JPS63131534A - 半導体処理装置 - Google Patents

半導体処理装置

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Publication number
JPS63131534A
JPS63131534A JP61278181A JP27818186A JPS63131534A JP S63131534 A JPS63131534 A JP S63131534A JP 61278181 A JP61278181 A JP 61278181A JP 27818186 A JP27818186 A JP 27818186A JP S63131534 A JPS63131534 A JP S63131534A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
diameter
carrier
sensor
cassette
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61278181A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadanobu Nagoshi
名越 忠信
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Original Assignee
Tokuda Seisakusho Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuda Seisakusho Co Ltd filed Critical Tokuda Seisakusho Co Ltd
Priority to JP61278181A priority Critical patent/JPS63131534A/ja
Publication of JPS63131534A publication Critical patent/JPS63131534A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は半導体処理装置に係り、特に径の異なる半導体
ウェハを処理することを可能とした半導体処理装置に関
する。
(従来の技術) 一般に半導体処理装置では、未処理の半導体ウェハを収
容したカセットから搬送装置により一枚ずつウェハを真
空処理室に送り、この真空処理室でエツチングや薄膜形
成等の処理を行ない、再び搬送装置により処理済みのウ
ェハをカセットに収容するものである。
第3図は従来のカセットを示したもので、2つのキャリ
ア1.1を互いに対向して配置し、各キャリア1.1は
、上下部に取付けられた連結バー2により連結され、各
キャリア1,1の間に複数のウェハ3,3・・・を多段
に収容するようにしている。このように構成されたカセ
ット4は、ボルト5で固定されたキャリア押え6の上面
に載置して使用されるものである。
そして、径の異なるウェハ3を処理する場合は、カセッ
ト4およびウェハ3の大きさが変わるため、カセット4
のキャリア1の大きさに合わせて上記ボルト5をはずし
キャリア押え6の位置を調整していた。さらに、半導体
処理装置内の搬送装置や処理室の治具等もウェハのサイ
ズに合わせて調整する必要があり、これらの調整作業は
、従来、人手により行なっていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、上記のように調整作業を人手により行なうと、
その間装置を停止しなければならず、装置の生産性の低
下および少滴りの低下等を招くという問題を有している
しかも、人間による作業であるため、塵等が発生してし
まうという問題をも有している。
本発明は上記した点に鑑みてなされたもので、径が異な
るウェハを処理する場合に、人手によらず調整を行なう
ことのできる半導体処理装置を提供することを目的とす
るものである。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) 上記目的を達成するため本発明に係る半導体処理装置は
、所定間隔で配置されウェハを収容するカセットを載置
するキャリア押えを設け、このキャリア押えとウェハ処
理室との間にウェハの搬送装置を設け、上記キャリア押
え部分にウェハの径を検出するセンサを設け、このセン
サの検出信号に基づいて上記キャリア押えの間隔、上記
搬送装置および制御プログラムをそのウェハの径に合わ
せるように制御する制御装置を設けて構成されている。
(作 用) 本発明によれば、制御装置により自動的にウェハの径に
合わせて、キャリア押え、搬送装置等を調整することが
でき、装置を停止させる必要がなく著しく生産性を向上
させることができる。
(実施例) 以下、本発明の実施例を第1図および第2図を参照して
詳細に説明する。
第1図は本発明に係る装置のキャリア部分の一実施例を
示したもので、キャリア押え6の下面には、それぞれ雌
ねじが形成された一対の移動機構7.7が固着されてお
り、各キャリア押え6.6の各移動機構7,7には、ね
じ8,8が螺合されている。このねじ8の一端部には、
このねじ8を回転させるモータ9が接続されており、こ
のモータ9の回転により各キャリア押え6,6の間隔を
調整できるようになされている。また、各キャリア押え
6.6の間には、ウェハ3のサイズを検出するセンサ1
0が配設され、このセンサ10からの検出信号に基づい
て上記モータ9を回転させキャリア押え6を所定の間隔
に移動させる制御装置11が設けられている。
また、第2図は本発明に係る半導体処理装置の一実施例
を示したもので、搬入側カセット4aを載置するキャリ
ア押え6aと、処理室12との間には、平行に配置され
た2本のベルト13.13からなりカセット4aからウ
ェハ3を取出すための搬送ベルト14aおよび先端に載
置板15を有しこの搬送ベルト14aで搬送されるウェ
ハ3を処理室12内に送るパンタグラフ状の搬送機構1
6aがそれぞれ配設されている。また、搬出側カセット
4bを載置するキャリア押え6bと処理室12との間に
も、同様に処理室12から処理済みのウェハ3を搬送す
る搬送機構16bおよびこの搬送機構16bからのウェ
ハ3を搬出側カセット4bに送る搬送ベルト14bが配
設されている。
さらに、図示していないが、上記搬送ベルト14には、
ウェハ3のサイズに合わせて各ベルト13.13の間隔
を調整する装置が設けられ、搬送機構16のウェハ載置
板15には、径の異なるウェハを確実に保持するため谷
径に合わせた段部が形成されている。
本実施例においては、カセット4aをキャリア押え6a
上に載置すると、センサ10によりつ工/%3の径が検
出され、これにより制御装置11によりモータ9を駆動
してキャリア押え6aの間隔を適正に調整する。これと
同時にウェハ3の径に合わせて搬送ベルト14aの間隔
を調整するとともに、ウェハの搬送距離等の制御プログ
ラムも変更する。同様に搬出側カセット4bのキャリア
押え6b、搬送ベルト14bも自動調整される。
そして、搬入側カセット4aのウェハ3を搬送ベルト1
4aにより取出し、搬送機構16aの受取位置でウェハ
3を図示しない昇降装置で上昇させる。このウェハ3の
下側に搬送機構16aの載置板15を移動させ、ウェハ
3を下降させてウェハ3を載置板15上に載せ、搬送機
構16aの駆動により処理室12内に送る。この処理室
12において、ウェハ3のエツチングや薄膜形成等の処
理を行ない、再び搬送機構16bで処理室12からウェ
ハ3を取出して搬送ベルト14bに送り、搬出側カセッ
ト4bに戻す。
したがって、本実施例においては、ウェハの径が異なっ
た場合でも、キャリア押え6や搬送装置14.16の調
整を自動的に行なうことができるので、装置を停止させ
る必要がなぐ生産性および少滴りの向上を図ることが可
能となり、しかも、人手によらないので塵等の発生を防
ぐことができ名。
なお、上記実施例においては、センサによりウェハの径
を直接検出するようにしたが、カセットの大きさをセン
サで検出することにより間接的にウェハの径を検出する
ようにしてもよい。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明に係る半導体処理装置は、キャ
リア押え部分にウェハの径を検出するセンサを設け、こ
のセンサの検出信号に基づいて上記キャリア押えの間隔
、搬送装置および制御プログラムをそのウェハの径に合
わせるように制御する制御装置を設けるようにしたので
、制御装置により自動的にウェハの径に合わせて、キャ
リア押え、搬送装置等を調整することができ、装置を停
止させる必要がなく著しく生産性を向上させることがで
きる。また、人手により調整を行なうものではないため
、塵等の発生を防止することができる等の効果を奏する
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のカセット部分の一実施例を示す斜視図
、第2図は本発明の一実施例を示す概略構成図、第3図
は従来のカセット部分の斜視図である。 3・・・ウェハ、6・・・キャリア押え、10・・・セ
ンサ、11・・・制御装置、12・・・処理室、14・
・・搬送ベルト、16・・・搬送機構。 出願人代理人  佐  藤  −雄 第1図 第2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 所定間隔で配置されウェハを収容するカセットを載置す
    るキャリア押えを設け、このキャリア押えとウェハ処理
    室との間にウェハの搬送装置を設けてなる半導体処理装
    置において、上記キャリア押え部分にウェハの径を検出
    するセンサを設け、このセンサの検出信号に基づいて上
    記キャリア押えの間隔、上記搬送装置および制御プログ
    ラムをそのウェハの径に合わせるように制御する制御装
    置を設けたことを特徴とする半導体処理装置。
JP61278181A 1986-11-21 1986-11-21 半導体処理装置 Pending JPS63131534A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61278181A JPS63131534A (ja) 1986-11-21 1986-11-21 半導体処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61278181A JPS63131534A (ja) 1986-11-21 1986-11-21 半導体処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63131534A true JPS63131534A (ja) 1988-06-03

Family

ID=17593715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61278181A Pending JPS63131534A (ja) 1986-11-21 1986-11-21 半導体処理装置

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JP (1) JPS63131534A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0561109U (ja) * 1992-01-18 1993-08-10 谷電機工業株式会社 マガジンラック収納幅自動調節システム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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