JPS63245751A - 主記憶装置試験方法 - Google Patents
主記憶装置試験方法Info
- Publication number
- JPS63245751A JPS63245751A JP62081531A JP8153187A JPS63245751A JP S63245751 A JPS63245751 A JP S63245751A JP 62081531 A JP62081531 A JP 62081531A JP 8153187 A JP8153187 A JP 8153187A JP S63245751 A JPS63245751 A JP S63245751A
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- Japan
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title abstract description 28
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 3
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 abstract description 6
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数台の主記憶装置を有する計算機システム
の再開処理で行なう主記憶装置試験方法に関する。
の再開処理で行なう主記憶装置試験方法に関する。
従来、この種の主記憶装置試験方法はそれぞれの主記憶
装置に対して全番地の試験による障害発生チェックを全
装置にわたって順次行なっていた。
装置に対して全番地の試験による障害発生チェックを全
装置にわたって順次行なっていた。
第２図は本発明の一実施例を示すフローチャートの後半
部分であるが、装置番号を初期設定する手順Ｓｌｌが、
従来の試験開始の第１手順であった。
部分であるが、装置番号を初期設定する手順Ｓｌｌが、
従来の試験開始の第１手順であった。
すなわち、主記憶装置の試験はまず装置番号の初期設定
（Ｓｌｌ）に次いで、第１番目の主記憶装置の全番地試
験を実行（Ｓ１２）する。試験結果が良＜（３１３）全
装置の試験が終了（Ｓ１４）すれば装置の正常が確認（
Ｓ１５＞できて、手順は終了する。
（Ｓｌｌ）に次いで、第１番目の主記憶装置の全番地試
験を実行（Ｓ１２）する。試験結果が良＜（３１３）全
装置の試験が終了（Ｓ１４）すれば装置の正常が確認（
Ｓ１５＞できて、手順は終了する。
動作手順３１３で試験結果が不良のときは異常の検出（
Ｓ１７）が出力されて手順を終了し、この異常の対策に
入る。また、動作手順Ｓ１４で全装置の試験が未終了の
ときは装置番号を更新（Ｓ１６）して次の装置の全番地
試験を実行する手順Ｓ１２へ戻る。
Ｓ１７）が出力されて手順を終了し、この異常の対策に
入る。また、動作手順Ｓ１４で全装置の試験が未終了の
ときは装置番号を更新（Ｓ１６）して次の装置の全番地
試験を実行する手順Ｓ１２へ戻る。
上述した従来の主記憶装置試験方法は、例えば電源断の
ような主記憶装置のどの番地からも記憶内容が読出すこ
とができず直ちに異常が検出されるような共通部装置障
害が、試験の順番で後の方の装置にあった場合、障害検
出までに時間がかかるという問題点があった３ 本発明の目的は、上記問題点を解決した主記憶装置試験
方法を提供することにある。
ような主記憶装置のどの番地からも記憶内容が読出すこ
とができず直ちに異常が検出されるような共通部装置障
害が、試験の順番で後の方の装置にあった場合、障害検
出までに時間がかかるという問題点があった３ 本発明の目的は、上記問題点を解決した主記憶装置試験
方法を提供することにある。
本発明の上記４意装置試験方法は、まず全主記憶装置の
それぞれについて任意の一番地の障害発生チェックをし
、次いで全番地について障害発生のチェックをする。
それぞれについて任意の一番地の障害発生チェックをし
、次いで全番地について障害発生のチェックをする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図および第２図は本発明の一実施例を示すフローチ
ャー１〜である。
ャー１〜である。
第１図において、主記憶装置の試験はまず装置番号を初
期設定（Ｓｌ）Ｌ、例えば最初の一番地の試験を実行（
Ｓ２）する。試験の結果が良（Ｓ３）のとき、すべての
主記憶装置の試験の未終了（Ｓ４）を確認して装置番号
を更新（Ｓ５）Ｌ、次の順位の装置の最初の一番地を試
験する手順２へ戻る。手順Ｓ３で試験結果が不良のとき
は異常と検出（Ｓ６）して手順を終了する。手順Ｓ４で
すべての主記憶装置の一番地試験が終了したときは第２
図の手順Ｓ ］、 １へ進む。
期設定（Ｓｌ）Ｌ、例えば最初の一番地の試験を実行（
Ｓ２）する。試験の結果が良（Ｓ３）のとき、すべての
主記憶装置の試験の未終了（Ｓ４）を確認して装置番号
を更新（Ｓ５）Ｌ、次の順位の装置の最初の一番地を試
験する手順２へ戻る。手順Ｓ３で試験結果が不良のとき
は異常と検出（Ｓ６）して手順を終了する。手順Ｓ４で
すべての主記憶装置の一番地試験が終了したときは第２
図の手順Ｓ ］、 １へ進む。
第２図に示す手順は主記憶装置の試験の後半の手順て、
従来技術の手順であり説明は省略する７手順Ｓ６の異常
検出ては障害情報を収集して終了し、また読出し元て例
えば障害装置が予備装置に置換される。
従来技術の手順であり説明は省略する７手順Ｓ６の異常
検出ては障害情報を収集して終了し、また読出し元て例
えば障害装置が予備装置に置換される。
上記実施例では一番地試験で最初の一番地と説明したか
、重要障害の場合はどの番地からも読取行為かできず異
常が検出されるので任意の一番地を試験すればよい。従
って、特に最初の番地のアドレス指定ではなく、設定中
のアドレスをそのまま使用することができる。
、重要障害の場合はどの番地からも読取行為かできず異
常が検出されるので任意の一番地を試験すればよい。従
って、特に最初の番地のアドレス指定ではなく、設定中
のアドレスをそのまま使用することができる。
以上説明したように本発明は、主記憶装置試験において
、まず任意の一番地の障害発生チェックを行なうことに
より、共通部装置障害のような重要障害が早期に発見で
きる効果がある。
、まず任意の一番地の障害発生チェックを行なうことに
より、共通部装置障害のような重要障害が早期に発見で
きる効果がある。
特に、主記憶装置が大容量化すればする程効果は大きく
なる。
なる。
第１図および第２図は本発明の主記憶装置試験方法の概
要手順の一実施例を示すフローチャー１〜である。
要手順の一実施例を示すフローチャー１〜である。
Claims (1)
- 複数台の主記憶装置を有する計算機システムの再開処理
で行なう主記憶装置試験方法において、まず全主記憶装
置のそれぞれについて任意の一番地の障害発生チェック
を実行することを特徴とする主記憶装置試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62081531A JPS63245751A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 主記憶装置試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62081531A JPS63245751A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 主記憶装置試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63245751A true JPS63245751A (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=13748897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62081531A Pending JPS63245751A (ja) | 1987-04-01 | 1987-04-01 | 主記憶装置試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63245751A (ja) |
-
1987
- 1987-04-01 JP JP62081531A patent/JPS63245751A/ja active Pending
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