JPS63231771A

JPS63231771A - 外部記憶装置の試験方法

Info

Publication number: JPS63231771A
Application number: JP6655187A
Authority: JP
Inventors: Kenichi Oguchi; 小口　健一
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1987-03-20
Filing date: 1987-03-20
Publication date: 1988-09-27

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔概　　要〕本発明は、複数個の外部記憶装置を有するコンピュータ
・システムにおける該外部記憶装置の試験方法において
、試験データの書き込み及び読み出しを、全外部記憶装
置に対して実質上同じ動作サイクルで行うことにより、
試験時間ないしは障害検出時間を短縮したものである。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、複数個の外部記憶装置を有するコンピュータ
・システムにおいて、該外部記憶装置が正常であるかど
うかを試験する方法に関するものである。

〔従来の技術〕

大容量のコンピュータ・システムには、ハードディスク
やファイルメモリ等の外部記憶装置が設けられている。

そして、そのような外部記憶装置に障害があった場合、
コンピュータ動作に重大な影響を及ぼすので、外部記憶
装置の各エリア毎に正常か否かの試験をすることが行わ
れている。

第３図は従来の試験方法を説明するブロック図であり、
第４図は従来の試験方法の手順を示す図である。第３図
において、■は中央処理装置、２はメイン・メモリ、３
ないしＮは外部記憶装置である。

従来の試験方法は、次の通りである。○で囲った数字は
、第４図中の手順に付した数字に対応する。

■　メイン・メモリ２の任意のエリア２−１に格納され
ている試験データＤ。を、外部記憶装置３の試験しよう
としているエリア３−１に書き込む。

■　エリア３−１に書き込まれたデータを、メイン・メ
モリ２の別のエリア２−２に読み出す。読み出されたデ
ータをＤ３とする。

■　エリア２−２に読み出されたデータＤ３と、エリア
２−１の試験データＤ。とを比較する。比較の結果、両
者が異なっていればエリア３−１は正常でない（障害あ
？ｆＪ）と判定する。両者が一敗していれば、エリア３
−１は正常であると判定する。

■　外部記憶装置３の他のエリアに対しての試験が終わ
ったかどうかを確認し、終わっていなければ終わってい
ないエリアに対し、前記■〜■までの処理を行なう。

■　他の外部記憶装置に対しての試験が終わったかどう
かを確認し、終わっていなければ終わっていない外部記
憶装置に対し、前記■〜■の処理をイ丁つ。

即ち、外部記憶装置の１つのエリアに対して、書き込み
、読み出し、比較チェックを行って試験をし、それが完
了してから次のエリアの試験に移るという試験方法をと
っていた。

なお、試験の手順は、中央処理装置１からの指示により
進められる。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかしながら、前記した従来の技術には、接続される外
部記憶装置の数が増えると、それに比例して試験時間が
増加するという問題点があった。

即ち、従来の試験方法は、外部記憶装置の１つのエリア
の試験が完了してから次のエリアの試験に取り掛かり、
当該外部記憶装置に対する試験が終わってから次の外部
記憶装置に対する試験に入るという逐次的な方法である
ため、試験時間は外部記憶装置の数に比例する。従って
、接続される外部記憶装置の数が多い大きなコンピュー
タ・システムになればなる程、試験時間が長くなってい
た。そのため、外部記憶装置の数が増えても試験時間が
それに比例することなく、障害のある外部記憶装置を短
時間で識別することが出来るような試験方法が要望され
ていた。

本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたもので
ある。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は、本発明の原理ブロック図である。第１図にお
いて、１は中央処理装置、２はメイン・メモリ、３ない
しＮは外部記憶装置である。

メイン・メモリ２の試験データは外部記憶装置３〜Ｎに
同時に書き込まれ、次いで、外部記憶装置３〜Ｎのデー
タが読み出されてメイン・メモリ２に書き込まれる。そ
して、中央処理袋Ｗ１は、先に外部記憶装置に書き込ん
だ内容と当該外部記憶装置から読み出された内容とを比
較する。言うまでもなく中央処理袋ｗ１は、上記読み出
し或いは書き込みの指示を発する。

〔作　　用〕

外部記憶装置３〜Ｎの試験をするに際し、中央処理装置
１は、メイン・メモリ２に格納されている試験データを
、外部記憶装置３〜Ｎに同時に書き込むよう指示する。

そして、外部記憶装置３〜Ｎに書き込まれた試験データ
を読み出してメイン・メモリ２に書き込むよう指示する
。当初メイン・メモリ２に格納されていた試験データと
、外部記憶装置３〜Ｎから読み出されて来た試験データ
とを比較して、外部記憶装置３〜Ｎが正常か否かを判断
する。

外部記憶装置３〜Ｎからメイン・メモリ２への書き込み
（多数個−１個への書き込み）は同時には出来ないから
、シリアルに書き込みを行う以外にないが、メイン・メ
モリ２から外部記憶装置３〜Ｎへの書き込み（１個−多
数個への書き込み）は同時に出来る。このために、多数
の外部記憶装置３〜Ｎがある時、メイン・メモリ２から
外部記憶装置３〜Ｎへの書き込みに要する時間が大幅に
短縮されるので、試験時間が短縮される。

〔実　施　例〕

以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。

第２図は本発明の試験方法の手順を示す図である。本発
明による試験方法は次の通りである。○で囲った数字は
、第２図中の手順に付した数字に対応する。

■　メイン・メモリ２の任意のエリア２−１に格納され
ている試験データＤ。を、各外部記憶装置３〜Ｎの試験
しようとしている各１つのエリア３−１ないしＮ−１に
、同時に書き込む。

■　エリア３−１ないしＮ−１に書き込まれたデータを
読み出して、メイン・メモリ２の別のエリア２−２ない
し２−ｉに、それぞれ書き込む。当該読み出されたデー
タをそれぞれＤ３　、　Ｄ４　、・・・ＤＮとする。

■　エリア２−１の元の試験データＤ０と、エリア２−
２ないし２−４に読み出されたデータＤ３ないしＤ）ｌ
とを、比較する。比較の結果、両者が異なっていた場合
、その異なったデータが入っていた外部記憶装置のエリ
アには障害ありと判定する。

例えば、エリア２−１の元の試験データＤ。と、エリア
２−２に書き込まれたデータＤ３　（外部記憶装置３の
エリア３−１に入っていたデータ）とを比較した結果、
両者が異なっていたという時は、データＤ３が入ってい
たエリア即ち外部記憶装置３のエリア３−１に障害あり
と判定する。

■　外部記憶装置３ないしＮの他のエリアに対しての試
験が終わったかどうかを確認し、終わっていなければ終
わっていないエリアに対し、前記■〜■までの処理を行
なう。

〔発明の効果〕

以上述べた如く、本発明によれば、全ての外部記憶装置
に対する試験データの書き込みを同時に行い、外部記憶
装置からの試験データの読み出しを行うので、上記の書
き込み、読み出しを共に逐次的に行う従来の方法に比し
、試験時間を短縮することが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図・・・本発明の原理ブロック図第２図・・・本発明の試験方法の手順を示す図第３図・
・・従来の試験方法を説明するブロック図第４図・・・
従来の試験方法の手順を示す回国において、１は中央処
理装置、２はメイン・メモリ、３ないしＮは外部記憶装
置である。

Claims

【特許請求の範囲】中央処理装置（１）とメイン・メモリ（２）と複数の外
部記憶装置（３〜Ｎ）を備えたコンピュータ・システム
に於ける該外部記憶装置の試験方法において、メイン・メモリ（２）に格納されている試験データを前
記外部記憶装置（３〜Ｎ）のすべてに同時に書き込む第
１の過程と、該第１の過程で書き込まれたデータをメイン・メモリ（
２）に読み出す第２の過程と、前記試験データと前記第２の過程で読み出されたデータ
とを比較して両者が一致していなければ異常と判定する
第３の過程とを備えることを特徴とする外部記憶装置の試験方法。