JPS63249918A - 磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents

磁気ヘッドの製造方法

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JPS63249918A
JPS63249918A JP8294687A JP8294687A JPS63249918A JP S63249918 A JPS63249918 A JP S63249918A JP 8294687 A JP8294687 A JP 8294687A JP 8294687 A JP8294687 A JP 8294687A JP S63249918 A JPS63249918 A JP S63249918A
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thin film
plane
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sputtering
magnetic head
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Noboru Ueno
昇 上野
Toshio Mizoguchi
敏夫 溝口
Tsutomu Kikuchi
務 菊池
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Nidec Instruments Corp
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Sankyo Seiki Manufacturing Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は磁気ヘッドの製造方法に関する。更に詳細に説
明すると、本発明はセラミック強磁性材料あるいはセラ
ミック非磁性材料から成る基板・コアと強磁性金属薄膜
とを組合せた複合磁気ヘッドの製造方法に関する。
(従来の技術) 最近の磁気記録の高密度化に伴なって、より高い残留磁
束密度Brを有する磁気テープが使用され、これに対応
ずべく高磁束密度でl・ラック幅の狭い磁気ヘッドが要
望されている。
このような磁気ヘッドとしては、従来、特開昭60−2
23012号に明らかなように、強磁性酸化物より成る
磁気コアに強磁性金属の薄膜を真空薄膜形成技術により
形成し、非磁性材料に挟まれるようにしてギャップ対向
面(本明細書では磁気キャップに対して平行な突合せ接
合面をいう)に露呈する強磁性金属の薄膜間で磁気ギャ
ップを形成する薄膜磁気ヘッドが知られている。
この磁気ヘッドの製造において重要な強磁性金属薄膜の
形成は、通常スパッタリング等の真空薄膜形成技術によ
って行なわれている。金属薄膜はスパッタリングによっ
てあらかじめ基板に設けられた溝の側壁面から基板表面
にかけて形成され、その後基板表面のスパッタ膜を砥石
研削等によって取除くことにより、溝壁面に残されるス
パッタ膜の」ユ端面部分でギャップを構成するように形
成される。
例えば、第7図に示すように、コアブロック101に三
角溝102を穿消し、その渭102に高融点ガラス10
3を溶融充填した後平面研磨加工を行なう。そして再度
V字状のトラック消104を形成した後、コアブロック
 101の上面に強磁性金属の薄膜105をスパッタリ
ング等にて形成する。次にコアブロック 101の上面
部を平面研磨加工することによりコア半休ブロック10
1八を得、これと同じ過程で巻線溝を有する同様なコア
半休ブロック101Bを得る。そしてこの両コア半休ブ
ロック101A、 101Bを突き合わせて磁気ギャッ
プgを構成するようにしている(特開昭60−205.
808号)。
(発明が解決しようとする問題点) しかしなから、スパッタリングによる膜形成は、蒸着法
等に比べてスパッタリング粒子が持つエネルギーか非常
に大きいことから、基板との付着力の増加や粒子打込み
効果による内部応力の増加といった種々の現象を引き起
し、基板強度に多大な影響を与える。
即ち、ターゲットに対する向きが異なると、イオンの衝
突確率の違いや若干の雰囲気の違いから、薄膜の密度が
異なり、その境界にクラックが発生ずる傾向がある。一
般に、第6図に示ずように、ターゲットに対するギャッ
プ対向面201には密度の高い膜202が形成されて、
膜内に圧縮応力が作用する一方、傾斜した薄膜形成面2
03には密度の低い膜204が形成されて、膜内に引張
応力か作用する。このため、キャップ対向面201と薄
膜形成面203との境界部分205にクラック206が
発生し、磁気特性及び機械的特性に悪い影響を与える。
そこで、薄膜形成面203のスパッタリング膜204を
好適な密度の柱状晶にすると、キャップ対向面201の
スパッタ膜202の密度が高くなり過ぎ、ギャップ対向
面201にクラック206の生じる虞が高い。
そこで、本発明はギャップ対向面にクラックが発生し難
い磁気ヘッド製造方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) かかる目的を達成するなめ、本発明の磁気ヘッド製造方
法は、薄膜形成面と近接又は隣接させてスパッタリング
方向と対向する基板面に薄膜形成面とは逆方向の傾斜面
を形成してからスパッタリングし、金属薄膜を形成する
ようにしている。
(作用) したがって、薄膜形成面に近接又は隣接する傾斜面には
ターゲットに対する向きの関係から最も密度の粗な金属
薄膜が形成され、スパッタリング方向と対向する基板面
に形成される密度の高い金属薄膜に生ずる内部応力の薄
膜形成面近傍の基板への影響を断ち切る。
(実施例) 以下、本発明の磁気ヘッドの製造工程を図面に基づいて
詳細に説明する。
ます、基板1のギャップ対向面3に、テープ摺接面5と
直交する方向(深底方向)に向かって延びる方形、■形
ないし台形のトラック溝13を研削によって所定ピッチ
で多数本形成する[第1図(a)]。
次いで、前記トラック溝13の側壁面・薄膜形成面6に
隣接させて、スパッタリング方向と対向する基板面、本
実施例の場合ギャップ対向面3上に傾斜面2を形成する
[第1図(b)]。この傾斜面2は、第2図(A)に示
すように、三角形の溝9を研削機などを使って穿溝する
ことによってギャップ対向面3上に形成される。これに
より、薄膜形成面6と傾斜面2とにより、基板1は断面
V字状とされる。この場合、トラック溝13と三角溝9
とは別個に形成しても良いが、総形砥石等を使って、一
度に研削しても良い。第2図(A)に示す傾斜面の場合
、圧縮応力が蓄積し易いフラットなギャップ対向面3部
分が残っているため、第2図(C)に示すようにクラッ
ク15が発生する虞かあるが、完成品となった場合に製
品に残る必要部分16から離れる逆の方向にクラック1
5が伝搬されることから、実用上問題がない。また、第
3図(A)に示すように、傾斜面2は隣同士のトラック
溝13を連続させるような大きなものとしても良い。ま
た第4図のように曲線の傾斜面2と薄膜形成面6を連続
して交互に設けてもよい。
更に第5図(A)、(B)のように傾斜面2を薄膜形成
面6から若干ずらして設けてもよい。この場合のずらし
量は膜の厚さlに対し10倍以下にしないと効果かなく
、好ましくは3倍以下で、最も好ましくは第2図のよう
にOとするのがよい。
この傾斜面2のキャップ対向面3に対する傾きθは、5
〜85°、好ましくは15〜706、最も好ましくは3
0〜60°の範囲にとることか望ましい。この基板1は
前述の深底方向と直交する而即ちテープ摺接面5と平行
な面に沿って2分され、一対の基板LA、IBに分けら
れる。
次いで、これらを洗浄し、真空薄膜形成技術を用いて強
磁性金属の磁性薄膜4を稜線7に沿って均一な厚さとな
るように形成する[第1図(C)]。
通常、磁性膜4はセンダスト合金等から成る強磁性金属
をスパッタリングによって膜付けする。スパッタリング
は、例えば標準センダスト合金をターゲットとする場合
、アルゴンガス雰囲気中、基板温度200℃で約400
人/minのレートで行なわれる。スパッタリングによ
って、金属薄膜4は、例えば第2図(B)あるいは第3
図(B)に示すように形成される。尚、金属薄膜は、通
常、一層当たり5〜6μmの膜厚となるように実質的な
多層膜とすることが好ましく、通常強磁性金属を断続的
にスパッタリングすることによって、あるいは強磁性金
属と非磁性体を交互にスパッタリングすることによって
結晶粒径520〜570人の複数層の磁性薄膜に形成さ
れる。
ついで、トラック溝13に高融点カラス10を充填して
薄膜4を保護する[ガラスボンティング第1図(d)]
その後、キャップ対向面3及びテープ摺接面5を研削し
て所定の面荒さの平坦な面とする。研削は通常ラップに
よって行なわれ鏡面仕上げとされる。これによって薄膜
形成面6に形成された金属薄膜4の端面でトラックが構
成される。
その後、前述のトラック溝13の隣に該溝13に沿って
疑似ギャップを無くずためのトラック規制用凹部8が研
削される[第1図(e)]。この四部8の研削の際に傾
斜面2に形成されている金属薄膜4が取除かれ、薄膜形
成面6の金属薄膜4によってのみ所定幅のトラックが構
成される。
その後、一方の基板IAのギャップ対向面3に巻線溝1
2を形成する[第1図(f)]。この巻線消12はディ
ツプス寸法を規制する。尚、他方の基板1Bには巻線用
溝12は形成されない。ついで、両基板1^、IBのギ
ャップ対向面に5i02等の非磁性材から成るスペーサ
(図示省略)をスパッタリングによって形成する。次い
で、一対の基板IA、IBを向い合せて金属薄膜4同士
を突合ぜるようにして、トラック規制用四部8に低融点
カラス11を充填し接合する[ギャップボンディング第
1図(g)]。
上述のギャップボンディングの後、テープ摺接面5を円
筒研摩し、テープ摺接面5を曲面に仕上げる[第1図(
h)]。
次に磁気ギャップgがテープ摺動方向に対して所定のア
ジマス角度を取るように斜めにスライスし、多数のチッ
プ状の磁気コアを切り出す[第1図(i)]。このとき
、磁磁気ヘラのチップはギャップ部分を中心に所定幅だ
け切出されるので、即ち薄膜形成面6部分とその近傍の
傾斜面2部分だけが完成品として製品に残り、それより
も外側は切捨てられるので、フラットなギャップ対向面
3部分にクラックが生じても問題とならない。
その後検査を経てサポート・ヘッドベースに取付け、さ
らにトラック方向に馴染みを良くする摺動面仕上げ加工
を施して巻線する[第1図(、i)]。
尚、金属薄膜材料としては、Co−Zr−Nb非晶質合
金等の非晶質合金や他の飽和磁束密度が大なる金属を用
いることができる。
(発明の効果) 以上の説明より明らかなように、本発明は、薄= 10
 = 膜形成面と近接又は隣接させてスパッタリング方向と対
向する基板面例えばギャップ対向面に薄膜形成面とは逆
方向の傾斜面を形成してからスパッタリングし金属iM
を形成するようにしているので、傾斜面にはターゲット
に対する向きの関係から最も密度の狙な金属薄膜が形成
され、キャップ対向面に形成される密度の高い金属薄膜
に生ずる内部応力の影響を断ち切る。したがって、磁気
ヘッドとして赦終的に残される薄膜形成面6部分及びそ
の近傍の基板1にはクラックは発生しない[第2図(B
)]及び第3図(B)参照]。
よって、磁気ヘッドの磁気特性や機械的特性の劣化を防
ぐと共に磁気ヘッド製造の歩留りを向上させて製造コス
トを低くできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る磁気ヘッド製造方法を説明する加
工フロー図、第2図(A)、(B)。 (C)は本発明方法を実施するヘッド基板の一例を示す
もので、(A)は薄膜形成面付近のスパッタリング前の
基板形状、(B)はスパッタリング= 11− 後の基板形状、(C>はクラック発生時の基板形状を夫
々示す拡大断面図、第3図(A)、(B)は他の実施例
を示すもので(A)はスパッタリング前の基板形状、(
B)はスパッタリング後の基板形状を夫々示す拡大断面
図、第4図は本発明の他の実施例を示すスパッタリング
後の基板形状を示す拡大断面図、第5図(A)、(B)
は更に他の実施例に係るスパッタリング後の基板形状を
示す拡大断面図である。第6図は従来法によって製造さ
れた磁気ヘッドの基板のクラック発生状態を示す拡大断
面図、第7図は従来の磁気ヘッド製造方法を示す説明図
である。 1・・・基板、2・・・傾斜面、 3・・・スパッタリング方向と対向する基板面・ギャッ
プ対向面、4・・・金属薄膜、6・・・薄膜形成面。 特許出願人  株式会社 三協精機製作所第7図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)薄膜形成面を設け、該薄膜形成面にスパッタリン
    グにて金属薄膜を形成して成る一対の基板を突き合わせ
    上記金属薄膜間を利用して磁気ギャップを構成する磁気
    ヘッドの製造方法において、前記薄膜形成面と近接又は
    隣接させてスパッタリング方向と対向する基板面に薄膜
    形成面とは逆方向の傾斜面を形成してからスパッタリン
    グし、金属薄膜を形成することを特徴とする磁気ヘッド
    の製造方法。
  2. (2)前記傾斜面は三角溝であることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項に記載の磁気ヘッド製造方法。
  3. (3)前記傾斜面は隣なるトラック溝と連続しているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の磁気ヘッ
    ド製造方法。
JP8294687A 1987-04-06 1987-04-06 磁気ヘッドの製造方法 Granted JPS63249918A (ja)

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