JPS63287892A - ドツトパタ−ンチエツク装置 - Google Patents
ドツトパタ−ンチエツク装置Info
- Publication number
- JPS63287892A JPS63287892A JP62121176A JP12117687A JPS63287892A JP S63287892 A JPS63287892 A JP S63287892A JP 62121176 A JP62121176 A JP 62121176A JP 12117687 A JP12117687 A JP 12117687A JP S63287892 A JPS63287892 A JP S63287892A
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- Pending
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- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ドツトパターンチェック装置、特にセル幅・
セル高サイズの異なるドツトパターンの異同をチェック
するドツトパターンチェック装置に関するものである。
セル高サイズの異なるドツトパターンの異同をチェック
するドツトパターンチェック装置に関するものである。
[従来の技術]
従来、ドツトパターンをチェックする場合は、デザイン
の基本となるパターンと新規に作成されたパターンの印
刷物を人の目で比較していた。
の基本となるパターンと新規に作成されたパターンの印
刷物を人の目で比較していた。
又、異なるサイズのパターンをチェックする場合には、
印刷物を並べたり両パターンが混在するデータをつくっ
たりしていた。
印刷物を並べたり両パターンが混在するデータをつくっ
たりしていた。
しかしながら上記従来の方法では、時間がかかるし細い
部分のチェック漏れがあった。特に、サイズが異なるパ
ターンのチェックの場合には、異なるサイズのパターン
間での字体等のチェックは困難であり、チェックを行っ
たとしても、信頼性が低くチェック漏れがあった。
部分のチェック漏れがあった。特に、サイズが異なるパ
ターンのチェックの場合には、異なるサイズのパターン
間での字体等のチェックは困難であり、チェックを行っ
たとしても、信頼性が低くチェック漏れがあった。
[発明が解決しようとしている問題点]本発明は、ドツ
トパターンの異同を簡単にチェックするドツトパターン
チェック装置を提供する。
トパターンの異同を簡単にチェックするドツトパターン
チェック装置を提供する。
[問題点を解決するための手段]
この問題点を解決するための一手段として、本発明のド
ツトパターンチェック装置は、ドツトパターンを入力す
るパターン入力手段と、該パターン入力手段から入力さ
れた複数のパターンの大きさを比較するパターン比較手
段と、該パターン比較手段の比較結果に基づいてパター
ンの大きさを変更し、前記複数のパターンの大きさを同
じにするパターン変更手段と、該パターン変更手段によ
り同じ大ぎさになった前記複数のパターンの違いをドツ
ト単位で表示するパターン表示手段とを備え、ドツトパ
ターンのデザインチェックを行なう。
ツトパターンチェック装置は、ドツトパターンを入力す
るパターン入力手段と、該パターン入力手段から入力さ
れた複数のパターンの大きさを比較するパターン比較手
段と、該パターン比較手段の比較結果に基づいてパター
ンの大きさを変更し、前記複数のパターンの大きさを同
じにするパターン変更手段と、該パターン変更手段によ
り同じ大ぎさになった前記複数のパターンの違いをドツ
ト単位で表示するパターン表示手段とを備え、ドツトパ
ターンのデザインチェックを行なう。
[作用]
かかる構成において、パターン入力手段から入力された
複数のパターンは、パターン比較手段で大きさを比較さ
れ、比較結果に基づいて、パターン変更手段で前記複数
のパターンを同じ大きさにするよう変更されて、パター
ン表示手段に前記複数のパターンの違いをドツト単位で
表示する。
複数のパターンは、パターン比較手段で大きさを比較さ
れ、比較結果に基づいて、パターン変更手段で前記複数
のパターンを同じ大きさにするよう変更されて、パター
ン表示手段に前記複数のパターンの違いをドツト単位で
表示する。
[実施例]
以下添付図面を参照しながら、本発明の一実施例を説明
する。
する。
第1図は、本実施例のドツトパターンチェック装置を示
すブロック図である。1はドットパターンを入力するパ
ターン入力部である。本例では、サイズの小さいドツト
パターン(以下パターンaとする)と、パターンaより
大きいドツトパターン(以下パターンbとする)を入力
する。
すブロック図である。1はドットパターンを入力するパ
ターン入力部である。本例では、サイズの小さいドツト
パターン(以下パターンaとする)と、パターンaより
大きいドツトパターン(以下パターンbとする)を入力
する。
2はホストコンピュータ等の制御装置であり、制御を司
どるCPU3と、CPU3の動作手順を格納するROM
4と、パターンa、パターンbをそれぞれの倍率で格納
するRAM5a、5bと、拡大されたパターンa、パタ
ーンbを格納するRAM6a、6bと、RAM6bから
拡大されたパターンbを読み込み、デザインミス部分を
書き込むRAM7と、パターンa、パターンbのそれぞ
れのセル幅・セル高の最小公倍数(以下、LCM)の値
を格納するLCMC二値ア8と、CRTIIに表示され
ているデータが反転しているかどうかを示す反転フラグ
9と、拡大されたパターンa、パターンbを比較した結
果、異なった部分のアドレス番地を格納しておくアドレ
ステーブル10とから成る。
どるCPU3と、CPU3の動作手順を格納するROM
4と、パターンa、パターンbをそれぞれの倍率で格納
するRAM5a、5bと、拡大されたパターンa、パタ
ーンbを格納するRAM6a、6bと、RAM6bから
拡大されたパターンbを読み込み、デザインミス部分を
書き込むRAM7と、パターンa、パターンbのそれぞ
れのセル幅・セル高の最小公倍数(以下、LCM)の値
を格納するLCMC二値ア8と、CRTIIに表示され
ているデータが反転しているかどうかを示す反転フラグ
9と、拡大されたパターンa、パターンbを比較した結
果、異なった部分のアドレス番地を格納しておくアドレ
ステーブル10とから成る。
11はRAM7の内容を表示するCRTである。
次に、第2図のアドレステーブルの内容例を示す図と第
3図の拡大用RAM6a、6bの内容例を示す図とを用
いて、簡単な動作説明゛を行う。ここでは、パターンa
として、セル幅8ビツト。
3図の拡大用RAM6a、6bの内容例を示す図とを用
いて、簡単な動作説明゛を行う。ここでは、パターンa
として、セル幅8ビツト。
セル高12ドツトの゛?°゛マークと、パターンbとし
てセル幅16ドツト、セル高24ドツトの“?゛マーク
のチェックを行う。尚、本実施例ではRAM6a、6b
は、それぞれ8ビツトであるとした。
てセル幅16ドツト、セル高24ドツトの“?゛マーク
のチェックを行う。尚、本実施例ではRAM6a、6b
は、それぞれ8ビツトであるとした。
まず、両パターンのセル幅、セル高よりLCMを求め、
それぞれの倍率を求める。本例ではセル幅のLCMは1
6ドツト、セル高のLCMは24ドツトであり、倍率と
してはパターンaを幅・高さ共に2倍にしてパターンa
′をつくり、パターンbの方は幅・高さ共に1倍なので
、そのままでパターンb′とする。
それぞれの倍率を求める。本例ではセル幅のLCMは1
6ドツト、セル高のLCMは24ドツトであり、倍率と
してはパターンaを幅・高さ共に2倍にしてパターンa
′をつくり、パターンbの方は幅・高さ共に1倍なので
、そのままでパターンb′とする。
次に、第3図に示すように、拡大されたパターンa′と
パターンb′の両方のパターンの番地から各ドツトの0
N10FFの排他的論理和をとる。この結果を第2図に
示すように、ドツトが等しい(以下、NULL)であれ
ばアドレステーブル10にNULLをいれ、0番地のよ
うに結果がNULLでなければ、アドレス番地O番地を
アドレステーブル10に格納する。こうして異なる部分
のみのアドレス番地を抜き出し、その番地のドツトパタ
ーンをパターンa′ とパターンb′とで入れ替えるこ
とで、異なる部分をCRTIIに反転させで表示し、デ
ザインミスを発見させる。
パターンb′の両方のパターンの番地から各ドツトの0
N10FFの排他的論理和をとる。この結果を第2図に
示すように、ドツトが等しい(以下、NULL)であれ
ばアドレステーブル10にNULLをいれ、0番地のよ
うに結果がNULLでなければ、アドレス番地O番地を
アドレステーブル10に格納する。こうして異なる部分
のみのアドレス番地を抜き出し、その番地のドツトパタ
ーンをパターンa′ とパターンb′とで入れ替えるこ
とで、異なる部分をCRTIIに反転させで表示し、デ
ザインミスを発見させる。
第4図に示す本実施例のドツトパターンチェック装置の
フローチャートを用い、より詳しく制御手順の説明を行
う。ステップS1でCPU3は、反転フラグ9.アドレ
ステーブル10などの初期化を行う。ステップS2で、
MT、FD等に格納されているパターンaをパターン入
力部1からRAM5aに読み込み、ステップs3でパタ
ーンaのセル幅、セル高の値も入力する。同様に、ステ
ップS4.S5でパターンbについても同じように読み
込む。ここで、セル幅、セル高はキー等で入力してもよ
いが、入力されたパターンから自動的に判断されてもよ
い。
フローチャートを用い、より詳しく制御手順の説明を行
う。ステップS1でCPU3は、反転フラグ9.アドレ
ステーブル10などの初期化を行う。ステップS2で、
MT、FD等に格納されているパターンaをパターン入
力部1からRAM5aに読み込み、ステップs3でパタ
ーンaのセル幅、セル高の値も入力する。同様に、ステ
ップS4.S5でパターンbについても同じように読み
込む。ここで、セル幅、セル高はキー等で入力してもよ
いが、入力されたパターンから自動的に判断されてもよ
い。
ステップS6で、それぞれ入力されたセル幅。
セル高のLCMを求める。ステップS7.S8では、こ
のLCMにより元のパターンa、パターンbをどれだけ
拡大すればよいかを求める。ステップS9.510では
、この倍率をもとにパターンa、パターンbを拡大し、
パターンa′、パターンb′をつくる。ここで、拡大さ
れたセル幅、セル高よりバイト数を算出しておくとよい
。バイト数は、 [(セル幅+7)/8]Xセル高 (除算で出た少数点以下は切り捨て) で求める。今回の例では[(16+7)/a] x24
=48で、48バイトとなる。
のLCMにより元のパターンa、パターンbをどれだけ
拡大すればよいかを求める。ステップS9.510では
、この倍率をもとにパターンa、パターンbを拡大し、
パターンa′、パターンb′をつくる。ここで、拡大さ
れたセル幅、セル高よりバイト数を算出しておくとよい
。バイト数は、 [(セル幅+7)/8]Xセル高 (除算で出た少数点以下は切り捨て) で求める。今回の例では[(16+7)/a] x24
=48で、48バイトとなる。
ステップSttで、比較を行うためにカウンタiを初期
化し、ステップS12で、カウンタiが先程算出したハ
イド数を越えているかを判断する。Noの場合は、ステ
ップS13でパターンa′のi番地とパターンb′のi
番地との排他的論理和をとる。ステップS14で、この
結果がNULLであるかを判断する。N U L L、
つまりYESの場合は、ステップS15でアドレステー
ブル10にNULLを書き込み、Noの場合は、ステッ
プS16でアドレステーブル10にアドレス番地i番地
を格納する。ステップS17で、カウンタiのカウント
を1つカウントアツプし、ステップS12の判断にもど
る。
化し、ステップS12で、カウンタiが先程算出したハ
イド数を越えているかを判断する。Noの場合は、ステ
ップS13でパターンa′のi番地とパターンb′のi
番地との排他的論理和をとる。ステップS14で、この
結果がNULLであるかを判断する。N U L L、
つまりYESの場合は、ステップS15でアドレステー
ブル10にNULLを書き込み、Noの場合は、ステッ
プS16でアドレステーブル10にアドレス番地i番地
を格納する。ステップS17で、カウンタiのカウント
を1つカウントアツプし、ステップS12の判断にもど
る。
ステップS12の判断でYESの場合は、ステップ31
8でパターンb′をRAM7に書き込む。次に、ステッ
プS19で、比較の結果が格納されているアドレステー
ブル10を検索するためにカウンタjを初期化し、ステ
ップS20でカウンタjがバイト数を越えているかを判
断する。この判断でNOの場合、ステップS21でアド
レステーブル10内のj番地がNULLかを判断する。
8でパターンb′をRAM7に書き込む。次に、ステッ
プS19で、比較の結果が格納されているアドレステー
ブル10を検索するためにカウンタjを初期化し、ステ
ップS20でカウンタjがバイト数を越えているかを判
断する。この判断でNOの場合、ステップS21でアド
レステーブル10内のj番地がNULLかを判断する。
NULL以外、つまりNOの場合は、ステップS22で
反転フラグ9が“0″であるかを判断する。
反転フラグ9が“0″であるかを判断する。
この判断でYESの場合は、CRTll上ではパターン
b′を表示していることになるので、ステップS23で
RAM7に書き込んだパターンb′のアドレスj番地に
パターンa′の同一アドレス番地jのデータを書き込み
、反転させる。
b′を表示していることになるので、ステップS23で
RAM7に書き込んだパターンb′のアドレスj番地に
パターンa′の同一アドレス番地jのデータを書き込み
、反転させる。
NOの場合は逆になり、ステップS24でRAM7上に
書かれているパターンa′内のアドレスj番地にパター
ンb′の同一アドレス番地jのデータを書籾込み、反転
させる。ステップS25では、カウンタjのカウントを
1つカウントアツプする。
書かれているパターンa′内のアドレスj番地にパター
ンb′の同一アドレス番地jのデータを書籾込み、反転
させる。ステップS25では、カウンタjのカウントを
1つカウントアツプする。
ステップS20の判断でYESの場合は、ステップ52
6で反転フラグ10が0かを判断する。
6で反転フラグ10が0かを判断する。
この判断でYESの場合は、ステップS27で反転フラ
グ10を1゛°にし、NOの場合は、ステップS2Bで
反転フラグ10を0″にする。ステップS29でRAM
7のデータをCRTllに転送し、パターンをCRTI
Iに表示させる。ステップS30で0.5秒程待って、
ステップS19に戻り、この動作を繰返すことで、0.
5秒毎に画面が反転しているように見せる。
グ10を1゛°にし、NOの場合は、ステップS2Bで
反転フラグ10を0″にする。ステップS29でRAM
7のデータをCRTllに転送し、パターンをCRTI
Iに表示させる。ステップS30で0.5秒程待って、
ステップS19に戻り、この動作を繰返すことで、0.
5秒毎に画面が反転しているように見せる。
この反転を中止したい場合は、キーボードより5TOP
″を入力し、反転フラグ10が1″の時のみステップS
19〜S29までを実行し、CRTll上のドツトパタ
ーンをパターンb′の状態に戻して終了し、反転フラグ
10が“O”の時は、そのまま終了するという割込み処
理(ステップ531)を行う。
″を入力し、反転フラグ10が1″の時のみステップS
19〜S29までを実行し、CRTll上のドツトパタ
ーンをパターンb′の状態に戻して終了し、反転フラグ
10が“O”の時は、そのまま終了するという割込み処
理(ステップ531)を行う。
以上説明したように、異なるサイズのパターンのデザイ
ンのチェックが、CR7表示装置を使用することによっ
て、−目でわかるようになり、チェック爛れも少なくな
る。
ンのチェックが、CR7表示装置を使用することによっ
て、−目でわかるようになり、チェック爛れも少なくな
る。
尚、メモリのドツト幅、ドツトの比較方法、比較結果の
記憶方法等は本例に限らない。又、表示方法においても
、本実施例では異なるドツトを反転させて示したが、こ
れに限らない。例えばカラーCRTを使用して、色を変
えて示してもよい。
記憶方法等は本例に限らない。又、表示方法においても
、本実施例では異なるドツトを反転させて示したが、こ
れに限らない。例えばカラーCRTを使用して、色を変
えて示してもよい。
[発明の効果]
本発明により、ドツトパターンの異同を簡単にチェック
するドツトパターンチェック装置を提供できる。特に、
サイズの異なるドツトパターンの異同を簡単にチェック
する。
するドツトパターンチェック装置を提供できる。特に、
サイズの異なるドツトパターンの異同を簡単にチェック
する。
第1図は本実施例のドツトパターンチェック装置のブロ
ック図、 第2図は本実施例のアドレステーブルを示す図、 置の動作を示すフローチャートである。 図中、1・・・パターン入力部、2・・・制御装置、3
− CP U 、 4 ・・・ROM 、 5 a
、 5 b ・・・パターン入力用RAM、6a、6
b・・・拡大パターン用RAM、?・・・ミス用RAM
、8・・・LCM値エリア、9・・・反転フラグ、10
・・・アドレステーブル、11・・・CRTである。
ック図、 第2図は本実施例のアドレステーブルを示す図、 置の動作を示すフローチャートである。 図中、1・・・パターン入力部、2・・・制御装置、3
− CP U 、 4 ・・・ROM 、 5 a
、 5 b ・・・パターン入力用RAM、6a、6
b・・・拡大パターン用RAM、?・・・ミス用RAM
、8・・・LCM値エリア、9・・・反転フラグ、10
・・・アドレステーブル、11・・・CRTである。
Claims (5)
- (1)ドットパターンを入力するパターン入力手段と、 該パターン入力手段から入力された複数のパターンの大
きさを比較するパターン比較手段と、該パターン比較手
段の比較結果に基づいてパターンの大きさを変更し、前
記複数のパターンの大きさを同じにするパターン変更手
段と、 該パターン変更手段により同じ大きさになつた前記複数
のパターンの違いをドット単位で表示するパターン表示
手段とを備え、 ドットパターンのデザインチェックを行なうことを特徴
とするドットパターンチェック装置。 - (2)パターン入力手段は、パターンの大きさを入力す
る手段を更に備えることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載のドットパターンチェック装置。 - (3)パターン比較手段は、パターンのドット幅を比較
するドット幅比較手段と、パターンのドット高を比較す
るドット高比較手段とを備えることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のドットパターンチェック装置。 - (4)パターン変更手段は、複数のパターンの最小公倍
数のドットにパターンを拡大することを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載のドットパターンチェック装置。 - (5)パターン表示手段は、複数のパターンの違いをド
ット単位の反転で表示する反転表示手段を備えることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のドットパターン
チェック装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62121176A JPS63287892A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | ドツトパタ−ンチエツク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62121176A JPS63287892A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | ドツトパタ−ンチエツク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63287892A true JPS63287892A (ja) | 1988-11-24 |
Family
ID=14804731
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62121176A Pending JPS63287892A (ja) | 1987-05-20 | 1987-05-20 | ドツトパタ−ンチエツク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63287892A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6186639A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-02 | Hitachi Ltd | パターン検査装置 |
JPS61194306A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-28 | Brother Ind Ltd | 形状検査装置 |
-
1987
- 1987-05-20 JP JP62121176A patent/JPS63287892A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6186639A (ja) * | 1984-10-05 | 1986-05-02 | Hitachi Ltd | パターン検査装置 |
JPS61194306A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-28 | Brother Ind Ltd | 形状検査装置 |
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