JPS63270460A - スパツタリング・タ−ゲツト - Google Patents

スパツタリング・タ−ゲツト

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Publication number
JPS63270460A
JPS63270460A JP10413587A JP10413587A JPS63270460A JP S63270460 A JPS63270460 A JP S63270460A JP 10413587 A JP10413587 A JP 10413587A JP 10413587 A JP10413587 A JP 10413587A JP S63270460 A JPS63270460 A JP S63270460A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
backing plate
metal
target material
noble
Prior art date
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Pending
Application number
JP10413587A
Other languages
English (en)
Inventor
Chiharu Ishikura
千春 石倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
Original Assignee
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tanaka Kikinzoku Kogyo KK filed Critical Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
Priority to JP10413587A priority Critical patent/JPS63270460A/ja
Publication of JPS63270460A publication Critical patent/JPS63270460A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (卒業上の利用分野) 本発明は、スパッタリング・ターゲットの改良に関する
ものである。
(従来の技術とその問題点) 第3図に示す如〈従来のスパッタリング・ターゲット1
は、ターゲット材料2を、バッキングプレート3にメタ
ルボンディング材4にて接合して成るものである。
しかしこのようなスパッタリング・ターゲット1ではバ
ッキングプレート3の交換に手間隙がかかり、またター
ゲット材料2の交換時にターゲット冷却用の冷却水配管
の取り外し部分からスパッタリング装置の真空槽が汚染
されないように配慮することが必要で、甚だ面倒であっ
た。
その為、ターゲット材料2をメタルボンディング材4に
てバッキングプレート3に接合するのをやめ、第4図に
示す如くターゲット材料2とバンキングプレート3を直
に接触、保持できる取付治具5を設けてターゲット材料
2をバッキングプレート3に保持して用いる方法が考え
られる。
ところで、Aus PI Pd等の貴金属ターゲット材
料2は、高価である為、第5図に示す如くできるだけ必
要最小限に薄くして用いる必要がある。この場合、使用
時の熱歪によりターゲット材料2に反りが発生し、バッ
キングプレート3による冷却効率が悪くなり、その為ス
パッタリング条件が変わり、形成される薄膜の品質が低
下するという問題があった。
(発明の目的) 本発明は上記問題を解決すべくなされたもので、バッキ
ングプレートによる冷却効率が良好で、使用時に熱歪に
よる反りの発生が無く、ターゲット材料2を必要最小限
の薄さで使用できるスパッタリング・ターゲットを提供
することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するための本発明の技術的手段は、タ
ーゲット材料を取付治具を介してバッキングプレートに
接触保持するスパッタリング・ターゲットに於いて、前
記ターゲット材料をCu又はAgの基板に薄板状のター
ゲット材料を接合してクラッドとなしたことを特徴とす
るものである。
本発明のスパッタリング・ターゲットで、基板をCu又
はAgとした理由は、熱伝導性が良好で、バッキングプ
レートによる冷却効果を低下させない為である。
(作用) 上記の如く構成された本発明のスパッタリング・ターゲ
ットは、熱伝導性の良いCu又はAgの基板に、必要最
小限の薄いターゲット材料を接合してクラッドのターゲ
ット材料を構成しているので、バンキングプレートへ取
付治具により直に接触、保持して使用した際、バッキン
グプレートによる冷却効率が良く、また熱歪により反り
が発生しないので、スパッタリング条件を一定に維持で
き、品質の良好な薄膜を構成できる。
(実施例) 本発明によるスパッタリング・ターゲットの実施例を比
較例及び従来例と共に説明する。
先ず実施例について説明すると、第1図に示す如く直径
152.4+n、厚さ1゜OnのIrより成るターゲッ
ト材料2を、直径152.4mm、厚さ4.OnのCu
より成る基板6に、Pb−3n(半田)より成るメタル
ボンディング材7にて接合してクラッドのターゲット材
料8を得た。
一方従来例として、第3図に示す如く直径152.41
1、厚さ5 、 OxvrのIrより成るターゲット材
料2を作り、また比較例として第5図に示す如く直径1
52.4mS厚さ1.0mのIrより成るターゲット材
料2′を作った。
然して実施例のターゲット材料8及び比較例のターゲッ
ト材料2′は、Cuより成る直径171.0鶴、厚さ5
 、0 m11のバッキングプレート3に第2図a、b
に示す如<5US304より成るL形で実施例は寸法6
X5XIX11の、比較例は寸法3×lX2X11の取
付治具5にて各々8ケ所を支持して接触保持してスパッ
タリング・ターゲット9.9を得た。また従来例のター
ゲット材料2を第3図に示す如(Cuより成る直径17
1.0mm、厚さ5.0籠のバッキングプレート3にP
b−3n(半田)より成るメタルボンディング材4にて
接合してスパッタリング・ターゲット1を得た。・こう
して得た実施例、比較例及び従来例のスパッタリング・
ターゲットを使用した処、下記の表に示すような結果を
得た。
(以下余白) 【 ]− 上記の表で明らかなように比較例によるスパッタリング
・ターゲットは使用後10分で反りが発生したのに対し
、実施例及び従来例のスパッタリング・ターゲットでは
反りが全く発生しなかった。
またスパッタリング・ターゲットの交換時間及び交換直
後のスパッタリング装置における真空槽の排気時間は従
来例のものに比べ実施例のものが短く、作業能率の良い
ことが判る。
尚、上記実施例ではクラッドのターゲラ) +4料の基
板がCuであるが、熱伝導度、電気伝導度のより高いA
gでも良いもので、その場合ターゲット材料とのクラッ
ド面はCuなどにより拡散防止や濡れ性の改善の為のコ
ーティング層を設けた後接合すると良い。
また上記実施例はターゲット材料がIrであるが貴金属
に限らず高融点材料や難加工材料など厚い材料を作りに
くいものは薄い材料のままターゲット材料に使用するこ
とができる。
(発明の効果) 以上の説明で判るように本発明のスパッタリング・ター
ゲットは、バッキングプレートによる冷却効率が良好で
、使用時に熱歪による反りの発生が全く無く、ターゲッ
ト材料を必要最小限の薄さで使用できるという優れた効
果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のスパッタリング・ターゲットに於ける
ターゲット材料の断面図、第2図aは本発明のスパッタ
リング・ターゲットの断面図、第2図すは比較例のスパ
ッタリング・ターゲットの断面図、第3図は従来例のス
パッタリング・ターゲットの断面図、第4図は比較例の
スパッタリング・ターゲットの断面図、第5図は比較例
において、ターゲット材料を薄<シたためにターゲット
材料に反りが発生したときのスパッタリング・ターゲッ
トの縦断面図である。 第2図(Q)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ターゲット材料を取付治具を介してバッキングプレート
    に接触保持するスパッタリング・ターゲットに於いて、
    前記ターゲット材料をCu又はAgの基板に薄板状のタ
    ーゲット材料を接合してクラッドとなしたことを特徴と
    するスパッタリング・ターゲット。
JP10413587A 1987-04-27 1987-04-27 スパツタリング・タ−ゲツト Pending JPS63270460A (ja)

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JP10413587A JPS63270460A (ja) 1987-04-27 1987-04-27 スパツタリング・タ−ゲツト

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JP10413587A JPS63270460A (ja) 1987-04-27 1987-04-27 スパツタリング・タ−ゲツト

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JPS63270460A true JPS63270460A (ja) 1988-11-08

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ID=14372660

Family Applications (1)

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JP10413587A Pending JPS63270460A (ja) 1987-04-27 1987-04-27 スパツタリング・タ−ゲツト

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