JPH01180975A - スパッタリング用バッキングプレート - Google Patents

スパッタリング用バッキングプレート

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Publication number
JPH01180975A
JPH01180975A JP409388A JP409388A JPH01180975A JP H01180975 A JPH01180975 A JP H01180975A JP 409388 A JP409388 A JP 409388A JP 409388 A JP409388 A JP 409388A JP H01180975 A JPH01180975 A JP H01180975A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sputtering
packing plate
substrate
target material
backing plate
Prior art date
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Pending
Application number
JP409388A
Other languages
English (en)
Inventor
Chiharu Ishikura
千春 石倉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
Original Assignee
Tanaka Kikinzoku Kogyo KK
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH01180975A publication Critical patent/JPH01180975A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/3407Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
    • C23C14/3414Metallurgical or chemical aspects of target preparation, e.g. casting, powder metallurgy

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、各工業分野において薄膜形成技術として、と
りわけ半導体分野においてIC基板製造プロセスで薄膜
素子及び電極、配線などを形成する為のスパッタ法に用
いるパッキングプレートの改良に関する。
(従来の技術とその問題点) 従来のスパッタリング用ターゲツト材は、パッキングプ
レートにメタルボンディング材にて接合して使用してい
る。しかしこの使用法ではターゲツト材をパッキングプ
レートから取外して交換することはむずかしいので、パ
ッキングプレート諸共即ちターゲットを取外すことにな
り、その交換に時間がかかったり、ターゲツト材の交換
時にパッキングプレート側を冷却しているターゲツト材
冷却水の配管を取外す部分からスパッタリング装置の真
空槽への汚染が生じないようにする配慮が必要など段取
作業が甚だ面倒であった。
そこで、ターゲツト材をメタルボンディング材でパッキ
ングプレートに接合するのをやめて、第1図に示す如(
ターゲツト材1を環状の取付治具2を介してパッキング
プレート3に直に接触保持することが考えられている。
この場合パッキングプレート3でのターゲツト材1の冷
却効果を上げる為、第2図に示す如くターゲツト材1の
バンキングプレート3と接触する側に熱伝導度の良好な
高純度のCu基板4をメタルボンディング材5にて接合
してクララ”ドターゲット材6とし、これのCu基板4
を第3図に示す如くパッキングプレート3に環状の取付
金具2にて密着することが行われる。しかしCu製のハ
シキングプレートの場合、使用中にへ゛ツキングプレー
ト3とクラッドターゲツト材6のCu基板4とか圧着状
態となり、使用後パッキングプレート3から取外すこと
が困難になるという問題点があった。
(発明の目的) 本発明は、上記問題点を解決すべくなされたもので、使
用中にCu基板がパッキングプレートに熱圧着されるこ
とがなく、使用後パッキングプレートから簡単に取外す
ことのできるスパッタリング用パッキングプレートを提
供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するための本発明の技術的手段は、パ
ッキングプレートのCuの純度を99.7%以上とし、
且つcd、、Fe、、CoXNi、Ti。
W、■、Sl、Zr、Bi= GaXGeXPt、Pd
、RhXRu、Ir、○s、Au、Agの少なくとも1
種以上合計て100〜3.000重量ρpm添加したこ
とを特徴とするものである。
(作用) 上記のように構成されたスパッタリング用パッキングプ
レートは、Cui板の純度を99.7%以上としている
ので、良好な熱伝導性により冷却効果が十分である。ま
たCuに前述の金属の少なくとも1種以上合計で100
〜3,000重量ppm添加しているので、Cuの拡散
が抑制されると共に再結晶温度が高くなって、使用中に
クラッドターゲツト材のCu基板と熱圧着されることが
なくなる。
前述の金属の添加量を、少なくとも1種以上合計で10
0〜3,000重量ppmとした理由は、100重量p
ptn未満ではクラッドターゲツト材のCu基板との熱
圧着を防止することができす、3,000重量ppmを
超えると、熱伝導性か悪くなり、冷却効果が低下するか
らである。
(実施例) 本発明のスパッタリング用バンキングプレートの実施例
を従来例と共に説明する。
下記の表の左欄に示す成分組成の材料より成る直径17
0mm、l’Jさ4 mmのパッキングプレート3にタ
ーゲツト材6を各10個、第3図に示す如<5US30
4より成る断面「型で外径170ntm、上端内径15
3 mm、下端内径149 mm、厚さ5 mmの環状
の取付治具2にて押え、周方向の8ケ所をねじにて締付
けて夫々タララドターゲット材6をパッキングプレート
3に密着し、図示せぬスパッタリング装置の真空槽内の
陰極にセットし、DCIKWでスパッタリングを3時間
行って、陽極上の基板にIr膜を形成した。このスパッ
タリングにおいて、クランドターゲツト材6のパッキン
グプレート3との圧着の有無を調べた処、下記の表の右
欄に示すような結果を得た。
(以下余白) 上記の表で明らかなように従来例1.2のパッキングプ
レート3にクラッドターゲツト材6が圧着したものが夫
々10台のスパッタリング装置中9台と、7台のスパッ
タリング装置で発見され、その圧着したクラッドターゲ
ツト材6は、パッキングプレート3から取外すことがで
きす、パッキングプレート3諸共取外して交換せざるを
得なかった。一方、実施例のパッキングプレート3にク
ランドターゲツト材6が圧着するものが皆無であった。
これはひとえにバンキングプレート3のCuにSn、I
n、Cd、Mn、FeXCoXNi。
T1、W、V、S i、Zr−B i、Ga、Ge、P
tXPd、Rh、、Ru、I r、Os、、Au。
Ag等の少なくとも1種以上を合計で100〜3,00
0重量ppm添加している為、Cu基板4のパッキング
プレート3との熱圧着が防止されるからに他ならない。
(発明の効果) 以上の説明で判るように本発明のスパッタリング用パッ
キングプレートは、Cuの純度を99.7%以上として
いるので、熱伝導性が良好で、パッキングプレート側か
らの冷却が効率良く行われる。
またCuにSn、In、Cd、Mn、Fe、Co、Ni
、Ti、、W、V、5iXZr、Bi、Ga。
Ge、Pt、、Pd、RhXRu、Ir、Os。
Au、Ag等の少なくとも1種以上を合計で100〜3
,000重量ppm添加しているので、Cuの拡散が抑
制されると共に再結晶温度が高くなって、使用中にクラ
ンドターゲツト材のCu基板と熱圧着されることがなく
、使用後クラッドターゲツト材を簡単に取外すことがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のスパッタリング用ターゲツト材をパッキ
ングプレートに取付けた状態を示す断面図、第2図はス
パッタリング用クランドターゲツト材を示す断面図、第
3図は第2図のクラッドターゲツト材をパッキングプレ
ートに取付けた状態を示す断面図である。 3・ ・パッキングプレート。 出願人 田中貴金属工業株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  スパッタリング用ターゲットを構成するパッキングプ
    レートに於いて、パッキングプレートのCuの純度が9
    9.7%以上で且つCd、Fe、Co、Ni、Ti、W
    、V、Si、Zr、Bi、Ga、Ge、Pt、Pd、R
    h、Ru、Ir、Os、Au、Ag、Osの少なくとも
    1種以上合計で100〜3,000重量ppm添加され
    ていることを特徴とするスパッタリング用パッキングプ
    レート。
JP409388A 1988-01-12 1988-01-12 スパッタリング用バッキングプレート Pending JPH01180975A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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