JPS6382953U - - Google Patents
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- JPS6382953U JPS6382953U JP17772086U JP17772086U JPS6382953U JP S6382953 U JPS6382953 U JP S6382953U JP 17772086 U JP17772086 U JP 17772086U JP 17772086 U JP17772086 U JP 17772086U JP S6382953 U JPS6382953 U JP S6382953U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insulating film
- wiring layer
- interlayer insulating
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims 7
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 claims 4
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Description
第1図は本考案を説明するための断面図、第2
図A乃至Eは各々本考案による半導体集積回路装
置の製造方法を説明するための断面図、第3図は
従来例を説明するための断面図である。 11は半導体基体、15は第1の配線層、17
は第1の絶縁膜、18は第2の絶縁膜、19は第
2の配線層、20はスルーホール部、21はコン
デンサ部である。
図A乃至Eは各々本考案による半導体集積回路装
置の製造方法を説明するための断面図、第3図は
従来例を説明するための断面図である。 11は半導体基体、15は第1の配線層、17
は第1の絶縁膜、18は第2の絶縁膜、19は第
2の配線層、20はスルーホール部、21はコン
デンサ部である。
Claims (1)
- 半導体基体上に形成した第1の配線層と、該第
1の配線層を被覆するように形成した層間絶縁膜
と、該層間絶縁膜上に形成した第2の配線層とを
具備し、前記層間絶縁膜を貫通するスルーホール
を介して前記第1の配線層と第2の配線層との電
気的接続を行う半導体集積回路において、前記層
間絶縁膜を薄い第1の絶縁膜とその上に形成した
厚い第2の絶縁膜とで構成し、且つ前記第1、第
2の絶縁膜両者を除去することによつて前記スル
ーホールを形成し、前記第2の絶縁膜のみを除去
することによつて前記第1の配線層と前記第2の
配線層とでコンデンサを形成したことを特徴とす
る半導体集積回路装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17772086U JPS6382953U (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17772086U JPS6382953U (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6382953U true JPS6382953U (ja) | 1988-05-31 |
Family
ID=31119188
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17772086U Pending JPS6382953U (ja) | 1986-11-19 | 1986-11-19 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6382953U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018117111A1 (ja) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | 大日本印刷株式会社 | 貫通電極基板、半導体装置及び貫通電極基板の製造方法 |
US12136591B2 (en) | 2016-12-21 | 2024-11-05 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Through electrode substrate and semiconductor device |
-
1986
- 1986-11-19 JP JP17772086U patent/JPS6382953U/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018117111A1 (ja) * | 2016-12-21 | 2018-06-28 | 大日本印刷株式会社 | 貫通電極基板、半導体装置及び貫通電極基板の製造方法 |
JP6380726B1 (ja) * | 2016-12-21 | 2018-08-29 | 大日本印刷株式会社 | 貫通電極基板、半導体装置及び貫通電極基板の製造方法 |
US10950533B2 (en) | 2016-12-21 | 2021-03-16 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Through electrode substrate and semiconductor device |
US11742273B2 (en) | 2016-12-21 | 2023-08-29 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Through electrode substrate and semiconductor device |
US12136591B2 (en) | 2016-12-21 | 2024-11-05 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Through electrode substrate and semiconductor device |