JPS62299246A - 核磁気共鳴を用いた検査装置 - Google Patents
核磁気共鳴を用いた検査装置Info
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- JPS62299246A JPS62299246A JP61142996A JP14299686A JPS62299246A JP S62299246 A JPS62299246 A JP S62299246A JP 61142996 A JP61142996 A JP 61142996A JP 14299686 A JP14299686 A JP 14299686A JP S62299246 A JPS62299246 A JP S62299246A
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- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 29
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- 238000009828 non-uniform distribution Methods 0.000 claims 1
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- RGCLLPNLLBQHPF-HJWRWDBZSA-N phosphamidon Chemical compound CCN(CC)C(=O)C(\Cl)=C(/C)OP(=O)(OC)OC RGCLLPNLLBQHPF-HJWRWDBZSA-N 0.000 description 3
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- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は核磁気共鳴(以下、rNMRJという)を用い
た検査方法に関し、特にケミカルシフトイメージングに
おいて、装置のタイミングの調整を高精度に行うことが
可能なNMRを用いた検査装置に関する。
た検査方法に関し、特にケミカルシフトイメージングに
おいて、装置のタイミングの調整を高精度に行うことが
可能なNMRを用いた検査装置に関する。
従来、人体の頭部、腹部などの内部構造を非破壊的に検
査する装置として、XMCTや超音波撮像装置が広く利
用されて来ている。近年、核磁気共鳴現象を用いて同様
の検査を行う試みが成功しXMCTや超音波撮像装置で
は得られない情報を取得できることが明らかになって来
た。核磁気共鳴現象を用いた検査装置においては、検査
物体からの信号を物体各部に対応させて分離・識別する
必要がある。その1つに、検査物体に傾斜磁場を印加し
、物体各部の置かれた静磁場を異ならせ、これにより各
部の共鳴周波数あるいはフェーズ・エンコード量を異な
らせることで位置の情報を得る方法がある。
査する装置として、XMCTや超音波撮像装置が広く利
用されて来ている。近年、核磁気共鳴現象を用いて同様
の検査を行う試みが成功しXMCTや超音波撮像装置で
は得られない情報を取得できることが明らかになって来
た。核磁気共鳴現象を用いた検査装置においては、検査
物体からの信号を物体各部に対応させて分離・識別する
必要がある。その1つに、検査物体に傾斜磁場を印加し
、物体各部の置かれた静磁場を異ならせ、これにより各
部の共鳴周波数あるいはフェーズ・エンコード量を異な
らせることで位置の情報を得る方法がある。
その基本原理については、ジャーナル・オブ・マグネチ
ック・ルゾナンス誌(J 、 Magn、 Re5on
)第18巻第69頁(2975年)に、あるいはフィジ
ックス・オブ・メゾシン・アンド・バイオロジー誌(P
hys、 Med、 B 1ol)第25巻、第75
1頁(1980)に報告しているのでここでは省略する
。
ック・ルゾナンス誌(J 、 Magn、 Re5on
)第18巻第69頁(2975年)に、あるいはフィジ
ックス・オブ・メゾシン・アンド・バイオロジー誌(P
hys、 Med、 B 1ol)第25巻、第75
1頁(1980)に報告しているのでここでは省略する
。
このようなイメージングの一方法として、ケミカルシフ
トイメージングがある。ケミカルシフトとは、同一の核
種であっても各スピンの感じる磁場がその周囲の分子構
造の相違により異なるため、各スピンの共鳴周波数が分
子構造上での位置に応じて変化する現象である。ケミカ
ルシフトは被測定体の分子構造に関する情報を与えてく
れるため、極めて重要な現象である。ケミカルシフト量
をイメージングする方法としては、これまで(a)マウ
ズレイ(Maudsley)らにより報告されたフーリ
エイメージング法の拡張法(ジャーナル・オブ・マグネ
ティック・レゾナンス誌第51巻第147頁(1983
)) 、 (b)ディクソン(Dixon)により提案
された方法(ラジオグフィ (Radiology)誌
、第153巻、第189頁(1984))などが代表例
としてあげられる。(a)の方法は、イメージングの次
元を1つ高めることにより、ケミカルシフト量の分離、
m定を可能にする方法である。この方法では、通常、2
次元平面を対象による場合被測定体をLXMの画素に分
割し、その各々に対してN個の信号点をサンプリングす
ることが行われる。LあるいはMは空間分解能に応じて
決めら九るが1例えばL=M=128とすればLXM=
16.384となる。1回の測定でN個の信号点をサン
プリングできるが、次の測定までには被測定体の縦緩和
時間程度(生体の場合約1秒)待たなければならず、結
局、LXM回測定するためには、4.6時間の測定時間
を要することになる。これに対しくb)の方法は、90
°−t a −180″’−tb−(信号計測)なるパ
ルスシーケンスにおいて、t a=t bとt a =
t bの2枚の面像の和と差から、特定のケミカルシ
フトの情報だけを含む面像を構成する方法である。ここ
で。
トイメージングがある。ケミカルシフトとは、同一の核
種であっても各スピンの感じる磁場がその周囲の分子構
造の相違により異なるため、各スピンの共鳴周波数が分
子構造上での位置に応じて変化する現象である。ケミカ
ルシフトは被測定体の分子構造に関する情報を与えてく
れるため、極めて重要な現象である。ケミカルシフト量
をイメージングする方法としては、これまで(a)マウ
ズレイ(Maudsley)らにより報告されたフーリ
エイメージング法の拡張法(ジャーナル・オブ・マグネ
ティック・レゾナンス誌第51巻第147頁(1983
)) 、 (b)ディクソン(Dixon)により提案
された方法(ラジオグフィ (Radiology)誌
、第153巻、第189頁(1984))などが代表例
としてあげられる。(a)の方法は、イメージングの次
元を1つ高めることにより、ケミカルシフト量の分離、
m定を可能にする方法である。この方法では、通常、2
次元平面を対象による場合被測定体をLXMの画素に分
割し、その各々に対してN個の信号点をサンプリングす
ることが行われる。LあるいはMは空間分解能に応じて
決めら九るが1例えばL=M=128とすればLXM=
16.384となる。1回の測定でN個の信号点をサン
プリングできるが、次の測定までには被測定体の縦緩和
時間程度(生体の場合約1秒)待たなければならず、結
局、LXM回測定するためには、4.6時間の測定時間
を要することになる。これに対しくb)の方法は、90
°−t a −180″’−tb−(信号計測)なるパ
ルスシーケンスにおいて、t a=t bとt a =
t bの2枚の面像の和と差から、特定のケミカルシ
フトの情報だけを含む面像を構成する方法である。ここ
で。
90″および180°は各々スピンを90°。
180°倒す高周波磁場を表わしている。この方法は、
計測に要する時間が1枚の面像の2倍で済むため、極め
て実用的な方法である。さらに、ディクソン法を発展さ
せた方法として、1回の測定で2枚のケミカルシフト像
を得る方法も考えられる。これは、2つのケミカルシフ
ト間に90”の位相差を付与すると、発生した信号をフ
ーリエ変換して得られる実部と虚部が、夫々のケミカル
シフト像に対応することを利用する。
計測に要する時間が1枚の面像の2倍で済むため、極め
て実用的な方法である。さらに、ディクソン法を発展さ
せた方法として、1回の測定で2枚のケミカルシフト像
を得る方法も考えられる。これは、2つのケミカルシフ
ト間に90”の位相差を付与すると、発生した信号をフ
ーリエ変換して得られる実部と虚部が、夫々のケミカル
シフト像に対応することを利用する。
さて、以上述べたディクソン法およびその改良法におい
ては、(τb−でa)の設定精度が重要である。この時
間差は、次式で与えられるように、2つの化学シフト間
の位相差を決めるからである。
ては、(τb−でa)の設定精度が重要である。この時
間差は、次式で与えられるように、2つの化学シフト間
の位相差を決めるからである。
0C=(σ、−σ2)γ(τb−τa) (i)
ここで、θは位相差、σ1.σ2はケミカルシフト、γ
は核磁気回転比である。しかし、(τb−τa)を高精
度に設定するのは実際上困難であった。その理由は、信
号検波後に用いる低域通過フィルターによる時間遅れを
はじめとして、信号処理系での時間遅れを正確に測定す
ることが困難であるからである。(τb−でa)の設定
誤差は結局、ケミカルシフトの分離能を著しく損なうた
め、その解決が望まれていた。
ここで、θは位相差、σ1.σ2はケミカルシフト、γ
は核磁気回転比である。しかし、(τb−τa)を高精
度に設定するのは実際上困難であった。その理由は、信
号検波後に用いる低域通過フィルターによる時間遅れを
はじめとして、信号処理系での時間遅れを正確に測定す
ることが困難であるからである。(τb−でa)の設定
誤差は結局、ケミカルシフトの分離能を著しく損なうた
め、その解決が望まれていた。
本発明はこのような欠点を鑑がみてなされたもので、そ
の目的はケミカルシフトイメージングにおいて、任意の
ケミカルシフト量を反映した面像を、高精度で得ること
を可能にした検査方法の提供を目的とする。
の目的はケミカルシフトイメージングにおいて、任意の
ケミカルシフト量を反映した面像を、高精度で得ること
を可能にした検査方法の提供を目的とする。
C問題点を解決するための手段〕
本発明の要点は、ケミカルシフト像を求めるのに、装置
のタイミング誤差を、ケミカルシフトが既知の物質を用
いてあらかじめ補正することで、高精度化した点にある
。
のタイミング誤差を、ケミカルシフトが既知の物質を用
いてあらかじめ補正することで、高精度化した点にある
。
これについて、以下、若干の補足的説明を行う。
まず、2次元面をイメージングする場合を例にとって、
イメージング法の1つである変形スピンワープ法の原理
と本発明を2次元変形スピンワーブ法に適用した例につ
いて述べる。第1図は2次元の変形スピンワープ法を実
施するための照射パルスと、X+1方向の傾斜磁場と核
スピンからの信号のタイミングを示すものである。ここ
では、(xty)面に平行なある新面を選択するものと
している0図においてRFは上記照射パルスを、Gyお
よびGxはそれぞれyおよびX方向の傾斜磁場を示して
いる。また、Sは核スピンからの信号を示している。
イメージング法の1つである変形スピンワープ法の原理
と本発明を2次元変形スピンワーブ法に適用した例につ
いて述べる。第1図は2次元の変形スピンワープ法を実
施するための照射パルスと、X+1方向の傾斜磁場と核
スピンからの信号のタイミングを示すものである。ここ
では、(xty)面に平行なある新面を選択するものと
している0図においてRFは上記照射パルスを、Gyお
よびGxはそれぞれyおよびX方向の傾斜磁場を示して
いる。また、Sは核スピンからの信号を示している。
まず、90°RFパルスを照射し、試料内の核スピンを
90’″倒す、その直後に、上記傾斜磁場GXを時間t
xだけ印加し、次に180’RFパルスを照射する。信
号の観測はayを印加しながら行う、なお、通常のイメ
ージングではτ8=τゎとなるように設定する。
90’″倒す、その直後に、上記傾斜磁場GXを時間t
xだけ印加し、次に180’RFパルスを照射する。信
号の観測はayを印加しながら行う、なお、通常のイメ
ージングではτ8=τゎとなるように設定する。
このような計測をX方向の傾斜磁場の大きさを変化させ
て行ない、それを2次元フーリエ変換すると。
て行ない、それを2次元フーリエ変換すると。
S (x、y) = (p t (x、y) +p 2
(x、y)exp(jθc) Xexp (jγ(E
(x、y)十ρ1〕τp、+Jθa)が得られる。ここ
で、ρ、(xty)およびρ2(x、y)はケミカルシ
フトσ1とσ2に対する磁化を、E (xt y)は静
磁場不均一を、θ8は装置に依存したオフセット位相を
表わし、τ2=τb−τ8とする。さて、式2において
、exp(−jγE (xt y) t r、)が除
去できれば残りの項は定数だけとなる。exp(3γE
(xt y) τ2)の除去は、前記測定と同じ条件下
でケミカルシフトが1本だけの物質を測定することで達
成できる。すなわち、得られた面像の位相項はexp(
jγE (x、y) τ2)を表わすので、この複素
共役を求め、それを式2に画素単位で掛は金おせればよ
い。
(x、y)exp(jθc) Xexp (jγ(E
(x、y)十ρ1〕τp、+Jθa)が得られる。ここ
で、ρ、(xty)およびρ2(x、y)はケミカルシ
フトσ1とσ2に対する磁化を、E (xt y)は静
磁場不均一を、θ8は装置に依存したオフセット位相を
表わし、τ2=τb−τ8とする。さて、式2において
、exp(−jγE (xt y) t r、)が除
去できれば残りの項は定数だけとなる。exp(3γE
(xt y) τ2)の除去は、前記測定と同じ条件下
でケミカルシフトが1本だけの物質を測定することで達
成できる。すなわち、得られた面像の位相項はexp(
jγE (x、y) τ2)を表わすので、この複素
共役を求め、それを式2に画素単位で掛は金おせればよ
い。
このようにして式2の2番目のexp()が単なる定数
となれば、式2は次式で表わすことができる。
となれば、式2は次式で表わすことができる。
S (xt y) = (p 、(xt y) +p
z (xt y)exp (jθc) ) exp (
jθ’ a) (3)ここで、08′は
静磁場不均一による位相を除去した後に残留する位相で
ある。
z (xt y)exp (jθc) ) exp (
jθ’ a) (3)ここで、08′は
静磁場不均一による位相を除去した後に残留する位相で
ある。
次に、第2図に示す試料1を考える。この試料はプロー
ブ2の内側に置かれる。試料には、ケミカルシフトがσ
1.σ2の物質A、Bを夫々に満たしたものを選ぶ。さ
て、この試料を前記方法でイメージングした時、各物質
に対応する画素は次の複素数で与えられる。Aに対して
はρ、(X。
ブ2の内側に置かれる。試料には、ケミカルシフトがσ
1.σ2の物質A、Bを夫々に満たしたものを選ぶ。さ
て、この試料を前記方法でイメージングした時、各物質
に対応する画素は次の複素数で与えられる。Aに対して
はρ、(X。
y)exp (Jθ’ a)、Bに対してはf’2(
X+y)exp (jθC)exp (jθ′ 8)と
なる。
X+y)exp (jθC)exp (jθ′ 8)と
なる。
これらを複素平面上に示すと、第3図になる。ここで、
および は、物質A、Hに対する複素数とする。すな
わち1次式が成立する。
および は、物質A、Hに対する複素数とする。すな
わち1次式が成立する。
A=ps (xt y)exp (jθ’ a)
(4a)f3=p2(xt y)exp
(jθc)exp (jθ’ a) (4b)また
、θ。はAとBのなす角度とする。この時θ。は次式に
より求められる。
(4a)f3=p2(xt y)exp
(jθc)exp (jθ’ a) (4b)また
、θ。はAとBのなす角度とする。この時θ。は次式に
より求められる。
式5より求めたθ。は、一般に、装置のタイミングを設
定した時に意図した値θとは異なっている。
定した時に意図した値θとは異なっている。
従って、(θ。−〇)が補正すべき値となる。これより
装置のタイミング補正として次式を得る。
装置のタイミング補正として次式を得る。
以上より、装置のタイミングを設定する時1式1から計
算されるでe (=τb−τ8)に対し。
算されるでe (=τb−τ8)に対し。
式6で与えられるΔτを減じれば、真の値に設定できる
ことが分かる。なお、静磁場が極めて均一であれば、そ
れにより位相補正は省くことができる。
ことが分かる。なお、静磁場が極めて均一であれば、そ
れにより位相補正は省くことができる。
以下1本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
。第4図は本発明の一実施例である検査装置の構成図で
ある0図において、3は計算機、4は高周波パルス発生
器、5は電力増幅器、6は高周波磁場を発生させると同
時に対象物体7から生ずる信号を検出するためのコイル
、8は増幅器、9は検波器である。また、10.11お
よび12はそれぞれ2方向およびこれに直角の方向の傾
斜磁場を発生させるコイル、13,14.15はそれぞ
れ上記コイル10,11.12を駆動する電源部である
。
。第4図は本発明の一実施例である検査装置の構成図で
ある0図において、3は計算機、4は高周波パルス発生
器、5は電力増幅器、6は高周波磁場を発生させると同
時に対象物体7から生ずる信号を検出するためのコイル
、8は増幅器、9は検波器である。また、10.11お
よび12はそれぞれ2方向およびこれに直角の方向の傾
斜磁場を発生させるコイル、13,14.15はそれぞ
れ上記コイル10,11.12を駆動する電源部である
。
計算機1は各装置に種々の命令を一定のタイミングで出
力する機能をも有するものである。高周波パルス発生器
4の出力は電力増幅器5で輸幅され、上記コイル6を励
磁する。該コイル6は前述の如く受信コイルを兼ねてお
り、受信された信号成分は増幅器8を通り検波器9で検
波後、計算機3に入力され信号処理後ディスプレイ16
で面像に変換される。
力する機能をも有するものである。高周波パルス発生器
4の出力は電力増幅器5で輸幅され、上記コイル6を励
磁する。該コイル6は前述の如く受信コイルを兼ねてお
り、受信された信号成分は増幅器8を通り検波器9で検
波後、計算機3に入力され信号処理後ディスプレイ16
で面像に変換される。
なお、静磁場の発生は電源17により駆動されるコイル
18で行う。検査対象物体である人体7はベッド19上
に載置され、上記ベッド19は支持台20上を移動可能
なように構成されている。
18で行う。検査対象物体である人体7はベッド19上
に載置され、上記ベッド19は支持台20上を移動可能
なように構成されている。
また、21.22は記憶装置(以下、「メモリ」という
)である。メモリ21には exp(−jγE (x+ y)61℃)が格納されて
おり、メモリ22には検査対象物体のイメージング結果
が格納されている。上述の如く構成された検査装置にお
いて、計算機3は試料A、Hに対する像をメモリ22か
らロードし、弐6に基づいてΔtを算出し、それを用い
てτ。を設定するにの操作は人体をイメージングする毎
に行う必要はなく、フィルタの変更など装置の状態が変
化した時に必要に応じて行えばよい。その後は、通常の
イメージングと同じである。
)である。メモリ21には exp(−jγE (x+ y)61℃)が格納されて
おり、メモリ22には検査対象物体のイメージング結果
が格納されている。上述の如く構成された検査装置にお
いて、計算機3は試料A、Hに対する像をメモリ22か
らロードし、弐6に基づいてΔtを算出し、それを用い
てτ。を設定するにの操作は人体をイメージングする毎
に行う必要はなく、フィルタの変更など装置の状態が変
化した時に必要に応じて行えばよい。その後は、通常の
イメージングと同じである。
以上述べた如く1本発明によれば、静磁場、傾斜磁場お
よび高周波磁場内におけるNMR現象を利用する検査装
置において、装置のタイミングずれを補正するようにし
たので、ケミカルシフトを正確にイメージングすること
が可能な装置を実現できるという効果を奏するものであ
る。
よび高周波磁場内におけるNMR現象を利用する検査装
置において、装置のタイミングずれを補正するようにし
たので、ケミカルシフトを正確にイメージングすること
が可能な装置を実現できるという効果を奏するものであ
る。
第1図は本発明で用いるパルスシーケンスを示す図であ
り、第2図は本発明の実施例を示す図。 第3図は本発明の詳細な説明するための図、第4図は装
置の概略構成を示す図である。
り、第2図は本発明の実施例を示す図。 第3図は本発明の詳細な説明するための図、第4図は装
置の概略構成を示す図である。
Claims (1)
- 1、静磁場、傾斜磁場および高周波磁場の各磁場発生手
段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検
出手段と、該信号検出手段の検出信号の演算を行う計算
機および該計算機による演算結果の出力手段を有し、前
記検査対象のフーリエ空間における直交座標点を計測す
る如く構成された核磁気共鳴を用いた検査装置において
、90°高周波パルスと180°高周波パルスとの間隔
が、180°高周波パルスとエコー信号との間隔と異な
るように設定して得られた面像と、検査対象領域の1部
あるいは全体の収磁場の不均一分布とから、ケミカルシ
フト像を演算により求める過程で、信号検出手段の一部
である高周波コイルの近傍に設けた基準試料の位相から
、装置のタイミングずれを検出し、正確なケミカルシフ
ト像を求める如く構成されたことを特徴とする核磁気共
鳴を用いた検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61142996A JPH0811116B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61142996A JPH0811116B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62299246A true JPS62299246A (ja) | 1987-12-26 |
JPH0811116B2 JPH0811116B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=15328516
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61142996A Expired - Lifetime JPH0811116B2 (ja) | 1986-06-20 | 1986-06-20 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0811116B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6368151A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-28 | 三菱電機株式会社 | 磁気共鳴映像法 |
-
1986
- 1986-06-20 JP JP61142996A patent/JPH0811116B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6368151A (ja) * | 1986-09-11 | 1988-03-28 | 三菱電機株式会社 | 磁気共鳴映像法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0811116B2 (ja) | 1996-02-07 |
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