JPH03245403A - 蒸着膜の製造方法および装置 - Google Patents
蒸着膜の製造方法および装置Info
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- JPH03245403A JPH03245403A JP2040239A JP4023990A JPH03245403A JP H03245403 A JPH03245403 A JP H03245403A JP 2040239 A JP2040239 A JP 2040239A JP 4023990 A JP4023990 A JP 4023990A JP H03245403 A JPH03245403 A JP H03245403A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Conductive Materials (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業7にの利用分野)
本発明は茂着法により薄膜を!!!!造する方法および
装置に関する。さらに詳しくは、例えば酸化物超伝導薄
膜に要求される平滑性が良好で、かつできるだけ薄い膜
の製造方法およびその装置に関する。
装置に関する。さらに詳しくは、例えば酸化物超伝導薄
膜に要求される平滑性が良好で、かつできるだけ薄い膜
の製造方法およびその装置に関する。
(従来の技術)
現在、例えばセラミックス系酸化物薄膜の製造分野では
、1ayer−by−1ayer法による超伝導物質(
薄膜)の製造、デバイスに使用するエピタキシャル成長
膜の製造が盛んに行われている。これらは、いずれも底
膜したままの状態で膜質が良く(平滑性が高く)、薄い
ことが必須条件であるが、このような膜を得るには加熱
された基板上での成膜過程をゆっくりと、すなわち低蒸
着速度で進行させることが要求される。この遅い成膜過
程は、レーザー法およびスパッタ法では膜の組成に基づ
いて定められる複数個のすなわち多元の酸化物ターゲッ
トを用い、レーザー出力やスパッタガス圧を調整し、タ
ーゲy l・シャッターを操作するなどにより達成する
ことが可能で、成膜速度を0.3入/sec以下とする
ことができる。なお、レーザー法については、例えばJ
apanese Journal of Applie
dPhysrcs、 Vol、28(1989) 、
9p、L823〜L、826に、Bi −5r−Ca−
Cu−0系超伝導物質の製造についての報告がなされて
おり、また、スパッタ法の適用については、Japan
ese Journal of Applied Ph
ysics+Vo1.27(1988) 、pp、L1
883〜L1886に記載されている。
、1ayer−by−1ayer法による超伝導物質(
薄膜)の製造、デバイスに使用するエピタキシャル成長
膜の製造が盛んに行われている。これらは、いずれも底
膜したままの状態で膜質が良く(平滑性が高く)、薄い
ことが必須条件であるが、このような膜を得るには加熱
された基板上での成膜過程をゆっくりと、すなわち低蒸
着速度で進行させることが要求される。この遅い成膜過
程は、レーザー法およびスパッタ法では膜の組成に基づ
いて定められる複数個のすなわち多元の酸化物ターゲッ
トを用い、レーザー出力やスパッタガス圧を調整し、タ
ーゲy l・シャッターを操作するなどにより達成する
ことが可能で、成膜速度を0.3入/sec以下とする
ことができる。なお、レーザー法については、例えばJ
apanese Journal of Applie
dPhysrcs、 Vol、28(1989) 、
9p、L823〜L、826に、Bi −5r−Ca−
Cu−0系超伝導物質の製造についての報告がなされて
おり、また、スパッタ法の適用については、Japan
ese Journal of Applied Ph
ysics+Vo1.27(1988) 、pp、L1
883〜L1886に記載されている。
一方、電子ビーム蒸着法(以下、FEB蒸着法」という
)は前記のレーザー法やスパッタ法に比べ基板形状にあ
まり依存せずに成膜でき、また、蒸着膜への酸素の供給
が容易となるなどの利点を有しているが、以下に述べる
ように成膜速度が大きいため成膜したままの状態で良質
の薄い膜をつくることはできない。
)は前記のレーザー法やスパッタ法に比べ基板形状にあ
まり依存せずに成膜でき、また、蒸着膜への酸素の供給
が容易となるなどの利点を有しているが、以下に述べる
ように成膜速度が大きいため成膜したままの状態で良質
の薄い膜をつくることはできない。
(発明が解決しようとする諜B)
EB蒸着法では、例えば、膜成分の構成元素を含む複合
酸化物を蒸着源とした場合、膜内の組成比は蒸着源のそ
れとは必ずしも一致せず、膜組成の制御には不利である
ため、通常は複数個の単体金属を蒸着源に使用する。そ
の場合、次のような問題があった。
酸化物を蒸着源とした場合、膜内の組成比は蒸着源のそ
れとは必ずしも一致せず、膜組成の制御には不利である
ため、通常は複数個の単体金属を蒸着源に使用する。そ
の場合、次のような問題があった。
(i)各単体金属からの単位時間当たりの蒸発量(以下
、「蒸発レート」という)は各単体金属の融点、沸点の
違いにより異なり、その金属固有のものとなる。この蒸
発レートを変動のない安定なものとするためには、単体
金属の種類によって定まるある一定値以上の加熱出力に
より加熱することが必要であるが、その場合の蒸発レー
トはいずれも膜厚さで表現すれば数人/secと比較的
大きく、成M過程をゆっくりと低速度で進行させること
はできない。
、「蒸発レート」という)は各単体金属の融点、沸点の
違いにより異なり、その金属固有のものとなる。この蒸
発レートを変動のない安定なものとするためには、単体
金属の種類によって定まるある一定値以上の加熱出力に
より加熱することが必要であるが、その場合の蒸発レー
トはいずれも膜厚さで表現すれば数人/secと比較的
大きく、成M過程をゆっくりと低速度で進行させること
はできない。
(ii )特に、セラミックス系酸化物超伝導物質の構
成元素であるIIA族元素は沸点と融点との温度差が9
00℃以下と他元素と比較して小さいため、蒸着時に蒸
発面の近傍で激しい酸化が起こり、また、突沸(スプラ
ッシュ)を誘発し、蒸発レートは不安定になる。
成元素であるIIA族元素は沸点と融点との温度差が9
00℃以下と他元素と比較して小さいため、蒸着時に蒸
発面の近傍で激しい酸化が起こり、また、突沸(スプラ
ッシュ)を誘発し、蒸発レートは不安定になる。
(iii )蒸発レート’E−加熱出力を低めることに
より低下させようとすると、上記(ii )の傾向が顕
著になる。
より低下させようとすると、上記(ii )の傾向が顕
著になる。
本発明の目的は、所定の成分量または成分比を従来水準
に維持しつつ、平滑面を得るために成膜速度をできるだ
け小さくする方法と装置を提供することにある。
に維持しつつ、平滑面を得るために成膜速度をできるだ
け小さくする方法と装置を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
前記のように、EB蒸着法においては、セラミックス系
酸化物超伝導物質を構成する単体金属の蒸発レートは、
加熱出力が小さい場合いずれも不安定であるが金属の種
類によって定まるある出力以上で加熱をした場合には安
定する。しかし、その蒸発レートはいずれも数人/se
eと大きい。
酸化物超伝導物質を構成する単体金属の蒸発レートは、
加熱出力が小さい場合いずれも不安定であるが金属の種
類によって定まるある出力以上で加熱をした場合には安
定する。しかし、その蒸発レートはいずれも数人/se
eと大きい。
一方、単位時間当たり、単位断面積を通過する蒸発原子
数あるいは分子数J(c++−”・5ee−’)(以下
、蒸発流Jという〉は、その蒸発粒子のもつ速さがボル
ツマン分布に準するとすると下記(1)の1lertz
−Knudsen式に従う。
数あるいは分子数J(c++−”・5ee−’)(以下
、蒸発流Jという〉は、その蒸発粒子のもつ速さがボル
ツマン分布に準するとすると下記(1)の1lertz
−Knudsen式に従う。
%式%(1)
ただし、P:蒸発雰囲気の圧力
m:蒸発粒子の質量
T:蒸発粒子の温度
に:ボルッマン定数
この(1)式より、蒸発流Jは蒸発雰囲気の圧力Pが一
定のもとでは、蒸発粒子の温度Tの平方根に反比例する
。
定のもとでは、蒸発粒子の温度Tの平方根に反比例する
。
従って、一定圧力下において高い加熱出力により蒸発レ
ートを安定化させ(このときの蒸発レートは前記のよう
に数人/sec程度になる)、蒸着源、基板間において
蒸発原子(分子ンの加熱を行ってこれら蒸発粒子の温度
Tを高め、蒸発流Jを下げることにより基板上での成膜
速度を低速度で進行させることが可能になると考えられ
る。
ートを安定化させ(このときの蒸発レートは前記のよう
に数人/sec程度になる)、蒸着源、基板間において
蒸発原子(分子ンの加熱を行ってこれら蒸発粒子の温度
Tを高め、蒸発流Jを下げることにより基板上での成膜
速度を低速度で進行させることが可能になると考えられ
る。
本発明は上記の考え方に基づくもので、その要旨は下記
■の蒸着膜の製造方法および下記■の製造装置にある。
■の蒸着膜の製造方法および下記■の製造装置にある。
■ 高真空下で蒸着源を加熱して得られる蒸発物質を基
板に蒸着させて、所定の成分と厚さを有する蒸着膜を形
成させる方法において、前記蒸着物質の飛行する空間の
温度を調節することを特徴とする蒸着膜の製造方法。
板に蒸着させて、所定の成分と厚さを有する蒸着膜を形
成させる方法において、前記蒸着物質の飛行する空間の
温度を調節することを特徴とする蒸着膜の製造方法。
■ 電子ビーム照射および/または抵抗加熱により蒸着
源を加熱して蒸発物質を基板に蒸着させる蒸着装置にお
いて、前記加熱装置の出力を一定にする定出力装置、雰
囲気を一定高真空にするための定真空度維持排気装置、
蒸着物質ごとの飛行空間の温度調節のための加熱装置お
よびその温度調節装置を有することを特徴とする蒸着膜
の製造装置。
源を加熱して蒸発物質を基板に蒸着させる蒸着装置にお
いて、前記加熱装置の出力を一定にする定出力装置、雰
囲気を一定高真空にするための定真空度維持排気装置、
蒸着物質ごとの飛行空間の温度調節のための加熱装置お
よびその温度調節装置を有することを特徴とする蒸着膜
の製造装置。
第1図は本発明の蒸着膜の製造装置の一例の構成を示す
概略断面図である。同図において、管体lは、その管壁
が二重管2で構成され、かつこの管壁の中央部付近に排
気口3が設けられており、前記の二重管2内に端部が電
源4に接続されている加熱用ヒーター5が取り付けられ
ている。さらに管体1内の中央部付近に熱電対6が取り
付けられ、管体lの一方の開口部7が蒸着源8に、他方
の開口部9が基板10に対向するように配設されている
。
概略断面図である。同図において、管体lは、その管壁
が二重管2で構成され、かつこの管壁の中央部付近に排
気口3が設けられており、前記の二重管2内に端部が電
源4に接続されている加熱用ヒーター5が取り付けられ
ている。さらに管体1内の中央部付近に熱電対6が取り
付けられ、管体lの一方の開口部7が蒸着源8に、他方
の開口部9が基板10に対向するように配設されている
。
複数の物質を交互にあるいは同時に蒸着する場合は、例
えば第1図のごとき管体および蒸着源を一個の基板に向
かって複数配設する。これらは装置の中心部を構成し、
その他に図示しない蒸着源を所定出力で加熱するための
出力調整装置、蒸着源を加熱するための電子ビーム照射
装置または抵抗加熱装置、雰囲気を所定圧力にするため
の真空度調節装置と真空排気装置、温度1g節装置など
が付属している。
えば第1図のごとき管体および蒸着源を一個の基板に向
かって複数配設する。これらは装置の中心部を構成し、
その他に図示しない蒸着源を所定出力で加熱するための
出力調整装置、蒸着源を加熱するための電子ビーム照射
装置または抵抗加熱装置、雰囲気を所定圧力にするため
の真空度調節装置と真空排気装置、温度1g節装置など
が付属している。
(作用)
本発明の蒸着膜の製造方法において、圧力を高真空とし
たのは蒸発レートに多大な影響を及ぼす蒸着源の酸化を
避けるためであり、特に、蒸着源が例えばセラミックス
系酸化物超伝導15質の構成元素に含まれるUA族元素
の場合、前記のように蒸発面近傍での酸化が激しく、突
沸(スプラッシュ)などにより蒸発レートは安定しない
からである。望ましい真空度は10− ’Torrより
高真空である。
たのは蒸発レートに多大な影響を及ぼす蒸着源の酸化を
避けるためであり、特に、蒸着源が例えばセラミックス
系酸化物超伝導15質の構成元素に含まれるUA族元素
の場合、前記のように蒸発面近傍での酸化が激しく、突
沸(スプラッシュ)などにより蒸発レートは安定しない
からである。望ましい真空度は10− ’Torrより
高真空である。
また、温度変化よりも圧力変化の方が蒸発流に与える影
響が大きいため、蒸着時におけるチャンバー内圧力は一
定に保つのが望ましい0例えば管中央部に設けられた排
気口はこのチャンバー内の圧力を常に一定に保つための
ものである。
響が大きいため、蒸着時におけるチャンバー内圧力は一
定に保つのが望ましい0例えば管中央部に設けられた排
気口はこのチャンバー内の圧力を常に一定に保つための
ものである。
蒸発物質の飛行する空間の温度を所定値に調節するのは
、飛行する蒸発物質の温度をより高層の所定値に加熱し
、蒸発粒子の運動方向を変化させて基板への成膜速度を
低下させるためである。
、飛行する蒸発物質の温度をより高層の所定値に加熱し
、蒸発粒子の運動方向を変化させて基板への成膜速度を
低下させるためである。
本発明の蒸着膜の製造装置において、各装置の必要理由
は次の通りである。
は次の通りである。
電子ビーム照射および/または抵抗加熱装置の出力を一
定にする定出力装置は、加熱開始から一定時間経過後の
蒸発原子数が蒸着源の種類によって定まる定出力の場合
に一定値に到達し、時間変動に対する蒸発原子数の変動
が少なくなることを利用して、蒸着膜の成分を安定化す
るためである。
定にする定出力装置は、加熱開始から一定時間経過後の
蒸発原子数が蒸着源の種類によって定まる定出力の場合
に一定値に到達し、時間変動に対する蒸発原子数の変動
が少なくなることを利用して、蒸着膜の成分を安定化す
るためである。
定真空度維持排気装置は、真空度の変動によって生ずる
蒸発原子数の変動を極力低減するためである。
蒸発原子数の変動を極力低減するためである。
蒸発物質の飛行空間の温度調節を蒸発物質ごとに行うの
は、蒸発171質の種類によって調節すべき塩度が異な
るためであり、また所定温度にAl1節するのは温度の
変動による蒸発原子の基板への到達原子数の変動を低減
するためである。
は、蒸発171質の種類によって調節すべき塩度が異な
るためであり、また所定温度にAl1節するのは温度の
変動による蒸発原子の基板への到達原子数の変動を低減
するためである。
(実施例1)
蒸着源として、イツトリウム(Y)、バリウム(Ba)
、#J4(Cu)を用い、それぞれ10gずつ秤量し、
EB蒸着法によりYSBaおよびCuを構成元素とし、
Y:Ba:Cu比が1:2:3である酸化物超伝導薄膜
用金属薄膜を作製した。蒸着源の形状はYおよびBaに
ついては粉状物を300〜600kg/c++”の圧力
で直径15+wmx厚さl0II11の円柱状に加圧成
形したものであり、Cuについては1〜3旬のシタッ)
#iである。
、#J4(Cu)を用い、それぞれ10gずつ秤量し、
EB蒸着法によりYSBaおよびCuを構成元素とし、
Y:Ba:Cu比が1:2:3である酸化物超伝導薄膜
用金属薄膜を作製した。蒸着源の形状はYおよびBaに
ついては粉状物を300〜600kg/c++”の圧力
で直径15+wmx厚さl0II11の円柱状に加圧成
形したものであり、Cuについては1〜3旬のシタッ)
#iである。
薄膜の作製に際しては、まず比較例として、加熱管(第
1図の管体l)を用いずに前記の各蒸着源からの蒸発速
度が安定でかつ最小の成膜速度となるように各蒸着源の
加熱出力を定め、20分間蒸着し、薄膜を作製した。加
熱出力はY、BaおよびCuに対しそれぞれ2.5kw
、 0.4kwおよび1.9kwであった。また、真空
度は5 Xl0−6Torrで一定とし、基板にはMg
O単結晶を用いた。
1図の管体l)を用いずに前記の各蒸着源からの蒸発速
度が安定でかつ最小の成膜速度となるように各蒸着源の
加熱出力を定め、20分間蒸着し、薄膜を作製した。加
熱出力はY、BaおよびCuに対しそれぞれ2.5kw
、 0.4kwおよび1.9kwであった。また、真空
度は5 Xl0−6Torrで一定とし、基板にはMg
O単結晶を用いた。
蒸着時における各蒸着源の蒸発速度の制御は水晶振動子
型膜厚モニターにより行った。成膜したままの状態での
膜組成は蛍光X線回折により求め、膜厚は段差針により
測定し、単位時間当たりの成膜速度を求めた。
型膜厚モニターにより行った。成膜したままの状態での
膜組成は蛍光X線回折により求め、膜厚は段差針により
測定し、単位時間当たりの成膜速度を求めた。
次に、加熱管を用い、管内温度を変化させて他は上記と
同し条件で薄膜を作製し、膜組成、膜厚および成膜速度
を求めた。
同し条件で薄膜を作製し、膜組成、膜厚および成膜速度
を求めた。
結果を第1表に示す0M成比は安定した成膜性能を示す
Cuを基準として示した。同表から明らかなように、本
発明の装置および方法を用いることにまり組成比は従来
水準を維持しつつ、成膜速度を1人/sec以下、膜厚
をtoooÅ以下にすることができる。
Cuを基準として示した。同表から明らかなように、本
発明の装置および方法を用いることにまり組成比は従来
水準を維持しつつ、成膜速度を1人/sec以下、膜厚
をtoooÅ以下にすることができる。
(以下、余白)
第 1
表
(実施例2)
蒸着源として、ビスマス(Bi)、ストロンチウム(S
r)、カルシウム(Ca)および銅(Cu)を用い、そ
れぞれlOgずつ秤量し、Bi : Sn : Ca
: Cu比が2=2:2:3である酸化物超伝導薄膜用
金属膜を作製した。蒸着源の形状はBiおよびCuにつ
いてはそれぞれ3〜7III11および1〜3mmのシ
ョツト粒であり、また、SrおよびCaについては実施
例1のYおよびBaと同様に円柱状に加工したものであ
る。
r)、カルシウム(Ca)および銅(Cu)を用い、そ
れぞれlOgずつ秤量し、Bi : Sn : Ca
: Cu比が2=2:2:3である酸化物超伝導薄膜用
金属膜を作製した。蒸着源の形状はBiおよびCuにつ
いてはそれぞれ3〜7III11および1〜3mmのシ
ョツト粒であり、また、SrおよびCaについては実施
例1のYおよびBaと同様に円柱状に加工したものであ
る。
薄膜の作成は実施例1と同様に最初加熱管なしで(比較
例)、次いで加熱管を用いて(本発明例)行った。真空
度は2 Xl0−”Torrとし、基板にはMgO単結
晶を用いた。加熱方式はBi、 SrおよびCaについ
てはEB照射方式を、Cuについては抵抗加熱方式を用
いた。加熱出力は[li、 Sr、 CaおよびCuに
対しそれぞれ3kw、0.45kw、0.5に−および
4kwであった。
例)、次いで加熱管を用いて(本発明例)行った。真空
度は2 Xl0−”Torrとし、基板にはMgO単結
晶を用いた。加熱方式はBi、 SrおよびCaについ
てはEB照射方式を、Cuについては抵抗加熱方式を用
いた。加熱出力は[li、 Sr、 CaおよびCuに
対しそれぞれ3kw、0.45kw、0.5に−および
4kwであった。
薄膜を作成した後、実施例1と同様に膜&11戒、膜厚
および成膜速度を求めた。
および成膜速度を求めた。
結果を第2表に示す、&[1戒比は安定した成膜性能を
示ずCuを基準として示した。同表から明らかなように
、本発明の装置および方法を用いることにより組成比は
従来水準を維持しつつ成膜速度を1人/sec以下、膜
厚を1000Å以下にすることができる。
示ずCuを基準として示した。同表から明らかなように
、本発明の装置および方法を用いることにより組成比は
従来水準を維持しつつ成膜速度を1人/sec以下、膜
厚を1000Å以下にすることができる。
第 2 表
(発明の効果)
EB蒸着法により酸化物超伝導f31膜を製造するに際
し、本発明方法および装置を通用することにより、基板
上での成膜過程を低速度で進行させ、平滑性の良好な薄
い膜とすることが可能となる。
し、本発明方法および装置を通用することにより、基板
上での成膜過程を低速度で進行させ、平滑性の良好な薄
い膜とすることが可能となる。
本発明方法と装置を用いることにより、超伝導用薄膜以
外の任意の組成比をもつ薄膜を製造することができる。
外の任意の組成比をもつ薄膜を製造することができる。
第1図は本発明の蒸着膜の製造装置の一例の構成を示す
概略断面図である。
概略断面図である。
Claims (2)
- (1)高真空下で蒸着源を加熱して得られる蒸発物質を
基板に蒸着させて、所定の成分と厚さを有する蒸着膜を
形成させる方法において、前記蒸発物質の飛行する空間
の温度を調節することを特徴とする蒸着膜の製造方法。 - (2)電子ビーム照射および/または抵抗加熱により蒸
着源を加熱して蒸発物質を基板に蒸着させる蒸着装置に
おいて、前記加熱装置の出力を一定にする定出力装置、
雰囲気を一定高真空にするための定真空度維持排気装置
、蒸発物質ごとの飛行空間の温度調節のための加熱装置
およびその温度調節装置を有することを特徴とする蒸着
膜の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2040239A JPH03245403A (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | 蒸着膜の製造方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2040239A JPH03245403A (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | 蒸着膜の製造方法および装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03245403A true JPH03245403A (ja) | 1991-11-01 |
Family
ID=12575166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2040239A Pending JPH03245403A (ja) | 1990-02-21 | 1990-02-21 | 蒸着膜の製造方法および装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03245403A (ja) |
-
1990
- 1990-02-21 JP JP2040239A patent/JPH03245403A/ja active Pending
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