JPS6434577U - - Google Patents

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JPS6434577U
JPS6434577U JP12859587U JP12859587U JPS6434577U JP S6434577 U JPS6434577 U JP S6434577U JP 12859587 U JP12859587 U JP 12859587U JP 12859587 U JP12859587 U JP 12859587U JP S6434577 U JPS6434577 U JP S6434577U
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phase clock
synchronization
signals
synchronization signal
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は、この考案のテスターのタイミング発
生回路を適用したＩＣテスターにおけるタイミン
グ部分を中心とするブロツク図、第２図は、テス
ターのテスターパターン発生装置の一般的なブロ
ツク図、第３図は、その動作を説明するためのタ
イミングチヤートである。 １……パターン発生器、３……波形フオーマツ
タ、４……タイミング発生器、６……ドライブ回
路、７……ドライバ、１０……タイミング発生回
路、１１……テスト周期発生部、１２……サブ・
テスト周期発生部、１３，１４……マルチプレク
サ、１５，１６……位相クロツク発生部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 設定された周期で同期信号をそれぞれ発生
    する第１及び第２のテスト周期発生部と、第１及
    び第２のテスト周期発生部から前記同期信号をそ
    れぞれ受け、いずれか一方の同期信号を選択する
    第１及び第２の信号選択回路と、第１の信号選択
    回路からの同期信号に応じて複数の位相クロツク
    信号を発生する第１の位相クロツク信号発生部と
    、第２の信号選択回路から同期信号に応じて複数
    の位相クロツク信号を発生する第２の位相クロツ
    ク信号発生部とを備えることを特徴とするテスタ
    ーのタイミング発生回路。 (2) 同期信号はカウンタに対するプリセツト信
    号であり、第１及び第２の位相クロツク信号発生
    部は、それぞれ複数の位相クロツク信号に対応す
    るカウンタとこのカウンタにセツトされるタイミ
    ングデータとを有していることを特徴とする実用
    新案登録請求の範囲第１項記載のテスターのタイ
    ミング発生回路。
JP1987128595U 1987-08-26 1987-08-26 テスターのタイミング発生回路 Expired - Lifetime JP2539956Y2 (ja)

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JPS6434577U true JPS6434577U (ja) 1989-03-02
JP2539956Y2 JP2539956Y2 (ja) 1997-07-02

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57114867A (en) * 1981-01-08 1982-07-16 Nec Corp Tester for logic circuit

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57114867A (en) * 1981-01-08 1982-07-16 Nec Corp Tester for logic circuit

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JP2539956Y2 (ja) 1997-07-02

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