JPH0196375A - スパッタリング用ターゲット - Google Patents
スパッタリング用ターゲットInfo
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- JPH0196375A JPH0196375A JP25117587A JP25117587A JPH0196375A JP H0196375 A JPH0196375 A JP H0196375A JP 25117587 A JP25117587 A JP 25117587A JP 25117587 A JP25117587 A JP 25117587A JP H0196375 A JPH0196375 A JP H0196375A
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- backing plate
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- 239000013077 target material Substances 0.000 claims abstract description 23
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/34—Sputtering
- C23C14/3407—Cathode assembly for sputtering apparatus, e.g. Target
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、各工業分野において薄膜形成技術として、と
りわけ半導体分野においてIC基板製造プロセスで薄膜
素子及び電極、配線などを形成する為のスパッタリング
法に用いるターゲットの改良に関する。
りわけ半導体分野においてIC基板製造プロセスで薄膜
素子及び電極、配線などを形成する為のスパッタリング
法に用いるターゲットの改良に関する。
(従来の技術とその問題点)
第3図に示す如〈従来のスパッタリング用ターゲット(
以下単にターゲットという)1は、バッキングプレート
2にメタルボンディング材3にてターゲット材4を接合
したものである。しかしこのターゲット1ではターゲッ
ト材4をバッキングプレート2から取外すことがむずか
しいので、バッキングプレート2諸共即ちターゲットを
取外すことになり、その交換に時間がかかったり、また
ターゲット1の交換時にバッキングプレート2側を冷却
しているターゲット冷却水の配管を取外す部分からスパ
ッタリング装置の真空槽への汚染等が生じないようにす
る配慮が必要など段取作業が甚だ面倒であった。
以下単にターゲットという)1は、バッキングプレート
2にメタルボンディング材3にてターゲット材4を接合
したものである。しかしこのターゲット1ではターゲッ
ト材4をバッキングプレート2から取外すことがむずか
しいので、バッキングプレート2諸共即ちターゲットを
取外すことになり、その交換に時間がかかったり、また
ターゲット1の交換時にバッキングプレート2側を冷却
しているターゲット冷却水の配管を取外す部分からスパ
ッタリング装置の真空槽への汚染等が生じないようにす
る配慮が必要など段取作業が甚だ面倒であった。
そこで、ターゲット材4をメタルボンディング材3でバ
ッキングプレート2に接合するのをやめて、第4図に示
す如くターゲット材4を環状の取付治具5を介してバッ
キングプレート2に直に接触保持することが考えられて
いる。この場合、バッキングプレート2でのターゲット
材4の冷却効果を上げる為、第5図に示す如くターゲッ
ト材4のバッキングプレート2と接触する側に熱伝導度
の良好な高純度のCuやAgの基板6を接合してクラッ
ドターゲット材7とし、これの基板6を第6図に示す如
くバッキングプレート2に密着することが行われる。し
かし、Cu製のバッキングプレートの場合、使用中にバ
ッキングプレート2とクラッドターゲット7の基板6と
が圧着状態となり、使用後バッキングプレート2から取
外すことが困難になるという問題点があった。
ッキングプレート2に接合するのをやめて、第4図に示
す如くターゲット材4を環状の取付治具5を介してバッ
キングプレート2に直に接触保持することが考えられて
いる。この場合、バッキングプレート2でのターゲット
材4の冷却効果を上げる為、第5図に示す如くターゲッ
ト材4のバッキングプレート2と接触する側に熱伝導度
の良好な高純度のCuやAgの基板6を接合してクラッ
ドターゲット材7とし、これの基板6を第6図に示す如
くバッキングプレート2に密着することが行われる。し
かし、Cu製のバッキングプレートの場合、使用中にバ
ッキングプレート2とクラッドターゲット7の基板6と
が圧着状態となり、使用後バッキングプレート2から取
外すことが困難になるという問題点があった。
(発明の目的)
本発明は上記問題点を解決すべくなされたもので、使用
時熱伝導を損なうことがなく、使用後バッキングプレー
トからクラッドターゲット材を而単に取外すことのでき
るターゲットを提供することを目的とするものである。
時熱伝導を損なうことがなく、使用後バッキングプレー
トからクラッドターゲット材を而単に取外すことのでき
るターゲットを提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決するための本発明の技術的手段は、C
u又はAgの基板にターゲット材が接合されて成るクラ
ッドターゲット材のCu又はAgの基板側を環状の取付
治具を介してバッキングプレートに接触保持されるター
ゲットにおいて、クラッドターゲットとバッキングプレ
ートとの接触するいずれかの面に、TiN、SiC,S
iN、TiCのいずれかの厚さ0.1〜10μmの薄膜
が設けたものである。
u又はAgの基板にターゲット材が接合されて成るクラ
ッドターゲット材のCu又はAgの基板側を環状の取付
治具を介してバッキングプレートに接触保持されるター
ゲットにおいて、クラッドターゲットとバッキングプレ
ートとの接触するいずれかの面に、TiN、SiC,S
iN、TiCのいずれかの厚さ0.1〜10μmの薄膜
が設けたものである。
(作用)
上記のように構成されたターゲットは、バッキングプレ
ートに取付治具を介して直かに接触保持して使用した際
、TiNXSiC,SiN、TiCのいずれかの薄膜に
より熱伝導性を損なうことなく、クラッドターゲット材
とバッキングプレートとの圧着を防止できるものである
。上記薄膜は、0.1μm未満ではバッキングプレート
との圧着を防止することができず、10μmを超えると
熱伝導性が損なわれ、冷却効果が悪くなり、またクラッ
ドターゲットに薄膜を設ける場合に反りが生じ、スパッ
タリング条件に変化を来たし、形成される薄膜の品質が
低下するものである。
ートに取付治具を介して直かに接触保持して使用した際
、TiNXSiC,SiN、TiCのいずれかの薄膜に
より熱伝導性を損なうことなく、クラッドターゲット材
とバッキングプレートとの圧着を防止できるものである
。上記薄膜は、0.1μm未満ではバッキングプレート
との圧着を防止することができず、10μmを超えると
熱伝導性が損なわれ、冷却効果が悪くなり、またクラッ
ドターゲットに薄膜を設ける場合に反りが生じ、スパッ
タリング条件に変化を来たし、形成される薄膜の品質が
低下するものである。
(実施例)
本発明のターゲットの実施例を従来例と共に説明する。
先ず従来例のターゲットの一例を第5図によって説明す
ると、直径152.0胴、厚さ1.0mmのIrより成
るターゲット材4を、直径152.0mm、厚さ4.0
mmのCuより成る基板6に、Inのメタルボンディン
グ材3にて接合して、クラッドターゲット材7とし、こ
れを第6図に示す如くバッキングプレート2に環状の取
付治具5にて取付けて゛ターゲット8を得た。
ると、直径152.0胴、厚さ1.0mmのIrより成
るターゲット材4を、直径152.0mm、厚さ4.0
mmのCuより成る基板6に、Inのメタルボンディン
グ材3にて接合して、クラッドターゲット材7とし、こ
れを第6図に示す如くバッキングプレート2に環状の取
付治具5にて取付けて゛ターゲット8を得た。
次に実施例のターゲットの一例を第1図によって説明す
ると、前記従来例のクラッドターゲット7のバッキング
プレート2と接触する面に、TiN薄膜9をスパッタリ
ング法により1μm設けて、ターゲット7′とし、これ
を第2図に示す如くバッキングプレート2に環状の取付
治具5にて取付けてターゲット8′を得た。
ると、前記従来例のクラッドターゲット7のバッキング
プレート2と接触する面に、TiN薄膜9をスパッタリ
ング法により1μm設けて、ターゲット7′とし、これ
を第2図に示す如くバッキングプレート2に環状の取付
治具5にて取付けてターゲット8′を得た。
こうして得られた従来例及び実施例のターゲット8.8
′を図示せぬスパッタリング装置の真空槽内の陰極にセ
ットし、RFIKWでスパッタリングを3時間行って陽
極上の基板にIr膜を形成した。
′を図示せぬスパッタリング装置の真空槽内の陰極にセ
ットし、RFIKWでスパッタリングを3時間行って陽
極上の基板にIr膜を形成した。
このスパッタリングにおいて、クラッドターゲット7.
7′のバッキングプレート2との圧着の有無を調べた処
、従来例のターゲットではクラッドターゲット7がバッ
キングプレート2と圧着したものが10台のスパッタリ
ング装置中7台のスパッタリング装置で発見され、その
圧着したクラッドターゲット7はバッキングプレート2
から取外すことができず、バッキングプレート2ごと取
外して交換せざるを得なかった。一方実施例のターゲッ
トではクラッドターゲット7′はバッキングプレート2
と圧着するものは皆無であった。これはひとえにTiN
薄膜9のコーティングによりバッキングプレート2との
圧着が防止されるからに他ならない。
7′のバッキングプレート2との圧着の有無を調べた処
、従来例のターゲットではクラッドターゲット7がバッ
キングプレート2と圧着したものが10台のスパッタリ
ング装置中7台のスパッタリング装置で発見され、その
圧着したクラッドターゲット7はバッキングプレート2
から取外すことができず、バッキングプレート2ごと取
外して交換せざるを得なかった。一方実施例のターゲッ
トではクラッドターゲット7′はバッキングプレート2
と圧着するものは皆無であった。これはひとえにTiN
薄膜9のコーティングによりバッキングプレート2との
圧着が防止されるからに他ならない。
尚、上記実施例はT1Ni膜9の場合であるが、本発明
はTiN薄膜9に限るものではなく、熱伝導性の良好な
他の薄膜、例えばSiC,SiN、TiCなどの薄膜で
も良いものである。
はTiN薄膜9に限るものではなく、熱伝導性の良好な
他の薄膜、例えばSiC,SiN、TiCなどの薄膜で
も良いものである。
また上記実施例ではタラッドターゲ、ット材の方にTi
N’l膜9が設けられているが、本発明はこれに限るも
のではなく、バッキングプレートの方にT i N、
S i C,S i N、 T i Cを設けるように
してもよいものである。
N’l膜9が設けられているが、本発明はこれに限るも
のではなく、バッキングプレートの方にT i N、
S i C,S i N、 T i Cを設けるように
してもよいものである。
(発明の効果)
以上の説明で判るように本発明のタララドターゲットは
、クラッドターゲット材とバッキングプレートとの接触
するいずれかの面にTiN、StC,SiN、Tic等
の厚さ0.1〜10μmの薄膜が設けられているので、
使用時熱伝導を損なうことがなく十分に冷却でき、また
クラッドターゲット材とバッキングプレートとが圧着す
ることがなく、使用後バッキングプレートから簡単に取
外すことができるという効果がある。
、クラッドターゲット材とバッキングプレートとの接触
するいずれかの面にTiN、StC,SiN、Tic等
の厚さ0.1〜10μmの薄膜が設けられているので、
使用時熱伝導を損なうことがなく十分に冷却でき、また
クラッドターゲット材とバッキングプレートとが圧着す
ることがなく、使用後バッキングプレートから簡単に取
外すことができるという効果がある。
第1図は本発明に係るスパッタリング用クラッドターゲ
ット材を示す断面図、第2図はそのクラッドターゲット
材をバッキングプレートに取付治具を介して取付けた本
発明のターゲットを示す断面図、第3図及び第4図は従
来のターゲットを示す断面図、第5図は従来のスパッタ
リング用クラッドターゲット材を示す断面図、第6図は
そのクラッドターゲット材をバッキングプレートに取付
治具を介して取付けた状態を示す断面図である。 出願人 田中貴金属工業株式会社
ット材を示す断面図、第2図はそのクラッドターゲット
材をバッキングプレートに取付治具を介して取付けた本
発明のターゲットを示す断面図、第3図及び第4図は従
来のターゲットを示す断面図、第5図は従来のスパッタ
リング用クラッドターゲット材を示す断面図、第6図は
そのクラッドターゲット材をバッキングプレートに取付
治具を介して取付けた状態を示す断面図である。 出願人 田中貴金属工業株式会社
Claims (1)
- Cu又はAgの基板にターゲット材が接合されて成る
クラッドターゲット材のCuはAgの基板側を環状の取
付治具を介してバッキングプレートに接触保持されるス
パッタリング用ターゲットに於いて、クラッドターゲッ
ト材とバッキングプレートとの接触するいずれかの面に
TiN、SiC、SiN、TiCのいずれかの厚さが0
.1〜10μmの薄膜が設けられていることを特徴とす
るスパッタリング用ターゲット。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25117587A JP2533573B2 (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | スパッタリング用タ―ゲット |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25117587A JP2533573B2 (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | スパッタリング用タ―ゲット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0196375A true JPH0196375A (ja) | 1989-04-14 |
JP2533573B2 JP2533573B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=17218800
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25117587A Expired - Lifetime JP2533573B2 (ja) | 1987-10-05 | 1987-10-05 | スパッタリング用タ―ゲット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2533573B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5032468A (en) * | 1988-11-25 | 1991-07-16 | Vereinigte Aluminium Werke | Composite aluminum plate and target for physical coating processes produced therefrom and methods for producing same |
US5879524A (en) * | 1996-02-29 | 1999-03-09 | Sony Corporation | Composite backing plate for a sputtering target |
WO2007024428A3 (en) * | 2005-08-26 | 2007-12-21 | Symmorphix Inc | Monolithic sputter target backing plate with integrated cooling passages |
-
1987
- 1987-10-05 JP JP25117587A patent/JP2533573B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5032468A (en) * | 1988-11-25 | 1991-07-16 | Vereinigte Aluminium Werke | Composite aluminum plate and target for physical coating processes produced therefrom and methods for producing same |
US5879524A (en) * | 1996-02-29 | 1999-03-09 | Sony Corporation | Composite backing plate for a sputtering target |
WO2007024428A3 (en) * | 2005-08-26 | 2007-12-21 | Symmorphix Inc | Monolithic sputter target backing plate with integrated cooling passages |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2533573B2 (ja) | 1996-09-11 |
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