含有することが好ましい。
光沢剤としては、ポリアクリルアミドおよびその誘導体、ポリエチレングリコール、トリエタノールアミンおよびその誘導体などを用いることができる。
めっき液中、光沢剤は0.01〜10g/L含有することが好ましい。
伝導塩としては、メタンスルホン酸およびその塩、スルファミン酸およびその塩、塩酸およびその塩、硫酸およびその塩などを例示することが出来る。
めっき液中、伝導塩は5〜300g/L含有することが好ましい。
pH調整剤としては、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アンモニア、塩酸、硫酸などを例示することが出来る。
錯化剤としては、リンゴ酸、クエン酸、グルコン酸、乳酸、コハク酸、エタンチオール、チオ尿素、エチレンジアミン四酢酸などを例示することができる。
めっき液中、錯化剤は0.05〜100g/L含有することが好ましい。
本発明は、上記電気スズめっき基本液または電気スズ合金めっき基本液に、イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物を1種または2種類以上添加する。前記錯化剤とイミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物をあらかじめ混合して添加してもよい。
本発明は、前記した従来からの電気スズめっき液、電気スズ合金めっき液に対して、イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物を1種または2種類以上添加しためっき液を使用することが重要である。このことにより電気スズめっき物および電気スズ合金めっき物のはんだ濡れ性および外観を向上することができ、また、めっき速度も向上することができる。
本発明に使用するイミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物としては、好ましくは、下記反応式(4)で表される反応により合成される。
(式中、R、R、R、R、X、l、mおよびnは前記定義と同じである。)
前記一般式(1)〜(3)においてR1、R2、R3、Rは、水素、ビニル基、又は炭素数1〜20のアルキル基であれば本発明の効果を十分に発揮する。アルキル基としては、炭素数1〜20であるが、1〜9が好ましい。また、R2とR3とで芳香環を形成する場合は、形成する芳香環は、ベンゼン環が好ましい。Xは、水素、炭素数1〜6のアルキル基、又はN、Oを含んでいてもよい置換基であって、炭素数1〜6のアルキル基としては、炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、N、Oを含む置換基としては、水酸基、カルボキシル基、アミノ基等が挙げられる。また、Rは前記の他、フェニル基、―(CHCH(R)O)H(Rは水素、炭素数1〜20のアルキル基、kは1〜20の整数を示す)も好ましい。
上記一般式(2)で表されるイミダゾール化合物として好ましいものは、イミダゾール、2−アルキルイミダゾール、2,4−ジアルキルイミダゾール、4−ビニルイミダゾール等である。イミダゾール基に結合したR〜Rがアルキル基の場合、炭素数10以上になると、疎水性が強まるため却って被めっき材のぬれ性が低下し特性が低下する場合があるので、これらの場合好ましい炭素数は1〜9である。これらのうち、特に好ましいのはイミダゾール、2−メチルイミダゾールを例示することができる。
一般式(3)で表されるエポキシ化合物としては、エポキシプロパノール、エポキシブタノール、エポキシペンタノール、エポキシヘキサノ−ル、メトキシグリシドール、n−ブトキシグリシドール、tert−ブトキシグリシドール、フェノキシグリシドール、例えばグリシドールのエチレンオキサイド付加物などのアルキレンオキサイドを有するエポキシ化合物を列挙することができる。
前記反応は、80〜200℃の温度に加熱したイミダゾール化合物に0.1〜10モル倍量のエポキシ化合物を滴下させながら行うとよく、反応時間は5分〜3時間程度で十分である。この反応は特には溶媒を必要としないが、クロロホルム、ジオキサン、メタノール、エタノール等の有機溶剤を反応溶媒として用いても良い。なお、この反応は水分を嫌うので、水分が混入しないように、乾燥した窒素、アルゴン等の水分を含まない気体の雰囲気下で行うことが好ましい。
イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物を1種または2種類以上をめっき液へ添加する量としては、0.01g/L〜10g/Lが好ましく、より好ましくは0.1g/L〜5g/Lである。
添加量が少な過ぎると、めっきが半光沢にならず、粗いめっきとなる。また、陰極電流効率の改善が見られないためめっき速度が遅い、はんだ付け性の改善効果が見られないなど期待した効果が得られない。また、添加量が過剰となると、めっき速度の低下、皮膜への添加剤咬みこみによる物性(耐酸化性、はんだ付け性、はんだ付け強度ほか)劣化が起こり、大過剰では、無めっき部分が発生する。
次に、本発明のめっき液を使用する電気スズめっきおよび電気スズ合金めっきのめっき条件について述べる。
めっき温度は10℃から50℃、好ましくは、20℃から45℃である。また、めっき液のpHとしては、強酸性から中性の範囲で用いることが出来る。特にスズ−亜鉛めっきに関しては、pH2からpH6.5の範囲で用いられるが、特にこれに限定されるものではない。電気めっきの電流密度としては、0.1A/dmから30A/dm、特には1A/dmから15A/dmの条件で電気めっきをすることができる。
めっきの方法としては、バレルめっき、ラック式めっき、フープ式めっきなどのいずれも適応することが可能である。
次に実施例により本発明について詳細に説明する。
合成例
イミダゾールアルコール化合物1〜3の合成
イミダゾール9.2gを120℃に加熱し、2,3−エポキシプロパノール10gを滴下後、150℃で3時間反応させ、イミダゾールアルコール1を得た。
下記に示すイミダゾールアルコール2、及び3も上記合成方法と同様にして、イミダゾール化合物とエポキシ化合物の添加モル比が1:1になるようにして合成した。

スズめっき基本液、またはスズ合金めっき基本液に対して上記構造のイミダゾールアルコール化合物を添加して、めっき試験を実施した。
実施例1
電気スズ合金めっき液の基本液は以下の組成の液を用いた。
上記組成物に前記イミダゾールアルコール化合物1を1g/L添加しためっき液を使用してめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
めっきは3dmビーカーにアノードバック付スズ板(150×150×厚さ10mm)をアノードとし、スターラー撹拌(回転子50mm、300rpm)を行った。陰極は10×25mm銅板を用い、ストローク長60mm、24rpmでカソードを揺動させた。めっき温度は35℃である。
めっき速度は、陰極電流密度2、3、5、10A/dmでめっきを行い、重量法及び蛍光X線膜厚測定法にて測定した。
はんだ付け性の評価は、陰極電流密度は5A/dmでめっきを行い、膜厚5μm一定として行った。
はんだ付け試験前処理として、オートクレーブにて温度105℃、湿度100%条件(以下PCT)で4、16時間処理、あるいはリフロー処理として、全処理時間3分、予備加熱160℃、本加熱230℃のリフローを行った。はんだ付け試験はメニスコグラフ法を行った。
フラックスにNA−200(タムラ化研(株)製)を用い、スズ−3銀−0.5銅鉛フリーはんだ、温度240℃、浸漬深さ2mm、浸漬速度2mm/秒でのゼロクロスタイムを測定した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表7に示す。
実施例2
上記表2に示す組成物に前記イミダゾールアルコール化合物2を3g/L添加しためっき液を使用して実施例1と同様にしてめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性、リフロー性を確認した。また、電子顕微鏡におけるめっき皮膜の結晶の緻密さを測定した。
リフロー性の評価は、スズ亜鉛めっきを行った試験片をアルミニウム板(0.3mm厚、1020材)に乗せ、ホットプレート上でリフローを行った。リフロー温度は230℃±5℃、リフロー時間30秒で行った。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表7、リフロー性を表9、めっき後及びリフロー後外観を図1に示す。
実施例3
上記表3に示す組成物(pH4.0)に前記イミダゾールアルコール化合物1を1g/L添加しためっき液を使用してめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。めっきは、下地ニッケルめっき厚1μmを有するコネクタ部品(真鍮製)に対して、実施例1と同様に、陰極電流密度2、3、5、10A/dmでめっきを行い、めっき速度を測定した。また、陰極電流密度10A/dm、めっき膜厚2μmとした以外は実施例1と同様にして、はんだ付け性の測定、評価を行った。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表8に示す。
実施例4
上記表3に示す組成物(pH6.0)にイミダゾールアルコール化合物1を3g/L添加しためっき液を使用してめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。めっきはバレル(ミニバレル:株式会社山本鍍金試験器製)にて行い、素材は銅板(10×25mm)を使用した。
めっき条件は液量3L、めっき温度35℃、めっき時間50分、回転数10rpmとした他は実施例1と同様に行った。また、めっき速度、はんだ付け性は実施例1と同様に測定、評価した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表7に示す。
実施例5
上記表4−1に示す組成物(pH4.0)にイミダゾールアルコール化合物1を1g/L添加しためっき液を使用して実施例3と同様にめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。また、電子顕微鏡における結晶の緻密さを測定した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表8、めっき皮膜の結晶状態を図2に示す。
実施例6
上記表4−1に示す組成物(pH4.0)にイミダゾールアルコール化合物2を0.5g/Lを添加しためっき液を使用して実施例3と同様にめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表8に示す。
実施例7
上記表4−1に示す組成物(pH4.0)にイミダゾールアルコール化合物3を0.5g/L添加しためっき液を使用して実施例3と同様にめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表8に示す。
実施例8
上記表4−1に示す組成物(pH4.0)にイミダゾールアルコール化合物2を5g/L添加しためっき液を使用して実施例3と同様にめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表8に示す。
実施例9
上記表4−1に示す組成物(pH4.0)にイミダゾールアルコール化合物1とクエン酸の等モル混合物0.5g/Lを添加しためっき液を使用して実施例3と同様にめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表8に示す。
実施例10
上記表4−1に示す組成物にイミダゾールアルコール化合物1を3g/L添加しためっき液を使用して実施例1と同様にめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
その結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表7に示す。
実施例11
上記表4−2に示す組成物にイミダゾールアルコール化合物1を0.5g/L添加しためっき液を使用する他は、実施例1及び実施例3と同様にしてそれぞれめっきを行い、めっき速度、はんだ付け性を確認した。
その結果はめっき速度を表5、はんだ付け性を表7に示す。
比較例1〜5、10、11
表1〜4に示すめっき液を使用して、すなわち、イミダゾールアルコール化合物無添加のめっき液を使用した以外は、前記の実施例1〜5、10及び11と同様にめっきを行い、また同様の測定、評価を行った。その結果はめっき速度を表6、はんだ付け性を表7、8、リフロー性を表9、比較例2、5で得られためっき皮膜の結晶状態を図1、2に示す。
なお、比較例1〜5、10、及び11は、それぞれ実施例1〜5、10及び11に対応するものである。
実施例2及び比較例2で得られためっき皮膜の電子顕微鏡写真。 実施例5及び比較例5で得られためっき皮膜の電子顕微鏡写真。

Claims (3)

  1. イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物を1種または2種類以上含むことを特徴とする電気スズおよびスズ合金めっき液。
  2. 前記イミダゾール基と水酸基を1分子中に有する化合物が、下記一般式(1)で表されるイミダゾールアルコール化合物であることを特徴とする請求の範囲1記載の電気スズおよび電気スズ合金めっき液。
    (一般式(1)中、R、R、Rはそれぞれ水素、ビニル基、または炭素数1〜20のアルキル基であって、RとRとで芳香環を形成していてもよく、Rは水素、ビニル基、炭素数1〜20のアルキル基、フェニル基、あるいは―(CHCH(R)O)H、Rは水素、炭素数1〜20のアルキル基、Xは水素、炭素数1〜6のアルキル基、またはN、Oを含んでいてもよい置換基を表し、mは0〜20の整数、n、lは1〜3の整数、kは1〜20の整数を表す。)
  3. 前記一般式(1)で表される化合物が、下記一般式(2)で表されるイミダゾール化合物と下記一般式(3)で表されるエポキシ化合物を反応させて得られたイミダゾールアルコール化合物であることを特徴とする請求の範囲2記載の電気スズおよびスズ合金めっき液。
    (一般式(2)、(3)中、R、R、Rはそれぞれ水素、ビニル基、または炭素数1〜20のアルキル基であって、RとRとで芳香環を形成していてもよく、Rは水素、ビニル基、炭素数1〜20のアルキル基、フェニル基、あるいは―(CHCH(R)O)H、Rは水素、炭素数1〜20のアルキル基、Xは水素、炭素数1〜6のアルキル基、またはN、Oを含んでいてもよい置換基を表し、mは0〜20の整数、n、lは1〜3の整数、kは1〜20の整数を表す。)
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