JPH0216076U - - Google Patents

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JPH0216076U
JPH0216076U JP9527288U JP9527288U JPH0216076U JP H0216076 U JPH0216076 U JP H0216076U JP 9527288 U JP9527288 U JP 9527288U JP 9527288 U JP9527288 U JP 9527288U JP H0216076 U JPH0216076 U JP H0216076U
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duts
dut
switch
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measurement module
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JP9527288U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案に係るＬＳＩテスト装置の要部
構成例を示す図、第２図は本考案に係るＬＳＩテ
スト装置の概要構成を示す図、第３図は本考案に
係る装置のタイムチヤート、第４図は従来装置の
タイムチヤートである。 １……ＴＳＣ、２，３……メモリ、４……コン
トローラ、７……スイツチ、１０……モジユール
コントローラ、１１……計測モジユール。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 出力段にスイツチを備え、このスイツチを介し
    て検査対象の２個のＤＵＴ（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎ
    ｄｅｒ Ｔｅｓｔ）と信号の授受を行なう計測モ
    ジユール１１と、 前記２個のＤＵＴに対応したメモリであつて計
    測モジユールの動作を制御する一連のデータがシ
    ーケンス番号（ＤＵＴの各種検査に付された番号
    ）ごとにそれぞれ格納されたメモリ２，３と、上
    記シーケンス番号を示す信号Ｓ７とどちらか一方
    のＤＵＴの選択を指示する信号Ｓ５，Ｓ６を導入
    し指示されたＤＵＴの指示されたシーケンス番号
    に属する一連のデータにしたがつて計測モジユー
    ルを制御するとともにＤＵＴ選択信号Ｓ５，Ｓ６
    によりスイツチを切替えるコントローラ４と、か
    らなるモジユールコントローラ１０と、 を備え、２個のＤＵＴを交互に検査するように
    したＬＳＩテスト装置。
JP9527288U 1988-07-19 1988-07-19 Pending JPH0216076U (ja)

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JP9527288U JPH0216076U (ja) 1988-07-19 1988-07-19

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JPH0216076U true JPH0216076U (ja) 1990-02-01

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004117340A (ja) * 2002-09-26 2004-04-15 Samsung Electronics Co Ltd 一つのハンドラに二つ以上のテストボードを有するテスト装備及びそのテスト方法
JP2011511279A (ja) * 2008-09-18 2011-04-07 ヴェリジー（シンガポール） プライベート リミテッド 複数テストサイトでテストリソースを共有する方法、自動試験装置、テスト対象デバイスを設置及び撤去するハンドラ、及びテストシステム

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5219079A (en) * 1975-08-06 1977-01-14 Seiko Instr & Electronics Ltd Ic tester
JPS57114868A (en) * 1981-01-08 1982-07-16 Nec Corp Tester for function of logic circuit
JPS58182567A (ja) * 1982-04-21 1983-10-25 Hitachi Ltd 回路基板試験装置

Patent Citations (3)

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JP2011511279A (ja) * 2008-09-18 2011-04-07 ヴェリジー（シンガポール） プライベート リミテッド 複数テストサイトでテストリソースを共有する方法、自動試験装置、テスト対象デバイスを設置及び撤去するハンドラ、及びテストシステム

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