JPS63293405A - 光デイスク円板特性測定法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ディスク円板の機械的特性の測定法に係り、
特に円板の上下振れ量、傾き角を簡便に測定する方法に
関するものである。

〔従来の技術〕

従来の方法は、実開昭６１−１６１７０４号、実開昭６
１−１６１６１２号に記載のように、測定しようとする
光ディスク円板１をモーター２０により駆動されるター
ンテーブルにのせて回転させ、測定用光ヘッド２１を用
いて上下振れ、傾き角を測定する（第４図参照）。すな
わち光ヘッド２１の位置を、検出アンプ２４．ドライバ
ーアンプ２５を通し焦点サーボを行うことにより光ディ
スク円板の動きに、完全に従わせ、この光ヘッドの動き
を別の検出手段２２を用い、検出アンプ２３を用いて増
巾し、更に上記誤差信号とを加算器２６により加算し測
定することにより１円板の動きを測定するようになって
いた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記従来技術はその測定原理から、高精度な光ヘッドお
よびサーボメカニズムを必要とし、従って装置が高価に
なる問題があった。また光ヘッドが光ディスク円板に追
従する必要があるため上下振れや傾き角の大きな円板は
測定が難しく、円板の反射率にも制約があった。

本発明の目的は、これらの問題を解消し、安価で、少な
い制約の下で、円板の上下振れ量および傾き角の測定が
可能な方法を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記目的は、光ディスク円板に形成されている。

情報の記録用または再生用光ビームの案内トラックによ
る光の回折を利用して達成することができる。すなわち
、円板の案内トラック部にレーザ光を照射し、案内トラ
ックにより入射レーザ光とレーザ光入射部の案内トラッ
ク方向を含む面の両側に回折された光の方向が１円板の
上下振れや傾きにより変化することを光位置検出器を用
いて検出することで達成される。

［作用〕 この原理を第２図により説明する。第２図（ａ）におい
て、光ディスク円板の案内トラック部２にレーザ光３を
入射すると、案内トラック部の規則的な凹凸あるいは濃
淡パターンにより、案内トラックの左右方向に回折光４
＋、ｅ　４Ｒを生ずる。

ここでは案内トラック方向は紙面に垂直としている。レ
ーザ光３を円板に垂直に入射すると、回折光４Ｌと４Ｒ
のレーザ光とのなす角は等しい。これをマとする。全円
板が角度ΔＴだけ傾くと回折光４Ｌ　、４Ｒの方向はΔ
マだけ変化し。

Δマ＝−Δψ／ｃｏｓマ となる。回折光４ｔ、、４Ｒは円板が傾いた方向にへマ
たけ傾く、第２図（Ｌ）において回折光の方向に２個の
光位置検出器５＋、、５Ｒを置く０円板のレーザ光入射
位置から光位置検出器５Ｌ　、　５Ｒ迄の距離は等しく
し、０とすると、光位置検出器上での回折光の位置変化
量δ２は δ２ニーΩ・Δ＜Ｐ／ｃｏｓψ となる、２個の光位置検出器の極性は図のように、入射
レーザ光に面した側の極性を同一にそろえる。

この場合、光位置検出器（例えば、浜松ホトニクス製Ｐ
ＳＤ　（半導体装置検出素子）８１３００）５Ｌ　、５
Ｒはそれぞれが互に極性の異なる回折光の位置変化量δ
２に比例した出力を発生し、この値から円板の傾き角Δ
Ｔを求めることが出来る。

円板が傾かずに平行に上下した場合を第２図（ｂ）に示
す。円板の上下移動量をΔとすると、光位置検出器５＋
、、５Ｒ上での回折光の位置変化量δ！は同一極性で δ！＝Δｓｉｎマ となり、δ１を測定することにより、円板の上下移動量
、すなわち上下振れΔを求めることが出来る。

〔実施例〕

以下、本発明の一実施例を第１図により説明する０円板
１上に形成された円板案内溝部２に測定用レーザ光３を
円板にほぼ垂直に入射する０円板上の入射位置から距離
が等しく、レーザ光の左右方向の案内溝による回折光受
光位置に光位置検出器（例えば、浜松ホトニクス製ＰＳ
Ｄ、　５１３００）５ｃ、　、　５Ｒを置く、光位置検
出器５Ｌ、ＳＲの極性は図示のように入射レーザ光に面
する側を同一にそろえる。光位置検出器５ＩＪ、５Ｒか
らの出力は、差動増巾器６ム、６Ｒでそれぞれ増巾され
た後、加算器７および減算器８にそれぞれ入力し。

和出力Ｖａ、差出力Ｖｂとなる。和出力には円板の傾き
の影響は左右の光位置検出器での極性が異なるため、相
殺されて出ない、また同様に差出力には円板の上下振れ
の影響は相殺されて出ない。

この和出力および差出力がそれぞれ、円板の上下振れ量
および傾き角に比例する量であり、加算器７および減算
器８の利得を調整することにより、上下振れ量と傾き角
を直接求めることが出来る。

第３図には本発明の他の実施例を示す。ここでは回折光
４Ｌ　、４Ｒがレーザ光３の光量変動や、゛円板反射率
の差、案内溝パターン形状の差などにより一定でない場
合の実施例を示す、光位置検出器５ム、５Ｒからの出力
はそれぞれ、第１の加算器６ＬＤ　、　６ＲＤ第１の減
算器６　Ｌｍ　、　６８Ｎによりそれぞれの和と差をと
られる０次いで割算器９Ｌ　。

９Ｒで各差と和の比を演算され、これにより前述の各種
変動要因を除去した規格化出力１０ｉｐ１０Ｒを得る。

この出力１０Ｌ、１０Ｒは第１図に示す加算器７と減算
器８に入り、その出力がそれぞれ円板上下振れ量、傾き
量となる。このようにして、変動要因があっても正しく
上下振れ量と傾き角を得ることが可能である。

〔発明の効果〕

以上本発明によれば、案内トラックを有する光ディスク
円板の上下振れ量および傾き角を簡易な装置を用いて精
度よく測定することが可能となり光ディスク円板の検査
コストの低減をもたらし、情報記録再生用光ディスク円
板の大量生産に応えることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す概略図、第２図（ａ）
〜（Ｑ）は本発明の原理を示す図、第３図は本発明の別
の実施例を示す部分構成図、第４図は従来例を示すブロ
ック図である。 ２・・・円板案内溝部、３・・・レーザ光、４ム、４Ｒ
・・・左、右方向への回折光、５Ｌ　、５Ｒ・・・光位
相検出器、６Ｌ　、６Ｒ・・・差動増巾器、７・・・加
算器、８・・・減算器、９ｔ、　、　９Ｒ・・・割算器
、　Ｖａ、Ｖｂ・・・上下振れ出力および傾き負出力、
２１・・・光ヘッド、２２・・・光ヘッドの動き検出手
段、２３．２４・・・プリアンプ、２５・・・ドライバ
ーアンプ、２６・・・加算器、２７・・・測定出力。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、凹凸形状あるいは濃淡パターンにより情報の記録ま
   たは再生光ビームの案内トラックが形成されている光デ
   ィスク用円板の上下振れ量および傾き角を測定する方法
   であつて、案内トラック部にレーザ光を照射し、案内ト
   ラックにより、レーザ光とレーザ光入射部の案内トラッ
   ク方向を含む面の両側に回折された光を、両側に設置さ
   れた２個の光位置検出器により検出し、２個の光位置検
   出器出力の和から、円板の上下振れ量を、差から円板の
   傾き角を測定することを特徴とする光ディスク円板特性
   測定方法。