JPS632056A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPS632056A JPS632056A JP61077858A JP7785886A JPS632056A JP S632056 A JPS632056 A JP S632056A JP 61077858 A JP61077858 A JP 61077858A JP 7785886 A JP7785886 A JP 7785886A JP S632056 A JPS632056 A JP S632056A
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- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims abstract description 4
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 claims description 49
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 24
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 claims description 23
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 claims description 18
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 12
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 8
- 239000000470 constituent Substances 0.000 claims description 7
- 125000004431 deuterium atom Chemical group 0.000 claims description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 2
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 abstract description 14
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 abstract description 14
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 9
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 226
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 55
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 description 22
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 18
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 11
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 5
- -1 polyethylene Polymers 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 5
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 description 3
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 3
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 3
- 102000004190 Enzymes Human genes 0.000 description 2
- 108090000790 Enzymes Proteins 0.000 description 2
- 206010070834 Sensitisation Diseases 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 238000009828 non-uniform distribution Methods 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 230000008313 sensitization Effects 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 description 2
- QSNAVZQFIDCTQI-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-trinitro-9h-fluorene Chemical compound C1=CC=C2C(C=C(C(=C3[N+]([O-])=O)[N+]([O-])=O)[N+](=O)[O-])=C3CC2=C1 QSNAVZQFIDCTQI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 1
- 102100034523 Histone H4 Human genes 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010028813 Nausea Diseases 0.000 description 1
- 229910018487 Ni—Cr Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910003676 SiBr4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- GPTXWRGISTZRIO-UHFFFAOYSA-N chlorquinaldol Chemical compound ClC1=CC(Cl)=C(O)C2=NC(C)=CC=C21 GPTXWRGISTZRIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008693 nausea Effects 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920003227 poly(N-vinyl carbazole) Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 150000004756 silanes Chemical class 0.000 description 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052990 silicon hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- AIFMYMZGQVTROK-UHFFFAOYSA-N silicon tetrabromide Chemical compound Br[Si](Br)(Br)Br AIFMYMZGQVTROK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
艮亙分界
本発明ば、電子写真感光体に関する。
従m
電子写真感光体における光導電材料としては。
Se、ZnO,CdSなどの無機材料や、ポリ−N−ビ
ニルカルバゾール、トリニトロフルオレンなどの有機材
料が用いられてきており、近年アモルファスシリコン(
a−5L)が注目されている。 a=SLは従来のSs
感光体に匹敵する特性を有するほか、環境に対しての安
全性や耐久性などの点で優れている。
ニルカルバゾール、トリニトロフルオレンなどの有機材
料が用いられてきており、近年アモルファスシリコン(
a−5L)が注目されている。 a=SLは従来のSs
感光体に匹敵する特性を有するほか、環境に対しての安
全性や耐久性などの点で優れている。
電子写真における感光材料としては、暗時における帯電
能、光照射時における感度、繰返し使用時における残留
電位など、総合的な特性が要求され、また、これらの電
子写真特性を決定する光導電材料自体の物性も種々の面
から要求されている。
能、光照射時における感度、繰返し使用時における残留
電位など、総合的な特性が要求され、また、これらの電
子写真特性を決定する光導電材料自体の物性も種々の面
から要求されている。
しかしながら、単一の光導電材料ですべての要求を完全
に満たすことは、困難である場合も多いので、複数の光
導電材料を用いて感光層の層構成を工夫したり、感光層
と高抵抗層とを組合せたりして、電子写真特性を改善す
6試みがなされている。
に満たすことは、困難である場合も多いので、複数の光
導電材料を用いて感光層の層構成を工夫したり、感光層
と高抵抗層とを組合せたりして、電子写真特性を改善す
6試みがなされている。
たとえば有機光導電材料を中心として、主として光照射
により電荷担体を発生する電荷発生層と、この電荷担体
を輸送する電荷輸送層とを組合せた機能分離型の感光層
、およびこの各層に使用する光導電材料が数多く提案さ
れている。
により電荷担体を発生する電荷発生層と、この電荷担体
を輸送する電荷輸送層とを組合せた機能分離型の感光層
、およびこの各層に使用する光導電材料が数多く提案さ
れている。
また、感光層は全体として高い暗抵抗を有することが要
求されるため、a−Si系電子写真感光体の高抵抗化を
図ることが提案されている。
求されるため、a−Si系電子写真感光体の高抵抗化を
図ることが提案されている。
この方法としては、
(a)ブロッキング層を感光層の上下に設けて、層全体
を1014Ω・1以上の高抵抗とする方式(b) a−
5i層に酸素原子、炭素原子および窒素原子を含ませ光
導電性をもたせ、1013〜1014Ω・1以上の高抵
抗化を図る方式 が提案されている。
を1014Ω・1以上の高抵抗とする方式(b) a−
5i層に酸素原子、炭素原子および窒素原子を含ませ光
導電性をもたせ、1013〜1014Ω・1以上の高抵
抗化を図る方式 が提案されている。
前記(a)の方式においては、第11図に゛示すように
、電子写真特性の重要な因子である帯電電位を上下のブ
ロッキング層45.47により保持し、光入射による電
荷発生層として酸素原子、炭素原子および窒素原子を含
有しないa−5i層(感光層)43を用いている。ここ
で、41は支持体を表わしている。このブロッキング層
材料としては、酸素原子、炭素原子および窒素原子を含
むa−5iのほか金属酸化物、有機物などの高抵抗材料
が用いられている。これらのブロッキング層材料は電気
絶縁性または非光導電性を示すものである(特開昭57
−52178号公報)。
、電子写真特性の重要な因子である帯電電位を上下のブ
ロッキング層45.47により保持し、光入射による電
荷発生層として酸素原子、炭素原子および窒素原子を含
有しないa−5i層(感光層)43を用いている。ここ
で、41は支持体を表わしている。このブロッキング層
材料としては、酸素原子、炭素原子および窒素原子を含
むa−5iのほか金属酸化物、有機物などの高抵抗材料
が用いられている。これらのブロッキング層材料は電気
絶縁性または非光導電性を示すものである(特開昭57
−52178号公報)。
この例においては、電荷発生層であるa−3i層とブロ
ッキング層材料とに、それら層との関係で相反する半導
性を持たせ(例えばP−N接合、N−P接合など)接合
によるブロッキング層を形成させることや、支持体に各
種金属材料を用いてその上部の層との間にショットキー
障壁を形成させることなども考えられている。
ッキング層材料とに、それら層との関係で相反する半導
性を持たせ(例えばP−N接合、N−P接合など)接合
によるブロッキング層を形成させることや、支持体に各
種金属材料を用いてその上部の層との間にショットキー
障壁を形成させることなども考えられている。
だが、こうした(a)の方式では、電子写真感光体の帯
電電位を制御するためにはブロッキング層の特性を向上
させるしか手段がなく、従って、これまでのように感光
層の膜厚を変えることによって所望の電子写真感光体を
得るといった方法が採用しにくくなり、電子写真特性を
プロセスコントロールすることが困難である。また、ブ
ロッキング層として高抵抗材料を用いた場合には、この
材料が非光導電性または電気絶縁性であるため、感光層
で発生したキャリアがブロッキング層の内部あるいは界
面でトラップされて残留電位の上昇、繰り返し特性の低
下等電気特性上の欠点をも有している。
電電位を制御するためにはブロッキング層の特性を向上
させるしか手段がなく、従って、これまでのように感光
層の膜厚を変えることによって所望の電子写真感光体を
得るといった方法が採用しにくくなり、電子写真特性を
プロセスコントロールすることが困難である。また、ブ
ロッキング層として高抵抗材料を用いた場合には、この
材料が非光導電性または電気絶縁性であるため、感光層
で発生したキャリアがブロッキング層の内部あるいは界
面でトラップされて残留電位の上昇、繰り返し特性の低
下等電気特性上の欠点をも有している。
−方、前記(b)の方式においては、第12図に示すよ
うに、帯電電位を保持するためにa−3i層中に酸素原
子、窒素原子および炭素原子を添加した感光層43を支
持体41上に設けている。また。
うに、帯電電位を保持するためにa−3i層中に酸素原
子、窒素原子および炭素原子を添加した感光層43を支
持体41上に設けている。また。
ブロッキング層45及び保護層49にも帯電性向上の役
割の一部を担わせている(特開昭57=115553号
公報)。この方式によれば、帯電電位の制御はa−5i
層43の膜厚を変えることで容易に可能であるが、光感
度及び帯電特性の両者を同時に改善することは困難であ
り、より一層の改善がまたれていた。
割の一部を担わせている(特開昭57=115553号
公報)。この方式によれば、帯電電位の制御はa−5i
層43の膜厚を変えることで容易に可能であるが、光感
度及び帯電特性の両者を同時に改善することは困難であ
り、より一層の改善がまたれていた。
又110I在
本発明は、光感度および帯電特性の双方を同時に改善す
ることが可能な電子写真感光体を提供することを目的と
する。
ることが可能な電子写真感光体を提供することを目的と
する。
本発明は、また、上記の電子感光体において、光感度を
よりいっそう改善するとともに、繰り返し使用における
残留電位の低減化を目的とする。
よりいっそう改善するとともに、繰り返し使用における
残留電位の低減化を目的とする。
さらに、本発明は光感度および帯電特性に優れたa−S
i系の電子写真感光体を提供するものである。
i系の電子写真感光体を提供するものである。
充訓U戸」腹
本出願の第1発明は、支持体上に感光層を形成した電子
写真感光体において前記支持体側から自由表面側に電荷
輸送層、第1電荷発生層および第2電荷発生層を順次積
層して前記感光層を構成し、電荷輸送層および第2電荷
発生層のバンドギャップを、第1電荷発生層のバンドギ
ャップより大きくしたことを特徴とする。
写真感光体において前記支持体側から自由表面側に電荷
輸送層、第1電荷発生層および第2電荷発生層を順次積
層して前記感光層を構成し、電荷輸送層および第2電荷
発生層のバンドギャップを、第1電荷発生層のバンドギ
ャップより大きくしたことを特徴とする。
この第1発明の電子写真感光体では、光照射により第1
および第2電荷発生層で発生した電荷担体が電荷輸送層
により輸送されて帯電電荷の補償がなされるが、このと
き、基板側の電荷輸送層と自由表面側の第2電荷発生層
とのバンドギャップを比較的大きくとっているので、電
子写真感光体全体として電荷の帯電特性が向上する。ま
た、両者に挟まれた第1電荷発生層はバンドギャップは
比較的小さく設定しであるので長波長側に光感度を有し
、−方、第2電荷発生層は短波長側に光感度を有してい
ることから、電荷発生層全体として広い波長範囲に亘っ
て平均して高い電荷の発生が得られ、感度が向上する。
および第2電荷発生層で発生した電荷担体が電荷輸送層
により輸送されて帯電電荷の補償がなされるが、このと
き、基板側の電荷輸送層と自由表面側の第2電荷発生層
とのバンドギャップを比較的大きくとっているので、電
子写真感光体全体として電荷の帯電特性が向上する。ま
た、両者に挟まれた第1電荷発生層はバンドギャップは
比較的小さく設定しであるので長波長側に光感度を有し
、−方、第2電荷発生層は短波長側に光感度を有してい
ることから、電荷発生層全体として広い波長範囲に亘っ
て平均して高い電荷の発生が得られ、感度が向上する。
本出願の第3発明は、上記の第1発明をさらに一歩進め
、a−8i系悪感光としてより具体化したものである。
、a−8i系悪感光としてより具体化したものである。
すなわち、本出願の第3発明は、上記の第1発明の感光
体において、電荷輸送層、第1電荷発生層および第2電
荷発生層を水素原子、重水素原子またはハロゲン原子の
少なくとも1つを含みシリコン原子を母体とするアモル
ファスシリコン層から形成し、かつ、そのうちの電荷輸
送層および第2電荷発生層にさらに構成原子として酸素
原子と窒素原子を含有せしめたことを特徴とする。
体において、電荷輸送層、第1電荷発生層および第2電
荷発生層を水素原子、重水素原子またはハロゲン原子の
少なくとも1つを含みシリコン原子を母体とするアモル
ファスシリコン層から形成し、かつ、そのうちの電荷輸
送層および第2電荷発生層にさらに構成原子として酸素
原子と窒素原子を含有せしめたことを特徴とする。
従来のa−Si膜(感光層)には局在準位密度を低下さ
せるために水素原子、重水素原子あるいはハロゲン原子
を添加しているが、本発明者らは、これ以外の不純物を
添加させると局在準位密度が上昇し光導電性が低下して
しまうことを確めたうえ、さらに、a−5i膜を電荷発
生層と電荷輸送層とに分け、電荷発生層をさらに二層構
成としく従ってa−5i膜全体では三層構成となる)、
電荷発生層のうちの一層には水素原子等を添加してa−
8i膜として最も高い光導電性をもたせ、電荷発生層の
もう一方の層には水素原子等に加えて酸素原子および窒
素原子を添加して光学的禁制帯幅を広げさせつつ高い光
導電性をもたせれば、これら二層からなる電荷発生層に
より可視光領域で平坦な分光感度が得られ、また、電荷
発生層で発生したキャリアを電荷輸送層により効率よく
輸送し、かつ、この電荷輸送層に水素等に加えて酸素原
子および窒素原子を添加して高抵抗化せしめ帯電電位を
保持せしめれば、電子写真感光体全体として可視光領域
全体で平均して高い光導電性が得られ、高い帯電電位が
保持されることを確めた。
せるために水素原子、重水素原子あるいはハロゲン原子
を添加しているが、本発明者らは、これ以外の不純物を
添加させると局在準位密度が上昇し光導電性が低下して
しまうことを確めたうえ、さらに、a−5i膜を電荷発
生層と電荷輸送層とに分け、電荷発生層をさらに二層構
成としく従ってa−5i膜全体では三層構成となる)、
電荷発生層のうちの一層には水素原子等を添加してa−
8i膜として最も高い光導電性をもたせ、電荷発生層の
もう一方の層には水素原子等に加えて酸素原子および窒
素原子を添加して光学的禁制帯幅を広げさせつつ高い光
導電性をもたせれば、これら二層からなる電荷発生層に
より可視光領域で平坦な分光感度が得られ、また、電荷
発生層で発生したキャリアを電荷輸送層により効率よく
輸送し、かつ、この電荷輸送層に水素等に加えて酸素原
子および窒素原子を添加して高抵抗化せしめ帯電電位を
保持せしめれば、電子写真感光体全体として可視光領域
全体で平均して高い光導電性が得られ、高い帯電電位が
保持されることを確めた。
本出願の第、2発明の電子写真感光体は、上記第1発明
における光感度をさらに高めるとともに、残留電位特性
を改善したものである。
における光感度をさらに高めるとともに、残留電位特性
を改善したものである。
すなわち、本出願の第2発明は、上記の第1発明の電子
写真感光体において、電荷輸送層。
写真感光体において、電荷輸送層。
第1電荷発生層および第2電荷発生層からなる感光層の
各層のバンド構成が1価電子帯のバンド端からフェルミ
・レベルまでのエネルギーを実質上等しくしたことを特
徴とする。
各層のバンド構成が1価電子帯のバンド端からフェルミ
・レベルまでのエネルギーを実質上等しくしたことを特
徴とする。
感光層の基板側(電荷輸送層)と自由表面側(第2電荷
発生層)とをバンドギャップを大きくすることより帯電
電位は向上するが、ダブルへテロ結合が形成されること
により感度に悪影響がある。静電画像を形成するために
は、コロナ放電等によって感光体表面に帯電した電位と
、それに伴なう支持体上の反対符号の電位とを補償する
ために、光照射によって生成した電子・正孔対がそれぞ
れ感光層表面および導電性支持体へ移動することが必要
となる。このとき、電子または正孔が、バンドギャップ
が異なる層の界面(ヘテロ接合部)において、さらには
バンドギャップの段差において捕獲され、または再結合
してしまう。このように、光照射によって生じた電子・
正孔対が有効に利用されないと、感度が低下し、また、
捕獲された電子あるいは正孔によって残留電位が大きく
なり、電子写真感光体としての特性が劣化してしまう。
発生層)とをバンドギャップを大きくすることより帯電
電位は向上するが、ダブルへテロ結合が形成されること
により感度に悪影響がある。静電画像を形成するために
は、コロナ放電等によって感光体表面に帯電した電位と
、それに伴なう支持体上の反対符号の電位とを補償する
ために、光照射によって生成した電子・正孔対がそれぞ
れ感光層表面および導電性支持体へ移動することが必要
となる。このとき、電子または正孔が、バンドギャップ
が異なる層の界面(ヘテロ接合部)において、さらには
バンドギャップの段差において捕獲され、または再結合
してしまう。このように、光照射によって生じた電子・
正孔対が有効に利用されないと、感度が低下し、また、
捕獲された電子あるいは正孔によって残留電位が大きく
なり、電子写真感光体としての特性が劣化してしまう。
第1図は、本発明の電子写真感光体の感光層の構成例を
示す断面図であり、支持体11上に感晃層13が形成さ
れている。感光層13は、支持体側から自由表面側に向
って、電荷輸送層21、第1電荷発生層23および第2
電荷発生層25の3層から構成されている。第2図に示
すように電荷輸送層および第2電荷発生層21.25の
バンドギャップEgxxCEc−Ev)、 Eg2gは
、第1電荷発生層23バンドギャップEg23よりも大
きく、ダブルへテロ結合を形成している。また1価電子
帯のバンド端からフェルミレベルEFまでのエネルギー
(EF EV)は、電荷輸送層、第1電荷発生層およ
び第2電荷発生層21.23.25とも等しく、価電子
帯のバンド端が感光層13全体で滑らかになっている。
示す断面図であり、支持体11上に感晃層13が形成さ
れている。感光層13は、支持体側から自由表面側に向
って、電荷輸送層21、第1電荷発生層23および第2
電荷発生層25の3層から構成されている。第2図に示
すように電荷輸送層および第2電荷発生層21.25の
バンドギャップEgxxCEc−Ev)、 Eg2gは
、第1電荷発生層23バンドギャップEg23よりも大
きく、ダブルへテロ結合を形成している。また1価電子
帯のバンド端からフェルミレベルEFまでのエネルギー
(EF EV)は、電荷輸送層、第1電荷発生層およ
び第2電荷発生層21.23.25とも等しく、価電子
帯のバンド端が感光層13全体で滑らかになっている。
なお、上記では電荷輸送層21と第2電荷発生層25と
のバンドギャップEgz□+Egzsが等しい場合を示
しているが、これら両者は相違してもよい。
のバンドギャップEgz□+Egzsが等しい場合を示
しているが、これら両者は相違してもよい。
この電子写真感光体を正帯電せしめて、静電潜像を形成
する場合を例に挙げて説明する。
する場合を例に挙げて説明する。
第3図のように、暗中でコロナ放電等を施すことにより
、第2電荷発生Ji125上に正電荷が帯電され、−方
、支持体11冊にはこれに対応して負電荷が生じる。こ
のとき、第2電荷発生層25は比較的高いバンドギャッ
プに設定されているので高い暗抵抗が実現でき、第2電
荷発生層25上に優れた帯電特性で電荷を保持−できる
、同様に電荷輸送層21と支持体11の界面にも負電荷
が保持される。静電画像を形成するために選択的に光照
射がなされると、第1電荷発生層23および第2電荷発
生層25で電子・正対孔が発生する。
、第2電荷発生Ji125上に正電荷が帯電され、−方
、支持体11冊にはこれに対応して負電荷が生じる。こ
のとき、第2電荷発生層25は比較的高いバンドギャッ
プに設定されているので高い暗抵抗が実現でき、第2電
荷発生層25上に優れた帯電特性で電荷を保持−できる
、同様に電荷輸送層21と支持体11の界面にも負電荷
が保持される。静電画像を形成するために選択的に光照
射がなされると、第1電荷発生層23および第2電荷発
生層25で電子・正対孔が発生する。
このとき、第1電荷発生層23は、第2電荷発層25よ
りバンドギャップが小さいため、第2電荷発生層25よ
りも長波長側で光感度を有し、照射光エネルギーを有効
に活用することができる。
りバンドギャップが小さいため、第2電荷発生層25よ
りも長波長側で光感度を有し、照射光エネルギーを有効
に活用することができる。
ここで発生した電子および正孔は、それぞれ感光層13
表面の正電位および支持体11上の負電位へ向かって移
動する。このとき、移動距離は正孔の方が長くなるわけ
であるが、価電子帯のバンド端には段差が無く滑らかに
なっているため、移動途中で正孔が捕獲されることが防
止され、また、再結合が実質上行われず空乏層も存在し
ないので、光照射によって発生した正孔は導電性基体へ
向かって速みやかに移動し、導電性支持体11上の負電
位を効率よく補償することになる。この結果、高い光感
度が得られるとともに。
表面の正電位および支持体11上の負電位へ向かって移
動する。このとき、移動距離は正孔の方が長くなるわけ
であるが、価電子帯のバンド端には段差が無く滑らかに
なっているため、移動途中で正孔が捕獲されることが防
止され、また、再結合が実質上行われず空乏層も存在し
ないので、光照射によって発生した正孔は導電性基体へ
向かって速みやかに移動し、導電性支持体11上の負電
位を効率よく補償することになる。この結果、高い光感
度が得られるとともに。
残留電位が抑えられて画像コントラストも良好となる。
次に、光導電材料としてアモルファスシリコン(a−8
i)を用いた場合に沿って、本発明をさらに詳細に説明
する。
i)を用いた場合に沿って、本発明をさらに詳細に説明
する。
第4図はa−5i系電子写真感光体の構成例を示す断面
図であり、支持体11上に、電荷輸送層33.第1電荷
発生層33および第2電荷発生層35が順次積層されて
感光層13を形成している。
図であり、支持体11上に、電荷輸送層33.第1電荷
発生層33および第2電荷発生層35が順次積層されて
感光層13を形成している。
支持体11としては、導電性材料、電気絶縁性材料のい
ずれであってもよい。導電性材料としてはステンレス、
Ni−Cr、Cr、Al、Mo。
ずれであってもよい。導電性材料としてはステンレス、
Ni−Cr、Cr、Al、Mo。
Au、Nb、Te等の金屑、これらの合金あるいはアモ
ルファス全屈などが挙げられる。電気絶縁性材料として
は、ポリエステル、ポリエチレン、ポリイミド等の合成
樹脂のフィルムまたはシート、ガラス、セラミックなど
が挙げられる。電気絶縁性材料を使用する場合には、−
方の表面が導電性処理されていることが必要である。導
電性処理は、上記の導電性材料の薄膜を絶縁性材料に付
着させたり、あるいはIT○。
ルファス全屈などが挙げられる。電気絶縁性材料として
は、ポリエステル、ポリエチレン、ポリイミド等の合成
樹脂のフィルムまたはシート、ガラス、セラミックなど
が挙げられる。電気絶縁性材料を使用する場合には、−
方の表面が導電性処理されていることが必要である。導
電性処理は、上記の導電性材料の薄膜を絶縁性材料に付
着させたり、あるいはIT○。
SnO2等の酸化物からなる透明導電膜を付着させたり
、あるいはCr、In等のシリサイド膜を付着されるこ
とにより行うことができる。
、あるいはCr、In等のシリサイド膜を付着されるこ
とにより行うことができる。
このような薄膜の形成は、真空蒸着、スパッタリング、
CVD法、イオンブレーティング法等により行うことが
できる。
CVD法、イオンブレーティング法等により行うことが
できる。
支持体11は、円筒状、ベルト状、板状などの任意の形
状とすることができる。
状とすることができる。
電荷輸送M31、第1電荷発生層33および第2電荷発
生層35は、Si[子を母体とし、水素原子、重水素原
子またはハロゲン原子を含有するa −S i層からな
る。電荷輸送層31および第2電荷発生層35は、光学
禁制帯幅(バンドギャップ)が第1電荷発生層33より
も大きい。この光学的禁制帯幅の制御は、たとえばa−
8i層中に酸素および窒素を含有せしめることにより行
うことができる。第5図は、感光層13の厚さ方向にお
ける酸素および窒素の分布濃度を示すグラフである。電
荷輸送層(ti〜t1)31と第2電荷発生ff(t2
−t 3)35とは、その酸素、窒素濃度を第1光導電
層(t1〜t、)33よりも高くすることにより、第1
電荷発生層33よりも大きな光学的禁制帯幅を実現して
いる。
生層35は、Si[子を母体とし、水素原子、重水素原
子またはハロゲン原子を含有するa −S i層からな
る。電荷輸送層31および第2電荷発生層35は、光学
禁制帯幅(バンドギャップ)が第1電荷発生層33より
も大きい。この光学的禁制帯幅の制御は、たとえばa−
8i層中に酸素および窒素を含有せしめることにより行
うことができる。第5図は、感光層13の厚さ方向にお
ける酸素および窒素の分布濃度を示すグラフである。電
荷輸送層(ti〜t1)31と第2電荷発生ff(t2
−t 3)35とは、その酸素、窒素濃度を第1光導電
層(t1〜t、)33よりも高くすることにより、第1
電荷発生層33よりも大きな光学的禁制帯幅を実現して
いる。
第6図は、帯電電位の向上を意図して電荷輸送JiW(
tB−ti)31により多くの窒素原子を含ませた構成
例を示す。また、第7図に示すように、感度の向上を意
図して電荷輸送M2t(t B−t i)に窒素原子、
酸素原子を少なく含ませることもできる。
tB−ti)31により多くの窒素原子を含ませた構成
例を示す。また、第7図に示すように、感度の向上を意
図して電荷輸送M2t(t B−t i)に窒素原子、
酸素原子を少なく含ませることもできる。
電荷輸送層31としては、光学的禁制布幅が1 、8e
V以上のものが好ましく、また、AMl−100mす/
d先においてσp/σdが1×103以上の光感度を有
するものが好ましい。ここで、σ2は明導電率を、σd
は暗導電率を示す。
V以上のものが好ましく、また、AMl−100mす/
d先においてσp/σdが1×103以上の光感度を有
するものが好ましい。ここで、σ2は明導電率を、σd
は暗導電率を示す。
電荷輸送層31は、(a)シリコン原子と(b)水素、
重水素およびハロゲン原子の少なくとも1種(Hと略記
)と、(c)酸素原子と、(d)窒素原子とを含むa−
3i層である。電荷輸送層31中の各原子の割合は次の
通りであることが好適である。
重水素およびハロゲン原子の少なくとも1種(Hと略記
)と、(c)酸素原子と、(d)窒素原子とを含むa−
3i層である。電荷輸送層31中の各原子の割合は次の
通りであることが好適である。
Si原子: 30〜95atomic% (好ましくは
55〜90atOffLic%)N原子: S〜30a
toaic% (好ましくは10〜20atomic%
)0原子: 0.1〜30atomic%(好ましくは
1〜20atomic%)N原子: 0.01〜10a
tomic%(好ましくは0.1〜5atomc%)こ
の電荷輸送層31は、通常はn型の伝導形であるが、■
広原子をドーピングしてi型の伝導形にすることもでき
る。■広原子としてはB。
55〜90atOffLic%)N原子: S〜30a
toaic% (好ましくは10〜20atomic%
)0原子: 0.1〜30atomic%(好ましくは
1〜20atomic%)N原子: 0.01〜10a
tomic%(好ましくは0.1〜5atomc%)こ
の電荷輸送層31は、通常はn型の伝導形であるが、■
広原子をドーピングしてi型の伝導形にすることもでき
る。■広原子としてはB。
A I r G a + I nなどが用いられる。
■広原子は電荷輸送層31中に10−6〜10−” a
tomic%の量でドーピングすることが好ましく、よ
り好ましくは10−’ 〜10−’atomic%であ
る。
tomic%の量でドーピングすることが好ましく、よ
り好ましくは10−’ 〜10−’atomic%であ
る。
電荷輸送層31の膜厚は、5〜50μm程度が適当であ
り、好ましくは8〜40μm程度である。
り、好ましくは8〜40μm程度である。
さらに、電荷輸送層31においては、フリーキャリアの
阻止効果向上の目的で、支持体11側に前記電荷輸送層
より高抵抗な絶縁材料あるいは光導電性材料、非光導電
性材料等を用いてさらにもう一層設けることや、また、
そうした電荷輸送層と同一材料にて上記電気特性をもつ
機能を電荷輸送M3に内在させることの手段が採られて
もよい。
阻止効果向上の目的で、支持体11側に前記電荷輸送層
より高抵抗な絶縁材料あるいは光導電性材料、非光導電
性材料等を用いてさらにもう一層設けることや、また、
そうした電荷輸送層と同一材料にて上記電気特性をもつ
機能を電荷輸送M3に内在させることの手段が採られて
もよい。
このような電荷輸送層は、グロー放電法、スパッタリン
グ法、イオンブレーティング法などにより成膜すること
ができ、特にグロー放電法が有利である。
グ法、イオンブレーティング法などにより成膜すること
ができ、特にグロー放電法が有利である。
グロー放電法で膜形成させるための原料ガスとしては、
例えば特開昭57−115553号公報に記載されてい
るようなSiとHを構成原子とするS i層4.S 1
iHs、S i、H,、S i4H,。等のシラン類な
どの水素化ケイ素ガス:Siとハロゲンを構成原子とす
るS I F’4z S 1zFi+5iC1,,5i
C1,、Br、5iC1,Br2゜5iCIBr、、5
iC1,I、SiBr4等のハロゲン化ケイ素ガス;S
iとハロゲンと水素とを構成原子とするS 1H2F、
、S 1H2C1,。
例えば特開昭57−115553号公報に記載されてい
るようなSiとHを構成原子とするS i層4.S 1
iHs、S i、H,、S i4H,。等のシラン類な
どの水素化ケイ素ガス:Siとハロゲンを構成原子とす
るS I F’4z S 1zFi+5iC1,,5i
C1,、Br、5iC1,Br2゜5iCIBr、、5
iC1,I、SiBr4等のハロゲン化ケイ素ガス;S
iとハロゲンと水素とを構成原子とするS 1H2F、
、S 1H2C1,。
5iHC1,、SiH,CI、5iHiBr。
5iH2Br、、5iHBr、等のハロゲン置換水素化
ケイ素をあげることができる。
ケイ素をあげることができる。
また、電荷輸送層31中に添加物として含まれる酸素原
子および窒素原子の出発材料としては、同様に特開昭5
7−115553号公報に記載されているようなものが
使用される。
子および窒素原子の出発材料としては、同様に特開昭5
7−115553号公報に記載されているようなものが
使用される。
すなわち、酸素原子の出発ガスとしては02゜0、、C
o、Co2.No、No、、N、O。
o、Co2.No、No、、N、O。
N、O,、N、04.N20.等が挙げラレ、窒素原子
の出発ガスとしてはN、、NH,が挙げられる。
の出発ガスとしてはN、、NH,が挙げられる。
ドーピングガスとしては、B2Hs−2Al(CH,)
、。
、。
G a (CH,)、 、 I n (CH,)、など
の有機金属化合物やA I HG a HI n g
T 1等の塩化物などが挙げられる。
の有機金属化合物やA I HG a HI n g
T 1等の塩化物などが挙げられる。
第1電荷発生層33は、シリコン原子を母体とし、構成
として水素原子、重水素原子またはハロゲン原子の少な
くとも一種を含有するa−8i層からなり、光学的禁制
帯幅が1.6〜1 、8eV程度のものが好適である。
として水素原子、重水素原子またはハロゲン原子の少な
くとも一種を含有するa−8i層からなり、光学的禁制
帯幅が1.6〜1 、8eV程度のものが好適である。
第1電荷発生層33は、光入射時において長波長側の光
を有効に光電変換させ、層内部にトラップさせることな
く他の層にフォトキャリア(正孔、電子)を移動させる
機能を有している。第1電荷発生層33のみの分光感度
特性においては、600nm〜700nmの波長領域に
最大感度を有する。
を有効に光電変換させ、層内部にトラップさせることな
く他の層にフォトキャリア(正孔、電子)を移動させる
機能を有している。第1電荷発生層33のみの分光感度
特性においては、600nm〜700nmの波長領域に
最大感度を有する。
第1電荷発生層は、その層中に各原子の次の割合で含む
ことが望ましい。
ことが望ましい。
5ifi子: 60〜95atomthc%(好ましく
は70〜90atomic%)HJ7X子: 5〜40
ato11ic%(好ましくは10〜30atomic
%)また、■族あるいはV族の原子をドーピングするこ
ともできる。
は70〜90atomic%)HJ7X子: 5〜40
ato11ic%(好ましくは10〜30atomic
%)また、■族あるいはV族の原子をドーピングするこ
ともできる。
第1電荷発生層23の膜厚は0.05〜5μm程度が適
当であり、好ましくは0.1〜3μm程度である。第1
電荷発生層23は、電荷輸送層31と同様にして形成す
ることができる。
当であり、好ましくは0.1〜3μm程度である。第1
電荷発生層23は、電荷輸送層31と同様にして形成す
ることができる。
第2電荷発生層25は、シリコン原子を母体とし構成原
子として水素原子1重水素原子またはハロゲン原子の少
なくとも1種を含み、さらに 。
子として水素原子1重水素原子またはハロゲン原子の少
なくとも1種を含み、さらに 。
酸素原子および窒素原子を含むa−Si層からなる。第
2電荷発生層25としては、光学的禁制帯幅が1 、9
eV以上とすることが好ましく、また、A M 1−1
00mW/−光においてap/adがI×103以上の
ものが好適である。
2電荷発生層25としては、光学的禁制帯幅が1 、9
eV以上とすることが好ましく、また、A M 1−1
00mW/−光においてap/adがI×103以上の
ものが好適である。
第2電荷輸送り35は、光入射時において短波長側の光
を有効に光電変換させ1層内部にトラップさせることな
くフォトキャリアを移動させ、さらにコロナ放電等で表
面に帯電した電荷を膜内に注入させることなく、表面に
保持する機能を有している。第2電荷発生M35のみの
分光感度特性においては、450nm〜600nmの波
長領域に最大感度を示す。
を有効に光電変換させ1層内部にトラップさせることな
くフォトキャリアを移動させ、さらにコロナ放電等で表
面に帯電した電荷を膜内に注入させることなく、表面に
保持する機能を有している。第2電荷発生M35のみの
分光感度特性においては、450nm〜600nmの波
長領域に最大感度を示す。
第2電荷発生層は、その層中に各構成原子を次の割合で
含むことが望ましい。
含むことが望ましい。
Si原子: 10〜95atomic% (好ましくは
35〜90atoaic%)N原子: 5−35−30
ato% (好ましくは10〜20atomic%)0
原子: 0.5〜40atomic%(好ましくは1〜
30atoIILc%)N原子: 0,1〜20ato
mic%(好ましくは0.5〜15atoIlic゛%
)以上の説明では、各層の厚み方向に均一な濃度で添加
元素を分布させる場合について示したが、これに限定さ
れるものではない。
35〜90atoaic%)N原子: 5−35−30
ato% (好ましくは10〜20atomic%)0
原子: 0.5〜40atomic%(好ましくは1〜
30atoIILc%)N原子: 0,1〜20ato
mic%(好ましくは0.5〜15atoIlic゛%
)以上の説明では、各層の厚み方向に均一な濃度で添加
元素を分布させる場合について示したが、これに限定さ
れるものではない。
たとえば、電荷輸送!!3131に含有されている酸素
原子、窒素原子は通常膜方向に均一な分布を示すが、支
持体11表面への密着性および支持体11側からのフリ
ーキャリアの注入を防止する目的で、これら原子を支持
体11側に多く含ませるような層方向に不均一な分布も
とり得る。また。
原子、窒素原子は通常膜方向に均一な分布を示すが、支
持体11表面への密着性および支持体11側からのフリ
ーキャリアの注入を防止する目的で、これら原子を支持
体11側に多く含ませるような層方向に不均一な分布も
とり得る。また。
■広原子も通常は膜方向に均一で層方向にも均一な分布
も示すが、支持体11側からのフリーキャリアの注入を
防止する目的で、■広原子を支持体11側に多く含ませ
るような層方向に不均一に分布もとり得る。
も示すが、支持体11側からのフリーキャリアの注入を
防止する目的で、■広原子を支持体11側に多く含ませ
るような層方向に不均一に分布もとり得る。
さらに第2電荷発生[35においては、帯電電荷を保持
させる効果の増大のため、膜表面に第2電荷発生層より
高抵抗な絶縁材料または光導電性材料、非光導電性材料
等を用いてさらにもう一層設けることや、また、そうし
た第2電荷発生層と同一材料にて上記効果を第2電荷発
生[25に内在させることの手段が採られてもよい。
させる効果の増大のため、膜表面に第2電荷発生層より
高抵抗な絶縁材料または光導電性材料、非光導電性材料
等を用いてさらにもう一層設けることや、また、そうし
た第2電荷発生層と同一材料にて上記効果を第2電荷発
生[25に内在させることの手段が採られてもよい。
これ以外に1表面で帯電した電荷を膜内に注入させるこ
となく表面に保持させるために■族あるいは■広原子を
第二電荷発生層5に含有させることも可能である。この
添加物(■広原子、V広原子)は膜方向に均一に添加さ
れて1通常は、層方向に均一に分布されるが、必要によ
り。
となく表面に保持させるために■族あるいは■広原子を
第二電荷発生層5に含有させることも可能である。この
添加物(■広原子、V広原子)は膜方向に均一に添加さ
れて1通常は、層方向に均一に分布されるが、必要によ
り。
注入防止効果を増大させるために表面に上記原子を多く
分布させてもよい。
分布させてもよい。
第2電荷発生層35の膜厚は、0.05〜10μm程度
が適当であり、好ましくは0.1〜5μm程度である。
が適当であり、好ましくは0.1〜5μm程度である。
第2電荷発生層35は、電荷輸送層と同様にして作成す
ることができる。
ることができる。
第5図、第6図および第7図に示したように。
膜中の酸素原子、窒素原子の含有量を変化させれば、電
子写真感光体の広い領域において電気特性をプロセスコ
ントロールすることが可能となる。
子写真感光体の広い領域において電気特性をプロセスコ
ントロールすることが可能となる。
さらに、電荷輸送層31、第1電荷発生層33および第
2電荷発生層35の3層に亘って1価電子端のバンド端
からフェルミ・レベルまでのエネルギー量(E、 −E
v)を実質上等しくなるようにすることにより、光感度
の向上および残留電位の低減化を実現できる。このエネ
ルギー量の制御は、電荷輸送層31と第2電荷発生層3
5との酸素および窒素含量を調節することにより行うこ
とができる6電荷輸送層と第2電荷発生層のEF−Ev
は、バンド内の酵素原子および窒素原子の準位が異なる
ため、酵素および窒素の量を調整することによってEF
−Evを制御することができる。第1電荷発生層におけ
る最適なEF−Evtt設定し、#素および窒素の量を
調整することによって電荷輸送層および第2電荷発生層
をこの値に揃える。第1電荷発生層のEv−Evは水素
の量によって決定することができ、約1.0〜1 、2
eV程度が好ましい。
2電荷発生層35の3層に亘って1価電子端のバンド端
からフェルミ・レベルまでのエネルギー量(E、 −E
v)を実質上等しくなるようにすることにより、光感度
の向上および残留電位の低減化を実現できる。このエネ
ルギー量の制御は、電荷輸送層31と第2電荷発生層3
5との酸素および窒素含量を調節することにより行うこ
とができる6電荷輸送層と第2電荷発生層のEF−Ev
は、バンド内の酵素原子および窒素原子の準位が異なる
ため、酵素および窒素の量を調整することによってEF
−Evを制御することができる。第1電荷発生層におけ
る最適なEF−Evtt設定し、#素および窒素の量を
調整することによって電荷輸送層および第2電荷発生層
をこの値に揃える。第1電荷発生層のEv−Evは水素
の量によって決定することができ、約1.0〜1 、2
eV程度が好ましい。
以上の構成例では、電荷輸送層、第1電荷発生層および
第2電荷発生層をa−8i層とした場合について示した
が、光導電性半導体材料はこれに限定されず1例えばア
モルファスから結晶までのSiやSs、Te、CdSな
どを用いることができる。
第2電荷発生層をa−8i層とした場合について示した
が、光導電性半導体材料はこれに限定されず1例えばア
モルファスから結晶までのSiやSs、Te、CdSな
どを用いることができる。
また、支持体と感光層との間に、支持体側からのフリー
キャリアの注入を防止するために、感光層よりも高抵抗
な光導電材料あるいは絶縁材料を用いてバリヤー層を形
成したり、他の下地層ないし中間層を形成することもで
きる。また、感光層のさらに上に、より高抵抗な光導電
材料や絶縁材料からなる層を形成して帯電電荷の保持効
果を改善したり、保護層を形成したりすることもできる
。
キャリアの注入を防止するために、感光層よりも高抵抗
な光導電材料あるいは絶縁材料を用いてバリヤー層を形
成したり、他の下地層ないし中間層を形成することもで
きる。また、感光層のさらに上に、より高抵抗な光導電
材料や絶縁材料からなる層を形成して帯電電荷の保持効
果を改善したり、保護層を形成したりすることもできる
。
澄uBg、υ弧果
本発明によれば、感光層を電荷輸送層、第1発生層およ
げ第2電荷発生居の3届構造とし。
げ第2電荷発生居の3届構造とし。
電荷輸送層と第2電荷発生層のバンドギャップを第1電
荷発生層よりも大きく設定することにより、良好な光感
度とi型持性を兼ね備えた電子写真感光体が実現できる
。
荷発生層よりも大きく設定することにより、良好な光感
度とi型持性を兼ね備えた電子写真感光体が実現できる
。
また、電荷輸送層、第1電荷発生層および第2電荷発生
層を水素原子、重水素原子およびハロゲン原子の少なく
とも1種を含むa−8i5から形成し、かつ、電荷輸送
層および第2電荷発生層にさらに酸素原子および窒素原
子を添加することにより、a−8iのもつ特性をいかん
なく発揮せしめて、良好な感度と帯電特性を兼ね備えた
電子写真感光体が実現できる。
層を水素原子、重水素原子およびハロゲン原子の少なく
とも1種を含むa−8i5から形成し、かつ、電荷輸送
層および第2電荷発生層にさらに酸素原子および窒素原
子を添加することにより、a−8iのもつ特性をいかん
なく発揮せしめて、良好な感度と帯電特性を兼ね備えた
電子写真感光体が実現できる。
さらに、電荷輸送層、第1電荷発生層および第2電荷発
生層に亘って、感光層の厚さ方向全体の価電子帯のバン
ド端からフェルミ・レベルまでのエネルギーを実質上等
しくすることにより、光感度をいっそう向上するととも
に、残留電位特性を改善することができ、帯電−露光プ
ロセスを繰返し適用した場合にも良好な画像品質を維持
することができる。
生層に亘って、感光層の厚さ方向全体の価電子帯のバン
ド端からフェルミ・レベルまでのエネルギーを実質上等
しくすることにより、光感度をいっそう向上するととも
に、残留電位特性を改善することができ、帯電−露光プ
ロセスを繰返し適用した場合にも良好な画像品質を維持
することができる。
実施例1
第8図に示す装置を用い、以下の操作(i)ないしくi
x)によって第4図のとときa −S i系電子写真感
光体を作成した。
x)によって第4図のとときa −S i系電子写真感
光体を作成した。
(i)表面が清浄にされた直径120mmφ、長さ30
0m1gのドラム形状のAl支持体(アルミニウム支持
体)403を固定具407に固定し、チャンバー本体4
08にAl支持体および固定具407、回転用モーター
402の付属しである真空ブタ409を所定位置にのせ
た後、荒引バルブ118を開き、隔膜型真空計405の
指示がI X 10−”Torr程度の真空度となるよ
うにチャンバー408を保持した。
0m1gのドラム形状のAl支持体(アルミニウム支持
体)403を固定具407に固定し、チャンバー本体4
08にAl支持体および固定具407、回転用モーター
402の付属しである真空ブタ409を所定位置にのせ
た後、荒引バルブ118を開き、隔膜型真空計405の
指示がI X 10−”Torr程度の真空度となるよ
うにチャンバー408を保持した。
(if)モーター402でA1支持体403を回転させ
、加熱ヒーター404によってAI支持体403を加熱
し基板温度300℃に維持した。
、加熱ヒーター404によってAI支持体403を加熱
し基板温度300℃に維持した。
(iii)ガスバルブ116.101.102.103
.104.105゜106、107.108.109.
110およびマスフローコントローラー201.202
.203.204.205を全開にし、ガスラインの脱
気を隔膜型真空計405の指示がI X 10−”To
rr程度の真空度になるようにチャンバー408を保持
したのち、荒引バルブ118を閉じメインバルブ117
を開け、拡散ポンプにて電離真空計406が1×10″
″′Torrになるまで真空に吸引し真空チャンバーお
よびガスラインを十分に脱気した。脱気後、加熱ヒータ
404を調整しA1支持体基板温度を200℃±1℃位
に高精度にコントロールした。
.104.105゜106、107.108.109.
110およびマスフローコントローラー201.202
.203.204.205を全開にし、ガスラインの脱
気を隔膜型真空計405の指示がI X 10−”To
rr程度の真空度になるようにチャンバー408を保持
したのち、荒引バルブ118を閉じメインバルブ117
を開け、拡散ポンプにて電離真空計406が1×10″
″′Torrになるまで真空に吸引し真空チャンバーお
よびガスラインを十分に脱気した。脱気後、加熱ヒータ
404を調整しA1支持体基板温度を200℃±1℃位
に高精度にコントロールした。
(iv)基板温度が安定したらメインバルブ117を閉
じ1次にガスバルブ116.101.102.103゜
104、105.106.107.108.109.1
10を閉じ、更に、マスフローコントローラー201.
202゜203、204.205を全開にした。
じ1次にガスバルブ116.101.102.103゜
104、105.106.107.108.109.1
10を閉じ、更に、マスフローコントローラー201.
202゜203、204.205を全開にした。
(v)Arガス(純度99.999)ボンベのバルブ1
12を開き、圧力圧ゲージ502を1kg/cJに調整
し、ガスバルブ116.102.107を徐々に開いて
マスフローコントローラーの流量を3203CCHに設
定し、チャンバー内の隔膜型真空計405の指示が0
、7Torrになるように補助バルブ119を開き、バ
ルブ出口に取りつけであるローターリポンプにて吸引し
た。
12を開き、圧力圧ゲージ502を1kg/cJに調整
し、ガスバルブ116.102.107を徐々に開いて
マスフローコントローラーの流量を3203CCHに設
定し、チャンバー内の隔膜型真空計405の指示が0
、7Torrになるように補助バルブ119を開き、バ
ルブ出口に取りつけであるローターリポンプにて吸引し
た。
(vi)SiH4ガス(純度99.999)ボンベのバ
ルブ111を開き出力圧・ゲージ501を1kg/al
に調整し、ガスバルブ101.106を徐々に開いてマ
スフローコントローラーの流量を80SCCMら設定し
S x H4/ A r =0.8になるようにチャン
バー内に導入した。
ルブ111を開き出力圧・ゲージ501を1kg/al
に調整し、ガスバルブ101.106を徐々に開いてマ
スフローコントローラーの流量を80SCCMら設定し
S x H4/ A r =0.8になるようにチャン
バー内に導入した。
(vii)Co、ガス(純度99.999)ボンベのバ
ルブ113を開き出力圧ゲージ503を1kg/aJに
調整し、N2ガス(純度99.999)ボンベのバルブ
114を開き出力圧ゲージ504を1kg/cdに調整
し1次にB2H,ガス(Arベース10100ppボン
ベのバルブ115を開き出力圧ゲージ505を1 kg
/alに調整し、ガスバルブ103.104.105.
108.109゜110を開き、マスフローコントロー
ラー203゜204、205をCQ2/N2=0.1.
S iH,/N。
ルブ113を開き出力圧ゲージ503を1kg/aJに
調整し、N2ガス(純度99.999)ボンベのバルブ
114を開き出力圧ゲージ504を1kg/cdに調整
し1次にB2H,ガス(Arベース10100ppボン
ベのバルブ115を開き出力圧ゲージ505を1 kg
/alに調整し、ガスバルブ103.104.105.
108.109゜110を開き、マスフローコントロー
ラー203゜204、205をCQ2/N2=0.1.
S iH,/N。
= l l B2H!/S i H4==LO”−”に
なるように設定し、最後に補助バルブ119を調整して
チャンバー内圧力を約I Torrに維持した。
なるように設定し、最後に補助バルブ119を調整して
チャンバー内圧力を約I Torrに維持した。
(vIii)チャバ−内圧力が安定した後、高周波電極
410とA1支持体403との間に13.56MHz7
5Wの高周波電力を高周波電源401より導入し、グロ
ー放電法で約19μm厚の電荷輸送層を形成した。
410とA1支持体403との間に13.56MHz7
5Wの高周波電力を高周波電源401より導入し、グロ
ー放電法で約19μm厚の電荷輸送層を形成した。
(ix)高周波電源を切りガスバルブ103.104,
105゜を閉じ、CO2ガス、N2ガス、B、H,ガス
がチャンバー中よりロータリーポンプにより吸引されて
しまう十分長い時間を経た後、補助バルブ119を調整
し、チャンバー内圧力をITorrに保ち、高周波型カ
フ5Wで高周波電源を入れ、グロー放電法により約1μ
m厚の第1電荷発生層を形成した。
105゜を閉じ、CO2ガス、N2ガス、B、H,ガス
がチャンバー中よりロータリーポンプにより吸引されて
しまう十分長い時間を経た後、補助バルブ119を調整
し、チャンバー内圧力をITorrに保ち、高周波型カ
フ5Wで高周波電源を入れ、グロー放電法により約1μ
m厚の第1電荷発生層を形成した。
(X)次いで、高周波電源を切りガスバルブ103゜1
04、105を開はマスフローコントローラーを調整し
Go、/N2=0.1.SiH4/Nz=1+B 2H
,/ S i H4= 10−’になるように設定し、
補助バルブ119を調整してチャンバー内圧力をI T
orrに保ち、チャンバー内圧力が安定した後、75W
の高周波電力で高周波電源を入れ、グロー放電法により
約200入庫の第2電荷発生層を形成した。
04、105を開はマスフローコントローラーを調整し
Go、/N2=0.1.SiH4/Nz=1+B 2H
,/ S i H4= 10−’になるように設定し、
補助バルブ119を調整してチャンバー内圧力をI T
orrに保ち、チャンバー内圧力が安定した後、75W
の高周波電力で高周波電源を入れ、グロー放電法により
約200入庫の第2電荷発生層を形成した。
(xl)更に、高周波電源を切りガスバルブ101゜1
02、103.104.105.106.107.10
8.109゜110、116を閉じ、補助バルブ119
を全開にし隔膜型真空計の指示がI X 1O−2To
rrになったのち加熱ヒータ404を切り徐冷した。A
1支持体温度が常温になったところでガスバルブ116
、104.109を開き真空度2 Torr程度になる
ようにN2ガスを流しチャンバーのパージを行った。
02、103.104.105.106.107.10
8.109゜110、116を閉じ、補助バルブ119
を全開にし隔膜型真空計の指示がI X 1O−2To
rrになったのち加熱ヒータ404を切り徐冷した。A
1支持体温度が常温になったところでガスバルブ116
、104.109を開き真空度2 Torr程度になる
ようにN2ガスを流しチャンバーのパージを行った。
チャンバーのパージを十分に行った後ガスバルブ116
,104.109を閉じ真空度がI X 10−”To
rrになった事を確認してから、固定具407より電子
写真感光体ドラムを取り出した。
,104.109を閉じ真空度がI X 10−”To
rrになった事を確認してから、固定具407より電子
写真感光体ドラムを取り出した。
かくして作成されたa−3i系電子写真感光体ドラムの
電気特性は第9図に示すとおりであった。また、この電
子写真感光体に+5KVのコロナ放電を施したところ帯
電電位は600 Vと良好であり、色温度2854”K
タングステンランプ95ルックス照射下において帯電電
位の半減時間は0.26秒であり、従来のSeまたはC
bS系電子電子写真感光体べ10倍以上の感度を有して
いる。
電気特性は第9図に示すとおりであった。また、この電
子写真感光体に+5KVのコロナ放電を施したところ帯
電電位は600 Vと良好であり、色温度2854”K
タングステンランプ95ルックス照射下において帯電電
位の半減時間は0.26秒であり、従来のSeまたはC
bS系電子電子写真感光体べ10倍以上の感度を有して
いる。
さらに1本発明電子写真感光体の短波長増感性をもつ分
光感度特性を第10図に示す。第7図中でのOは本発明
の電子写真感光体によって実現された分光感度で、・は
酸素原子のみを添加したアモルファスシリコン単層膜電
子写真感光体であり、本発明の電子写真感光体は明らか
に短波長増感性があることを示している。
光感度特性を第10図に示す。第7図中でのOは本発明
の電子写真感光体によって実現された分光感度で、・は
酸素原子のみを添加したアモルファスシリコン単層膜電
子写真感光体であり、本発明の電子写真感光体は明らか
に短波長増感性があることを示している。
この電子写真感光体を複写機に実装して、画像形成を行
いその画像を判定したところ高品質の転写トナー画像が
得られ良好な結果が得られた。
いその画像を判定したところ高品質の転写トナー画像が
得られ良好な結果が得られた。
実施例2
実施例1と同一な過程で電子写真感光体を形成した際に
、電荷輸送層と第2電荷発生層との酸素原子および窒素
原子の出発ガスとしての種々の出発ガスを用いた場合の
感度、帯電電位、画質の結果を表−1に示す。
、電荷輸送層と第2電荷発生層との酸素原子および窒素
原子の出発ガスとしての種々の出発ガスを用いた場合の
感度、帯電電位、画質の結果を表−1に示す。
(以下余白)
実施例3
実施例1と同一な過程で電子写真感光体を形成した際に
、電荷輸送層と第2電荷発生層との窒素および酸素原子
の量を変化させるために出発ガスの量を変化させた場合
の感度、帯電電位。
、電荷輸送層と第2電荷発生層との窒素および酸素原子
の量を変化させるために出発ガスの量を変化させた場合
の感度、帯電電位。
画質の結果を表−2に示す。
(以下余白)
実施例4
実施例1と同一な過程で電子写真感光体を形成した際に
、電荷輸送層と第2電荷発生層とに添加する■広原子と
してBを添加するためB、H,/SiH,の比を変えた
場合の感度、帯電電位、画質の結果を表−3に示す。B
、H,の流量は電荷輸送層と第2電荷発生層は同一量と
した。
、電荷輸送層と第2電荷発生層とに添加する■広原子と
してBを添加するためB、H,/SiH,の比を変えた
場合の感度、帯電電位、画質の結果を表−3に示す。B
、H,の流量は電荷輸送層と第2電荷発生層は同一量と
した。
表−3
注)Oは特に良好、Oは良好、Δは実用に使用できる程
度、×は実用不可をそれぞれ表わしている。
度、×は実用不可をそれぞれ表わしている。
実施例5
電荷輸送層および第2電荷発生層を形成する際のCO2
量およびN2量を、電荷輸送層二〇〇2/N2=0.0
05〜10、第2電荷発生層二Co、/N、=0.05
〜30の範囲で変化させて組合せ、光学的禁制帯幅およ
び価電子帯側からの活性化エネルギーを調整する以外は
実施例1と同様にして、電子写真感光体を作成した。こ
れらの感光体について実施例1と同様にして感度を測定
し、また、以下の方法により繰り返し使用による残留電
位を評価した。
量およびN2量を、電荷輸送層二〇〇2/N2=0.0
05〜10、第2電荷発生層二Co、/N、=0.05
〜30の範囲で変化させて組合せ、光学的禁制帯幅およ
び価電子帯側からの活性化エネルギーを調整する以外は
実施例1と同様にして、電子写真感光体を作成した。こ
れらの感光体について実施例1と同様にして感度を測定
し、また、以下の方法により繰り返し使用による残留電
位を評価した。
及豊里伎免昆負
帯電、露光の繰返しを100回行い、100回後の残留
電位を求め5次の基準で評価した。
電位を求め5次の基準で評価した。
O:o〜10ボルト
0:10〜30ボルト
Δ:30〜50ボルト
×:50ボルト以上
以上の結果を表−4にまとめた0表−4中の略号はそれ
ぞれ次の通りである。
ぞれ次の通りである。
Eg:バンドギャップ(eV)
E、−Ev:価電子帯のバンド端からフェルミ・レベル
までのエネルギー(eV) σp/σd:暗導電率σdと明導電率σPの比(明導電
率は、A M 1100mW/alfの光量下で測定し
た。) (以下余白)
までのエネルギー(eV) σp/σd:暗導電率σdと明導電率σPの比(明導電
率は、A M 1100mW/alfの光量下で測定し
た。) (以下余白)
第1図は、本発明の電子写真感光体の感光層の構成例を
示す断面図であり、第2図はそのエネルギーバンド図で
ある。 第3図は、本発明の電子写真感光体における静電画像の
形成過程を示すモデル図である。 第4図は、本発明のa−5i系感光体の層構成例を模式
的に示す断面図である。 第5図、第6図および第7図は、酸素原子および窒素原
子の層内への添加濃度を示す模式図である。 第8図は、本発明の電子写真感光体を製造する装置につ
いて示す概略図である。 第9図は、本発明の電子写真感光体の帯電特性を表わし
たグラフである。 第10図は、電子写真感光体の分光感度特性を示すグラ
フである。 第11図および第12図は、従来の電子写真感光体の層
構成を示す断面図である。 11・・・支持体 13・・・感光層21・・
・電荷輸送層 23・・・第1電荷発生層25・・
・第2電荷発生層 t8・・・支持体表面1B−1,・
・・電荷輸送層 t工〜t2・・・第1電荷発生層 t2〜t3・・・第2電荷発生層 ts・・・自由表面
特許出願人 株式会社リコー 外14−昂1図
児2図 昂30 肩40 門7図 顔中/lo、N [− 昂8図 θデシ間(Sec) 前退(nm)
示す断面図であり、第2図はそのエネルギーバンド図で
ある。 第3図は、本発明の電子写真感光体における静電画像の
形成過程を示すモデル図である。 第4図は、本発明のa−5i系感光体の層構成例を模式
的に示す断面図である。 第5図、第6図および第7図は、酸素原子および窒素原
子の層内への添加濃度を示す模式図である。 第8図は、本発明の電子写真感光体を製造する装置につ
いて示す概略図である。 第9図は、本発明の電子写真感光体の帯電特性を表わし
たグラフである。 第10図は、電子写真感光体の分光感度特性を示すグラ
フである。 第11図および第12図は、従来の電子写真感光体の層
構成を示す断面図である。 11・・・支持体 13・・・感光層21・・
・電荷輸送層 23・・・第1電荷発生層25・・
・第2電荷発生層 t8・・・支持体表面1B−1,・
・・電荷輸送層 t工〜t2・・・第1電荷発生層 t2〜t3・・・第2電荷発生層 ts・・・自由表面
特許出願人 株式会社リコー 外14−昂1図
児2図 昂30 肩40 門7図 顔中/lo、N [− 昂8図 θデシ間(Sec) 前退(nm)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、支持体上に感光層を形成した電子写真感光体におい
て、前記支持体側から自由表面側に電荷輸送層、第1電
荷発生層および第2電荷発生層を順次積層して前記感光
層を構成し、電荷輸送層および第2電荷発生層のバンド
ギャップを、第1電荷発生層のバンドギャップより大き
くしたことを特徴とする電子写真感光体。 2、支持体上に感光層を形成した電子写真感光体におい
て、前記支持体側から自由表面側に電荷輸送層、第1電
荷発生層および第2電荷発生層を順次積層して前記感光
層を構成し、電荷輸送層およびび第2電荷発生層のバン
ドギャップを第1電荷発生層のバンドギャップより大き
くし、かつ、各層のバンド構成が価電子帯のバンド端か
らフェルミ・レベルまでのエネルギーが実質上等しいこ
とを特徴とする電子写真感光体。 3、支持体上に感光層を形成した電子写真感光体におい
て、前記支持体から自由表面側に電荷輸送層、第1電荷
発生層および第2電荷発生層を順次積層して前記感光層
を構成し、これら各層を水素原子、重水素原子またはハ
ロゲン原子の少なくとも一つを含みシリコン原子を母体
とする非晶質材料で構成され光導電性を示す非晶質シリ
コン層から形成し、かつ、そのうちの電荷輸送層および
第2電荷発生層にさらに構成原子にして酸素原子と窒素
原子とを含有せしめ、電荷輸送層および第2電荷発生層
のバンドギャップを第1電荷発生層のバンドギャップよ
りも大きくしたことを特徴とする電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19863616608 DE3616608A1 (de) | 1985-05-17 | 1986-05-16 | Lichtempfindliches material fuer elektrophotographie |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60-106347 | 1985-05-17 | ||
JP10634785 | 1985-05-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS632056A true JPS632056A (ja) | 1988-01-07 |
JPH0789232B2 JPH0789232B2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=14431268
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61077858A Expired - Lifetime JPH0789232B2 (ja) | 1985-05-17 | 1986-04-04 | 電子写真感光体 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4734346A (ja) |
JP (1) | JPH0789232B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5213927A (en) * | 1990-12-17 | 1993-05-25 | Eastman Kodak Company | Inverse multiactive electrophotographic element |
US5230974A (en) * | 1991-12-27 | 1993-07-27 | Xerox Corporation | Photoreceptor for textual and pictorial reproductions having a noncontinuous charge generating layer |
JPH1090929A (ja) * | 1996-09-11 | 1998-04-10 | Canon Inc | 電子写真用光受容部材 |
US7001457B2 (en) * | 2001-05-01 | 2006-02-21 | Ricoh Company, Ltd. | Crystal growth method, crystal growth apparatus, group-III nitride crystal and group-III nitride semiconductor device |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57119359A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
JPS59109059A (ja) * | 1982-12-14 | 1984-06-23 | Olympus Optical Co Ltd | 電子写真感光体 |
JPS62115465A (ja) * | 1985-11-15 | 1987-05-27 | Toshiba Corp | 電子写真感光体 |
JPS62211661A (ja) * | 1986-03-13 | 1987-09-17 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光体 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5711351A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-21 | Shunpei Yamazaki | Electrostatic copying machine |
NL8204056A (nl) * | 1982-10-21 | 1984-05-16 | Oce Nederland Bv | Fotogeleidend element voor toepassing in elektrofotografische kopieerprocessen. |
JPS6011849A (ja) * | 1983-06-21 | 1985-01-22 | Sanyo Electric Co Ltd | 静電潜像担持体 |
-
1986
- 1986-04-04 JP JP61077858A patent/JPH0789232B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1986-05-07 US US06/860,714 patent/US4734346A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4734346A (en) | 1988-03-29 |
JPH0789232B2 (ja) | 1995-09-27 |
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