JPS63231771A - 外部記憶装置の試験方法 - Google Patents
外部記憶装置の試験方法Info
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- JPS63231771A JPS63231771A JP6655187A JP6655187A JPS63231771A JP S63231771 A JPS63231771 A JP S63231771A JP 6655187 A JP6655187 A JP 6655187A JP 6655187 A JP6655187 A JP 6655187A JP S63231771 A JPS63231771 A JP S63231771A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
本発明は、複数個の外部記憶装置を有するコンピュータ
・システムにおける該外部記憶装置の試験方法において
、試験データの書き込み及び読み出しを、全外部記憶装
置に対して実質上同じ動作サイクルで行うことにより、
試験時間ないしは障害検出時間を短縮したものである。
・システムにおける該外部記憶装置の試験方法において
、試験データの書き込み及び読み出しを、全外部記憶装
置に対して実質上同じ動作サイクルで行うことにより、
試験時間ないしは障害検出時間を短縮したものである。
本発明は、複数個の外部記憶装置を有するコンピュータ
・システムにおいて、該外部記憶装置が正常であるかど
うかを試験する方法に関するものである。
・システムにおいて、該外部記憶装置が正常であるかど
うかを試験する方法に関するものである。
大容量のコンピュータ・システムには、ハードディスク
やファイルメモリ等の外部記憶装置が設けられている。
やファイルメモリ等の外部記憶装置が設けられている。
そして、そのような外部記憶装置に障害があった場合、
コンピュータ動作に重大な影響を及ぼすので、外部記憶
装置の各エリア毎に正常か否かの試験をすることが行わ
れている。
コンピュータ動作に重大な影響を及ぼすので、外部記憶
装置の各エリア毎に正常か否かの試験をすることが行わ
れている。
第3図は従来の試験方法を説明するブロック図であり、
第4図は従来の試験方法の手順を示す図である。第3図
において、■は中央処理装置、2はメイン・メモリ、3
ないしNは外部記憶装置である。
第4図は従来の試験方法の手順を示す図である。第3図
において、■は中央処理装置、2はメイン・メモリ、3
ないしNは外部記憶装置である。
従来の試験方法は、次の通りである。○で囲った数字は
、第4図中の手順に付した数字に対応する。
、第4図中の手順に付した数字に対応する。
■ メイン・メモリ2の任意のエリア2−1に格納され
ている試験データD。を、外部記憶装置3の試験しよう
としているエリア3−1に書き込む。
ている試験データD。を、外部記憶装置3の試験しよう
としているエリア3−1に書き込む。
■ エリア3−1に書き込まれたデータを、メイン・メ
モリ2の別のエリア2−2に読み出す。読み出されたデ
ータをD3とする。
モリ2の別のエリア2−2に読み出す。読み出されたデ
ータをD3とする。
■ エリア2−2に読み出されたデータD3と、エリア
2−1の試験データD。とを比較する。比較の結果、両
者が異なっていればエリア3−1は正常でない(障害あ
?fJ)と判定する。両者が一敗していれば、エリア3
−1は正常であると判定する。
2−1の試験データD。とを比較する。比較の結果、両
者が異なっていればエリア3−1は正常でない(障害あ
?fJ)と判定する。両者が一敗していれば、エリア3
−1は正常であると判定する。
■ 外部記憶装置3の他のエリアに対しての試験が終わ
ったかどうかを確認し、終わっていなければ終わってい
ないエリアに対し、前記■〜■までの処理を行なう。
ったかどうかを確認し、終わっていなければ終わってい
ないエリアに対し、前記■〜■までの処理を行なう。
■ 他の外部記憶装置に対しての試験が終わったかどう
かを確認し、終わっていなければ終わっていない外部記
憶装置に対し、前記■〜■の処理をイ丁つ。
かを確認し、終わっていなければ終わっていない外部記
憶装置に対し、前記■〜■の処理をイ丁つ。
即ち、外部記憶装置の1つのエリアに対して、書き込み
、読み出し、比較チェックを行って試験をし、それが完
了してから次のエリアの試験に移るという試験方法をと
っていた。
、読み出し、比較チェックを行って試験をし、それが完
了してから次のエリアの試験に移るという試験方法をと
っていた。
なお、試験の手順は、中央処理装置1からの指示により
進められる。
進められる。
しかしながら、前記した従来の技術には、接続される外
部記憶装置の数が増えると、それに比例して試験時間が
増加するという問題点があった。
部記憶装置の数が増えると、それに比例して試験時間が
増加するという問題点があった。
即ち、従来の試験方法は、外部記憶装置の1つのエリア
の試験が完了してから次のエリアの試験に取り掛かり、
当該外部記憶装置に対する試験が終わってから次の外部
記憶装置に対する試験に入るという逐次的な方法である
ため、試験時間は外部記憶装置の数に比例する。従って
、接続される外部記憶装置の数が多い大きなコンピュー
タ・システムになればなる程、試験時間が長くなってい
た。そのため、外部記憶装置の数が増えても試験時間が
それに比例することなく、障害のある外部記憶装置を短
時間で識別することが出来るような試験方法が要望され
ていた。
の試験が完了してから次のエリアの試験に取り掛かり、
当該外部記憶装置に対する試験が終わってから次の外部
記憶装置に対する試験に入るという逐次的な方法である
ため、試験時間は外部記憶装置の数に比例する。従って
、接続される外部記憶装置の数が多い大きなコンピュー
タ・システムになればなる程、試験時間が長くなってい
た。そのため、外部記憶装置の数が増えても試験時間が
それに比例することなく、障害のある外部記憶装置を短
時間で識別することが出来るような試験方法が要望され
ていた。
本発明は、以上のような問題点に鑑みてなされたもので
ある。
ある。
第1図は、本発明の原理ブロック図である。第1図にお
いて、1は中央処理装置、2はメイン・メモリ、3ない
しNは外部記憶装置である。
いて、1は中央処理装置、2はメイン・メモリ、3ない
しNは外部記憶装置である。
メイン・メモリ2の試験データは外部記憶装置3〜Nに
同時に書き込まれ、次いで、外部記憶装置3〜Nのデー
タが読み出されてメイン・メモリ2に書き込まれる。そ
して、中央処理袋W1は、先に外部記憶装置に書き込ん
だ内容と当該外部記憶装置から読み出された内容とを比
較する。言うまでもなく中央処理袋w1は、上記読み出
し或いは書き込みの指示を発する。
同時に書き込まれ、次いで、外部記憶装置3〜Nのデー
タが読み出されてメイン・メモリ2に書き込まれる。そ
して、中央処理袋W1は、先に外部記憶装置に書き込ん
だ内容と当該外部記憶装置から読み出された内容とを比
較する。言うまでもなく中央処理袋w1は、上記読み出
し或いは書き込みの指示を発する。
外部記憶装置3〜Nの試験をするに際し、中央処理装置
1は、メイン・メモリ2に格納されている試験データを
、外部記憶装置3〜Nに同時に書き込むよう指示する。
1は、メイン・メモリ2に格納されている試験データを
、外部記憶装置3〜Nに同時に書き込むよう指示する。
そして、外部記憶装置3〜Nに書き込まれた試験データ
を読み出してメイン・メモリ2に書き込むよう指示する
。当初メイン・メモリ2に格納されていた試験データと
、外部記憶装置3〜Nから読み出されて来た試験データ
とを比較して、外部記憶装置3〜Nが正常か否かを判断
する。
を読み出してメイン・メモリ2に書き込むよう指示する
。当初メイン・メモリ2に格納されていた試験データと
、外部記憶装置3〜Nから読み出されて来た試験データ
とを比較して、外部記憶装置3〜Nが正常か否かを判断
する。
外部記憶装置3〜Nからメイン・メモリ2への書き込み
(多数個−1個への書き込み)は同時には出来ないから
、シリアルに書き込みを行う以外にないが、メイン・メ
モリ2から外部記憶装置3〜Nへの書き込み(1個−多
数個への書き込み)は同時に出来る。このために、多数
の外部記憶装置3〜Nがある時、メイン・メモリ2から
外部記憶装置3〜Nへの書き込みに要する時間が大幅に
短縮されるので、試験時間が短縮される。
(多数個−1個への書き込み)は同時には出来ないから
、シリアルに書き込みを行う以外にないが、メイン・メ
モリ2から外部記憶装置3〜Nへの書き込み(1個−多
数個への書き込み)は同時に出来る。このために、多数
の外部記憶装置3〜Nがある時、メイン・メモリ2から
外部記憶装置3〜Nへの書き込みに要する時間が大幅に
短縮されるので、試験時間が短縮される。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。
。
第2図は本発明の試験方法の手順を示す図である。本発
明による試験方法は次の通りである。○で囲った数字は
、第2図中の手順に付した数字に対応する。
明による試験方法は次の通りである。○で囲った数字は
、第2図中の手順に付した数字に対応する。
■ メイン・メモリ2の任意のエリア2−1に格納され
ている試験データD。を、各外部記憶装置3〜Nの試験
しようとしている各1つのエリア3−1ないしN−1に
、同時に書き込む。
ている試験データD。を、各外部記憶装置3〜Nの試験
しようとしている各1つのエリア3−1ないしN−1に
、同時に書き込む。
■ エリア3−1ないしN−1に書き込まれたデータを
読み出して、メイン・メモリ2の別のエリア2−2ない
し2−iに、それぞれ書き込む。当該読み出されたデー
タをそれぞれD3 、 D4 、・・・DNとする。
読み出して、メイン・メモリ2の別のエリア2−2ない
し2−iに、それぞれ書き込む。当該読み出されたデー
タをそれぞれD3 、 D4 、・・・DNとする。
■ エリア2−1の元の試験データD0と、エリア2−
2ないし2−4に読み出されたデータD3ないしD)l
とを、比較する。比較の結果、両者が異なっていた場合
、その異なったデータが入っていた外部記憶装置のエリ
アには障害ありと判定する。
2ないし2−4に読み出されたデータD3ないしD)l
とを、比較する。比較の結果、両者が異なっていた場合
、その異なったデータが入っていた外部記憶装置のエリ
アには障害ありと判定する。
例えば、エリア2−1の元の試験データD。と、エリア
2−2に書き込まれたデータD3 (外部記憶装置3の
エリア3−1に入っていたデータ)とを比較した結果、
両者が異なっていたという時は、データD3が入ってい
たエリア即ち外部記憶装置3のエリア3−1に障害あり
と判定する。
2−2に書き込まれたデータD3 (外部記憶装置3の
エリア3−1に入っていたデータ)とを比較した結果、
両者が異なっていたという時は、データD3が入ってい
たエリア即ち外部記憶装置3のエリア3−1に障害あり
と判定する。
■ 外部記憶装置3ないしNの他のエリアに対しての試
験が終わったかどうかを確認し、終わっていなければ終
わっていないエリアに対し、前記■〜■までの処理を行
なう。
験が終わったかどうかを確認し、終わっていなければ終
わっていないエリアに対し、前記■〜■までの処理を行
なう。
以上述べた如く、本発明によれば、全ての外部記憶装置
に対する試験データの書き込みを同時に行い、外部記憶
装置からの試験データの読み出しを行うので、上記の書
き込み、読み出しを共に逐次的に行う従来の方法に比し
、試験時間を短縮することが出来る。
に対する試験データの書き込みを同時に行い、外部記憶
装置からの試験データの読み出しを行うので、上記の書
き込み、読み出しを共に逐次的に行う従来の方法に比し
、試験時間を短縮することが出来る。
第1図・・・本発明の原理ブロック図
第2図・・・本発明の試験方法の手順を示す図第3図・
・・従来の試験方法を説明するブロック図第4図・・・
従来の試験方法の手順を示す回国において、1は中央処
理装置、2はメイン・メモリ、3ないしNは外部記憶装
置である。
・・従来の試験方法を説明するブロック図第4図・・・
従来の試験方法の手順を示す回国において、1は中央処
理装置、2はメイン・メモリ、3ないしNは外部記憶装
置である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 中央処理装置(1)とメイン・メモリ(2)と複数の外
部記憶装置(3〜N)を備えたコンピュータ・システム
に於ける該外部記憶装置の試験方法において、 メイン・メモリ(2)に格納されている試験データを前
記外部記憶装置(3〜N)のすべてに同時に書き込む第
1の過程と、 該第1の過程で書き込まれたデータをメイン・メモリ(
2)に読み出す第2の過程と、 前記試験データと前記第2の過程で読み出されたデータ
とを比較して両者が一致していなければ異常と判定する
第3の過程と を備えることを特徴とする外部記憶装置の試験方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6655187A JPS63231771A (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 外部記憶装置の試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6655187A JPS63231771A (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 外部記憶装置の試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63231771A true JPS63231771A (ja) | 1988-09-27 |
Family
ID=13319160
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6655187A Pending JPS63231771A (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 外部記憶装置の試験方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63231771A (ja) |
-
1987
- 1987-03-20 JP JP6655187A patent/JPS63231771A/ja active Pending
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