JPS63230156A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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- JPS63230156A JPS63230156A JP62063759A JP6375987A JPS63230156A JP S63230156 A JPS63230156 A JP S63230156A JP 62063759 A JP62063759 A JP 62063759A JP 6375987 A JP6375987 A JP 6375987A JP S63230156 A JPS63230156 A JP S63230156A
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- RGCLLPNLLBQHPF-HJWRWDBZSA-N phosphamidon Chemical compound CCN(CC)C(=O)C(\Cl)=C(/C)OP(=O)(OC)OC RGCLLPNLLBQHPF-HJWRWDBZSA-N 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は核磁気共鳴(以下、rNMRJという)を用い
た検査方法および装置に係り、特に磁石の発生する静磁
場の経時変化を補正するのに好適なNMRを用いた検査
方法に関する。
た検査方法および装置に係り、特に磁石の発生する静磁
場の経時変化を補正するのに好適なNMRを用いた検査
方法に関する。
従来、人体の頭部、腹部などの内部構造を非破壊的に検
査する装置として、X@CTや超音波撮像装置が広く利
用されて来ている。近年、核磁気共鳴現象を用いて同様
の検査を行う試みが成功し。
査する装置として、X@CTや超音波撮像装置が広く利
用されて来ている。近年、核磁気共鳴現象を用いて同様
の検査を行う試みが成功し。
X線CTや超音波撮像装置では得られない情報を取得で
きることが明らかになって来た。核磁気共鳴現象を用い
た検査装置においては、検査物体からの信号を物体各部
に対応させて分解・識別する必要がある。その1つに、
検査物体に傾斜磁場を印加し、物体各部の置かれた静磁
場を異ならせ、これにより各部の共鳴周波数あるいはフ
ェーズ・エンコード量を異ならせることで装置の情報を
得る方法がある。
きることが明らかになって来た。核磁気共鳴現象を用い
た検査装置においては、検査物体からの信号を物体各部
に対応させて分解・識別する必要がある。その1つに、
検査物体に傾斜磁場を印加し、物体各部の置かれた静磁
場を異ならせ、これにより各部の共鳴周波数あるいはフ
ェーズ・エンコード量を異ならせることで装置の情報を
得る方法がある。
その基本原理については、(ジャーナル・オブーvグネ
チック・レゾナンス(Journal of Magn
eticResonance)誌、第18巻(1975
)、第69〜83頁)にあるいは、フィジックス・イン
・メゾシン・アンド・バイオロジー(Physics
in阿edicins & Biology)誌、第2
5巻(1980)、第751〜756真に記載されてい
るのでここでは省略する。
チック・レゾナンス(Journal of Magn
eticResonance)誌、第18巻(1975
)、第69〜83頁)にあるいは、フィジックス・イン
・メゾシン・アンド・バイオロジー(Physics
in阿edicins & Biology)誌、第2
5巻(1980)、第751〜756真に記載されてい
るのでここでは省略する。
このようなイメージングの1方法として、化学シフ1−
イメージングがある。化学シフ1へとは、同一の核種で
あっても各スピンの感しる磁場がその周囲の分子構造の
相違により異なるため、各スピンの共鳴周波数が分子構
造」−での位置に応じて変化する現象である。化学シフ
1−は被測定体の分子’pYt造に関する情報を与えて
くれるため、極めて重要な現象である。化学シフト量を
イメージングする方法としては、これまで(a、)マウ
ズレイ(Maudsloy)らにより報告されたフーリ
エイメージング法の拡張法(ジャーナル・オブ・マグネ
テインク・レゾナンス、第51−巻、第147頁(19
83)) 。
イメージングがある。化学シフ1へとは、同一の核種で
あっても各スピンの感しる磁場がその周囲の分子構造の
相違により異なるため、各スピンの共鳴周波数が分子構
造」−での位置に応じて変化する現象である。化学シフ
1−は被測定体の分子’pYt造に関する情報を与えて
くれるため、極めて重要な現象である。化学シフト量を
イメージングする方法としては、これまで(a、)マウ
ズレイ(Maudsloy)らにより報告されたフーリ
エイメージング法の拡張法(ジャーナル・オブ・マグネ
テインク・レゾナンス、第51−巻、第147頁(19
83)) 。
(b)ディクソン(1)j、xon)により提案された
方法(ラジオグラフィ(Radiolog、y ) を
第153巻。
方法(ラジオグラフィ(Radiolog、y ) を
第153巻。
第189頁(1984))などが代表例としてあげられ
る。
る。
さて、化学シフトによる共鳴周波数の変化量は数ppm
〜数10ppm程度である。従って、化学シフトイメー
ジングを行うためには、装置の安定性が前記値に比べて
無視できる程小さくなければならない。
〜数10ppm程度である。従って、化学シフトイメー
ジングを行うためには、装置の安定性が前記値に比べて
無視できる程小さくなければならない。
N M、 Rにおいては、高周波磁場、静磁場、傾斜磁
場の3種類の磁場を用いるが、そのうち、高周波磁場の
周波数安定性は極めて高く、10−108度(1万分の
1 ppm)が容易に達成できる。また。
場の3種類の磁場を用いるが、そのうち、高周波磁場の
周波数安定性は極めて高く、10−108度(1万分の
1 ppm)が容易に達成できる。また。
傾斜磁場に関しても、その傾きの変動は0.1 %程
度あり、画像の位置ずれあるいはアーチファクト増大の
原因となるが、化学シフトイメージングにおいては特に
問題とならない。
度あり、画像の位置ずれあるいはアーチファクト増大の
原因となるが、化学シフトイメージングにおいては特に
問題とならない。
最も重大な影響を及ぼすのが静磁場の安定性である。イ
メージングで用いられる磁石には超伝導磁石、常伝導磁
石、永久磁石がある。後者の2つは周囲の温度によりイ
メージング期間でも数ppm程度磁場強度が変化し、化
学シフトイメージングには用いることができない。一方
、前者の超伝導磁石は一般に極めて安定性が高いとされ
ているが。
メージングで用いられる磁石には超伝導磁石、常伝導磁
石、永久磁石がある。後者の2つは周囲の温度によりイ
メージング期間でも数ppm程度磁場強度が変化し、化
学シフトイメージングには用いることができない。一方
、前者の超伝導磁石は一般に極めて安定性が高いとされ
ているが。
ツレでも0 、1 ppm/ h r 程度で減衰する
。これは主に超伝導線の接続部の有する抵抗によるもの
で、特にイメージングで用いる線材の場合、クエンチン
グを防止するためマルチフィラメント摺成が用いられて
おり、分析用N M R装置の場合に比べその抵抗値は
高い。従って、このような磁石を用いると、1力月に’
/ 2 ppm HA度の81場変動が生じる。
。これは主に超伝導線の接続部の有する抵抗によるもの
で、特にイメージングで用いる線材の場合、クエンチン
グを防止するためマルチフィラメント摺成が用いられて
おり、分析用N M R装置の場合に比べその抵抗値は
高い。従って、このような磁石を用いると、1力月に’
/ 2 ppm HA度の81場変動が生じる。
上記従来技術では、このような磁場変動は被検者の計測
毎に補正していた。しかし、化学シフトイメージングの
1つの方法では、基準試料により静磁場の空間的な不均
一を補正する必要があり、被検体とは別にこの基準試料
による計測も必要である。この場合、基準試料の計測時
の静磁場強度と、被検体の計測時の静磁場強度が異なれ
ば、オフセット位相誤差となる(特願昭60−1.89
652)。
毎に補正していた。しかし、化学シフトイメージングの
1つの方法では、基準試料により静磁場の空間的な不均
一を補正する必要があり、被検体とは別にこの基準試料
による計測も必要である。この場合、基準試料の計測時
の静磁場強度と、被検体の計測時の静磁場強度が異なれ
ば、オフセット位相誤差となる(特願昭60−1.89
652)。
また、化学シフトイメージングの他の方法では、特定の
化学シフトを有するスピンだけを予め選択的に励起する
ことが行なわれる。この場合にも、静磁場の正確な値が
分らなければ、特定の化学シフトだけを励起することが
できない。(ジエイ・フラーム他、ラジオロジー、(9
丁、FrF?hm et al 。
化学シフトを有するスピンだけを予め選択的に励起する
ことが行なわれる。この場合にも、静磁場の正確な値が
分らなければ、特定の化学シフトだけを励起することが
できない。(ジエイ・フラーム他、ラジオロジー、(9
丁、FrF?hm et al 。
Radiology)156,441−444(198
5) 参照) 本発明の目的は、前記オフセット位相誤差の補正あるい
は選択励起用高周波磁場の周波数誤差を補正することに
ある。
5) 参照) 本発明の目的は、前記オフセット位相誤差の補正あるい
は選択励起用高周波磁場の周波数誤差を補正することに
ある。
ヒ記目的は、超伝導磁石の磁場強度が141.調に)賊
衰することを利用し、この減衰率を予め計測しておき、
この値を用いて将来の磁場強度を推定することにより達
成される3 〔作用〕 超伝導磁石の磁場強度は多くの場合次式で表わH(t)
=Hoa =11)ここで、I−
((t、)は時刻しにおける磁場強度、Haは時刻tの
原点における磁場強度、toは時定数である6(1)式
において、2つの時刻ti とt2における磁場強度が
分かれば、Ho、to を求めることができる。すなわ
ち、 −t、/l。
衰することを利用し、この減衰率を予め計測しておき、
この値を用いて将来の磁場強度を推定することにより達
成される3 〔作用〕 超伝導磁石の磁場強度は多くの場合次式で表わH(t)
=Hoa =11)ここで、I−
((t、)は時刻しにおける磁場強度、Haは時刻tの
原点における磁場強度、toは時定数である6(1)式
において、2つの時刻ti とt2における磁場強度が
分かれば、Ho、to を求めることができる。すなわ
ち、 −t、/l。
H(tz)=Hoe ・−(
z)−t2/l。
z)−t2/l。
H(t 2) == Ho e
□・・(3)が成立するもので、これらの式
から次式を得る。
□・・(3)が成立するもので、これらの式
から次式を得る。
11−1゜
Ho=H(tl)e ・・(5
)一般には、tlを原点に選ぶのが便利である。
)一般には、tlを原点に選ぶのが便利である。
この場合、次式が成立する。
このtoを(1)式に代入すると、結局、任意の時刻t
における磁場強度は次式で与えられる。
における磁場強度は次式で与えられる。
t Q n(H(0)/H(tz) )H(t) =
H(0) e ・= (7)次
に、時刻t、、tzにおける磁場強度の求め方について
述べる。磁場強度をpp+mオーダーの精度で計測する
には、NMRを利用するのがこの場合最も都合がよい。
H(0) e ・= (7)次
に、時刻t、、tzにおける磁場強度の求め方について
述べる。磁場強度をpp+mオーダーの精度で計測する
には、NMRを利用するのがこの場合最も都合がよい。
すなわち、傾斜磁場を印加しない状態で中心部近辺に置
かれた試料からのNMR信号を計測し、それをフーリニ
変換すると第2図に示すスペクトルが得られる。スペク
トルの中心周波数ioは静磁場と次式の関係式で結ばれ
る。
かれた試料からのNMR信号を計測し、それをフーリニ
変換すると第2図に示すスペクトルが得られる。スペク
トルの中心周波数ioは静磁場と次式の関係式で結ばれ
る。
fo= H・・・(8)
2π
ここで、γは核磁気口伝比であり、スピンに固有の値で
ある。従って、ioを計測することにより(8)式から
Hが求まることになる。foの値は。
ある。従って、ioを計測することにより(8)式から
Hが求まることになる。foの値は。
信号の検波に用いる参照波の周波数とスペクトルの帯域
により高精度で求めることができる。
により高精度で求めることができる。
以上述べたように、少なくとも2つの時刻における磁場
強度を計測すれば、将来の磁場強度を予測できる。さて
、このようにして求めた磁場強度の値を用いて化学シフ
トイメージングにおける位相誤差あるいは選択励起用高
周波磁場の周波数誤差を補正する方法について述べる。
強度を計測すれば、将来の磁場強度を予測できる。さて
、このようにして求めた磁場強度の値を用いて化学シフ
トイメージングにおける位相誤差あるいは選択励起用高
周波磁場の周波数誤差を補正する方法について述べる。
まず前者の場合について説明する。基準試料像をS、(
xt y)+被検体像をSc (xt y)とすると次
式が成立する。
xt y)+被検体像をSc (xt y)とすると次
式が成立する。
5r(xvy)= (ρ1(xvy)exp(−jyσ
t’ t)+ρz(X l y )exp(=γσ2′
τ)) Xexp(jθr)・・・(9) Sc(xl y)= p 1(xl y)exp(−j
y a t τ)exp(jθc) −Qo)ここ
で、化学シフトの数は2本とし、その密度分布をρt(
x、tyL ρz(x+yL装置固有のオフセット位相
を各々Or 、 Ocとしている。また。
t’ t)+ρz(X l y )exp(=γσ2′
τ)) Xexp(jθr)・・・(9) Sc(xl y)= p 1(xl y)exp(−j
y a t τ)exp(jθc) −Qo)ここ
で、化学シフトの数は2本とし、その密度分布をρt(
x、tyL ρz(x+yL装置固有のオフセット位相
を各々Or 、 Ocとしている。また。
基準試料としては、被検者の有する化学シフトの1つに
等しい共鳴周波数を有する物質を選んでいる。いまそれ
をσ1とし、被検体の化学シフトをσ1′、σ2′とし
ている。σ1′、σ2′はこれまで述べたように、基準
試料の計測と被検体の計測とで静磁場の値が変化するこ
とにより1時間とともに変化する値である。すなわち。
等しい共鳴周波数を有する物質を選んでいる。いまそれ
をσ1とし、被検体の化学シフトをσ1′、σ2′とし
ている。σ1′、σ2′はこれまで述べたように、基準
試料の計測と被検体の計測とで静磁場の値が変化するこ
とにより1時間とともに変化する値である。すなわち。
σ1′−σ2′=ΔH゛(]]、)
a s’ −(12’ =const
−(12)が成立する。ここで、ΔHは両者の磁場強
度差である。また、では2つの化学シフトを分離するた
めに、パルスシーケンスに付与される時間のパラメータ
である。
−(12)が成立する。ここで、ΔHは両者の磁場強
度差である。また、では2つの化学シフトを分離するた
めに、パルスシーケンスに付与される時間のパラメータ
である。
(9)式と(10)式から次式が成立する。
5cSr傘/IS、1
= (ρx(x、y)+ρz(x、y)exp(−jy
で(σ2′−σ1′)〕xexp(−jγτ(σ1−σ
1’)+Jθc−Or))・・・(13)ここで、S
r ”はSrの複素共役を表わす。(13)式において
、σ2′−σ1′は被検体だけの性質で決まり1通常γ
(σ2−σl′)=π/2に設定される。また、θC−
θ、は装置固有のオフセット位相であり、これはτ=0
の時の信号から求めることができる。結局、exp(j
γτ(σ1−σ、’ ))=exp (jγτΔH)が
オフセット位相として、静磁場に関係する量となる。こ
のΔHを(7)式で述べた予測値から算出し、それから
exp(jγτΔH)を求めて(13)式に掛合せると
、静磁場の変動を補正した像が得られることになる。
で(σ2′−σ1′)〕xexp(−jγτ(σ1−σ
1’)+Jθc−Or))・・・(13)ここで、S
r ”はSrの複素共役を表わす。(13)式において
、σ2′−σ1′は被検体だけの性質で決まり1通常γ
(σ2−σl′)=π/2に設定される。また、θC−
θ、は装置固有のオフセット位相であり、これはτ=0
の時の信号から求めることができる。結局、exp(j
γτ(σ1−σ、’ ))=exp (jγτΔH)が
オフセット位相として、静磁場に関係する量となる。こ
のΔHを(7)式で述べた予測値から算出し、それから
exp(jγτΔH)を求めて(13)式に掛合せると
、静磁場の変動を補正した像が得られることになる。
次に後者の選択励起用高周波磁場の周波数誤差を補正す
る方法について説明する。選択励起とは特定の周波数成
分を含むように変調した高周波磁場を印加し、特定の共
鳴周波数を有するスピンだけを励起することである。例
えば、第3図に示すようなスペクトルを有する物質には
2本のピークj1とJ2が存在し、flに対応する像の
みを得たいとする。この時、第3図の点線に示す周波数
特性を有する高周波磁場で被検者を励起すると、fxに
対応するスピンのみが励起され、fzに対応するスピン
からは信号が生じない。従って、flに対応するスピン
の分布を映像化できる。しかし、このfzは静磁場に比
例しているため、静磁場が変動すればflも変動する。
る方法について説明する。選択励起とは特定の周波数成
分を含むように変調した高周波磁場を印加し、特定の共
鳴周波数を有するスピンだけを励起することである。例
えば、第3図に示すようなスペクトルを有する物質には
2本のピークj1とJ2が存在し、flに対応する像の
みを得たいとする。この時、第3図の点線に示す周波数
特性を有する高周波磁場で被検者を励起すると、fxに
対応するスピンのみが励起され、fzに対応するスピン
からは信号が生じない。従って、flに対応するスピン
の分布を映像化できる。しかし、このfzは静磁場に比
例しているため、静磁場が変動すればflも変動する。
そのため、計測に先だってflを計測することが必要で
ある。
ある。
そこで、先に述べたように磁場強度が予測できれば、被
検者の計測毎にflを計測する手間が省けることになる
。なお、ΔHは(7)式から求まるので、これを(8)
式に代入すれば周波数の補正量が求められる。
検者の計測毎にflを計測する手間が省けることになる
。なお、ΔHは(7)式から求まるので、これを(8)
式に代入すれば周波数の補正量が求められる。
以下1本発明の実施例を図面に基づいて詳7M(Iに説
明する。第1図は本発明の一実施例である検査装置の構
成図である。図において、1は計算機、2は高周波パル
ス発生器、3は電力増幅器、4は高周波磁場を発生させ
ると同時に対象物質16から生ずる信号を検出するため
のコイル、5は増幅器、6は検波器である。また、8,
9および10はそれぞれZ方向およびこれに直角の方向
の傾斜磁場を発生させるコイル、11,12.13はそ
れぞれ上記コイル8,9.10を駆動する電源部である
。
明する。第1図は本発明の一実施例である検査装置の構
成図である。図において、1は計算機、2は高周波パル
ス発生器、3は電力増幅器、4は高周波磁場を発生させ
ると同時に対象物質16から生ずる信号を検出するため
のコイル、5は増幅器、6は検波器である。また、8,
9および10はそれぞれZ方向およびこれに直角の方向
の傾斜磁場を発生させるコイル、11,12.13はそ
れぞれ上記コイル8,9.10を駆動する電源部である
。
計算機1は各装置に種々の命令を一定のタイミングで出
力する機能をも有するものである。高周波パルス発生器
2の出力は電力増幅器3で翰幅され、上記コイル4を励
磁する。該コイル4は前述の如く熱漬コイルを兼ねてお
り、受信された信号成分は増幅器5を通り検波器6で検
波後、計算機1に入力され信号処理後ディスプレイ7で
画像に変換される。
力する機能をも有するものである。高周波パルス発生器
2の出力は電力増幅器3で翰幅され、上記コイル4を励
磁する。該コイル4は前述の如く熱漬コイルを兼ねてお
り、受信された信号成分は増幅器5を通り検波器6で検
波後、計算機1に入力され信号処理後ディスプレイ7で
画像に変換される。
なお、静磁場の発生は電源15により駆動されるコイル
14で行う。検査対物質体である人体16はベッド17
上に載置され、上記ベッド17は支持台18上を移動可
能なように構成されている。
14で行う。検査対物質体である人体16はベッド17
上に載置され、上記ベッド17は支持台18上を移動可
能なように構成されている。
メモリ19には(4)式および(5)式に示すt。
およびHoが格納されており、計算機1はこの値をメモ
リ19からロードし、(7)式に示すH(t)を計算す
る。次にこの値を用いて。
リ19からロードし、(7)式に示すH(t)を計算す
る。次にこの値を用いて。
exp(−jγτΔH)を計算し、(13)式に掛合せ
る。
る。
得られた画像を表示すれば、静磁場の変動によるオフセ
ット位相を除去できる。
ット位相を除去できる。
以上述べた処理フローを第4図に示す。なお。
図中点線で囲んだ部分はjl+jZにおけるH(t)を
計測し、それからtoとHoを求める前処理を示しであ
る。また自明のことであるが、toとHOを求めるため
に磁場強度を計測する点は、本発明において述べた2点
に限らず、3点以上の点を用いることもでき、その場合
には最小2乗法などを併用すればよい。さらに磁石の線
材によっては、磁場強度が(1)式で表わされるような
単一の指数関数ではないことも考えられる。この場合に
は計測点を多項式で近似し、それを用いて外挿すること
も可能である。
計測し、それからtoとHoを求める前処理を示しであ
る。また自明のことであるが、toとHOを求めるため
に磁場強度を計測する点は、本発明において述べた2点
に限らず、3点以上の点を用いることもでき、その場合
には最小2乗法などを併用すればよい。さらに磁石の線
材によっては、磁場強度が(1)式で表わされるような
単一の指数関数ではないことも考えられる。この場合に
は計測点を多項式で近似し、それを用いて外挿すること
も可能である。
本発明によれば、静磁場、傾斜m場および高周波磁場内
におけるNMR現象を利用する検査装置において、静磁
場の変動により生じるオフセット位相誤差あるいは選択
励起用高周波磁場の周波数誤差を補正するようにしたの
で、化学シフト像を高精度で得るのに効果がある。
におけるNMR現象を利用する検査装置において、静磁
場の変動により生じるオフセット位相誤差あるいは選択
励起用高周波磁場の周波数誤差を補正するようにしたの
で、化学シフト像を高精度で得るのに効果がある。
第1図は本発明の一実施例であるNMRイメージング装
置の構成図、第2図、第3図は本発明の詳細な説明する
ための信号波形図、第4図は画像処理の手順を示す処理
フロー図である。
置の構成図、第2図、第3図は本発明の詳細な説明する
ための信号波形図、第4図は画像処理の手順を示す処理
フロー図である。
Claims (1)
- 1、静磁場、傾斜磁場および高周波磁場の各磁場発生手
段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検
出手段と、該信号検出手段の検出信号の演算を行う計算
機および該計算機による演算結果の出力手段を有する核
磁気共鳴を用いた検査装置において、静磁場の変動を予
め計測した複数点の磁場強度から算出することにより、
化学シフト像の計測に伴う位相誤差あるいは励起用高周
波磁場の周波数誤差を補正することを特徴とする核磁気
共鳴を用いた検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62063759A JP2528864B2 (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62063759A JP2528864B2 (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63230156A true JPS63230156A (ja) | 1988-09-26 |
JP2528864B2 JP2528864B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=13238639
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62063759A Expired - Lifetime JP2528864B2 (ja) | 1987-03-20 | 1987-03-20 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2528864B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005000116A1 (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-06 | Hitachi Medical Corporation | 磁気共鳴撮影装置 |
WO2006040866A1 (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-20 | Hitachi Medical Corporation | 磁気共鳴撮影装置及び磁気共鳴撮影方法 |
JP2007121037A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Keio Gijuku | 磁気共鳴法を用いて試料中のプロトン性溶媒の挙動の分布を測定する測定装置、測定方法およびプログラム |
US8400148B2 (en) | 2006-07-07 | 2013-03-19 | Hitachi Medical Corporation | Magnetic resonance imaging apparatus |
-
1987
- 1987-03-20 JP JP62063759A patent/JP2528864B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2005000116A1 (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-06 | Hitachi Medical Corporation | 磁気共鳴撮影装置 |
JPWO2005000116A1 (ja) * | 2003-06-30 | 2006-10-05 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴撮影装置 |
US7518362B2 (en) | 2003-06-30 | 2009-04-14 | Hitachi Medical Corporation | Magnetic resonance apparatus utilizing time-varying rate of magnetic resonant frequency |
JP4579830B2 (ja) * | 2003-06-30 | 2010-11-10 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴撮影装置 |
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WO2006040866A1 (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-20 | Hitachi Medical Corporation | 磁気共鳴撮影装置及び磁気共鳴撮影方法 |
US7355405B2 (en) | 2004-10-13 | 2008-04-08 | Hitachi Medical Corporation | Magnetic resonance imaging system and magnetic resonance imaging method |
JPWO2006040866A1 (ja) * | 2004-10-13 | 2008-05-15 | 株式会社日立メディコ | 磁気共鳴撮影装置及び磁気共鳴撮影方法 |
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JP2007121037A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Keio Gijuku | 磁気共鳴法を用いて試料中のプロトン性溶媒の挙動の分布を測定する測定装置、測定方法およびプログラム |
US8400148B2 (en) | 2006-07-07 | 2013-03-19 | Hitachi Medical Corporation | Magnetic resonance imaging apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2528864B2 (ja) | 1996-08-28 |
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