JPS637831A - 真空装置の洗浄方法 - Google Patents
真空装置の洗浄方法Info
- Publication number
- JPS637831A JPS637831A JP15292386A JP15292386A JPS637831A JP S637831 A JPS637831 A JP S637831A JP 15292386 A JP15292386 A JP 15292386A JP 15292386 A JP15292386 A JP 15292386A JP S637831 A JPS637831 A JP S637831A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquefied gas
- nozzle
- vacuum
- cleaning
- vacuum device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 9
- 238000005406 washing Methods 0.000 title abstract 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 abstract description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 29
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 22
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 12
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VOPWNXZWBYDODV-UHFFFAOYSA-N Chlorodifluoromethane Chemical compound FC(F)Cl VOPWNXZWBYDODV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- KYKAJFCTULSVSH-UHFFFAOYSA-N chloro(fluoro)methane Chemical compound F[C]Cl KYKAJFCTULSVSH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005108 dry cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 239000003317 industrial substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01J—CHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
- B01J3/00—Processes of utilising sub-atmospheric or super-atmospheric pressure to effect chemical or physical change of matter; Apparatus therefor
- B01J3/006—Processes utilising sub-atmospheric pressure; Apparatus therefor
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Filling Or Discharging Of Gas Storage Vessels (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は真空装置の洗浄方法に関する。
一般に、容器などの洗浄には水などの液体を用いるのが
有効であり、広く利用されている。特に水は安価で6シ
、tfc超純水製造等のダストを除去する技術も発達し
ており、利用度が高い。真空装置の洗浄に対しても同様
である。
有効であり、広く利用されている。特に水は安価で6シ
、tfc超純水製造等のダストを除去する技術も発達し
ており、利用度が高い。真空装置の洗浄に対しても同様
である。
然しながら洗浄後、容器内に残った水を乾燥させるには
非常に時間がか\る。真空装置に対しては、特に放出ガ
ス等の問題もあり、水は好ましくない。水の代ゎシにア
ルコールやアセトン等の薬品を用いれば乾燥時間はかな
シ短縮できるが、超高真空を必要とする装置では、やけ
クハイドロカーボンの影響がある。ま次−般に、工業用
薬品に含まれるダストはかなシ多く、ダストの少ない特
殊な電子工業用薬品は高価である。従って薬品による洗
浄は経済的にも効率の良いものでおるとは言い難い。
非常に時間がか\る。真空装置に対しては、特に放出ガ
ス等の問題もあり、水は好ましくない。水の代ゎシにア
ルコールやアセトン等の薬品を用いれば乾燥時間はかな
シ短縮できるが、超高真空を必要とする装置では、やけ
クハイドロカーボンの影響がある。ま次−般に、工業用
薬品に含まれるダストはかなシ多く、ダストの少ない特
殊な電子工業用薬品は高価である。従って薬品による洗
浄は経済的にも効率の良いものでおるとは言い難い。
1次、流体(液体)による洗浄法は、表面に境界層が生
じる几め、流れによってダスト粒子に与える力は弱くな
り洗浄効率は限られてしまうという問題点がある。
じる几め、流れによってダスト粒子に与える力は弱くな
り洗浄効率は限られてしまうという問題点がある。
本発明は上記問題に鑑みてなされ、乾燥時間を短かくし
、経済性を向上させ得る真空装置の洗浄方法を提供する
ことを目的とする。
、経済性を向上させ得る真空装置の洗浄方法を提供する
ことを目的とする。
上記目的は、真空装置内部に低温液化ガスをジェット状
に導入して各部を洗浄し、前記真を装置の底部に設けた
排出口から洗浄後の前記低温液化ガスを外部に排出する
ようにしたことを特徴とする真空装置の洗浄方法によっ
て達成される。
に導入して各部を洗浄し、前記真を装置の底部に設けた
排出口から洗浄後の前記低温液化ガスを外部に排出する
ようにしたことを特徴とする真空装置の洗浄方法によっ
て達成される。
低温液化ガスのジェット流によって例えば内壁面は洗浄
される。壁面は一般に常温であるtめ直ちに気化し、そ
こにできている液体境界層を乱す友め、ジェット流の働
らきと\もに流れの与える力を大きくする。洗浄力は水
と同程度、ま次はそれ以上であり、更に乾燥時間は水に
比べれば殆んど無視し得るほどに短かくなる。従って真
空装置の稼動効率を向上させることができる。
される。壁面は一般に常温であるtめ直ちに気化し、そ
こにできている液体境界層を乱す友め、ジェット流の働
らきと\もに流れの与える力を大きくする。洗浄力は水
と同程度、ま次はそれ以上であり、更に乾燥時間は水に
比べれば殆んど無視し得るほどに短かくなる。従って真
空装置の稼動効率を向上させることができる。
以上、本発明の実施例による真空装置の洗浄方法につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
第1図は本方法を具体化する第1実施例の洗浄装置を真
空装置と共に示す図でちゃ、真空容器(1)は例えば半
導体製造装置用であって、真空ポンプ(2)に管路(3
)及びバルブ(4)ヲ介して接続されている。
空装置と共に示す図でちゃ、真空容器(1)は例えば半
導体製造装置用であって、真空ポンプ(2)に管路(3
)及びバルブ(4)ヲ介して接続されている。
ま次上壁部には管路(6)及びリークバルブ(5)f:
介して窒素ガスタンク(7)に接続されている。
介して窒素ガスタンク(7)に接続されている。
真空容器(1)の側壁部にはゲートパルプ(8)が設け
られておフ、これに伸縮自在なべa−ズ(9)が連設さ
れている。ベローズ(9)内にはその端壁−に支持され
次液化ガス導入バイブαQが配設されておシ、その先端
部にノズルOηが取り付けられている。液化ガス導入パ
イプaQはフィルタ(ロ)を介して低温液化ガスタンク
(至)が接続されている。本実施例では低温液化ガスと
して液体窒素が用いられる。
られておフ、これに伸縮自在なべa−ズ(9)が連設さ
れている。ベローズ(9)内にはその端壁−に支持され
次液化ガス導入バイブαQが配設されておシ、その先端
部にノズルOηが取り付けられている。液化ガス導入パ
イプaQはフィルタ(ロ)を介して低温液化ガスタンク
(至)が接続されている。本実施例では低温液化ガスと
して液体窒素が用いられる。
真空容器(1)の底壁部は逆円錐形状となりており、こ
の排出用開口部にゲートバルブQ4が設けられ、これに
排出ダクト(至)が接続されている。
の排出用開口部にゲートバルブQ4が設けられ、これに
排出ダクト(至)が接続されている。
本発明の第1実施例は以上のように構成されるが、次に
この作用、効果などについて説明する。
この作用、効果などについて説明する。
真を装置の通常の使用状態ではバルブ(5)(8)α柳
は閉じておシ、バルブ(4)だけが開いて真空ポンプ(
2ンの働らきにより真空容器(1)内は真翌とされてい
る。
は閉じておシ、バルブ(4)だけが開いて真空ポンプ(
2ンの働らきにより真空容器(1)内は真翌とされてい
る。
真空容器(1)の洗浄に際しては、真空ポンプ(2)は
停止され、バルブ(4)は閉じられる。次いでリークパ
ルプ(5)を開いて、タンク(7)から窒素ガスが例え
は容器(1)内が大気圧になるまで導入される。
停止され、バルブ(4)は閉じられる。次いでリークパ
ルプ(5)を開いて、タンク(7)から窒素ガスが例え
は容器(1)内が大気圧になるまで導入される。
次いでゲートバルブ(8)t−開け、ベローズ(9)’
t 縮ませてパイプαQの先端部分及びノズル回ヲ容器
(1)内に尋人する。低温液化ガスタンク(至)からは
−定の圧カマフィルタ(6)を介して液化ガス(液体窒
素)がノズルcIυへと供給される。ノズル(lIυか
らはこの液化ガスがジェット流で吹き出し、例えば真空
容器(1)の内壁を洗浄する。なお、図示せずともノズ
ルσηもしくはパイプ(IQの先端部を回転させる機構
が設けられており、これにより容器(1)内をく′1な
くジェット流で吹きつけることができるものとする。場
合によっては、ゲートバルブ(3)、べa−ズ(9)、
ノズルσηなどの液化ガスの導入機構を容器(1)の9
1Il壁部の複数箇所に設けるようにしてもよい。
t 縮ませてパイプαQの先端部分及びノズル回ヲ容器
(1)内に尋人する。低温液化ガスタンク(至)からは
−定の圧カマフィルタ(6)を介して液化ガス(液体窒
素)がノズルcIυへと供給される。ノズル(lIυか
らはこの液化ガスがジェット流で吹き出し、例えば真空
容器(1)の内壁を洗浄する。なお、図示せずともノズ
ルσηもしくはパイプ(IQの先端部を回転させる機構
が設けられており、これにより容器(1)内をく′1な
くジェット流で吹きつけることができるものとする。場
合によっては、ゲートバルブ(3)、べa−ズ(9)、
ノズルσηなどの液化ガスの導入機構を容器(1)の9
1Il壁部の複数箇所に設けるようにしてもよい。
ゲートバルブ(8)と同時又はこの直後に底壁部のゲー
トバルブ04も開かれ、洗浄後の液化ガスはこのバルブ
Q◆及びダクト(ト)を弁して外部に排出される。容器
(1)の底壁部は逆円錐形状となっているので、容易に
排出口へと流出し、底壁部にfcまるということがなく
、乾燥がより効果的に行われる。
トバルブ04も開かれ、洗浄後の液化ガスはこのバルブ
Q◆及びダクト(ト)を弁して外部に排出される。容器
(1)の底壁部は逆円錐形状となっているので、容易に
排出口へと流出し、底壁部にfcまるということがなく
、乾燥がより効果的に行われる。
本実施例は以上のような作用を行うのであるが、次のよ
うな効果を奏するものである。
うな効果を奏するものである。
(1) 低温液化ガスとしての液体窒素は室温では気
体となるので乾燥が容易である。
体となるので乾燥が容易である。
(2) 液体窒素は容器(1)内をはゾ大気圧にする
ためのリークガスとしての窒素ガスと共に用いられてい
るが、窒素は吸着性がなく真空装置の洗浄には特に良い
結果を与える。
ためのリークガスとしての窒素ガスと共に用いられてい
るが、窒素は吸着性がなく真空装置の洗浄には特に良い
結果を与える。
(3) 洗浄媒体は液体であるので、洗浄力は水と同
程度ま友はそれ以上である。ま友壁面は室温であるので
、すぐ気化し、液体境界層を気体で乱す几め流れの与え
る力は大きくなる。
程度ま友はそれ以上である。ま友壁面は室温であるので
、すぐ気化し、液体境界層を気体で乱す几め流れの与え
る力は大きくなる。
(4)乾燥時間が水に比べれば皆無に等しいため真空装
置の稼動効率は向上する。液化ガスのコストを考慮して
も経済的効果は充分に大きいものである。
置の稼動効率は向上する。液化ガスのコストを考慮して
も経済的効果は充分に大きいものである。
第2図は本発明の第2実施例を示すが、図において第1
図に対応する部分については同一の符号を付すものとす
る。
図に対応する部分については同一の符号を付すものとす
る。
本実施例では、第1実施例と異なり液化ガスの導入機構
が排出機構と共に一体化して容器(1)の底部に設けら
れている。従って、図示せずとも第1図の1lIl壁部
に設けられている液化ガスの導入機構は省略されている
。
が排出機構と共に一体化して容器(1)の底部に設けら
れている。従って、図示せずとも第1図の1lIl壁部
に設けられている液化ガスの導入機構は省略されている
。
すなわち、第2図において、容器(1)の底壁部の排出
開口に設けられているゲートパルプ四には伸縮自在なべ
a−ズQυが連設されており、ぺa−ズΩυ内にはその
端壁t241に支持され次液化ガス導入パイプQ2が配
設されてお夛、その先端部にノズル[有]が取シ付けら
れている。液化ガス導入パイプのはフィルタ□□□を介
して低温液化ガスタンク(至)が接続されている。本実
施例でも低温液化ガスとして液体窒素が用いられる。″
1友端壁124)にはべa−ズQυ内に開口して排出ダ
クトムが接続されている。
開口に設けられているゲートパルプ四には伸縮自在なべ
a−ズQυが連設されており、ぺa−ズΩυ内にはその
端壁t241に支持され次液化ガス導入パイプQ2が配
設されてお夛、その先端部にノズル[有]が取シ付けら
れている。液化ガス導入パイプのはフィルタ□□□を介
して低温液化ガスタンク(至)が接続されている。本実
施例でも低温液化ガスとして液体窒素が用いられる。″
1友端壁124)にはべa−ズQυ内に開口して排出ダ
クトムが接続されている。
第2冥施例は以上のように構成されるが、作用。
効果については第1実施例と同様でおるので省略するが
、構成がより簡単となりている。
、構成がより簡単となりている。
以上、本発明の実施例について説明し次が、勿論、本発
明はこれに限定されることなく、本発明の技術的思想に
基づいて種々の変形が可能である。
明はこれに限定されることなく、本発明の技術的思想に
基づいて種々の変形が可能である。
例えば、以上の実施例では低温液化ガスとして液体窒素
が用いられ友が、これに限ることなく常温では気体であ
シ、冷却すれば液化するものであればよく、例えばフロ
ンガスが用いられてもよい。
が用いられ友が、これに限ることなく常温では気体であ
シ、冷却すれば液化するものであればよく、例えばフロ
ンガスが用いられてもよい。
また以上の実施例では、洗浄液導入パイプ及びノズルを
真空容器内に導入するのにべa−ズを用い友が、これに
限ることなく一般に、真空装置等で用いられている方式
であれば何でも適用可能である。
真空容器内に導入するのにべa−ズを用い友が、これに
限ることなく一般に、真空装置等で用いられている方式
であれば何でも適用可能である。
ま友、ガスとしてフaン障やフロン22ヲ用いれば、冷
凍機を取りつけて閉サイクルで比較的、安価に洗浄系を
つくることが可能となる9例えば、真空容器内への導入
パイプと洗浄液排出口とを結ぶパイプ途中に冷凍機を介
在させ、更にパイプにダストを除くフィルタを設けるよ
うにしておけばよい。
凍機を取りつけて閉サイクルで比較的、安価に洗浄系を
つくることが可能となる9例えば、真空容器内への導入
パイプと洗浄液排出口とを結ぶパイプ途中に冷凍機を介
在させ、更にパイプにダストを除くフィルタを設けるよ
うにしておけばよい。
ま比以上の実施例では真空容器の内壁を洗浄する場合を
説明し九が、勿論、これに限ることなく、この容器内に
配設され九谷槙のアダプタや容器を洗浄するようにして
もよい− 〔発明の効果〕 以上述べ友ように本発明の真空f!置の洗浄方法によれ
ば、乾燥時間全非常に短かくして経済性を向上させるこ
とができる。
説明し九が、勿論、これに限ることなく、この容器内に
配設され九谷槙のアダプタや容器を洗浄するようにして
もよい− 〔発明の効果〕 以上述べ友ように本発明の真空f!置の洗浄方法によれ
ば、乾燥時間全非常に短かくして経済性を向上させるこ
とができる。
第1図は本発明の第1実施例による洗浄装置を真空装置
と共に示す側面図、及び第2図は本発明の第2実施例に
よる洗浄装置を真空装置と共に示す側面図である。 なお図において、
と共に示す側面図、及び第2図は本発明の第2実施例に
よる洗浄装置を真空装置と共に示す側面図である。 なお図において、
Claims (1)
- 真空装置内部に低温液化ガスをジェット状に導入して各
部を洗浄し、前記真空装置の底部に設けた排出口から洗
浄後の前記低温液化ガスを外部に排出するようにしたこ
とを特徴とする真空装置の洗浄方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15292386A JPH0698290B2 (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 真空装置の洗浄方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15292386A JPH0698290B2 (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 真空装置の洗浄方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS637831A true JPS637831A (ja) | 1988-01-13 |
JPH0698290B2 JPH0698290B2 (ja) | 1994-12-07 |
Family
ID=15551101
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15292386A Expired - Lifetime JPH0698290B2 (ja) | 1986-06-30 | 1986-06-30 | 真空装置の洗浄方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0698290B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6058078A (en) * | 1998-05-15 | 2000-05-02 | Ishiguro; Ken | Information recording disc demagnetization apparatus |
-
1986
- 1986-06-30 JP JP15292386A patent/JPH0698290B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6058078A (en) * | 1998-05-15 | 2000-05-02 | Ishiguro; Ken | Information recording disc demagnetization apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0698290B2 (ja) | 1994-12-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100187445B1 (ko) | 웨이퍼 세정 방법 및 장치 | |
CN106252260A (zh) | 晶圆清洗装置和清洗方法 | |
TW589657B (en) | High pressure processing chamber for semiconductor substrate including flow enhancing features | |
KR20100023774A (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
JPS58106186A (ja) | トラツプ装置 | |
JPS637831A (ja) | 真空装置の洗浄方法 | |
JP3457758B2 (ja) | 超臨界流体を利用した洗浄装置 | |
JP2001102351A (ja) | 超清浄液体を備えた濯ぎ洗いタンク | |
KR100929364B1 (ko) | 초임계 세정장치 및 방법 | |
JPH0611435B2 (ja) | 真空洗浄装置 | |
JP3961749B2 (ja) | 基板洗浄装置及び基板処理装置、基板処理方法 | |
JP2006292261A (ja) | 被洗浄物の乾燥装置及び蒸気洗浄装置 | |
JPH03288582A (ja) | 配管内などの液体の流通経路の洗浄方法 | |
JPH1147704A (ja) | 粉粒体処理装置およびその洗浄方法 | |
KR20110058560A (ko) | 백 노즐 어셈블리 및 이를 구비한 기판 처리 장치 | |
JPH11216437A (ja) | 超臨界流体洗浄方法及び超臨界流体洗浄装置 | |
JP3397241B2 (ja) | 部品類の乾燥方法及び乾燥装置 | |
JPH02277236A (ja) | 洗浄装置 | |
JP3243875U (ja) | クイックコネクタ洗浄機 | |
JPH06252115A (ja) | 被洗浄物の洗浄方法 | |
JP2920855B2 (ja) | 洗浄処理装置 | |
JP4260820B2 (ja) | 処理装置 | |
KR20230019734A (ko) | 기판처리장치 | |
JP2001077075A (ja) | 処理装置及び処理方法 | |
JPH0574752A (ja) | 洗浄装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |