JPH03245326A - 光記録再生装置 - Google Patents

光記録再生装置

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JPH03245326A
JPH03245326A JP4323190A JP4323190A JPH03245326A JP H03245326 A JPH03245326 A JP H03245326A JP 4323190 A JP4323190 A JP 4323190A JP 4323190 A JP4323190 A JP 4323190A JP H03245326 A JPH03245326 A JP H03245326A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
tracking error
photodetector
guide groove
order diffracted
Prior art date
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Pending
Application number
JP4323190A
Other languages
English (en)
Inventor
Michihiro Tadokoro
通博 田所
Kazuo Okada
和夫 岡田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP4323190A priority Critical patent/JPH03245326A/ja
Publication of JPH03245326A publication Critical patent/JPH03245326A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は情報担体面に情報を光学的に記録し、また再
生・消去する光記録再生装置の光ヘッドに関するもので
ある。
〔従来の技術〕
第6図は例えば実開昭61−68322号公報に記載さ
れた従来の光記録再生装置の光ヘッドを示す光路図であ
る。図において、(1)は光束(11)を放射する半導
体レーザ等からなる光源であり、出力光量が一定又はパ
ルス変調制御されている。(2)は光束(11)の光路
に配置されたハーフミラ−であり、光束(11)を後述
する対物レンズに導く光学系を構成している。(3)は
ハーフミラ−(2)で90°変向された光束(12)が
入射される対物レンズ、(4)は対物レンズ(3)を介
した光束(12)が照射される光ディスク等の情報担体
である。尚、この場合、対物レンズ(3)に入射される
光束(12)は放射状であるが、平行光束であってもよ
い。
(5)および(6)は2分割光検知器であり一1情報担
体(4)で反射されて対物レンズ(3)およびハーフミ
ラ−(2)を経た光束(13)が入射されるようになっ
ている。(7)は各2分割光検知器(5)および(6)
の各出力信号(5a)および(6a)の差をとる演算増
幅器である。
次に動作について説明する。
半導体レーザの光源(1)から発せられた光束(11)
は、ハーフミラ−(2)によって90’側方に変向され
、対物レンズ(3)によって情報担体(4)上に投射さ
れ、合焦状態にあるときはここに直径路1μm程度の微
小光スポットを形成する。情報担体(4)からの反射光
は対物レンズ(3)およびハーフミラ−(2)を経て2
分割光検知器(5)、(6)に投射され、この2分割光
検知器(5)、(6)に対する入射光束(13)の入射
光量の分布に基いて演算増幅器(7)は情報担体(4)
に対する微小光スポットのトラッキングエラー検出信号
Eを検出する。このトラッキングエラー検出信号Eに基
づいて対物レンズ(3゛)が同図矢印下方向へ駆動され
ることによりトラッキング制御は行われる。一方、図示
しないフォカスエラー検出光路系により情報担体(4)
に対する微小光スポットのフォーカシングエラーが検出
され、そのフォーカシングエラー検出信号に基づいて対
物レンズ(3)が同図矢印F方向へ駆動されることによ
りフォーカス制御も行われる。
次にトラッキングエラー検出態様について説明する。第
7図(イ)、(ロ)、(ハ)、(ニ)は左側に情報担体
(4)の部分平面図を示し、またその中央に光ヘッドの
光路図を、更にその右側に2分割光検知器(5)、(6
)に入射する入射光量の分布説明図を示す(わかりやす
くするため拡大している)。まず2分割光検知器(5)
、(6)に入射する入射光束(13)について説明する
。入射光束(13)は大きく三つの領域に分割され、案
内溝(4a)による+1次回折光とO次回折光が重なり
合う領域(13a)と、−1次回折光と0次回折光が重
なり合う領域(13b)と、O次回折光のみの領域(1
3c)に分割される。
今、第7図(イ)、(ハ)に示すように微小光スポット
が情報担体(4)に設けられた案内溝(4a)の溝中心
もしくは溝間中心に位置する場合、+1次回折光の強度
は等しく領域(13a)と(13b)は等強度となり、
その結果、2分割光検知器(5)、(6)に入射する光
量はそれぞれ等しくなる。
ところが第7図(ロ)、(ニ)に示すように微小スポッ
トが案内溝(4a)の片側に位置ずれした場合は、案内
溝(4a)による回折の影響のため、第5図(ロ)では
+1次回折光の強度(斜線を於した側)が−1次回折光
に比べて弱くなり2分割光検知器(5)に対する入射光
の光量が2分割光検知器(6)に対する入射光の光量に
比べて少なくなる。逆に微小スポットが案内溝(4a)
の反対側に位置ずれした時は、第5図(ニ)の如く、2
分割光検知器(6)に対する入射光(斜線を施した部分
)の入射光量が2分割光検知器(5)に対する入射光の
光量に比べて少なくなる。従って、2分割光検知器(5
)、(6)の出力差を検出することによって微小光スポ
ットが案内溝(4a)に対して整合しているか否か、ま
たいずれの側に位置ずれしているかを検出し得ることと
なる。これがいわゆる回折光方式(プッシュプル方式)
等と呼ばれるトラッキング検出法である。
次に第8図に示すように、対物レンズ(3)が案内溝に
追従した結果矢印下方向に大きく移動した場合について
考えてみる。
この時は2分割光検知器(5)、、(6)への入射光束
(13)も図に示す如く移動してしまう。
この状態を詳しく示したのが第9図である。微小スポッ
トは案内溝(4a)の溝中心にある。従って、上述の如
く+1次回折光の強度は等しい状態となっているが、対
物レンズ(3)が矢印下方向に移動しているため2分割
光検知器(5)、(6)に入射する入射光束(13)は
同じく矢印下方向へと移動してしまう。この結果2分割
光検知器(5)への入射光量の方が2分割光検知器(6
)への入射光量よりも大きくなってしまいトラッキング
エラー検出信号にはオフセット(DCオフセット)が発
生してしまう。
第10図は情報担体(4)が傾いた場合(対物レンズは
移動していない)であるが、この場合も同様にトラッキ
ングエラー検出信号にオフセットが発生してしまう。
[発明が解決しようとする課題] 従来の光記録再生装置は以上のように構成されているの
で、トラッキング制御時に対物レンズ(3)がトラッキ
ング方向(第8図矢印下方向)へ移動した時、あるいは
情報担体(4)が傾いた時に、2分割光検知器(5)、
(6)への入射光束(13)も移動しトラッキングエラ
ー検出信号にオフセットが発生し、トラッキング制御の
障害となる問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、対物レンズがトラッキング制御方向へ移動し
たり、あるいは情報担体が傾いたりしてもトラッキング
エラー検出信号に発生するオフセットをキャンセルする
ことができる光記録再生装置を得ることを目的とする。
〔課題を解決するための手段] この発明に係る光記録再生装置は光検知器にO次回折光
を主に受光する2分割された第2の受光領域を設け、対
物レンズの移動もしくは情報担体の傾きにより生じる入
射光束のズレな検出するようにしたものである。
[作用] この発明における光記録再生装置は検出された入射光束
のズレを通常のトラッキングエラー検出信号にフィード
バックをかけることによりトラッキングエラー検出信号
に生じるオフセットをキャンセルし、正しいトラッキグ
エラー検出信号を得るようにする。
[実施例] 以下この発明の一実施例を第1図ないし第3図について
説明する。
第1図において(1)乃至(4)および(11)乃至(
13)は従来と同一なので説明を省略する。(14)は
本発明による光検知器であり、第2図に示すように案内
溝(4a)からの±1次回折光と0次回折光が重なり合
う領域(13a)。
(13b)を主に受光する一対の第一の受光領域(14
a)、(14b)と、主にO次回折光のみからなる領域
(13C)を受光する一対の第2の受光領域(14c)
、、(14d)とからなっている。第2の受光領域(1
4c)は案内溝(4a)の延在する方向と同方向の分割
線で区分(14cm1)、(14cm2)に更に2分割
されている(15)は一対の第一の受光領域(14a)
(14b)の出力の差信号(El)を作る演算増幅器、
(16)は2分割された区分(14cm1)、(14c
m2)の出力の差信号(E2)を作る演算増幅器、(1
7)は差信号(E2)をK(定数)倍し、差信号(K’
E2)を得るためのゲイ調整用増幅器、(18)は差信
号(El)と(K ’ E 2 )の差動をとりトラッ
キングエラー検出信号(E)を得る演算増幅器である。
次に動作について説明する。
従来と同様、情報担体(4)土の微小スポットと案内溝
(4a)の位置ズレに応じて±1次回折光の強度が変化
し、光検知器(14)へ入射する光束のうち±1次回折
光とO次回折光が重なる領域(13a)、(13b)の
強度変化が生じる。
従って領域(13a)、(13b)を主に受光する光検
知器(14)の一対の第一の受光領域(14a)、(1
4b)の差信号(El)は従来と全く同様の原理でトラ
ッキングエラー信号を表わすこととなる。
一方、O次回折光のみの領域(13C)については、微
小スポットと案内溝(4a)の位置ズレに関係なく(第
7図参照)、2分割された区分(14cm1)、(14
cm2)に均等に入射する。従って今の場合、2分割さ
れた区分(14c1)、(14cm2)の出力の差信号
(E2)は零となる。
以上より、第一の受光領域(14a)、(14b)の出
力の差信号(E、)と2分割された区分(14cm1)
、(14cm2)の出力の差信号(E2)との差動をと
る演算増幅器(18)の出力Eは従来と同様トラッキン
グエラー信号を示すこととなる。
次に、対物レンズ(3)がトラッキング制御により大き
く移動したりもしくは情報担体(4)が傾いて光検知器
(14)へ入射する光束(13)が移動した場合につい
て考える。第3図はその状況を示す図である。
第3図は入射光束(13)が図において上側にずれた時
を示している。±1次回折光とO次回指光が重なり合う
領域(13a)、(13b)は同様に一対の第一の受光
領域(14a)、(14b)へと入射するが、光束(1
3)全体が図中上側へ移動しているので受光領域(14
a)へ入射する光量の方が大きくなってしまう。
従って一対の第一の受光領域(14a)、(14b)の
出力の差信号(’El)には入射光束(13)の移動に
応じたオフセット(今の場合、マイナスのDCオフセッ
ト)が発生する。
一方、0次回指光のみの領域(13c)を受光する2分
割された区分(14cm]、)、(14c2)に入射す
る光束(13)が図中上方へ移動するため均等でなくな
り、今の場合区分(14C1)へ入射する光量の方が区
分(14cm2)に比べて大きくなる。
従って2分割された区分(14c −1,) ;  (
14cm2)の出力の差信号(E2)はマイナス出力と
なる。また明らかなようにこの差信号(E2)も光束(
13)の移動量に応じて変化する。
この差信号(E2)を適当に増幅(定数=K)してやり
先程の差信号(El)との差動をとれば差信号(El)
に生じたDCオフセットをキャンセルすることが可能と
なる。
以上の様にこの発明によればO次回指光を受光する2分
割された区分(14cm1)、(14c2)が入射光束
(13)のずれ検知手段として働き、その差信号(K 
−E2 )を、±1次回折光と0次回指光とが重なる領
域(13a)、(13b)を受光する第一の一対の受光
領域(’ 14. a )(14b)の差信号(El)
と差動をとること1 2 により差信号(El)に発生したオフセットをキャンセ
ルすることが可能となり、正しいトラッキングエラー検
出信号を得ることが出来る。
尚上記説明では一対の第二の受光領域のうち一方(14
c)のみを2分割としているがもう一方(14d)も2
分割して同様に差信号を得ても同様の効果が得られ、ま
た、両者を併用することも可能である。
更に以上の説明では第二の受光領域は一対であるとして
きたが第4図に示すように中央部分てつなげてやっても
同様の効果を秦する。この図において、(20a)、(
20b)は±1次回折光と0次回指光が重なり合う領域
(13a)、(13b)を主に受光する一対の第一の受
光領域である(20cm1)、(20cm2)は2分割
された第二の受光領域であり、主にO次回指光を受光し
ているのは上記と同様である。
次に第5図を参照してこの発明の更に別の実施例を示す
。第5図(a)は入射光束(13)がずれていない時、
第5図(b)はずれている時な示している。
光検知器(19)は、第1図の光検知器(14)に対応
するものであり、±1次回折光とO次回指光が重なり合
う領域(13a)、(13b)を主に受光する一対の第
一の受光領域(19a)。
(19b)と、0次回指光のみの領域(13c)を受光
するが特に領域(13c)の周辺部を受光するようにな
されかつその有効受光面形状が案内溝(4a)が延在す
る方向よりもそれに直交する方向が長くなるように設け
られた一対の第二の受光領域(19c)、(19d)と
からなり、第二の受光領域のうち少なくとも一方(19
c)は更に案内溝(4a)が延在する方向の分割線で二
つの区分(1,9cm1.)、(19cm2)に分割さ
れている。
ここでも2分割された区分(19cm1)、(19cm
2)はその差信号(E2)が入射光束のずれを検出する
手段として働き、一対の第一の受光領域(19a)、(
19b)の差信号(El)にフィードバックをかけるこ
とにより正しいトラッキングエラー検出信号を得ること
が出来る。
第5図に示す実施例の場合、2分割されている区分(1
,9cm1)、(19cm2)は入射光束の周辺部分を
入射光束の移動方向に細長く受光するような形状となっ
ているので、入射光束(,13)の移動の検出感度がよ
り高くなる形態となっている。
また本実施においても先に述べた実施例と同様に第二の
受光領域のうちの他方(19d)についても2分割して
信号を得るようにしても同等に効果を奏する。
[発明の効果] 以上の様にこの発明によれば光検知器上に、主に0次回
指光のみの領域を受光する2分割された区分を設けて光
検知器に対する入射光束のズレ検出手段とし、これより
得られた信号を、±1次回折光とO次回指光が重なり合
う領域の受光領域から得られる通常のトラッキングエラ
ー信号にフィードバックすることにより、トラッキング
エラー検出信号に生じるオフセットをキャンセルし正し
いトラッキングエラー検出信号を得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による光記録再生装置の光
路図、第2図は第1図の要部詳細図、第3図は第1図の
動作説明図、第4図はこの発明の他の実施例の要部詳細
図、第5図はこの発明の更に他の実施例の要部詳細図、
第6図は従来の光記録再生装置の光路図、第7図は従来
のプッシュプルトラッキングエラー検出方式の説明図、
第8図は従来の光記録再生装置の動作説明図、第9図は
第8図に関してより詳しく説明するだめの図、第10図
は第8図に関してトラッキングエラー検出信号にオフセ
ットが生じる他の場合を説明するための図である。 図において(1)は光源、(3)は対物レンズ(14)
は光検知器、(14a)、(14b)は一対の第一の受
光領域、(14c)、(14d)は一対の第二の受光領
域、(14cm1)、(14cm2)は2分割された第
二の受光領域、(5 6 19)は光検知器、(19a)、(19b)は−対の第
一の受光領域、(19c)、(19d)は一対の第二の
受光領域、(1,,9c −1)、’、  (F2O−
2)は2分割された第二の受光領域、(20)光検知器
、(20a)、(20b)は一対の受光領域、(20c
m1)、(20cm2)は2分割された第二の受光領域
を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光源からの光束を対物レンズを経て情報担体上に光
    スポットとして収束させる光学的手段と、前記情報担体
    上に設けられた案内溝による回折光からなる反射光を検
    出する光検知器とを備え、該光検知器の出力によって前
    記光スポットと前記案内溝とのずれを検出するトラッキ
    ングエラー検出方式の光記録再生装置において、 上記光検知器を、上記案内溝からの±1次回折光と0次
    回折光とが重なる光束部分を主に受光する一対の第一の
    受光領域と、0次回折光のみからなる光束部分を主に受
    光する一対の第二の受光領域とに分割し、更に該第二の
    受光領域の少なくとも一方を上記案内溝が延在する方向
    と等しい方向の分割線で更に2分割し、該2分割された
    第二の受光領域の出力の差信号と前記一対の第一の受光
    領域の出力の差信号との差動をとることにより、上記光
    スポットと案内溝とのずれを検出するようにしたことを
    特徴とする光記録再生装置。
JP4323190A 1990-02-22 1990-02-22 光記録再生装置 Pending JPH03245326A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2007072683A1 (ja) * 2005-12-22 2007-06-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 光ディスク装置
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