JPS61226648A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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- JPS61226648A JPS61226648A JP60066470A JP6647085A JPS61226648A JP S61226648 A JPS61226648 A JP S61226648A JP 60066470 A JP60066470 A JP 60066470A JP 6647085 A JP6647085 A JP 6647085A JP S61226648 A JPS61226648 A JP S61226648A
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- G01R33/44—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using nuclear magnetic resonance [NMR]
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- G01R33/48—NMR imaging systems
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は核磁気共鳴(以下、rNMRJという)を用い
た検査装置に関し、特にケミカルシフトイメージングに
おいて、静磁場の不均一に起因する位相誤差を除去する
ことが可能なNMRを用いた検査装置に関する。
た検査装置に関し、特にケミカルシフトイメージングに
おいて、静磁場の不均一に起因する位相誤差を除去する
ことが可能なNMRを用いた検査装置に関する。
従来、人体の頭部、腹部などの内部構造を非破壊的に検
査する装置として、X線CTや超音波撮像装置が広く利
用されて来ている。近年、核磁気共鳴現象を用いて同様
の検査を行う試みが成功しX線CTや超音波撮像装置で
は得られない情報を取得できることが明らかになって来
た。核磁気共鳴現象を用いた検査装置においては、検査
物体からの信号を物体各部に対応させて分離・識別する
必要がある。その1つに、検査物体に傾斜磁場を印加し
、物体各部の置かれ九靜磁場を異ならせ、これによシ各
部の共鳴周波数あるいはフェーズ・エンコード量を異な
らせることで位置の情報を得る方法がある。
査する装置として、X線CTや超音波撮像装置が広く利
用されて来ている。近年、核磁気共鳴現象を用いて同様
の検査を行う試みが成功しX線CTや超音波撮像装置で
は得られない情報を取得できることが明らかになって来
た。核磁気共鳴現象を用いた検査装置においては、検査
物体からの信号を物体各部に対応させて分離・識別する
必要がある。その1つに、検査物体に傾斜磁場を印加し
、物体各部の置かれ九靜磁場を異ならせ、これによシ各
部の共鳴周波数あるいはフェーズ・エンコード量を異な
らせることで位置の情報を得る方法がある。
その基本原理については、クマー(Kumar)らがジ
ャーナル・オブ・マグネティック・レゾナンス(Jou
rnal of Magnetic l(、esona
nce )誌第18巻(1975)第69頁に、あるい
はニーデルシュタイン(Edelstein )らがフ
ィジックス・オプ・メゾシンアンドバイオロジー(Ph
ysics ofMedicine & Biolog
y)誌第25巻(1980)第751頁に、報告してい
るのでここでは省略する。
ャーナル・オブ・マグネティック・レゾナンス(Jou
rnal of Magnetic l(、esona
nce )誌第18巻(1975)第69頁に、あるい
はニーデルシュタイン(Edelstein )らがフ
ィジックス・オプ・メゾシンアンドバイオロジー(Ph
ysics ofMedicine & Biolog
y)誌第25巻(1980)第751頁に、報告してい
るのでここでは省略する。
このようなイメージングの1方法として、ケミカルシフ
トイメージングがある。ケミカルシフトとは、同一の核
種であっても各スピンの感じる磁場がその周囲の分子構
造の相違により異なるため、各スピンの共鳴周波数が分
子構造上での位置に応じて変化する現象である。ケミカ
ルシフトは被測定体の分子構造に関する情報を与えてく
れるため、極めて重要な現象である。ケミカルシフトi
をイメージングする方法としては、これまで(a)マウ
ズレイ(Maudsley )らによシ報告された7−
リエイメージング法の拡張法(ジャーナル・オプ・マグ
ネティック・レゾナンス第51巻(1983)第147
頁)、Φ)ディクソン(Dixon)によシ提案された
方法(ラジオグラフィ几adiology ) 、第1
53巻(1984)第189頁)などが代表例としてあ
げられる。(a)の方法は、イメージングの次元を1つ
高めることによシ、ケミカルシフト量の分離・測定全可
能にする方法である。この方法では、通常、2次元平面
を対象にする場合被測定体をL×Mの画素に分割し、そ
の各々に対してN個の信号点をサンプリングすることが
行なわれる。LあるいはMは空間分項能に応じて決めら
れるが、例えばL=M=128とすればLXM=163
84となる。1回の測定でN個の信号点をサンプリング
できるが、次の測定までには被測定体の縦緩和時間程度
(生体の場合約1秒)待たなければならず、結局、Lx
M回測定するためには、46時間の測定時間を要すこと
になる。これに対し□□□)の方法は、90°−τ11
80’−τ2−(信号計測)なるパルスシーケンスにお
いて、τ1=τ2とτ1キτ2の2枚の画像の和と差か
ら、特定のケミカルシフトの情報だけを含む画像を構成
する方法である。
トイメージングがある。ケミカルシフトとは、同一の核
種であっても各スピンの感じる磁場がその周囲の分子構
造の相違により異なるため、各スピンの共鳴周波数が分
子構造上での位置に応じて変化する現象である。ケミカ
ルシフトは被測定体の分子構造に関する情報を与えてく
れるため、極めて重要な現象である。ケミカルシフトi
をイメージングする方法としては、これまで(a)マウ
ズレイ(Maudsley )らによシ報告された7−
リエイメージング法の拡張法(ジャーナル・オプ・マグ
ネティック・レゾナンス第51巻(1983)第147
頁)、Φ)ディクソン(Dixon)によシ提案された
方法(ラジオグラフィ几adiology ) 、第1
53巻(1984)第189頁)などが代表例としてあ
げられる。(a)の方法は、イメージングの次元を1つ
高めることによシ、ケミカルシフト量の分離・測定全可
能にする方法である。この方法では、通常、2次元平面
を対象にする場合被測定体をL×Mの画素に分割し、そ
の各々に対してN個の信号点をサンプリングすることが
行なわれる。LあるいはMは空間分項能に応じて決めら
れるが、例えばL=M=128とすればLXM=163
84となる。1回の測定でN個の信号点をサンプリング
できるが、次の測定までには被測定体の縦緩和時間程度
(生体の場合約1秒)待たなければならず、結局、Lx
M回測定するためには、46時間の測定時間を要すこと
になる。これに対し□□□)の方法は、90°−τ11
80’−τ2−(信号計測)なるパルスシーケンスにお
いて、τ1=τ2とτ1キτ2の2枚の画像の和と差か
ら、特定のケミカルシフトの情報だけを含む画像を構成
する方法である。
ここで、90°および180°は各々スピンを90°、
180°倒す高周波磁場を表わしている。
180°倒す高周波磁場を表わしている。
この方法は、計測に要する雨間が1枚の画像の2倍で済
むため、極めて実用的な方法でるる。しかし、ケミカル
シフト量は静磁場の不均一と同程度かあるいはそれよシ
も小さいため、τl卑τ2の画像においては、静磁場の
不均一に基づく位相誤差の方がケミカルシフト量に基づ
く位相誤差よシも大きくなってしまう。これに対しJ)
i x o nらは複素フーリエ変換後、実部と虚部の
2乗和の平方根すなわち絶対値を計算することにより、
静磁場へ不均一の影響を除去している。しかし、この場
合、2つのケミカルシフト量に対応するスピン数の大小
いかんによっては、両者を区別できない場合が生じる。
むため、極めて実用的な方法でるる。しかし、ケミカル
シフト量は静磁場の不均一と同程度かあるいはそれよシ
も小さいため、τl卑τ2の画像においては、静磁場の
不均一に基づく位相誤差の方がケミカルシフト量に基づ
く位相誤差よシも大きくなってしまう。これに対しJ)
i x o nらは複素フーリエ変換後、実部と虚部の
2乗和の平方根すなわち絶対値を計算することにより、
静磁場へ不均一の影響を除去している。しかし、この場
合、2つのケミカルシフト量に対応するスピン数の大小
いかんによっては、両者を区別できない場合が生じる。
また、伽)の方法では検出すべきケミカルシフトの種類
が2種類に限られていた。
が2種類に限られていた。
本発明はこのような欠点を鑑みてなされたもので、その
目的はケミカルシフトイメージングにおいて、任意のケ
ミカルシフト量を反映した画像を、短時間で得ることを
可能にした検査装置の提供を目的とする。
目的はケミカルシフトイメージングにおいて、任意のケ
ミカルシフト量を反映した画像を、短時間で得ることを
可能にした検査装置の提供を目的とする。
本発明の要点は、フーリエイメージング法を用いた検査
装置において、ケミカルシフト像を求めるのに、静磁場
の不均一に起因する位相誤差を補正し、それによりフー
リエ変換後の結果の絶対値をとることなしに画像間で2
の演算を行ない、正確なケミカルシフト像を得るように
した点にある。
装置において、ケミカルシフト像を求めるのに、静磁場
の不均一に起因する位相誤差を補正し、それによりフー
リエ変換後の結果の絶対値をとることなしに画像間で2
の演算を行ない、正確なケミカルシフト像を得るように
した点にある。
これについて、以下、若干補足的説明を行なう。
まず、2次元面をイメージングする場合を例にとって、
変形スピンワープ法の原理と本発明を2次元変形スピン
ワープ法に適用した例について述べる。第1図は2次元
の変形スピンワープ法を実施するための照射パルスと、
X、X方向の傾斜磁場と核スピンからの信号のタイミン
グを示すものである。ここでは、(X−y)面に平行な
ある断面を選択するものとしている。図においてRFは
上記照射パルスを、GアおよびG8はそれぞれyおよび
X方向の傾斜磁場を示している。また、Sは核スピンか
らの信号を示している。
変形スピンワープ法の原理と本発明を2次元変形スピン
ワープ法に適用した例について述べる。第1図は2次元
の変形スピンワープ法を実施するための照射パルスと、
X、X方向の傾斜磁場と核スピンからの信号のタイミン
グを示すものである。ここでは、(X−y)面に平行な
ある断面を選択するものとしている。図においてRFは
上記照射パルスを、GアおよびG8はそれぞれyおよび
X方向の傾斜磁場を示している。また、Sは核スピンか
らの信号を示している。
まず、90°RFパルスを照射し、試料内の核スピンを
90°倒す。その直後に、上記傾斜磁場G工を時間t8
だけ印加し、次に180°RFパルスを照射する。信号
の観測はG2を印加しながら行なう。なお、通常のイメ
ージングではτ1=τ2となるように設定する。
90°倒す。その直後に、上記傾斜磁場G工を時間t8
だけ印加し、次に180°RFパルスを照射する。信号
の観測はG2を印加しながら行なう。なお、通常のイメ
ージングではτ1=τ2となるように設定する。
このような計測をX方向の傾斜磁場の大きさを変化させ
て行なった結果得られる2次元信号S(G、、tア)は
、前記選択断面の核スピン分布ρ(x、y)との間に 5(of、 tr)=ff ρ(x、y)exp(−j
r(o、 x tz+o、yt・)) ・
・・(1)の関係がある。ただし、(1)式は静磁場に
不均一がないものとし、またケミカルシフトも無視した
場合の式である。そこで、次に、静磁場の不均一をE(
X、y)、ケミカルシフト量をσとした場合の式を示す
。ただし、ここではτ1キτ2となるようにRFパルス
の間隔を設定しており、両者の差をΔτとする。すなわ
ち、τl=Δτ+τ2 としている。この時、次式が成
立する。
て行なった結果得られる2次元信号S(G、、tア)は
、前記選択断面の核スピン分布ρ(x、y)との間に 5(of、 tr)=ff ρ(x、y)exp(−j
r(o、 x tz+o、yt・)) ・
・・(1)の関係がある。ただし、(1)式は静磁場に
不均一がないものとし、またケミカルシフトも無視した
場合の式である。そこで、次に、静磁場の不均一をE(
X、y)、ケミカルシフト量をσとした場合の式を示す
。ただし、ここではτ1キτ2となるようにRFパルス
の間隔を設定しており、両者の差をΔτとする。すなわ
ち、τl=Δτ+τ2 としている。この時、次式が成
立する。
S (G、 、j、)= ff l) (x、 Y)e
xp(−j r[GXXL+G、yt。
xp(−j r[GXXL+G、yt。
+(E(x、y)+y) )(Δr + ty)))d
xdy ・=(2)(2)式を変形すると s(G、、ty)=ガρ’(X、 y ) exp(−
j rl:ozxtx+ (G、 y+E(x、y)+
σ)ty))dxdy ・(3)が得られる。こ
こで、 ρ′(X、y)=ρ(x、y) eXp (−j r(
E(x、y)+cr)ΔT) ・(4)さて(2)式に
おいてはケミカルシフト量をσとおいたが、実際は複数
のケミカルシフトが存在する。
xdy ・=(2)(2)式を変形すると s(G、、ty)=ガρ’(X、 y ) exp(−
j rl:ozxtx+ (G、 y+E(x、y)+
σ)ty))dxdy ・(3)が得られる。こ
こで、 ρ′(X、y)=ρ(x、y) eXp (−j r(
E(x、y)+cr)ΔT) ・(4)さて(2)式に
おいてはケミカルシフト量をσとおいたが、実際は複数
のケミカルシフトが存在する。
そこで、k番目のケミカルシフト量σkに対応するスピ
ン密度をρk(x、y)とすると(3)、 (4)式は
次式となる。
ン密度をρk(x、y)とすると(3)、 (4)式は
次式となる。
8(Gx、 ty)=:gpG (x、y) exp(
−j r[:G、xt、+ (Gy y+E(x、y)
+σk))ty:)) dxdy ・・・(5)
ここで、 p’k(x+y)=ρm (X+ y)exp(−j
r (E (x、 y)+σk)Δτ)・(6)さて、
積分変数を とすると、 s(o、、ty)=Σffρ//、 (X’l y4)
eXI)(−j r (GKX’t X+Gy y/
、 t y )) dx’ dy C= (8)ここで
、ρ”*(X′*Y’b)とρ’b (X+ y)との
間には、次式で示される関係が成立する。
−j r[:G、xt、+ (Gy y+E(x、y)
+σk))ty:)) dxdy ・・・(5)
ここで、 p’k(x+y)=ρm (X+ y)exp(−j
r (E (x、 y)+σk)Δτ)・(6)さて、
積分変数を とすると、 s(o、、ty)=Σffρ//、 (X’l y4)
eXI)(−j r (GKX’t X+Gy y/
、 t y )) dx’ dy C= (8)ここで
、ρ”*(X′*Y’b)とρ’b (X+ y)との
間には、次式で示される関係が成立する。
ρ″k(X′、y′k)=ρ’k(x、y)/Jh(x
、y) ・・・(9)ここで、J k(x、 y)は
積分変換時に用いられるJacob ianである。
、y) ・・・(9)ここで、J k(x、 y)は
積分変換時に用いられるJacob ianである。
E(x、y)のX、yに対する変化が小さい時にはXJ
k(X+)’)は がGアに比べて十分に小さければ、J(x、y) =
1とみなせる。従って、(8)式を逆フーリエ変換して
得られる結果は、次式となる。
k(X+)’)は がGアに比べて十分に小さければ、J(x、y) =
1とみなせる。従って、(8)式を逆フーリエ変換して
得られる結果は、次式となる。
r−’(s(ox 、t、 ))=Σρ//、 (X
’ 、 y/、 )=Σρ’b(x、yh) =Σρk(x、yh)exp (J T (E(X 、
yk)+σk)Δτ) ・・・(11)こ
こで、(x、yk)は(7)式をX、yについて解いた
ときに得られる値とする。
’ 、 y/、 )=Σρ’b(x、yh) =Σρk(x、yh)exp (J T (E(X 、
yk)+σk)Δτ) ・・・(11)こ
こで、(x、yk)は(7)式をX、yについて解いた
ときに得られる値とする。
(11)式よシ、F−’ (8(G、 、tア))の実
部几、はL(Δτ)=Σρk(X+ yh) CO8(
r (E (”+y’ )+σk)Δτ)・・・(12
) となる。
部几、はL(Δτ)=Σρk(X+ yh) CO8(
r (E (”+y’ )+σk)Δτ)・・・(12
) となる。
いま、Δτの値をn通りに変えた時を考えると、を番目
のΔτに対し次の式が成立する。
のΔτに対し次の式が成立する。
肌(Δτ1)=Σpk(x、yk)cos(r(E(x
、yh)+crk)Δτt)・・・(13) 従って、n個のΔτに対する(13)式を連立させて解
くことによシρkを求めることが可能になる。
、yh)+crk)Δτt)・・・(13) 従って、n個のΔτに対する(13)式を連立させて解
くことによシρkを求めることが可能になる。
ただし、E(X、y)およびσには既知とする。なお、
E(x、y)の測定法についてはマウズレイ(Maud
sley )らによる方法を適用すればよい(ジャーナ
ル・オプ・フィジックス・イー(J。
E(x、y)の測定法についてはマウズレイ(Maud
sley )らによる方法を適用すればよい(ジャーナ
ル・オプ・フィジックス・イー(J。
Phys、E):サイエンティフィック・インスッルメ
ント(Sci、ins trum、 )第17巻(19
84)第216頁を参照のこと)。またσkについては
核スピンの種類が決まれば自動的に決まる値である。
ント(Sci、ins trum、 )第17巻(19
84)第216頁を参照のこと)。またσkについては
核スピンの種類が決まれば自動的に決まる値である。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。第2図は本発明の一実施例である検査装置の構成図で
ある。図において、lは計算機、2は高周波パルス発生
器、3は電力増幅器、4は高周波磁場を発生させると同
時に対象物体16から生ずる信号を検出するためのコイ
ル、5は増幅器、6は検波器、7は信号処理装置である
。また、8.9および10はそれぞれ2方向およびこれ
に直角の方向の傾斜磁場を発生させるコイル、11゜1
2.13はそれぞれ上記コイル8,9.10を駆動する
電源部である。
。第2図は本発明の一実施例である検査装置の構成図で
ある。図において、lは計算機、2は高周波パルス発生
器、3は電力増幅器、4は高周波磁場を発生させると同
時に対象物体16から生ずる信号を検出するためのコイ
ル、5は増幅器、6は検波器、7は信号処理装置である
。また、8.9および10はそれぞれ2方向およびこれ
に直角の方向の傾斜磁場を発生させるコイル、11゜1
2.13はそれぞれ上記コイル8,9.10を駆動する
電源部である。
計算機lは各装置に種々の命令を一定のタイミングで出
力する機能をも有するものである。高周波パルス発生器
2の出力は電力増幅器3で増幅され、上記コイル4を励
磁する。該コイル4は前述の如く受信コイルを兼ねてお
シ、受信され良信号成分は増幅器5を通シ検波器6で検
波後、計算機lに入力され信号処理後ディスプレイ7で
画像に変換される。
力する機能をも有するものである。高周波パルス発生器
2の出力は電力増幅器3で増幅され、上記コイル4を励
磁する。該コイル4は前述の如く受信コイルを兼ねてお
シ、受信され良信号成分は増幅器5を通シ検波器6で検
波後、計算機lに入力され信号処理後ディスプレイ7で
画像に変換される。
なお、静磁場の発生は電源15により駆動されるコイル
14で行う。検査対象物体である人体16はベッド17
上に載置され、上記ベッド17は支持台18上を移動可
能なように構成されている。また、19.20は記憶装
!(以下[メモ1月という)である。メモリ19には補
正前の前記画像比、(Δτt)が格納されておシ、メモ
IJ 20には静磁場の不均−E(x、y)、ケミカル
シフト量σkが格納されている。
14で行う。検査対象物体である人体16はベッド17
上に載置され、上記ベッド17は支持台18上を移動可
能なように構成されている。また、19.20は記憶装
!(以下[メモ1月という)である。メモリ19には補
正前の前記画像比、(Δτt)が格納されておシ、メモ
IJ 20には静磁場の不均−E(x、y)、ケミカル
シフト量σkが格納されている。
上述の如く構成された検査装置において、計算機1はメ
モリ20よりE(x、y)、σkをロードし、cos(
r(E(x、 yh)+σk)Δτt)を計算した後、
メモリ19よシR,(Δτt)をロードし、(13)式
を解く。その結果求めたρk(x、yk)をディスプレ
イ7に表示する。
モリ20よりE(x、y)、σkをロードし、cos(
r(E(x、 yh)+σk)Δτt)を計算した後、
メモリ19よシR,(Δτt)をロードし、(13)式
を解く。その結果求めたρk(x、yk)をディスプレ
イ7に表示する。
以上の実施例の説明は、変形スピンワープ法を用いた場
合であったが、本発明はこれに限らず他のシーケンスに
対しても有効なことは明らかである。
合であったが、本発明はこれに限らず他のシーケンスに
対しても有効なことは明らかである。
以上述べた如く、本発明によれば、静磁場、傾斜磁場お
よび高周波磁場内におけるNMR,現象を利用する検査
装置において、前記静磁場の不均一による位相回シを各
点毎に補正するようKL7’Cので、ケミカルシフト量
を正確にイメージングすることが可能な装置を実現でき
るという効果を奏するものである。
よび高周波磁場内におけるNMR,現象を利用する検査
装置において、前記静磁場の不均一による位相回シを各
点毎に補正するようKL7’Cので、ケミカルシフト量
を正確にイメージングすることが可能な装置を実現でき
るという効果を奏するものである。
第1図は本発明で用いるパルスシーケンスを示す図であ
り、第2図は本発明の実施例である検査第 1 図 第2図
り、第2図は本発明の実施例である検査第 1 図 第2図
Claims (1)
- 1、静磁場、傾斜磁場および高周波磁場の各磁場発生手
段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検
出手段と、該信号検出手段の検出信号の演算を行う計算
機および該計算機による演算結果の出力手段を有し、前
記検査対象のフーリエ空間における直交座標点を計測す
る如く構成された核磁場共鳴を用いた検査装置において
、90°高周波パルスと180°高周波パルスとの間隔
に対して、180°高周波パルスとエコー信号の中心と
の間隔を複数通りの値に設定して得られた複数個の画像
と、検査対象領域の1部あるいは全体の静磁場の不均一
分布とから、ケミカルシフト像を演算により求める如く
構成されたことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査装
置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60066470A JPH0785737B2 (ja) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
US06/846,151 US4739265A (en) | 1985-04-01 | 1986-03-31 | NMR imaging method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60066470A JPH0785737B2 (ja) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61226648A true JPS61226648A (ja) | 1986-10-08 |
JPH0785737B2 JPH0785737B2 (ja) | 1995-09-20 |
Family
ID=13316701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60066470A Expired - Lifetime JPH0785737B2 (ja) | 1985-04-01 | 1985-04-01 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0785737B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6266846A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-26 | 株式会社日立メディコ | 化学シフト値を用いたnmr検査装置 |
WO1988003780A1 (en) * | 1986-11-28 | 1988-06-02 | Yokogawa Medical Systems, Ltd. | Nmr imaging method |
JPS63281637A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-18 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴イメージング装置 |
JPH01238848A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-25 | Toshiba Corp | 磁気共鳴映像装置 |
JPH0241137A (ja) * | 1988-07-29 | 1990-02-09 | Yokogawa Medical Syst Ltd | ケミカルシフトイメージング装置 |
-
1985
- 1985-04-01 JP JP60066470A patent/JPH0785737B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6266846A (ja) * | 1985-09-18 | 1987-03-26 | 株式会社日立メディコ | 化学シフト値を用いたnmr検査装置 |
WO1988003780A1 (en) * | 1986-11-28 | 1988-06-02 | Yokogawa Medical Systems, Ltd. | Nmr imaging method |
JPS63281637A (ja) * | 1987-05-15 | 1988-11-18 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴イメージング装置 |
JPH01238848A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-25 | Toshiba Corp | 磁気共鳴映像装置 |
JPH0241137A (ja) * | 1988-07-29 | 1990-02-09 | Yokogawa Medical Syst Ltd | ケミカルシフトイメージング装置 |
JPH0370966B2 (ja) * | 1988-07-29 | 1991-11-11 | Yokokawa Medeikaru Shisutemu Kk |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0785737B2 (ja) | 1995-09-20 |
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