JPS63287892A - ドツトパタ−ンチエツク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、ドツトパターンチェック装置、特にセル幅・
セル高サイズの異なるドツトパターンの異同をチェック
するドツトパターンチェック装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、ドツトパターンをチェックする場合は、デザイン
の基本となるパターンと新規に作成されたパターンの印
刷物を人の目で比較していた。

又、異なるサイズのパターンをチェックする場合には、
印刷物を並べたり両パターンが混在するデータをつくっ
たりしていた。

しかしながら上記従来の方法では、時間がかかるし細い
部分のチェック漏れがあった。特に、サイズが異なるパ
ターンのチェックの場合には、異なるサイズのパターン
間での字体等のチェックは困難であり、チェックを行っ
たとしても、信頼性が低くチェック漏れがあった。

［発明が解決しようとしている問題点］本発明は、ドツ
トパターンの異同を簡単にチェックするドツトパターン
チェック装置を提供する。

［問題点を解決するための手段］ この問題点を解決するための一手段として、本発明のド
ツトパターンチェック装置は、ドツトパターンを入力す
るパターン入力手段と、該パターン入力手段から入力さ
れた複数のパターンの大きさを比較するパターン比較手
段と、該パターン比較手段の比較結果に基づいてパター
ンの大きさを変更し、前記複数のパターンの大きさを同
じにするパターン変更手段と、該パターン変更手段によ
り同じ大ぎさになった前記複数のパターンの違いをドツ
ト単位で表示するパターン表示手段とを備え、ドツトパ
ターンのデザインチェックを行なう。

［作用］ かかる構成において、パターン入力手段から入力された
複数のパターンは、パターン比較手段で大きさを比較さ
れ、比較結果に基づいて、パターン変更手段で前記複数
のパターンを同じ大きさにするよう変更されて、パター
ン表示手段に前記複数のパターンの違いをドツト単位で
表示する。

［実施例］ 以下添付図面を参照しながら、本発明の一実施例を説明
する。

第１図は、本実施例のドツトパターンチェック装置を示
すブロック図である。１はドットパターンを入力するパ
ターン入力部である。本例では、サイズの小さいドツト
パターン（以下パターンａとする）と、パターンａより
大きいドツトパターン（以下パターンｂとする）を入力
する。

２はホストコンピュータ等の制御装置であり、制御を司
どるＣＰＵ３と、ＣＰＵ３の動作手順を格納するＲＯＭ
４と、パターンａ、パターンｂをそれぞれの倍率で格納
するＲＡＭ５ａ、５ｂと、拡大されたパターンａ、パタ
ーンｂを格納するＲＡＭ６ａ、６ｂと、ＲＡＭ６ｂから
拡大されたパターンｂを読み込み、デザインミス部分を
書き込むＲＡＭ７と、パターンａ、パターンｂのそれぞ
れのセル幅・セル高の最小公倍数（以下、ＬＣＭ）の値
を格納するＬＣＭＣ二値ア８と、ＣＲＴＩＩに表示され
ているデータが反転しているかどうかを示す反転フラグ
９と、拡大されたパターンａ、パターンｂを比較した結
果、異なった部分のアドレス番地を格納しておくアドレ
ステーブル１０とから成る。

１１はＲＡＭ７の内容を表示するＣＲＴである。

次に、第２図のアドレステーブルの内容例を示す図と第
３図の拡大用ＲＡＭ６ａ、６ｂの内容例を示す図とを用
いて、簡単な動作説明゛を行う。ここでは、パターンａ
として、セル幅８ビツト。

セル高１２ドツトの゛？°゛マークと、パターンｂとし
てセル幅１６ドツト、セル高２４ドツトの“？゛マーク
のチェックを行う。尚、本実施例ではＲＡＭ６ａ、６ｂ
は、それぞれ８ビツトであるとした。

まず、両パターンのセル幅、セル高よりＬＣＭを求め、
それぞれの倍率を求める。本例ではセル幅のＬＣＭは１
６ドツト、セル高のＬＣＭは２４ドツトであり、倍率と
してはパターンａを幅・高さ共に２倍にしてパターンａ
′をつくり、パターンｂの方は幅・高さ共に１倍なので
、そのままでパターンｂ′とする。

次に、第３図に示すように、拡大されたパターンａ′と
パターンｂ′の両方のパターンの番地から各ドツトの０
Ｎ１０ＦＦの排他的論理和をとる。この結果を第２図に
示すように、ドツトが等しい（以下、ＮＵＬＬ）であれ
ばアドレステーブル１０にＮＵＬＬをいれ、０番地のよ
うに結果がＮＵＬＬでなければ、アドレス番地Ｏ番地を
アドレステーブル１０に格納する。こうして異なる部分
のみのアドレス番地を抜き出し、その番地のドツトパタ
ーンをパターンａ′　とパターンｂ′とで入れ替えるこ
とで、異なる部分をＣＲＴＩＩに反転させで表示し、デ
ザインミスを発見させる。

第４図に示す本実施例のドツトパターンチェック装置の
フローチャートを用い、より詳しく制御手順の説明を行
う。ステップＳ１でＣＰＵ３は、反転フラグ９．アドレ
ステーブル１０などの初期化を行う。ステップＳ２で、
ＭＴ、ＦＤ等に格納されているパターンａをパターン入
力部１からＲＡＭ５ａに読み込み、ステップｓ３でパタ
ーンａのセル幅、セル高の値も入力する。同様に、ステ
ップＳ４．Ｓ５でパターンｂについても同じように読み
込む。ここで、セル幅、セル高はキー等で入力してもよ
いが、入力されたパターンから自動的に判断されてもよ
い。

ステップＳ６で、それぞれ入力されたセル幅。

セル高のＬＣＭを求める。ステップＳ７．Ｓ８では、こ
のＬＣＭにより元のパターンａ、パターンｂをどれだけ
拡大すればよいかを求める。ステップＳ９．５１０では
、この倍率をもとにパターンａ、パターンｂを拡大し、
パターンａ′、パターンｂ′をつくる。ここで、拡大さ
れたセル幅、セル高よりバイト数を算出しておくとよい
。バイト数は、 ［（セル幅＋７）／８］Ｘセル高 （除算で出た少数点以下は切り捨て） で求める。今回の例では［（１６＋７）／ａ］　ｘ２４
＝４８で、４８バイトとなる。

ステップＳｔｔで、比較を行うためにカウンタｉを初期
化し、ステップＳ１２で、カウンタｉが先程算出したハ
イド数を越えているかを判断する。Ｎｏの場合は、ステ
ップＳ１３でパターンａ′のｉ番地とパターンｂ′のｉ
番地との排他的論理和をとる。ステップＳ１４で、この
結果がＮＵＬＬであるかを判断する。Ｎ　Ｕ　Ｌ　Ｌ、
つまりＹＥＳの場合は、ステップＳ１５でアドレステー
ブル１０にＮＵＬＬを書き込み、Ｎｏの場合は、ステッ
プＳ１６でアドレステーブル１０にアドレス番地ｉ番地
を格納する。ステップＳ１７で、カウンタｉのカウント
を１つカウントアツプし、ステップＳ１２の判断にもど
る。

ステップＳ１２の判断でＹＥＳの場合は、ステップ３１
８でパターンｂ′をＲＡＭ７に書き込む。次に、ステッ
プＳ１９で、比較の結果が格納されているアドレステー
ブル１０を検索するためにカウンタｊを初期化し、ステ
ップＳ２０でカウンタｊがバイト数を越えているかを判
断する。この判断でＮＯの場合、ステップＳ２１でアド
レステーブル１０内のｊ番地がＮＵＬＬかを判断する。

ＮＵＬＬ以外、つまりＮＯの場合は、ステップＳ２２で
反転フラグ９が“０″であるかを判断する。

この判断でＹＥＳの場合は、ＣＲＴｌｌ上ではパターン
ｂ′を表示していることになるので、ステップＳ２３で
ＲＡＭ７に書き込んだパターンｂ′のアドレスｊ番地に
パターンａ′の同一アドレス番地ｊのデータを書き込み
、反転させる。

ＮＯの場合は逆になり、ステップＳ２４でＲＡＭ７上に
書かれているパターンａ′内のアドレスｊ番地にパター
ンｂ′の同一アドレス番地ｊのデータを書籾込み、反転
させる。ステップＳ２５では、カウンタｊのカウントを
１つカウントアツプする。

ステップＳ２０の判断でＹＥＳの場合は、ステップ５２
６で反転フラグ１０が０かを判断する。

この判断でＹＥＳの場合は、ステップＳ２７で反転フラ
グ１０を１゛°にし、ＮＯの場合は、ステップＳ２Ｂで
反転フラグ１０を０″にする。ステップＳ２９でＲＡＭ
７のデータをＣＲＴｌｌに転送し、パターンをＣＲＴＩ
Ｉに表示させる。ステップＳ３０で０．５秒程待って、
ステップＳ１９に戻り、この動作を繰返すことで、０．
５秒毎に画面が反転しているように見せる。

この反転を中止したい場合は、キーボードより５ＴＯＰ
″を入力し、反転フラグ１０が１″の時のみステップＳ
１９〜Ｓ２９までを実行し、ＣＲＴｌｌ上のドツトパタ
ーンをパターンｂ′の状態に戻して終了し、反転フラグ
１０が“Ｏ”の時は、そのまま終了するという割込み処
理（ステップ５３１）を行う。

以上説明したように、異なるサイズのパターンのデザイ
ンのチェックが、ＣＲ７表示装置を使用することによっ
て、−目でわかるようになり、チェック爛れも少なくな
る。

尚、メモリのドツト幅、ドツトの比較方法、比較結果の
記憶方法等は本例に限らない。又、表示方法においても
、本実施例では異なるドツトを反転させて示したが、こ
れに限らない。例えばカラーＣＲＴを使用して、色を変
えて示してもよい。

［発明の効果］ 本発明により、ドツトパターンの異同を簡単にチェック
するドツトパターンチェック装置を提供できる。特に、
サイズの異なるドツトパターンの異同を簡単にチェック
する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本実施例のドツトパターンチェック装置のブロ
ック図、 第２図は本実施例のアドレステーブルを示す図、 置の動作を示すフローチャートである。 図中、１・・・パターン入力部、２・・・制御装置、３
−　ＣＰ　Ｕ　、　４　・・・ＲＯＭ　、　　５　ａ　
、　　５　ｂ　・・・パターン入力用ＲＡＭ、６ａ、６
ｂ・・・拡大パターン用ＲＡＭ、？・・・ミス用ＲＡＭ
、８・・・ＬＣＭ値エリア、９・・・反転フラグ、１０
・・・アドレステーブル、１１・・・ＣＲＴである。

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）ドットパターンを入力するパターン入力手段と、 該パターン入力手段から入力された複数のパターンの大
   きさを比較するパターン比較手段と、該パターン比較手
   段の比較結果に基づいてパターンの大きさを変更し、前
   記複数のパターンの大きさを同じにするパターン変更手
   段と、 該パターン変更手段により同じ大きさになつた前記複数
   のパターンの違いをドット単位で表示するパターン表示
   手段とを備え、 ドットパターンのデザインチェックを行なうことを特徴
   とするドットパターンチェック装置。
2. （２）パターン入力手段は、パターンの大きさを入力す
   る手段を更に備えることを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載のドットパターンチェック装置。
3. （３）パターン比較手段は、パターンのドット幅を比較
   するドット幅比較手段と、パターンのドット高を比較す
   るドット高比較手段とを備えることを特徴とする特許請
   求の範囲第１項記載のドットパターンチェック装置。
4. （４）パターン変更手段は、複数のパターンの最小公倍
   数のドットにパターンを拡大することを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載のドットパターンチェック装置。
5. （５）パターン表示手段は、複数のパターンの違いをド
   ット単位の反転で表示する反転表示手段を備えることを
   特徴とする特許請求の範囲第１項記載のドットパターン
   チェック装置。