JPS63282269A - 物体上に金属コーティングを堆積させる方法 - Google Patents

物体上に金属コーティングを堆積させる方法

Info

Publication number
JPS63282269A
JPS63282269A JP63100438A JP10043888A JPS63282269A JP S63282269 A JPS63282269 A JP S63282269A JP 63100438 A JP63100438 A JP 63100438A JP 10043888 A JP10043888 A JP 10043888A JP S63282269 A JPS63282269 A JP S63282269A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chamber
panel
coating
coated
cooling
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63100438A
Other languages
English (en)
Inventor
キャロル エイチ ジョージ
レイ ディ ラスト
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AT&T Corp
Original Assignee
American Telephone and Telegraph Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by American Telephone and Telegraph Co Inc filed Critical American Telephone and Telegraph Co Inc
Publication of JPS63282269A publication Critical patent/JPS63282269A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/56Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/14Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation
    • H05K3/16Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation by cathodic sputtering
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/26Cleaning or polishing of the conductive pattern
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/09Treatments involving charged particles
    • H05K2203/092Particle beam, e.g. using an electron beam or an ion beam
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/09Treatments involving charged particles
    • H05K2203/095Plasma, e.g. for treating a substrate to improve adhesion with a conductor or for cleaning holes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/15Position of the PCB during processing
    • H05K2203/1518Vertically held PCB

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)
  • General Preparation And Processing Of Foods (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の背景) [発明の属する技術分野] 本発明は、物体を制御雰囲気を有する低圧室内を貫通し
て搬送し、物体が室内にある間に物体をクリーニングし
て次に物体に所定材料のコーティングを施工する方法に
関する。特に、各々が連続コーティング工程に結合され
たクリーニング設備を含む複数の隣接通路を介して物体
を連続的に搬送する装置とその方法とに関する。この工
程において物体はクリーニングされ、物体がそれに沿っ
て連続的に搬送される隣接の物体搬送路にサービスをな
す二方向源により特定材料がコーティングされる。
[従来技術の説明] 集積回路、ハイブリッド部品およびプリント基板のよう
な電気または電子部品を含む物体は、それらの製造工程
のある時点で金属薄膜の堆積すなわち表面コーティング
を必要とする。現在プリント基板への金属コーティング
の施工は、通常湿式化学法により行われている。この方
法は連続法であるが、通常毒性化学物質を取扱う。最近
、スパッタリング、蒸着およびイオン・ブレーティング
などの乾式メタライゼーション技術がコーティング付着
仕様を満足することか示され、従って実際の商業用途に
利用可能ある。
集積回路およびハイブリッド回路産業において、金、パ
ラジウム、銅、アルミニウム、タンタルまたは窒化タン
タル等の種々の材料がスパッタリング法によりセラミッ
ク基板またはシリコン基板上に堆積可能である。プリン
ト基板産業においては、銅が代表的な金属薄膜である。
薄膜が堆積されたあと、薄膜は厚さが増加され、エツチ
ングされ、または、その他の工程を経て回路および/ま
たは部品が製造される。
スパッタリング法においては、スパッタされるべき材料
からなるターゲットは陰極面に装着される。このターゲ
ット材料には低圧のアルゴンなどの不活性ガス雰囲気内
で高圧の陰極電圧が印加されるが、このとき気体はイオ
ン化されて露出金属面に衝突し、原子又は原子の集団を
追い出し9次に基板上に堆積される。
基板上に金属の薄膜を堆積させるために多くの乾式メタ
ライゼーション製造設備が開発されてきた。ある形式の
連続単一ライン開放端装置においては、基板は順次に圧
力が低くなって行(一連の個別ポンプを吸引室を通過し
て基板は最終的に真空室に入り、ここでスパッタリング
が行われる。
他の形式の連続スバッリング装置においては、一群の基
板は順次に真空されていく一連のロック(封印部)を通
過して送られ、次に基板は真空工程室に入ってここでス
パッタリング堆積を受ける。
比較的薄い薄膜のスパッタリングであっても、スパッタ
リングはかなりの時間を要するので、これらの形式の一
次元線形設備では一時に極めて僅かの基板しかスパッタ
リングできないので、処理能力は遅くならざるを得ない
バッチ・ベル・ジar −(batch beil j
ar)法においては、同時処理される基板数を増加する
ために基板の円筒状配置が使用された。この配置におい
ては、全ての基板が同時に処理可能なように、ベル・ジ
ャー内で中央に設けられた陰極のまわりに基板は円筒状
配列に配置される。この方法では、処理される基板のバ
ッチごとにベルφジャーは順次に排気されポンプで低圧
にされなければならないので、それ自身では連続作業は
できない。さらにこの方法では、基板は十分に大きく 
(プリント基板に使用される基板は18’ X24’以
上である)かつ平坦構造でなければならない。さらにこ
れらの基板では中央に設けられた陰極に対して基板の中
央部がより近いことから、各基板の中央部により多くの
堆積が行われるので、これらの基板は不均一な金属堆積
を受けることになる。
処理能力および堆積薄膜の純度において前記2つの装置
より優れた装置は、米国特許第3,858,654号の
連続円筒状スパッタリング装置である。この構成におい
ては、基板はバッチ式に供給され、次に中央に設けられ
た陰極のまわりの連続単一円形ライン内に送られる。コ
ーティング作業中制御雰囲気コーテイング室は決して大
気に露出されることなく、これにより高純度の堆積が得
られる。
装置の処理能力は前記のいずれの装置よりも大きいけれ
ども、この装置もやはり、陰極を通過する基板が単一ラ
インを移動するという一次元をベースに運転される。
乾式メタライゼーション法は毒性物質の問題は回避でき
たけれども、これらも連続式処理能力には制限があり、
大抵はバッチ式処理設備で実現されている。基板の両側
を処理するとき、連続式またはバッチ式のいずれの方法
で運転されようとも、単一処理室はせいぜい単一の処理
ラインを収容するのみである。
(発明の概要) 金属コーティングを有するプリント基板のような物体を
クリーニングして次にコーティングする方法および装置
は、制御された低圧気体処理雰囲気を有する密閉真空室
を含む。クリーニングされ、次に金属被膜でコーティン
グされる物体は、真空室を所定の圧力およびガス組成に
維持させるエア・ロック(air 1ock)機構を通
過して密閉室内に連続的に送り込まれる。室内には複数
の搬送路またはパネル搬送トラックが含まれる。クリー
ニングされ次にコーティングされる物体は、コーティン
グされる間、種々のトラックに沿って連続的に搬送され
る。
複数のトラックは相互にほぼ平行に配置され、各トラッ
ク上の物体は方向が類似しかつ相互にほぼ等距離にある
通路を通る。各物体搬送トラックの両側に複数の二方向
コーティング源が順次に配置され、これによりパネルの
両側がコーティングされる。
内側トラックの場合、2つの隣接トラックの中間jこ配
置された単一列の二方向コーチインク源は、両隣接トラ
ック上の物体の対向パネル面に対するコーティング源と
して働く。必要な場合は、コーティングされる物体の温
度を制限するために、個々のコーティング源は各々冷却
吸熱器と組にされて個々のステーションを形成し、この
ステーションは全て物体搬送トラックの両側に順次に配
置される。各ステーションに付属の磁界発生装置は金属
ターゲットに衝突するイオンを発生する電子の軌道を制
御する。磁界発生装置は、その磁束線がコーティングさ
れる物体の表面のほぼその領域で、その表面にほぼ平行
にある磁束を発生する。これは表面に衝突する高エネル
ギ電子の数を減少し、従って処理される物体の表面で発
生される熱を減少するのに有利である。ターゲットから
放出されるスパッタ金属原子の大部分は、その軌道が搬
送トラック上を通過される物体の隣接側面と交差するよ
うに最適化される。もし必要ならば冷却源が設けられて
これがコーティングされる物体の不当な温度上昇を防止
する。コーティングされた物体は、終端エアロツク機構
を介して搬送トラックから連続的に取出される。
(実施例の説明) 回路パネルのような物体をコーティングするための処理
系統装置を第1図に示す。室全体は、制御気体雰囲気を
有する処理室内でパネル内の貫通孔の表面を含めて回路
パネルを金属コーティングするためにスパッタリング技
術を用いた処理系統を支持する。このコーティング工程
は、コーティングされるパネルが処理室を貫通して連続
的に搬送される連続工程として実行される。
第1図に示すように、系は、コーティングされるパネル
を5個の平行なパネル入力ドラック111のいずれかの
上で受入れる第1の動的エアロツク110を含む。この
入口エアロツク110は駆動ローラ109を含み、入力
ドラック111上でパネルを、金属材料のスパッタ堆積
に適切な制御雰囲気を有する処理室125内へ送る。エ
アロツクは、制御雰囲気を著しく劣化することなくパネ
ルが連続的に通過可能なように設けられているので好ま
しい。
適用例に設けられた適切な連続エアロツクを第16図に
略図で示す。
当業者には他の適切な気体および圧力が想定されようが
、処理室の例示制御雰囲気としては圧力5mT(ミリ・
トル)のアルゴンガスが適切であろう。この制御雰囲気
は処理室全体にわたり均等である。
第1図に示す処理室125は二方向マグネトロン・コー
ティング源と、室内で各パネル搬送トラッりの最初にあ
るエツチング・スクリーンと、からなるスパッタ・クリ
ーニング部を含む。各スパッタ・クリーニング部は同時
に、パネルが搬送トラック上を通過するときに、パネル
表面をスパッタ・クリーニングするために中和原子を発
生し、さらにパネル上に金属コーティングを堆積させる
一連の順次堆積部は各々、搬送トラック111上で処理
室125を通過して連続的に供給される回路パネルの両
側に金属コーティング(図示の実施例では銅)を堆積さ
せるための二方向マグネトロン・コーティング源を含む
。コーティングされたパネルは、後続の動的エアロツク
140を通過して処理室125から取出される。
処理系統全体はエアロツク110.140を含み、処理
室125は支持部材150上に装着され、支持部材15
0は処理系統の構造的装着部を提供すると共に、制御回
路、排気管、水マニフォールド、および処理室125お
よびエアロツク110.140内の雰囲気を制御するた
めの真空ポンプ装置、とをもまた含む。処理室125の
頂面には空冷ファン115が配置され、空冷ファン11
5は室の表面を冷却する押込空気を供給するのに使用さ
れる。空気は、第1図に示すように、室の外部と室の外
側カバーパネルの内部との間の冷却ダクト内を流れる。
第1図の処理系統の部分破断図を第2図に示し、第2図
では、処理室内においてパネルは搬送トラックの内の第
1のトラックに付属の処理部がみえている。回路パネル
201が、動的エアロツク210への入口において、上
部および下部搬送トラックガイド202.203上に配
置され保持されている様子がここに図示されている。搬
送トラック・ガイド202.203はパネル201の頂
部および底部端縁と係合し、パネル201を動的エアロ
ツク210内へ案内する。
パネルは、パネル201の両面と物理的に結合するロー
ラ209により駆動される。動的エアロツク210のと
ころにある入口リップ・シール211は、パネルがエア
ロツク内に入る時にパネルの側面および端縁のまわりに
気密シールを形成する。入口リップシール211は断面
がほぼ円形であり、パネルノ側面に対しシール圧力を加
えるように設ケラれ、さらにパネルがエアロツク内に入
り込むときにパネルに引戻し力が殆どまたは全くかから
ないようにシール自体を回転可能にする機構を含む。
リップシールの先には、さらにシールを形成して気体圧
力を低下するために、エアロツク210内に空気ポンプ
が設けられる。エアロツク210内にはさらに山形シー
ル・フラッパが含められ、山形シール・フラッパは差圧
ポンプ・ステーションの入口と出口との間の差圧の維持
を補助する。
エアロツク210にすぐ続いて処理室内にマグネトロン
作動エツチングまたはクリーニング・ステーション(第
2図では図示なし)があり、このステーションは放出イ
オンを中和するための中和スクリーンを含み、次にイオ
ンは通過するパネルに衝突して粒子衝撃によりパネルを
クリーニングする。このエツチング・ステーションは以
下に第7図により詳細に説明する。これらのエツチング
・ステーションはパネル搬送トラックの最初の位置でそ
の両側に配置される。マグネトロン・コーティング装置
230の後続部は、破断回内で単一パネル搬送トラック
の両側にみえる。
パネル搬送トラックの両側に沿ってマグネトロン装置2
30の間に分散して、冷却ステーション(第2図では図
示なし)が配置される。冷却ステーションは、水冷却板
と、回路パネルが通過するときに回路パネルの面上に乗
換えるようにバネ荷重が与えられる可撓性伝熱面とを含
む。この冷却ステ7シヨンの詳細は以下に第8図により
詳細に説明する。
真空化処理室を有する処理装置の水平断面部分平面図を
第3図に示す。図示の処理室の3つの室壁301.30
2.303  (第4の壁は図示なし)は2個のパネル
搬送トラック304.305をほぼ包囲するが、これは
第1図に示す5個のトラックの内の2個を示したもので
ある。これらのトラックは第3図では図示されていない
エアロツク(第2図に示す210)を出た後に端部壁内
に侵入し、壁303を通過した後にエアロツク(第2図
に示す24o)に入る。
マグネトロン装置310と冷却ステーション装置311
とは、搬送トラック304の両側で、相互に交互に反対
側の位置に配置される。任意の搬送トラックのいずれの
側においても、マグネトロン・コーティング装置310
と冷却ステーション装置311とは相互に交換で配置さ
れる。各冷却ステーションはそれに付属の1つの磁束源
340を有し、磁束源340はマグネトロン・コーティ
ング装置310により発生される磁束と組合わされたと
きに作動して、パネル表面にすぐ隣接した領域において
コーティングされるパネルの表面に平行な複合磁束を維
持する。このコーティング装置および冷却装置のパター
ンは真空化処理室の全処理領域内で一定間隔で反復され
るが、各搬送トラックに沿ったマグネトロン装置を有す
る第1のステーションはスクリーン・グリッド309を
含むこ゛とを特徴とするマグネトロン・クリーニングお
よびエツチング・ステーションであることだけは例外で
ある。このようなスクリーン・グリッド装置を第8図お
よび第9図に詳細に示す。
処理装置の詳細を示す処理室成分構造のさらに詳細な部
分平面図を第4図に示す。2個の搬送トラック401 
、402が示されているが、トラック401にはパネル
がなく、トラック402は処理されるパネル403を含
んでいるところが示されている。
図の中央にマグネトロン装置405が配置され、マグネ
トロン装置405はマグネトロン装置の内部に配置され
た複数の永久磁石406を含む。所定のコーティング材
料からなる2枚のターゲツト板407.408が磁石4
06の両側に配置される。構造を強固にしかつ磁石によ
り発生された磁界を一部制御するために、軟鉄からなる
端部クランプ410 、411が配置される。冷却ステ
ーションの後方でマグネトロン磁石406と一直線上に
設けられたダミー磁石435は、隣接マグネトロン40
5の磁界と対向するように配置される。第4図に示すよ
うに、ダミー磁石435の極性はマグネトロン装置40
5の磁石40Bに対向する方向にある。これらの存在に
より、その結果として、その磁束線がコーティングされ
るパネルの面にすぐ隣接してそれに平行であるような磁
束が発生される。この特殊な配置により物体の表面に衝
突する高速度の電子の数は制限され、従ってパネル内に
おいて発生される熱は減少する。
各マグネトロンにすぐ隣接して組合せスパッタ遮蔽体/
陽極415が配置され、組合せスパッタ遮蔽体/陽極4
15は接地されて、ターゲット407.408の負の電
位に対し正の電位にある。スパッタ遮蔽体/陽極415
のリップ416は物理的にマグネトロン405に近接し
て配置されて(寸法raJは約1/8′である)その端
部クランプ/保持器4101411をスパッタリング・
イオンから遮蔽し、かつ電子軌道を制御して、このよう
な方法で通常得られる作業部材温度をより低く維持する
。その電位(接地されてはいるがターゲットに対し正で
ある)もまたターゲットに衝突する電子の所定の軌道を
制御するのに有効である。
遮蔽体内およびターゲット407.408とトラック4
01.402とのそれぞれの間に、入口エアロツクに最
も接近して、スパッタ・クリーニングおよびエツチング
のために使用される最初のマグネトロン装置内に含まれ
るスパッタ・エツチング・スクリーン・グリッド420
が配置される。これらのスクリーン・グリッド420に
はイオンを引付けるために負の電荷が与えられ、イオン
がスクリーンを通過して次にトラック401.402を
通過するパネル403の隣接面に衝突するときに電荷イ
オンを中和するように作動する。これらの原子はパネル
に衝突することによりパネル面のクリーニング作用を行
ない、不純物をパネルから引離す。
トラック401 、402に隣接しかつマグネトロン4
05の反対側に冷却面425が設けられ、冷却面425
は冷却板427に装着されている。黄銅ウールの細繊維
マット428が冷却板427と冷却面425との間の伝
熱接触を形成し、かつ弾性力を与えてトラック401.
402上を通過するパネルに対する冷却面の接触を容易
にもしている。図示のトラック401にはパネルが挿入
されていないので、隣接冷却面425はゆるんだ準放物
線形状をなしている。トラック402上にパネル403
を有するところの冷却面425は平坦な輪郭を有するよ
うに図示され、この輪郭は冷却面425のパネル403
と実質的に広い面積で接触をなすのを容易にしている。
冷却板427に対する冷却作用は水管430により提供
され、水管は430は、冷却板427と、処理室の屋根
を支持するのに利用される隣接支持コラム429との中
に共通に切込まれた窪みの中に配置される。冷却管43
0は個々のコラム429ごとにそれぞれ設けてもよいし
、あるいは室の全体に伸長し、順次の各コラム429の
窪みを順次に通過する単一の多ループ管であってもよい
支持コラム429の後方には前記のように別の磁界形成
磁石すなわちダミー制御磁石435が設けられ、ダミー
制御磁石435は、マグネトロンの磁石406と組合わ
されて、磁束を、トラック401.402上で搬送され
るパネル403の隣接領域においてパネル403の両隣
接面に平行になるように制御するのに利用される。この
磁束制御はパネル403の加熱を最小化するように作動
し、第4図に示すように一直線上に並ぶ対向磁極を含む
。支持コラムの端部にアルミニウムスペーサ437が設
けられ、これは制御磁石435の装着支持体となる。
個々のマグネトロン装置501を第5図に示すが、マグ
ネトロン装2501は第1のターゲット502と、第1
のターゲットの反対側の面上の第2のターゲット503
(このターゲツト面は図では見えない)とを含む。2枚
のターゲット502°、503の間には磁石と冷却管と
が設けられ、これらは全て底部の端部ターゲツト面50
4と頂部の端部ターゲツト面507(図示なし)との間
に配置される。冷却用気体または液体、水でもよい、の
流れを導く冷却管50Gは装置の頂部から突出するよう
に図示されているが、冷却管506はここで外部の冷却
用液体源または水源に接続される。
3枚のターゲット並びに端部ターゲット504の反対側
の図示されていないターゲット507とを含むこの組立
体はまとめて端部クランプ510.511によりクラン
プされる。これらのクランプは、ターゲットの側面に磁
界を保持するように軟鉄で製作される。
内部組立体を第6図に示すが、ここでクランプ板61B
により保持されたクランプ保持磁石615の両側に内部
で配置された冷却管606が図示されている。第7図に
は、クランプ板71G 、717の間に固定されたクラ
ンプ保持磁石715がさらに詳細に図示されている。
エツチング・スクリーン・グリッドを含むマグネトロン
遮蔽体の斜視図が第8図に示される。マグネトロン陽極
遮蔽体装置803はマグネトロン・コーティング源を含
む全ての装置の一構成部分であり、第4図に陽極遮蔽体
415として断面図で示されている。代表的なコーティ
ング装置の場合における陽極遮蔽体は、スパッタリング
構造の大部分をスパッタリング堆積から保護するように
作動する。マグネトロン・ターゲツト面は開口802の
後方に配置される。図示の遮蔽体内の開口は、電気励磁
スクリーン819を支持するスクリーン・グリッド・フ
レーム814により遮蔽体装置の片側に制限される、搬
送トラックに沿ったそれ以後の陽極遮蔽体の大部分はス
クリーン・グリッドを含まない。
陽極遮蔽体装置803は第4図に断面輪郭で示されてい
る側面807.808からなり、側面go: 、 g。
8はマグネトロンの正面ターゲット構造以外の処理装置
上へのスパッタ・コーティング材料の堆積を防止するよ
うに機能する。頂部および底部遮蔽体805.80Bは
処理構造の頂部および底部に対する同様な保護を形成す
る。遮蔽体装置全体は接地電位に置かれ、この電位によ
り、遮蔽体装置は冷却ステーション支持系統と共に、ス
パッタ系統における陽極として機能可能である。
ターゲット開口802の正面でその全体高さとその露出
幅の一部分とを被覆する大きさで、個々のワイヤが水平
に対し45@の角をなして織られた織上げワイヤからな
るスクリーン・グリッドが配置される。これらのワイヤ
は、接続部815を介してそれ自身負の電圧源として作
動するマグネトロンにより、遮蔽体に対し電気的に負の
電位に荷電される。遮蔽体に装着されかつスクリーンの
フレーム814を所定位置に保持する支持具811.8
12.813は電気的に絶縁されている。スクリーンに
は支持具813の内部導体を介して負の電位815が印
加される。この荷電されたスクリーン・グリッドはイオ
ンを中和するように作動し、搬送トラック上のパネルの
表面に衝突して2通過するパネルの表面をクリーニング
しかつその面上に材料を堆積するための電気的に中性の
原子の源を提供する。
スクリーン・グリッドの個々のワイヤは各々、パネルが
マグネトロン・エツチング装置を通過する時にパネル表
面上にシャドー・グリッド・パターンを形成しないよう
に、水平に対し45°の傾斜をなして配置される。陽極
遮蔽体の側面に直交するワイヤは、ワイヤ方向がパネル
の進行方向と平行であることにより、パネルの表面上に
、同様なエツチング直交パターンを形成可能である。
第9図にスクリーン・グリッドおよび陽極/遮蔽体の下
部部分の部分通視図を示す。陽極/遮蔽体903はリッ
プ91B(第4図におけるリップ41B)を含み、リッ
プ916は、電子軌道を制御しかつコーティングされる
基板の冷却操作を確実に行なうためにタープ、ット表面
に接近して配置される。図示の陽極遮蔽体を使用する電
子軌道の制御は、マグネトロン装置の端部部分に衝突す
る高エネルギ電子の数、並びにマグネトロンの側部に衝
突してそれ自身で余分の熱を発生する好ましくない軌道
を有するスパッタリング・イオンの数とを制限する。ト
ラック・リップ917は、トラック機構を不当なスパッ
タ堆積から遮蔽するために、搬送トラックに隣接して配
置される。図示のスクリーン・グリッドは水平方向でマ
グネトロン表面の放射領域の半分を被覆し、かつ前記の
ように、フレーム914と、水平に対し456の織り角
をなして織られたワイヤからなるグリッド909とを含
む。絶縁体915はこのグリッドを遮蔽体から絶縁する
第10図に示す冷却ステーション支持機構は、支持コラ
ム1025と、この支持コラム1025上にボルト締め
される冷却板1023とを含む。U字状水管1030は
、支持コラム1025の表面上で取付は用に設けられた
溝内に装着されるように図示されている。水管を収容す
るために、冷却板1023の後側に対応の溝(図示なし
)が切込まれている。冷却板は支持コラム1025の底
部付近に装着された支持部材1022内にはめ込まれ、
かつ冷却板の頂部において支持コラム1025に直接ボ
ルト締めされる。冷却板は、板1023の横側に固定さ
れかつ第4図に示すように黄銅ウール1028により板
1023に弾力的に装着された黄銅シート冷却面102
9を含む。この黄銅ウールは、冷却面が外側に湾曲しか
つ搬送トラックに沿ったパネルの通路に乗りかかるよう
に、冷却面に対し力を加える。冷却面は通過するパネル
の表面に沿って平坦になりその上に乗りかかる。黄銅ウ
ールは冷却面を湾曲させるように必要なバネ力を与え、
かつ冷却面1029と冷却板1023との間の伝熱路と
なる。上部および下部パネル搬送トラック102B、1
027はスペーサ1022.1024に当接して支持コ
ラム1025にボルト締めされる。
支持冷却構造物の三面図を第11図、第12図および第
13図に示すが、これらの図は、支持構造物に一固定さ
れた搬送トラック1026.1027と、板1023(
7)正面に固定されて搬送トラックの通路上に伸長する
黄銅シート冷却面1029とを示す。冷却管1030は
支持コラム1025の面から外側に曲げられてここで方
向を反転するか、または支持コラム1025と冷却板1
023とにより形成された溝内にはめ込まれるかのいず
れかである。
コーティング系装置を適切に機能させるための重要な要
素は、処理室内の気体雰囲気を適切に維持することであ
る。室はスラブ状の側壁から構成されるので、種々の壁
が接合する接合点は完全に気密でなければならない。
側壁が支持床壁と接合するコーナー接合点を第14図に
示す。ベース中スラブ1401は、ゴム・シール繊維1
403を受入れるためにその中に切込まれた溝1402
を有する。スラブ1401の壁外側部分1402は、点
1404における溝壁が繊維1403の半径に等しい高
さに切断される。側壁1406は、切下げ側部1404
と接合する伸長部1407を形成するように切込まれた
端部を有する。密閉溝の高さおよび幅は、圧縮されない
状態のゴム繊維1403の外径よりやや小さくなるよう
に寸法が選定される。
コーナー以外の接合部を第15図に示すが、図示のよう
に2つの接合スラブ1501.1502内に深い溝が形
成され、その中にゴム繊維1503が挿入される。
挿入繊維1503を含む溝は、ゴム繊維1503を圧縮
するように支持部材1507のプラグが差込まれて真空
気密を形成する。
前記の処理系統内の適用に適切な入口動的エアロツクを
第16図に断面平面図で示す。駆動ローラ1609は処
理されるパネル1601と物理的に接触をなシ、パネル
1601を搬送トラックに沿ってエアロツクの入口16
05へ駆動する。パネルは搬送トラック上で相互に隣接
しているので、パネルは処理系統内でトラックに沿って
連続的に押し込まれて行く。
入口部分領域1605に近接して図示のようにゴム製で
断面が円形の入口ころがりシール1611が設けられる
。シールがはめ込まれている溝1612はV字形溝を有
する一方の壁を有し、これによりこれらのころがりシー
ル1611はパネルが通過するときに両方が回転可能で
あり、また溝1612と面接触を維持しかつパネルに引
戻し力をほとんど与えることなく良好なガスシールを維
持する。
コレラのりツブシール1611に続いて可撓性の山形シ
ール1615が設けられ、山形シール1815はパネル
の表面に沿って乗りかかり、入口ポート11305と処
理室1620との間に追加シール絶縁を形成する。
搬送路に沿ってこれらの山形シール1615の付近に間
隔をなして真空ボート1617が設けられ、真空ポート
1617は搬送路の部分から連続的に吸引してその部分
における気圧を低下させる。
このエアロツク配置は、動的エアロツクが得られる多く
の配置の(ハ)の1つにすぎない。これはここに記載の
本発明の範囲を限定するこを意図してはいない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の原理を態様化した物体コーティング
系統の斜視図; 第2図は、特に処理室内の物体処理搬送路の1つの一部
を示す、第1図の物体コーティング系統の部分破断斜視
図; 第3図は、処理室内の種々の物体搬送路と、付属のクリ
ーニング、コーティングおよび冷却ステーションとを示
す部分平面図: 第4図は、第3図の略平面図の部分拡大図;第5図は、
コーティング系統の処理室内に含まれる二方向コーティ
ング源の斜視図; 第6図は、コーティング源から熱を除去するための冷却
構成を示す、コーティング源の内部を示す斜視図; 第7図は、特に所定の磁界を発生するための磁気挿入体
を示す、コーティング源の内部を示す斜視図: 第8図は、装着されたスクリーン・グリッドを有するコ
ーティング源遮蔽体の斜視図;第9図は、反対側からみ
た第8図のコーティング源遮蔽体の部分図; 第1O図は、冷却ステーションの展開斜視図;第11図
、第12図および第13図は、第1O図の三面図: 第14図および第15図は、処理室を外側大気から遮断
するためのシール構造の詳細を示す二面図;および 第16図は、本発明と共に使用するのに適した動的エア
ロツク機構の断面図である。 125 、1620・・・処理室 201 、403 、1601・・・物体304 ; 
401 、402・・・搬送路309  、420  
、819  、909・・・ワイヤ・スクリーン407
.408  、502.503・・・ターゲット(コー
ティング?H,)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)密閉室を真空化しかつ密閉室内に低圧の制御気体
    雰囲気を形成するステップと; 密閉室内に複数の直列配列二方向ターゲットを配置しか
    つ直列配列は相互にほぼ平行であるようにするステップ
    と; 金属コーティングされる物体を複数の形成された搬送路
    に沿って選択的に搬送し、各搬送路は隣接する2つの直
    列配列二方向ターゲットに対しほぼ等距離の中間に配置
    されるようにしたステップと; 物体の加熱を最小にしかつ二方向ターゲットのスパッタ
    収率を向上するために、密閉室内において物体の表面に
    隣接しかつ物体の表面にほぼ平行な磁束線を有する磁界
    を形成するステップと;とが特徴である物体上に金属コ
    ーティングを堆積させる方法。
  2. (2)密閉室内の気体雰囲気の圧力または組成を変える
    ことなく、物体を通路上で密閉室内に連続的に挿入し、
    コーティングされた物体を密閉室から連続的に取出す追
    加ステップを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の
    物体上に金属コーティングを堆積させる方法。
  3. (3)スクリーンを通過するイオンを電気的に中和して
    中和されたスパッタ原子が物体の表面でクリーニング作
    用を行なうようにさせるために、形成された搬送路ごと
    に2つの対向する指向コーティング源の少なくとも一部
    の間に織上げワイヤ・スクリーンを挿入する追加ステッ
    プを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の物体上に
    金属コーティングを堆積させる方法。
  4. (4)物体を所望制限温度以下に維持するために、各搬
    送路内の物体の面が冷却面と直接接触をなすように配置
    を行なう追加ステップを特徴とする特許請求の範囲第1
    項に記載の物体上に金属コーティングを被着させる方法
JP63100438A 1987-04-27 1988-04-25 物体上に金属コーティングを堆積させる方法 Pending JPS63282269A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US042508 1987-04-27
US07/042,508 US4812217A (en) 1987-04-27 1987-04-27 Method and apparatus for feeding and coating articles in a controlled atmosphere

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63282269A true JPS63282269A (ja) 1988-11-18

Family

ID=21922304

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63100438A Pending JPS63282269A (ja) 1987-04-27 1988-04-25 物体上に金属コーティングを堆積させる方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4812217A (ja)
EP (1) EP0289194B1 (ja)
JP (1) JPS63282269A (ja)
KR (1) KR880012790A (ja)
AT (1) ATE93279T1 (ja)
DE (1) DE3883280T2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018532888A (ja) * 2015-10-25 2018-11-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板上の真空堆積のための装置及びシステム、並びに基板上の真空堆積のための方法

Families Citing this family (221)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8900544A (nl) * 1989-03-06 1990-10-01 Asm Europ Behandelingsstelsel, behandelingsvat en werkwijze voor het behandelen van een substraat.
FI85793C (fi) * 1990-05-18 1992-05-25 Plasmapiiri Oy Foerfarande och anordning foer framstaellning av kretskort.
JPH07508617A (ja) 1992-06-26 1995-09-21 マティリアルズ リサーチ コーポレイション ウエハ処理工程ラインのための輸送装置
US5286361A (en) * 1992-10-19 1994-02-15 Regents Of The University Of California Magnetically attached sputter targets
IL115713A0 (en) * 1995-10-22 1996-01-31 Ipmms Dev & Production Ltd Sputter deposit method and apparatus
DE19853943B4 (de) 1997-11-26 2006-04-20 Vapor Technologies, Inc. (Delaware Corporation), Longmont Katode zur Zerstäubung oder Bogenaufdampfung sowie Vorrichtung zur Beschichtung oder Ionenimplantation mit einer solchen Katode
US5997705A (en) * 1999-04-14 1999-12-07 Vapor Technologies, Inc. Rectangular filtered arc plasma source
US7498587B2 (en) * 2006-05-01 2009-03-03 Vapor Technologies, Inc. Bi-directional filtered arc plasma source
US8273222B2 (en) * 2006-05-16 2012-09-25 Southwest Research Institute Apparatus and method for RF plasma enhanced magnetron sputter deposition
US8277617B2 (en) * 2007-08-14 2012-10-02 Southwest Research Institute Conformal magnetron sputter deposition
DE102008029379A1 (de) * 2008-06-23 2009-08-13 Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh Anordnung zum Beschichten bandförmiger Foliensubstrate
US8747631B2 (en) * 2010-03-15 2014-06-10 Southwest Research Institute Apparatus and method utilizing a double glow discharge plasma for sputter cleaning
US20130023129A1 (en) 2011-07-20 2013-01-24 Asm America, Inc. Pressure transmitter for a semiconductor processing environment
US10714315B2 (en) 2012-10-12 2020-07-14 Asm Ip Holdings B.V. Semiconductor reaction chamber showerhead
US20160376700A1 (en) 2013-02-01 2016-12-29 Asm Ip Holding B.V. System for treatment of deposition reactor
US11015245B2 (en) 2014-03-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase reactor and system having exhaust plenum and components thereof
US10941490B2 (en) 2014-10-07 2021-03-09 Asm Ip Holding B.V. Multiple temperature range susceptor, assembly, reactor and system including the susceptor, and methods of using the same
US10276355B2 (en) 2015-03-12 2019-04-30 Asm Ip Holding B.V. Multi-zone reactor, system including the reactor, and method of using the same
US10458018B2 (en) 2015-06-26 2019-10-29 Asm Ip Holding B.V. Structures including metal carbide material, devices including the structures, and methods of forming same
US10211308B2 (en) 2015-10-21 2019-02-19 Asm Ip Holding B.V. NbMC layers
US11139308B2 (en) 2015-12-29 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Atomic layer deposition of III-V compounds to form V-NAND devices
US10529554B2 (en) 2016-02-19 2020-01-07 Asm Ip Holding B.V. Method for forming silicon nitride film selectively on sidewalls or flat surfaces of trenches
US10367080B2 (en) 2016-05-02 2019-07-30 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a germanium oxynitride film
US11453943B2 (en) 2016-05-25 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Method for forming carbon-containing silicon/metal oxide or nitride film by ALD using silicon precursor and hydrocarbon precursor
US9859151B1 (en) 2016-07-08 2018-01-02 Asm Ip Holding B.V. Selective film deposition method to form air gaps
US10612137B2 (en) 2016-07-08 2020-04-07 Asm Ip Holdings B.V. Organic reactants for atomic layer deposition
US9812320B1 (en) 2016-07-28 2017-11-07 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
KR102532607B1 (ko) 2016-07-28 2023-05-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 가공 장치 및 그 동작 방법
US9887082B1 (en) 2016-07-28 2018-02-06 Asm Ip Holding B.V. Method and apparatus for filling a gap
US11532757B2 (en) 2016-10-27 2022-12-20 Asm Ip Holding B.V. Deposition of charge trapping layers
US10714350B2 (en) 2016-11-01 2020-07-14 ASM IP Holdings, B.V. Methods for forming a transition metal niobium nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related semiconductor device structures
KR102546317B1 (ko) 2016-11-15 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기체 공급 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR20180068582A (ko) 2016-12-14 2018-06-22 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11581186B2 (en) 2016-12-15 2023-02-14 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus
US11447861B2 (en) 2016-12-15 2022-09-20 Asm Ip Holding B.V. Sequential infiltration synthesis apparatus and a method of forming a patterned structure
KR20180070971A (ko) 2016-12-19 2018-06-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US10269558B2 (en) 2016-12-22 2019-04-23 Asm Ip Holding B.V. Method of forming a structure on a substrate
US11390950B2 (en) 2017-01-10 2022-07-19 Asm Ip Holding B.V. Reactor system and method to reduce residue buildup during a film deposition process
US10468261B2 (en) 2017-02-15 2019-11-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metallic film on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10529563B2 (en) 2017-03-29 2020-01-07 Asm Ip Holdings B.V. Method for forming doped metal oxide films on a substrate by cyclical deposition and related semiconductor device structures
US10770286B2 (en) 2017-05-08 2020-09-08 Asm Ip Holdings B.V. Methods for selectively forming a silicon nitride film on a substrate and related semiconductor device structures
US11306395B2 (en) 2017-06-28 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal nitride film on a substrate by atomic layer deposition and related deposition apparatus
KR20190009245A (ko) 2017-07-18 2019-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자 구조물 형성 방법 및 관련된 반도체 소자 구조물
US10541333B2 (en) 2017-07-19 2020-01-21 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11018002B2 (en) 2017-07-19 2021-05-25 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a Group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US11374112B2 (en) 2017-07-19 2022-06-28 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a group IV semiconductor and related semiconductor device structures
US10590535B2 (en) 2017-07-26 2020-03-17 Asm Ip Holdings B.V. Chemical treatment, deposition and/or infiltration apparatus and method for using the same
US10770336B2 (en) 2017-08-08 2020-09-08 Asm Ip Holding B.V. Substrate lift mechanism and reactor including same
US10692741B2 (en) 2017-08-08 2020-06-23 Asm Ip Holdings B.V. Radiation shield
US11769682B2 (en) 2017-08-09 2023-09-26 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11139191B2 (en) 2017-08-09 2021-10-05 Asm Ip Holding B.V. Storage apparatus for storing cassettes for substrates and processing apparatus equipped therewith
US11830730B2 (en) 2017-08-29 2023-11-28 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method and apparatus
KR102491945B1 (ko) 2017-08-30 2023-01-26 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11295980B2 (en) 2017-08-30 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum metal film over a dielectric surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
US11056344B2 (en) 2017-08-30 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Layer forming method
US10658205B2 (en) 2017-09-28 2020-05-19 Asm Ip Holdings B.V. Chemical dispensing apparatus and methods for dispensing a chemical to a reaction chamber
US10403504B2 (en) 2017-10-05 2019-09-03 Asm Ip Holding B.V. Method for selectively depositing a metallic film on a substrate
US11022879B2 (en) 2017-11-24 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Method of forming an enhanced unexposed photoresist layer
CN111344522B (zh) 2017-11-27 2022-04-12 阿斯莫Ip控股公司 包括洁净迷你环境的装置
KR102597978B1 (ko) 2017-11-27 2023-11-06 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 배치 퍼니스와 함께 사용하기 위한 웨이퍼 카세트를 보관하기 위한 보관 장치
US10872771B2 (en) 2018-01-16 2020-12-22 Asm Ip Holding B. V. Method for depositing a material film on a substrate within a reaction chamber by a cyclical deposition process and related device structures
TW202325889A (zh) 2018-01-19 2023-07-01 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 沈積方法
CN111630203A (zh) 2018-01-19 2020-09-04 Asm Ip私人控股有限公司 通过等离子体辅助沉积来沉积间隙填充层的方法
US11081345B2 (en) 2018-02-06 2021-08-03 Asm Ip Holding B.V. Method of post-deposition treatment for silicon oxide film
EP3737779A1 (en) 2018-02-14 2020-11-18 ASM IP Holding B.V. A method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
US10896820B2 (en) 2018-02-14 2021-01-19 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a ruthenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process
KR102636427B1 (ko) 2018-02-20 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 장치
US10975470B2 (en) 2018-02-23 2021-04-13 Asm Ip Holding B.V. Apparatus for detecting or monitoring for a chemical precursor in a high temperature environment
US11473195B2 (en) 2018-03-01 2022-10-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus and a method for processing a substrate
US11629406B2 (en) 2018-03-09 2023-04-18 Asm Ip Holding B.V. Semiconductor processing apparatus comprising one or more pyrometers for measuring a temperature of a substrate during transfer of the substrate
US11114283B2 (en) 2018-03-16 2021-09-07 Asm Ip Holding B.V. Reactor, system including the reactor, and methods of manufacturing and using same
KR102646467B1 (ko) 2018-03-27 2024-03-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상에 전극을 형성하는 방법 및 전극을 포함하는 반도체 소자 구조
US11230766B2 (en) 2018-03-29 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11088002B2 (en) 2018-03-29 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate rack and a substrate processing system and method
TW202344708A (zh) 2018-05-08 2023-11-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 藉由循環沉積製程於基板上沉積氧化物膜之方法及相關裝置結構
KR102596988B1 (ko) 2018-05-28 2023-10-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 방법 및 그에 의해 제조된 장치
US11718913B2 (en) 2018-06-04 2023-08-08 Asm Ip Holding B.V. Gas distribution system and reactor system including same
US11270899B2 (en) 2018-06-04 2022-03-08 Asm Ip Holding B.V. Wafer handling chamber with moisture reduction
US11286562B2 (en) 2018-06-08 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Gas-phase chemical reactor and method of using same
KR102568797B1 (ko) 2018-06-21 2023-08-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 시스템
US10797133B2 (en) 2018-06-21 2020-10-06 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing a phosphorus doped silicon arsenide film and related semiconductor device structures
WO2020003000A1 (en) 2018-06-27 2020-01-02 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
US11492703B2 (en) 2018-06-27 2022-11-08 Asm Ip Holding B.V. Cyclic deposition methods for forming metal-containing material and films and structures including the metal-containing material
US10612136B2 (en) 2018-06-29 2020-04-07 ASM IP Holding, B.V. Temperature-controlled flange and reactor system including same
US10755922B2 (en) 2018-07-03 2020-08-25 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US10388513B1 (en) 2018-07-03 2019-08-20 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing silicon-free carbon-containing film as gap-fill layer by pulse plasma-assisted deposition
US11053591B2 (en) 2018-08-06 2021-07-06 Asm Ip Holding B.V. Multi-port gas injection system and reactor system including same
US11430674B2 (en) 2018-08-22 2022-08-30 Asm Ip Holding B.V. Sensor array, apparatus for dispensing a vapor phase reactant to a reaction chamber and related methods
KR20200030162A (ko) 2018-09-11 2020-03-20 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 증착 방법
US11024523B2 (en) 2018-09-11 2021-06-01 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
US11049751B2 (en) 2018-09-14 2021-06-29 Asm Ip Holding B.V. Cassette supply system to store and handle cassettes and processing apparatus equipped therewith
CN110970344A (zh) 2018-10-01 2020-04-07 Asm Ip控股有限公司 衬底保持设备、包含所述设备的系统及其使用方法
US11232963B2 (en) 2018-10-03 2022-01-25 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus and method
KR102592699B1 (ko) 2018-10-08 2023-10-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 박막 증착 장치와 기판 처리 장치
KR102546322B1 (ko) 2018-10-19 2023-06-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102605121B1 (ko) 2018-10-19 2023-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
USD948463S1 (en) 2018-10-24 2022-04-12 Asm Ip Holding B.V. Susceptor for semiconductor substrate supporting apparatus
US11087997B2 (en) 2018-10-31 2021-08-10 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing apparatus for processing substrates
KR20200051105A (ko) 2018-11-02 2020-05-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 지지 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US11572620B2 (en) 2018-11-06 2023-02-07 Asm Ip Holding B.V. Methods for selectively depositing an amorphous silicon film on a substrate
US11031242B2 (en) 2018-11-07 2021-06-08 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a boron doped silicon germanium film
US10818758B2 (en) 2018-11-16 2020-10-27 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a metal silicate film on a substrate in a reaction chamber and related semiconductor device structures
US10847366B2 (en) 2018-11-16 2020-11-24 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a transition metal chalcogenide film on a substrate by a cyclical deposition process
US11217444B2 (en) 2018-11-30 2022-01-04 Asm Ip Holding B.V. Method for forming an ultraviolet radiation responsive metal oxide-containing film
KR102636428B1 (ko) 2018-12-04 2024-02-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치를 세정하는 방법
US11158513B2 (en) 2018-12-13 2021-10-26 Asm Ip Holding B.V. Methods for forming a rhenium-containing film on a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures
JP2020096183A (ja) 2018-12-14 2020-06-18 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー 窒化ガリウムの選択的堆積を用いてデバイス構造体を形成する方法及びそのためのシステム
TWI819180B (zh) 2019-01-17 2023-10-21 荷蘭商Asm 智慧財產控股公司 藉由循環沈積製程於基板上形成含過渡金屬膜之方法
KR20200091543A (ko) 2019-01-22 2020-07-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
CN111524788B (zh) 2019-02-01 2023-11-24 Asm Ip私人控股有限公司 氧化硅的拓扑选择性膜形成的方法
KR102626263B1 (ko) 2019-02-20 2024-01-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 처리 단계를 포함하는 주기적 증착 방법 및 이를 위한 장치
TW202044325A (zh) 2019-02-20 2020-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 填充一基板之一表面內所形成的一凹槽的方法、根據其所形成之半導體結構、及半導體處理設備
TW202104632A (zh) 2019-02-20 2021-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用來填充形成於基材表面內之凹部的循環沉積方法及設備
KR20200102357A (ko) 2019-02-20 2020-08-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 3-d nand 응용의 플러그 충진체 증착용 장치 및 방법
TW202100794A (zh) 2019-02-22 2021-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基材處理設備及處理基材之方法
KR20200108242A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 질화물 층을 선택적으로 증착하는 방법, 및 선택적으로 증착된 실리콘 질화물 층을 포함하는 구조체
KR20200108243A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOC 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
KR20200108248A (ko) 2019-03-08 2020-09-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. SiOCN 층을 포함한 구조체 및 이의 형성 방법
JP2020167398A (ja) 2019-03-28 2020-10-08 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ドアオープナーおよびドアオープナーが提供される基材処理装置
KR20200116855A (ko) 2019-04-01 2020-10-13 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반도체 소자를 제조하는 방법
KR20200123380A (ko) 2019-04-19 2020-10-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 층 형성 방법 및 장치
KR20200125453A (ko) 2019-04-24 2020-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기상 반응기 시스템 및 이를 사용하는 방법
KR20200130121A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 딥 튜브가 있는 화학물질 공급원 용기
KR20200130118A (ko) 2019-05-07 2020-11-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비정질 탄소 중합체 막을 개질하는 방법
KR20200130652A (ko) 2019-05-10 2020-11-19 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 표면 상에 재료를 증착하는 방법 및 본 방법에 따라 형성된 구조
JP2020188255A (ja) 2019-05-16 2020-11-19 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. ウェハボートハンドリング装置、縦型バッチ炉および方法
USD947913S1 (en) 2019-05-17 2022-04-05 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD975665S1 (en) 2019-05-17 2023-01-17 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
USD935572S1 (en) 2019-05-24 2021-11-09 Asm Ip Holding B.V. Gas channel plate
USD922229S1 (en) 2019-06-05 2021-06-15 Asm Ip Holding B.V. Device for controlling a temperature of a gas supply unit
KR20200141003A (ko) 2019-06-06 2020-12-17 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 가스 감지기를 포함하는 기상 반응기 시스템
KR20200143254A (ko) 2019-06-11 2020-12-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 개질 가스를 사용하여 전자 구조를 형성하는 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 시스템, 및 상기 방법을 사용하여 형성되는 구조
USD944946S1 (en) 2019-06-14 2022-03-01 Asm Ip Holding B.V. Shower plate
USD931978S1 (en) 2019-06-27 2021-09-28 Asm Ip Holding B.V. Showerhead vacuum transport
KR20210005515A (ko) 2019-07-03 2021-01-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치용 온도 제어 조립체 및 이를 사용하는 방법
JP2021015791A (ja) 2019-07-09 2021-02-12 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 同軸導波管を用いたプラズマ装置、基板処理方法
CN112216646A (zh) 2019-07-10 2021-01-12 Asm Ip私人控股有限公司 基板支撑组件及包括其的基板处理装置
KR20210010307A (ko) 2019-07-16 2021-01-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210010820A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 게르마늄 구조를 형성하는 방법
KR20210010816A (ko) 2019-07-17 2021-01-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 라디칼 보조 점화 플라즈마 시스템 및 방법
US11643724B2 (en) 2019-07-18 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Method of forming structures using a neutral beam
CN112242296A (zh) 2019-07-19 2021-01-19 Asm Ip私人控股有限公司 形成拓扑受控的无定形碳聚合物膜的方法
CN112309843A (zh) 2019-07-29 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 实现高掺杂剂掺入的选择性沉积方法
CN112309900A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112309899A (zh) 2019-07-30 2021-02-02 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
US11587815B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11227782B2 (en) 2019-07-31 2022-01-18 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
US11587814B2 (en) 2019-07-31 2023-02-21 Asm Ip Holding B.V. Vertical batch furnace assembly
KR20210018759A (ko) 2019-08-05 2021-02-18 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 화학물질 공급원 용기를 위한 액체 레벨 센서
USD965524S1 (en) 2019-08-19 2022-10-04 Asm Ip Holding B.V. Susceptor support
USD965044S1 (en) 2019-08-19 2022-09-27 Asm Ip Holding B.V. Susceptor shaft
JP2021031769A (ja) 2019-08-21 2021-03-01 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 成膜原料混合ガス生成装置及び成膜装置
USD940837S1 (en) 2019-08-22 2022-01-11 Asm Ip Holding B.V. Electrode
USD930782S1 (en) 2019-08-22 2021-09-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor
USD979506S1 (en) 2019-08-22 2023-02-28 Asm Ip Holding B.V. Insulator
USD949319S1 (en) 2019-08-22 2022-04-19 Asm Ip Holding B.V. Exhaust duct
KR20210024423A (ko) 2019-08-22 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 홀을 구비한 구조체를 형성하기 위한 방법
KR20210024420A (ko) 2019-08-23 2021-03-05 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 비스(디에틸아미노)실란을 사용하여 peald에 의해 개선된 품질을 갖는 실리콘 산화물 막을 증착하기 위한 방법
US11286558B2 (en) 2019-08-23 2022-03-29 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing a molybdenum nitride film on a surface of a substrate by a cyclical deposition process and related semiconductor device structures including a molybdenum nitride film
KR20210029090A (ko) 2019-09-04 2021-03-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 희생 캡핑 층을 이용한 선택적 증착 방법
KR20210029663A (ko) 2019-09-05 2021-03-16 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
US11562901B2 (en) 2019-09-25 2023-01-24 Asm Ip Holding B.V. Substrate processing method
CN112593212B (zh) 2019-10-02 2023-12-22 Asm Ip私人控股有限公司 通过循环等离子体增强沉积工艺形成拓扑选择性氧化硅膜的方法
TW202129060A (zh) 2019-10-08 2021-08-01 荷蘭商Asm Ip控股公司 基板處理裝置、及基板處理方法
KR20210043460A (ko) 2019-10-10 2021-04-21 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 포토레지스트 하부층을 형성하기 위한 방법 및 이를 포함한 구조체
KR20210045930A (ko) 2019-10-16 2021-04-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 실리콘 산화물의 토폴로지-선택적 막의 형성 방법
US11637014B2 (en) 2019-10-17 2023-04-25 Asm Ip Holding B.V. Methods for selective deposition of doped semiconductor material
KR20210047808A (ko) 2019-10-21 2021-04-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 막을 선택적으로 에칭하기 위한 장치 및 방법
US11646205B2 (en) 2019-10-29 2023-05-09 Asm Ip Holding B.V. Methods of selectively forming n-type doped material on a surface, systems for selectively forming n-type doped material, and structures formed using same
KR20210054983A (ko) 2019-11-05 2021-05-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 도핑된 반도체 층을 갖는 구조체 및 이를 형성하기 위한 방법 및 시스템
US11501968B2 (en) 2019-11-15 2022-11-15 Asm Ip Holding B.V. Method for providing a semiconductor device with silicon filled gaps
KR20210062561A (ko) 2019-11-20 2021-05-31 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판의 표면 상에 탄소 함유 물질을 증착하는 방법, 상기 방법을 사용하여 형성된 구조물, 및 상기 구조물을 형성하기 위한 시스템
KR20210065848A (ko) 2019-11-26 2021-06-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 제1 유전체 표면과 제2 금속성 표면을 포함한 기판 상에 타겟 막을 선택적으로 형성하기 위한 방법
CN112951697A (zh) 2019-11-26 2021-06-11 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885692A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
CN112885693A (zh) 2019-11-29 2021-06-01 Asm Ip私人控股有限公司 基板处理设备
JP2021090042A (ja) 2019-12-02 2021-06-10 エーエスエム アイピー ホールディング ビー.ブイ. 基板処理装置、基板処理方法
KR20210070898A (ko) 2019-12-04 2021-06-15 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
TW202125596A (zh) 2019-12-17 2021-07-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成氮化釩層之方法以及包括該氮化釩層之結構
KR20210080214A (ko) 2019-12-19 2021-06-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 상의 갭 피처를 충진하는 방법 및 이와 관련된 반도체 소자 구조
JP2021109175A (ja) 2020-01-06 2021-08-02 エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー ガス供給アセンブリ、その構成要素、およびこれを含む反応器システム
KR20210095050A (ko) 2020-01-20 2021-07-30 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법 및 박막 표면 개질 방법
TW202130846A (zh) 2020-02-03 2021-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成包括釩或銦層的結構之方法
TW202146882A (zh) 2020-02-04 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 驗證一物品之方法、用於驗證一物品之設備、及用於驗證一反應室之系統
US11776846B2 (en) 2020-02-07 2023-10-03 Asm Ip Holding B.V. Methods for depositing gap filling fluids and related systems and devices
US11781243B2 (en) 2020-02-17 2023-10-10 Asm Ip Holding B.V. Method for depositing low temperature phosphorous-doped silicon
KR20210116240A (ko) 2020-03-11 2021-09-27 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 조절성 접합부를 갖는 기판 핸들링 장치
US11876356B2 (en) 2020-03-11 2024-01-16 Asm Ip Holding B.V. Lockout tagout assembly and system and method of using same
KR20210117157A (ko) 2020-03-12 2021-09-28 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 타겟 토폴로지 프로파일을 갖는 층 구조를 제조하기 위한 방법
KR20210124042A (ko) 2020-04-02 2021-10-14 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 박막 형성 방법
TW202146689A (zh) 2020-04-03 2021-12-16 荷蘭商Asm Ip控股公司 阻障層形成方法及半導體裝置的製造方法
TW202145344A (zh) 2020-04-08 2021-12-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於選擇性蝕刻氧化矽膜之設備及方法
US11821078B2 (en) 2020-04-15 2023-11-21 Asm Ip Holding B.V. Method for forming precoat film and method for forming silicon-containing film
KR20210132600A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐, 질소 및 추가 원소를 포함한 층을 증착하기 위한 방법 및 시스템
US11898243B2 (en) 2020-04-24 2024-02-13 Asm Ip Holding B.V. Method of forming vanadium nitride-containing layer
KR20210132605A (ko) 2020-04-24 2021-11-04 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 냉각 가스 공급부를 포함한 수직형 배치 퍼니스 어셈블리
KR20210134226A (ko) 2020-04-29 2021-11-09 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 고체 소스 전구체 용기
KR20210134869A (ko) 2020-05-01 2021-11-11 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. Foup 핸들러를 이용한 foup의 빠른 교환
KR20210141379A (ko) 2020-05-13 2021-11-23 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 반응기 시스템용 레이저 정렬 고정구
KR20210143653A (ko) 2020-05-19 2021-11-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 기판 처리 장치
KR20210145078A (ko) 2020-05-21 2021-12-01 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 다수의 탄소 층을 포함한 구조체 및 이를 형성하고 사용하는 방법
TW202201602A (zh) 2020-05-29 2022-01-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202218133A (zh) 2020-06-24 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 形成含矽層之方法
TW202217953A (zh) 2020-06-30 2022-05-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 基板處理方法
TW202219628A (zh) 2020-07-17 2022-05-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於光微影之結構與方法
TW202204662A (zh) 2020-07-20 2022-02-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於沉積鉬層之方法及系統
KR20220027026A (ko) 2020-08-26 2022-03-07 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 금속 실리콘 산화물 및 금속 실리콘 산질화물 층을 형성하기 위한 방법 및 시스템
USD990534S1 (en) 2020-09-11 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Weighted lift pin
USD1012873S1 (en) 2020-09-24 2024-01-30 Asm Ip Holding B.V. Electrode for semiconductor processing apparatus
TW202229613A (zh) 2020-10-14 2022-08-01 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 於階梯式結構上沉積材料的方法
KR20220053482A (ko) 2020-10-22 2022-04-29 에이에스엠 아이피 홀딩 비.브이. 바나듐 금속을 증착하는 방법, 구조체, 소자 및 증착 어셈블리
TW202223136A (zh) 2020-10-28 2022-06-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 用於在基板上形成層之方法、及半導體處理系統
TW202235675A (zh) 2020-11-30 2022-09-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 注入器、及基板處理設備
US11946137B2 (en) 2020-12-16 2024-04-02 Asm Ip Holding B.V. Runout and wobble measurement fixtures
TW202231903A (zh) 2020-12-22 2022-08-16 荷蘭商Asm Ip私人控股有限公司 過渡金屬沉積方法、過渡金屬層、用於沉積過渡金屬於基板上的沉積總成
USD980813S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate for substrate processing apparatus
USD1023959S1 (en) 2021-05-11 2024-04-23 Asm Ip Holding B.V. Electrode for substrate processing apparatus
USD981973S1 (en) 2021-05-11 2023-03-28 Asm Ip Holding B.V. Reactor wall for substrate processing apparatus
USD980814S1 (en) 2021-05-11 2023-03-14 Asm Ip Holding B.V. Gas distributor for substrate processing apparatus
USD990441S1 (en) 2021-09-07 2023-06-27 Asm Ip Holding B.V. Gas flow control plate
US20240105476A1 (en) * 2022-09-23 2024-03-28 Intel Corporation System for coating method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5825475A (ja) * 1981-08-05 1983-02-15 Nec Corp スパツタ装置
JPS593546A (ja) * 1982-06-30 1984-01-10 Fujitsu Ltd 異形式文書間複写処理方式
JPS61119673A (ja) * 1984-11-15 1986-06-06 Anelva Corp 連続式金属薄膜製造装置
JPS61196430A (ja) * 1985-02-27 1986-08-30 Toshiba Corp 磁気記録媒体の製造方法

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL50072C (ja) * 1935-12-28
FR2098563A5 (ja) * 1970-07-10 1972-03-10 Progil
US3856654A (en) * 1971-08-26 1974-12-24 Western Electric Co Apparatus for feeding and coating masses of workpieces in a controlled atmosphere
GB1381835A (en) * 1972-10-07 1975-01-29 Delog Detag Flachglas Ag Coating of large plates of glass ceramics plstics and the like by cathodic sputtering
DE2253769C3 (de) * 1972-11-02 1979-07-12 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Kathodenzerstäubungsanlage mit kontinuierlichem Substratdurchlauf
US4175030A (en) * 1977-12-08 1979-11-20 Battelle Development Corporation Two-sided planar magnetron sputtering apparatus
US4265729A (en) * 1978-09-27 1981-05-05 Vac-Tec Systems, Inc. Magnetically enhanced sputtering device
US4194962A (en) * 1978-12-20 1980-03-25 Advanced Coating Technology, Inc. Cathode for sputtering
EP0017472A1 (en) * 1979-04-06 1980-10-15 Lintott Engineering Limited Evacuable equipment containing a device for heat transfer and process for the manufacture of semi-conductor components using this equipment
US4239611A (en) * 1979-06-11 1980-12-16 Vac-Tec Systems, Inc. Magnetron sputtering devices
JPS57179952A (en) * 1981-04-24 1982-11-05 Fuji Photo Film Co Ltd Method and apparatus for magnetic recording medium
US4426275A (en) * 1981-11-27 1984-01-17 Deposition Technology, Inc. Sputtering device adaptable for coating heat-sensitive substrates
US4351697A (en) * 1982-01-04 1982-09-28 Western Electric Company, Inc. Printed wiring boards
US4444848A (en) * 1982-01-04 1984-04-24 Western Electric Co., Inc. Adherent metal coatings on rubber-modified epoxy resin surfaces
US4486289A (en) * 1982-02-05 1984-12-04 University Of British Columbia, Canada Planar magnetron sputtering device
US4394236A (en) * 1982-02-16 1983-07-19 Shatterproof Glass Corporation Magnetron cathode sputtering apparatus
JPS58141433A (ja) * 1982-02-16 1983-08-22 Teijin Ltd 磁気記録媒体とその製造方法
GB8425850D0 (en) * 1984-10-12 1984-11-21 South London Elect Equip Feeding components to work station

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5825475A (ja) * 1981-08-05 1983-02-15 Nec Corp スパツタ装置
JPS593546A (ja) * 1982-06-30 1984-01-10 Fujitsu Ltd 異形式文書間複写処理方式
JPS61119673A (ja) * 1984-11-15 1986-06-06 Anelva Corp 連続式金属薄膜製造装置
JPS61196430A (ja) * 1985-02-27 1986-08-30 Toshiba Corp 磁気記録媒体の製造方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018532888A (ja) * 2015-10-25 2018-11-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated 基板上の真空堆積のための装置及びシステム、並びに基板上の真空堆積のための方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE3883280T2 (de) 1993-12-09
ATE93279T1 (de) 1993-09-15
KR880012790A (ko) 1988-11-29
EP0289194B1 (en) 1993-08-18
EP0289194A2 (en) 1988-11-02
US4812217A (en) 1989-03-14
EP0289194A3 (en) 1990-05-16
DE3883280D1 (de) 1993-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63282269A (ja) 物体上に金属コーティングを堆積させる方法
US5855686A (en) Method and apparatus for vacuum deposition of highly ionized media in an electromagnetic controlled environment
US6641702B2 (en) Sputtering device
US7347919B2 (en) Sputter source, sputtering device, and sputtering method
JP3532208B2 (ja) 物品を薄膜コーティングするための方法および装置
US4915805A (en) Hollow cathode type magnetron apparatus construction
US4692233A (en) Vacuum coating apparatus
KR100992937B1 (ko) 진공 처리 장치
US5538610A (en) Vacuum coating system
JP2018532888A (ja) 基板上の真空堆積のための装置及びシステム、並びに基板上の真空堆積のための方法
US9892890B2 (en) Narrow source for physical vapor deposition processing
US20130098757A1 (en) Sputtering deposition apparatus and adhesion preventing member
EP1044458B1 (en) Dual face shower head magnetron, plasma generating apparatus and method of coating a substrate
US4172021A (en) Method and glow-suppression devices for transporting a gas across a voltage drop
WO2007136483A2 (en) Ionizing system for vacuum process and metrology equipment
KR20110042218A (ko) 스퍼터링 장치, 박막 형성 방법 및 전계 효과형 트랜지스터의 제조 방법
JPH05148639A (ja) マグネトロンカソード電極
JPH05117851A (ja) スパツタリング装置
JP3865841B2 (ja) 電子ビーム蒸着装置
KR20220158064A (ko) 기판을 이동시키기 위한 장치, 증착 장치 및 프로세싱 시스템
KR20110029500A (ko) 플라즈마 성막 장치
CN112877662B (zh) 一种磁控溅射设备
WO2002008484A2 (en) Vacuum module for applying coatings
JP2024002229A (ja) 基板処理方法、および、基板処理装置
JPH02294491A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置