JPS63244529A - 超電導薄膜の形成方法 - Google Patents
超電導薄膜の形成方法Info
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- JPS63244529A JPS63244529A JP62079355A JP7935587A JPS63244529A JP S63244529 A JPS63244529 A JP S63244529A JP 62079355 A JP62079355 A JP 62079355A JP 7935587 A JP7935587 A JP 7935587A JP S63244529 A JPS63244529 A JP S63244529A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、超電導薄、膜、特にセラミック系の超電導
薄膜を形成する方法に関する。
薄膜を形成する方法に関する。
最近、セラミック系の超1i導材料が高温超電導を示す
ものとして注目されている。このような材料は、例えば
Tl1a族元素及びrb族元素の酸化物とIla族元素
の炭酸塩の粉末を乾燥し、プレス成形、予(II焼結、
粉砕の過程を数回繰り返した後、得られた粉末を再びプ
レス成形して最終焼結し、ディスク状焼結体を形成して
いる。
ものとして注目されている。このような材料は、例えば
Tl1a族元素及びrb族元素の酸化物とIla族元素
の炭酸塩の粉末を乾燥し、プレス成形、予(II焼結、
粉砕の過程を数回繰り返した後、得られた粉末を再びプ
レス成形して最終焼結し、ディスク状焼結体を形成して
いる。
このように、緻密で均一な焼結体を得るためには、非常
に手間を要する工程の繰り返しが必要であり、また厚み
にも限度があって、薄膜化が困難な問題がある。
に手間を要する工程の繰り返しが必要であり、また厚み
にも限度があって、薄膜化が困難な問題がある。
そのため、気相法が注目され始めているが、均一なセラ
ミック薄膜を形成する条件の設定が非常に難しい問題が
ある。
ミック薄膜を形成する条件の設定が非常に難しい問題が
ある。
そこで、この発明の目的は、上記の問題を解決し、均一
な超電導薄膜を容易に形成できる方法を提供することに
ある。
な超電導薄膜を容易に形成できる方法を提供することに
ある。
上記の目的を達成するため、この発明においては、周期
律表のma族元素、llama族元素Ib族元素を、同
時に別個に加熱気化して、酸素を含有する雰囲気下で、
加熱した基板上に付着堆積させ、薄膜を形成したのであ
る。
律表のma族元素、llama族元素Ib族元素を、同
時に別個に加熱気化して、酸素を含有する雰囲気下で、
加熱した基板上に付着堆積させ、薄膜を形成したのであ
る。
前記それぞれの元素は、制御された加熱温度によって、
希望する生成分に適した量の蒸気となり、これらが基板
上に付着すると共に、供給された酸素と反応しつつ高温
加熱された基板上で焼結されてセラミック薄膜が形成さ
れる。
希望する生成分に適した量の蒸気となり、これらが基板
上に付着すると共に、供給された酸素と反応しつつ高温
加熱された基板上で焼結されてセラミック薄膜が形成さ
れる。
図示のように、成長室1は超高真空ポンプに連通される
吸引口2を有し、成長室1内の下部には、原料A、B、
Cを装填するるつぼ3が配置され、その上方にはシャッ
タ10が配置され、成長室1の上部には、ヒータ4を組
み込んだホルダ5が取り付けられ、このホルダ5に基板
Sが支持されている。さらに、基板の近傍には、酸素を
供給するノズル6が配置され、このノズル6は、配管7
及び酸素マスフローコントローラ8を介して、ボンベS
に接続されている。
吸引口2を有し、成長室1内の下部には、原料A、B、
Cを装填するるつぼ3が配置され、その上方にはシャッ
タ10が配置され、成長室1の上部には、ヒータ4を組
み込んだホルダ5が取り付けられ、このホルダ5に基板
Sが支持されている。さらに、基板の近傍には、酸素を
供給するノズル6が配置され、このノズル6は、配管7
及び酸素マスフローコントローラ8を介して、ボンベS
に接続されている。
いま、各るつぼ3にそれぞれIIIa族元素(S c
sY% La、 AC% Ces Pr、 Nd
、 Pm、 Sm、 En、 Gd、 Tb
。
sY% La、 AC% Ces Pr、 Nd
、 Pm、 Sm、 En、 Gd、 Tb
。
Dy5Ho、 Er、Tll1. Yb、 Ln)と、
IIama族元素e。
IIama族元素e。
Mg、 Cas Sr%Ba、 Ra)と、Ib族元素
(CLI%八g。
(CLI%八g。
へu)を装填し、成長室1内を10−10.。1、以下
程度に保ち、例えば電子衝撃加熱、抵抗加熱、レーザ加
熱、赤外線加熱等の方法で数100℃〜’2500℃程
度の温度に加熱し気化せしめる。そして、それぞれの元
素の蒸気圧がある程度得られた後、シャッタ10を開く
。
程度に保ち、例えば電子衝撃加熱、抵抗加熱、レーザ加
熱、赤外線加熱等の方法で数100℃〜’2500℃程
度の温度に加熱し気化せしめる。そして、それぞれの元
素の蒸気圧がある程度得られた後、シャッタ10を開く
。
一方、基板SとしてAlz(h、BNなどのセラミック
板が装着されており、ヒータ4によって900℃〜1)
00℃の温度に加熱されかつ基板Sにノズル6から酸素
が吹き付けられ、基板Sの近傍のみが酸素リッチになる
ようにする。なお、酸素の吹き付は時にイオン化するこ
とによって、酸素イオンビームを基板に照射してもよい
、また、蒸発源にイオン化機構を取付けることも可能で
ある。
板が装着されており、ヒータ4によって900℃〜1)
00℃の温度に加熱されかつ基板Sにノズル6から酸素
が吹き付けられ、基板Sの近傍のみが酸素リッチになる
ようにする。なお、酸素の吹き付は時にイオン化するこ
とによって、酸素イオンビームを基板に照射してもよい
、また、蒸発源にイオン化機構を取付けることも可能で
ある。
このようにして、蒸発した原料は、基板S上に付着し、
酸素と化合しながらセラミックを成形し、堆積して薄膜
が形成される。このとき、蒸発源の温度、酸素の分圧、
基板の加熱温度を調整することによって、種々の組成の
セラミック系超電導薄膜が得られる。
酸素と化合しながらセラミックを成形し、堆積して薄膜
が形成される。このとき、蒸発源の温度、酸素の分圧、
基板の加熱温度を調整することによって、種々の組成の
セラミック系超電導薄膜が得られる。
なお、前記ma族元素としては、ランタン、イツトリウ
ム、スカンジウム、ma族元素としては、バリウム、ス
トロンチウム、カルシウム、tb族元素としては、銅、
銀等が特に好ましい。
ム、スカンジウム、ma族元素としては、バリウム、ス
トロンチウム、カルシウム、tb族元素としては、銅、
銀等が特に好ましい。
また、基板Sに代えて、光ファイバ等の線材を用いると
、複合超電導線を容易に得ることができる。
、複合超電導線を容易に得ることができる。
さらに、基板Sに予めマスキングを施して、セラミック
薄板を形成した後、マスキングを除去するか、場合によ
ってはマスキングをそのままにしておいて、超電導回路
を形成することもできる。
薄板を形成した後、マスキングを除去するか、場合によ
ってはマスキングをそのままにしておいて、超電導回路
を形成することもできる。
さらにまた、薄膜形成後にアニーリングを行なってもよ
い。
い。
次に、さらに詳細な実施例について述べる。
いま、原料として、ランタン、ストロンチウム、銅をそ
れぞれるつぼに充填した後、成長室をIQ−10〜10
−”□。r1程度に凍圧し、石英基板を約1000℃に
jJ[lQすると共に、10cc/+*inにマスフロ
ーコントロールした酸素を基板表面に吹き付けておき、
電子ビームにより、同時に、ランタンを1)00〜13
00℃程度、ストロンチウムを800〜900℃程度、
銅を1800〜2000℃程度にそれぞれ加熱気化させ
、上記石英板上にLa−5r−Cn−0系のセラミック
より成る超電導薄膜を形成した。薄膜は約1μmであり
、超電導遷移温度は約50’にであった。
れぞれるつぼに充填した後、成長室をIQ−10〜10
−”□。r1程度に凍圧し、石英基板を約1000℃に
jJ[lQすると共に、10cc/+*inにマスフロ
ーコントロールした酸素を基板表面に吹き付けておき、
電子ビームにより、同時に、ランタンを1)00〜13
00℃程度、ストロンチウムを800〜900℃程度、
銅を1800〜2000℃程度にそれぞれ加熱気化させ
、上記石英板上にLa−5r−Cn−0系のセラミック
より成る超電導薄膜を形成した。薄膜は約1μmであり
、超電導遷移温度は約50’にであった。
この発明によれば、以上のように、基板を高温で加熱し
ながら酸素を吹き付けて原料を基板上に付着焼結させた
ので、均一な構造を有する薄膜が得られ、また、蒸発源
の温度、酸素のの分圧、基板の加熱温度を調節すること
によって、性能の優れた種々の超電導材料を容易に作成
することができ、さらに基板の形態を板状、線状等任意
に選択可能であるから、広い適用範囲を有する。
ながら酸素を吹き付けて原料を基板上に付着焼結させた
ので、均一な構造を有する薄膜が得られ、また、蒸発源
の温度、酸素のの分圧、基板の加熱温度を調節すること
によって、性能の優れた種々の超電導材料を容易に作成
することができ、さらに基板の形態を板状、線状等任意
に選択可能であるから、広い適用範囲を有する。
図はこの発明に用いる装置の一例を示す線図である。
1・・・・・・成長室、2・・・・・・吸引口、3・・
・・・・るつぼ、4・・・・・化−タ、5・・・・・・
ホルダ、6・・・・・・ノズル、10・・・・・・シャ
ッタ、A、B、C・・・・・・原料、S・・・・・・基
板。 特許出願人 住友電気工業株式会社 同 代理人 鎌 1) 文 二 A 3B3C 昭和63年 6月21日 1、事件の表示 ■ 住所 大阪市東区北浜5丁目15番地氏名(名称)
(213) 住友電気工業株式会社補正の内容 +1) 明細書第4頁4行目のrLnJをrLuJに
補正します。 (2) 同書同頁13〜14行目の「900℃〜1)
00℃」を[600℃〜800℃」に補正します。 (3)同書第6頁2行目の「約1000℃」を「700
℃」に補正します。 (4)同書同頁8行目のr−Cn−Jをr−Cu−Jに
補正します。 (5)同書同頁15行目の「酸素のの分圧」を「酸素の
分圧」に補正します。
・・・・るつぼ、4・・・・・化−タ、5・・・・・・
ホルダ、6・・・・・・ノズル、10・・・・・・シャ
ッタ、A、B、C・・・・・・原料、S・・・・・・基
板。 特許出願人 住友電気工業株式会社 同 代理人 鎌 1) 文 二 A 3B3C 昭和63年 6月21日 1、事件の表示 ■ 住所 大阪市東区北浜5丁目15番地氏名(名称)
(213) 住友電気工業株式会社補正の内容 +1) 明細書第4頁4行目のrLnJをrLuJに
補正します。 (2) 同書同頁13〜14行目の「900℃〜1)
00℃」を[600℃〜800℃」に補正します。 (3)同書第6頁2行目の「約1000℃」を「700
℃」に補正します。 (4)同書同頁8行目のr−Cn−Jをr−Cu−Jに
補正します。 (5)同書同頁15行目の「酸素のの分圧」を「酸素の
分圧」に補正します。
Claims (4)
- (1)周期律表のIIIa族元素、IIa族元素、 I b族元
素を同時にそれぞれ加熱気化させ、加熱した基板の近傍
を酸素リッチにして基板上に付着堆積させることから成
る超電導薄膜の形成方法。 - (2)前記IIIa族元素がランタン、イットリウム、ス
カンジウムのいずれかである特許請求の範囲第(1)項
記載の超電導薄膜の形成方法。 - (3)前記IIa族元素がバリウム、ストロンチウム、カ
ルシウムのいずれかである特許請求の範囲第(1)項記
載の超電導薄膜の形成方法。 - (4)前記 I b族元素が銅又は銀である特許請求の範
囲第(1)項記載の超電導薄膜の形成方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62079355A JPS63244529A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 超電導薄膜の形成方法 |
CA000562645A CA1332324C (en) | 1987-03-30 | 1988-03-28 | Method for producing thin film of oxide superconductor |
EP88105179A EP0285132A3 (en) | 1987-03-30 | 1988-03-30 | Method for producing thin film of oxide superconductor |
US07/175,214 US5017550A (en) | 1987-03-30 | 1988-03-30 | Method for producing thin film of oxide superconductor |
US07/630,241 US5108984A (en) | 1987-03-30 | 1990-12-19 | Method for producing thin film of oxide superconductor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62079355A JPS63244529A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 超電導薄膜の形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63244529A true JPS63244529A (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=13687592
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62079355A Pending JPS63244529A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | 超電導薄膜の形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63244529A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02258700A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-19 | Res Inst For Prod Dev | 強誘電体薄膜及びその製造法 |
KR100697663B1 (ko) | 2005-10-27 | 2007-03-20 | 세메스 주식회사 | 유기물 증착 장치 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63237313A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-10-03 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 超伝導構造体およびその製造方法 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62079355A patent/JPS63244529A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63237313A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-10-03 | インターナシヨナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーシヨン | 超伝導構造体およびその製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02258700A (ja) * | 1989-03-30 | 1990-10-19 | Res Inst For Prod Dev | 強誘電体薄膜及びその製造法 |
KR100697663B1 (ko) | 2005-10-27 | 2007-03-20 | 세메스 주식회사 | 유기물 증착 장치 |
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