JPS5825475A - スパツタ装置 - Google Patents

スパツタ装置

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JPS5825475A
JPS5825475A JP12327881A JP12327881A JPS5825475A JP S5825475 A JPS5825475 A JP S5825475A JP 12327881 A JP12327881 A JP 12327881A JP 12327881 A JP12327881 A JP 12327881A JP S5825475 A JPS5825475 A JP S5825475A
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magnetic
substrate electrode
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Nobuyuki Hayama
信幸 羽山
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Nippon Electric Co Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • H01J37/3408Planar magnetron sputtering

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は基板上に物質を付着するスパッタ装置特に絶縁
物及び磁性体のスパッタを主目的とする逆スパツタ機構
及びバイアススパッタ機構を有するスパッタ装置に関す
るものである・ スパッタ装置は、半導体の成膜プロセスにはかかせない
重畳な役割をはにす様になった。特Kl/lp3縁物に
代表される高融点材料は蒸着中気相成長(Chemic
al Vapor Deposition)等07pO
セスによって得られるものよ〕優れた特性のものを基板
材上に付着させることができる・又、半導体の成膜プロ
セスではないが、磁性体のスパッタにもその特性や膜の
再m性が良好な点で、広く利用されている・ さらに、尚技術分野では公知の如く、逆スパツタ機構の
導入によ)、@を基板#に付着させる前に、基板電極に
高圧電力を印加し、基板材の表面をイオン衝撃によルク
リーニングする。いわゆる逆スパツタを行うことにより
て、そのvkK付着させる膜との付着強度を増すことが
できる。又5通常のスパッタと同時に逆スパッタ管重畳
するバイアススパッタ法は、lIの形成中にリスバッタ
リング現象を積極的に利用して、スパッタし先陣I[O
プレーナ化を計る手段として、あるいは、既に基板材上
に形成された膜の段差の部分への絶縁物の回シ込みをう
ながす手法として、さらには特IC。
磁性体のスパッタで膜の形成中に取9込まれ缶気IlI
性劣化のもとに1にシやすす、酸素、水素あるbは水酸
基等の除去を行う丸めの手法として知られている。この
バイアススパッタ法は、絶縁物をスパッタすることを主
目的とするスパッタ装置では高周波電圧を、導電物置を
スパッタする装置では直流又は高jIli波電圧を基板
電極に加えることによって実現される。ここで、リスバ
ッタリング現象とは、基板電極に発生する負の電圧によ
り、形成中の薄1[K対し、正イオン衝撃を行す、これ
Kよる再放出現象を行わせることを言う。
以上述べたバイアススパッタ法を実現する肉として、1
971年9月発行I BM  TechnicalDi
sclosure Bulletin j[14巻4号
第1032頁に記載されたスパッタ装置が知られており
絶縁薄膜のプレーナ化に使用されて来た。【7かしなが
ら、この方法は一つの高周波電圧を基板電極及びターゲ
ット電figsつの可変リアクタンスを介して印加する
必要があるため、非常に複雑である・しかもこれKは熟
練した技術者による取扱が必要であL結局、大規模な半
導体素子等の生産グロセスには不向きであった・又、他
の公知のバイアススパッタ法を実現する内として、IB
MJour−nal of Re5earch and
 Development  1970年、菖14巻2
−8.菖172乃至175頁に記載されたJ −8、L
ogan氏による論文rcozttrol ofRF 
 8puttered Film Propertie
s throughSubstrate ’l’uni
ngJに示された同調陽極システムがある。この装置は
チャンバとは絶縁された基板電極と基準電位部(普通接
地S)間にインダクタンスLとキャパシタンスCKよる
共振回路が設けてあ〕、この共振回路のl1lliln
!Iで、基板電極を通る鳥局波電訛を、従って基板から
のリスバッタ級t−111111することができる・し
かし、基板wt極を流れる高側tILwtt&に制限が
あるためリスバッタ量は限定され薄−〇プレーナ化塘で
は不可能であった。
又、直流高圧電源によるスパッタ装置には適用不可能で
あった。
さIK、バイアススパッタ法を実現する。他の公知的と
して、高周波wt源及び直流高圧電源のいずれにも適用
できる。二電源システムがある。これは、ターゲット電
極と基板電極に、それぞれ独立した2個の高周波又は直
流の高圧1tfjjJ、を接続し一方の電源で膜形成用
のスパッタ現象を、他の電源でリスバッタ現象をおこさ
せるものである・しかしながら、このシステムには二つ
の高圧電源を必要とするため、装置全体が高価になり、
又、それぞれの電源が相手側電源の負荷となるためwt
#自体に負担がかかシ1回路的な工夫が必要であったー 一方、磁性体のスパッタでは基板材上に付着した磁性体
*[K&磁気異方性を付与するため、外部より磁界を印
加する必要がある・この外部からO磁界方向は、スパッ
タ装置にプラズマ収束用としてしθ付属している永久磁
石(又Fi、プンズマ収束用コイル>OtB界方肉方向
ずしも一致するものでは麦<、促って、との磁気異方性
を付与するための外部磁界はプラズマ収束を低減させる
原因となっていた一 本発明の目的は、前記従来の欠点を解決し、逆スパッタ
法、バイアススパッタ法の効果全島め。
さbKa性体に磁気異方性を付与することO可能なスパ
ッタ装置を提供することである。
本発明は基板電極表面に対して、略平行く磁束が分布す
るように1前記基板電極内に永久磁石を配置したことを
特徴とする。
以下1本発明につbて、実施例を示す図面を参照して説
明する・第1図は本発明を採用した畠周波スパッタ装置
を示す、仁の装置は先に述べたLOgal1氏のバイア
ススパッタ法、即ち同一陽極システムに本発明を用すた
実施例である@ IJOga(1氏が発表したシステム
は、基板電極と接地部間に接続されえインダクタンスと
コンデンサのa 列IfJ調回路を含み、この回路は共
振点(ゼロリアクタンス)を介して容量性リアクタンス
25為ら誘導性リアクタンスまで変化し得る・更に、こ
の回路は。
基板g極と接地部間の浮遊容量に並列に同調させること
もできるので、基板電極と接地部間の正味のりアクタン
スはゼロから非常に大きい誘導性。
又は、容量性まで変化せしめることができる。このシス
テムでは前記の回路を容量性から誘導性まで変化させる
ことによII、基板電極とスパッタ中のチャンバ内部に
発生するプラズマの導電性領域と0間のインピーダンス
が制御され、よって基板電極に誘起される電圧、及びタ
ーゲット電圧に対する位相を制御することができる。
li1図に示す本発明によるスパッタ装置は低圧チャン
バ1を含み、それは基準電位2に、即ちこの場合接地電
位に接続されている。チャンバは金属台板3を含み、チ
ャンバ内が真空に保たれるよう気密構造となっている。
チャンバ1は例えばステンレス又はアルミニウム合金で
作られている。
アルゴン等の適当なガスが入口(図示せず)から導入さ
れ、真空ポンプ及び圧力調整器(図示せず)によって低
圧に保たれ、チャンバl内にターゲット電極4が配置さ
れ、その上にスパッタされる材料、ガえば、絶縁物とし
てSiO,、Al、O□磁注体としてNlce合金等の
ターゲット5が取付けられて−る。ターゲット電極4を
取巻くように、それと電気的に絶縁され基準電位に接続
されたチャンバ1と同電位の導電性極間シールド6が設
けられている。ターゲット電極4及びターゲラ)5に近
接対抗して、基板電極7と、この基板電極7を取勺囲む
ように基板シールド8が般けられ、基板電極7の1忙は
、試料となる基板材9(fiえば、フェライト、セラミ
ック、Siウェファ−等)が配置される。基板電極7は
絶縁支持部材10に、ターゲット電極4は絶縁支持部材
11にそれぞれ取付けられている・ターゲット電極4及
び基板電極7には、それぞれ冷却水パイプ12及び13
を通して冷却水が盾壊し、プラズマ族IEKよる。ター
ゲット電極4.ターゲットff−5及び基板1t17更
には基板材9の温度上昇を防ぐようになっている・ 基準電位点2即ち接地点と、ターゲット電極4との間に
高周波(岡えば、13.56メガヘルツ)発生ai14
がマツチングボックス15を直列に介して接続されてい
る。マツチングボックス15はインダクタンス及びコン
デンサから成る回路網で(詳細は図示せず)そのインピ
ーダンスが可変てきるようKなっておシ、スパッタ作業
中の高周波発生器14からの電力をターゲット電極4に
効率よく伝送する役割をもつ、基板4極7は高周波イン
ダクタンス16及び可変コンデンサ17が直列に接続さ
れた基板電極同調回路18を通して接地点2に接続され
ている。基板電極同調回路18はスパッタ作業中の基板
電極7の電位を制御する。
即ち基板電極7と接地点2間の可変高周波インピーダン
スは、それを通して流れる高周波4流により高周波電位
全発生するが、これは結果として、ターゲット5から飛
来し、基板材9の表面に付着し丸薄膜に負の直流バイア
ス1位を誘起する。従って、基板材90表面て付着した
膜に対して、正イオン衝撃による再放出現象が発生する
上に記載したことは薄膜形成工程を含む技術に通じた業
者にとって周知である・しかし既に述べたように、従来
の装置では、リスバッタの輩は限定され、実用に供しな
りものであった。これは。
基板電極を通る充分な高周波″#を流が倚られる前にシ
ステムが不安定になるからである。この年女定点では、
チャンバ@壁近辺のプラズマ嬢kが増加し、それに応じ
てプTズマから側壁へのインピーダンスが減する。これ
は^周rILwL流のチャンバ側壁への転換を意味し、
従って基板電極に流入する高周波wLfILが減する・ 本発明によるスパッタ装置では、基板電極7が中心部永
久磁石20と外周部永久磁石19及び高透磁率材料21
(伺えば、パーマロイ)とで磁気回路を形成し、中心部
永久磁石20C)N極(又は8極)から外周部永久磁石
19の8極(又はN極)へ向けて、放射状Km束23が
分布する。中心部永久磁石20と外周部永久磁石19F
i非a性金輌(M、tば、銅、アルミニウム)で作られ
先幕板台24及び基板電極枠25とで固定されており、
かつチャンバ内が真空に保たれるよう気密構造となって
込る。基板台24と基板電極枠25の内部22は、冷却
水パイプ13を通って来た冷却水が盾項している・ この様な構成を取ることによって、基板電極7とターゲ
ット電極40間に発生するプラズマは磁束23によって
、基板電極70表面近傍のみに閉じ込められる丸め、基
板電極7に@起される負のバイアス電位を高めてもシス
テムが不安定にならず、かつ基板材9の近傍に高m度の
正イオン及び電子が分布するため、基板材9に形成中の
薄膜に僑央する正イオン量が増加し、従ってリエミッシ
曹ン量が増加することになり、効率が大きく増大した。
従来1本発明とg4供した構造をもつ平行平板マグネト
ロンスパッタ装置が存在するが、マグネトロンスパッタ
装置はプラズマをターゲット磁極表面に放射状磁界で収
束させ、スパッタ効率を改善する目的のもので本発明と
は全く目的をgKするものである・又、前記平行平板マ
グネトロンスパッタamでも1本発明と同様なバイアス
電位yり法VtMAいて、リスバッメ効率を高めること
ができる。しかし、一般にマグネトロンスパッタを含め
たスパッタ装置はターゲット電極と基板tt極との距離
を任意に変光られる構造を有するため、#記距離によっ
て大きくリスバッタ量が変化してしまう一〇である0本
発明ではプラズマは基板電極表!11iK閉じ込められ
るため、この様な問題はなく、ターゲット電極と基板電
極との距離によらず、再現性よくバイアススパッタを行
うことができる。
又1本発明の他の目的である。磁性体のスパッタにおけ
る磁気異方性の付与に関して、第2図及び第3図を用い
て説明する。に2図は従来タイプの典型的スパッタ装置
の断面図である。従来タイプのスパッタ装置では、チャ
ンバ1の外部に設置された永久磁石26による磁界27
によって、プラズマをターゲット電極4と基板電極7と
の間に収束させてbた。この磁界27は基板電極7の表
面に垂直な磁界28と平行な磁界29に分解され従来m
性体のスパッタでは、この平行な磁界29を利用して形
成中の薄81!磁性体に面内磁気異方性を付与していた
。しかし、かかる構造では、平行な磁界29は、基板電
極中心部と外周部では、その大きさが違い、基板電極全
面で磁気%性の均一な磁性薄膜を得るめが困難であった
・又前述の様に、ターゲット電極4と基板電1i7との
距離は一般に、任意に変えられる構造になってお)、こ
の距離によって、基板電極表面の平行な磁界29は大き
く変化し、再現性がなかった。又、この問題を解決する
ため、更に外部から永久磁石又は電磁石等の手段によシ
基板魅極表面と平行な磁界を印加する方法も取られてb
た。しかし、この方法では、プラズマ収束用磁界270
分布が乱され、均一な磁気特性c1磁性薄膜を得るどこ
ろか、スパッタ効率さえも大きく低下してしまうもので
ある。
又、ffl気特性を改善するためOバイアススパッタ法
を適用しても均一な特性を得るのは困難で°あった一 本発明では、#X3因に示す基板−一7内の磁石配置、
即ち外周部永久磁石19及び中心部永久磁石20によ〕
、基板−極70表面の中心部から外周部へ放射状の磁束
23がはは均一に基板材9に加えられるため、前述のa
a体のスパッタ(バイアススパッタ法な含む)でれ、形
成中の磁性薄膜に均一な磁気異方性を与えることがLf
能となったー以上述べた。パイ7ススパツタ法は同lI
l陽極システムに限らず他O公知のバイアス印加法を相
いても可能であることは明らかである。
一方、逆スパツタ法でも、基板(41とターゲット1を
極間に妬生するプラズマは基板電極表面近傍に収束する
丸め、基板材表面0クリーニング効果を大きく改善でき
え・
【図面の簡単な説明】
諺1図は本発明によるスパッタ装置の実施内を示す概略
的な断面図、g2mは従来タイプのスパッタ装置を示す
概略的な断面iii、第3図は本発明の基1llL電極
の磁石配置と磁束分布を示す平面図である・ 1はチャンバ、4はターゲット電極、5はターゲット、
7は基板電極、19は外周部永久磁石。 20は中心部永久磁石である。 発 1 図 第 2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 内部が減圧状態を保持しうるチャンバと、前記チャンバ
    内のターゲット電極および基板電極と。 これらの電極間にプラズマをつくる高圧電源とを含むス
    パッタ装置において、前記基板電極表面に対して、略平
    行に5束が分布するように、前記基板電極内に永久磁石
    を配置したことを特徴とするスパッタ装置。
JP12327881A 1981-08-05 1981-08-05 スパツタ装置 Granted JPS5825475A (ja)

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