JPS6019978U - パツケ−ジ試験機用ピンアクセス回路 - Google Patents

パツケ−ジ試験機用ピンアクセス回路

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Publication number
JPS6019978U
JPS6019978U JP11115383U JP11115383U JPS6019978U JP S6019978 U JPS6019978 U JP S6019978U JP 11115383 U JP11115383 U JP 11115383U JP 11115383 U JP11115383 U JP 11115383U JP S6019978 U JPS6019978 U JP S6019978U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
testing machine
section
pin
access circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP11115383U
Other languages
English (en)
Inventor
明久 中山
Original Assignee
日本電気株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP11115383U priority Critical patent/JPS6019978U/ja
Publication of JPS6019978U publication Critical patent/JPS6019978U/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案の一実施例を示す回路図、第２図は本考
案の他の実施例を示す回路図である。 ０〜９・・・・・・ピンアクセス空間制御信号、１０・
・・・・・信号発生部、１１〜２０・・・・・・信号ラ
ッチ部、２１・・・・・・選択部、２２・・・・・・ス
イッチ部、２３・・・・・・選択アクティブ信号、２４
−１〜２４−２５６・・・・・・信号ラッチ部、２５−
１〜２５−２５６・・・・・・選択部、’２６　１〜２
６−２５６・・・・・・スイッチ群。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. パッケージ試験機でテストに供されるロジックピンのア
    クセス゛において複数の同一アクセス空間を持ったピン
    制御部と、同一アクセス空間の特定の一群を選択すると
    ともにテストピンに信号を送出する信号発生部と、前記
    信号発生部の出力信号を保持するための信号ランチ部と
    、前記信号ラッチ部からの出力により同一アクセス空間
    の特定の一群を決定する選択部とを含むことを特徴とす
    るパッケージ試験機用ピンアクセス回路。
JP11115383U 1983-07-18 1983-07-18 パツケ−ジ試験機用ピンアクセス回路 Pending JPS6019978U (ja)

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JPS6019978U true JPS6019978U (ja) 1985-02-12

Family

ID=30258210

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63123752U (ja) * 1986-08-27 1988-08-11
JPH0430261U (ja) * 1990-07-07 1992-03-11

Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63123752U (ja) * 1986-08-27 1988-08-11
JPH0444837Y2 (ja) * 1986-08-27 1992-10-22
JPH0430261U (ja) * 1990-07-07 1992-03-11

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