JPS63111508A - クリ−ンル−ムの防塵フイルタ検査装置 - Google Patents
クリ−ンル−ムの防塵フイルタ検査装置Info
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- JPS63111508A JPS63111508A JP61257826A JP25782686A JPS63111508A JP S63111508 A JPS63111508 A JP S63111508A JP 61257826 A JP61257826 A JP 61257826A JP 25782686 A JP25782686 A JP 25782686A JP S63111508 A JPS63111508 A JP S63111508A
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- 239000000428 dust Substances 0.000 claims abstract description 40
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 2
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Landscapes
- Control Of Position, Course, Altitude, Or Attitude Of Moving Bodies (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は、クリーンルームに!2設された防塵フィルタ
の防塵性能を検査する検査装置に関するものである。
の防塵性能を検査する検査装置に関するものである。
(従来の技術〕
半導体装置等の′v1密部品を製造する工場等では部品
に対して塵などの粒子が混入して性能を劣化させないよ
うにするため、天井側に防塵フィルタを敷設し、この防
塵フィルタから常に清浄な空気を吹込んで部屋全体を惟
めで高い清浄度に保ったクリーンルームを設置し、この
クリーンルームで上記のような゛憤密部品を製造してい
る。
に対して塵などの粒子が混入して性能を劣化させないよ
うにするため、天井側に防塵フィルタを敷設し、この防
塵フィルタから常に清浄な空気を吹込んで部屋全体を惟
めで高い清浄度に保ったクリーンルームを設置し、この
クリーンルームで上記のような゛憤密部品を製造してい
る。
ところが、防塵フィルタにピンホールなどの細かい穴が
発生すると、防塵性能が大きく低下するため、部屋全体
の清浄度が保てなくなる。
発生すると、防塵性能が大きく低下するため、部屋全体
の清浄度が保てなくなる。
そこで、従来はクリーンルームの竣工時あるいは定期検
査時に、係員が粒子計測器をクリーンルーム内に持込ん
で、この粒子計測器によって多くの防塵フィルタからの
吐出空気に含まれる粒子数を検査するようにしていた。
査時に、係員が粒子計測器をクリーンルーム内に持込ん
で、この粒子計測器によって多くの防塵フィルタからの
吐出空気に含まれる粒子数を検査するようにしていた。
しかしながら、このような係員による検査作業では、人
体からの発塵もあるため、精度の高い検査結果が得られ
ないうえ、時間がかかると同時に、粒子計測器のプロー
ブを同じ姿勢で保持するのに大きな苦痛を伴うという問
題があった。
体からの発塵もあるため、精度の高い検査結果が得られ
ないうえ、時間がかかると同時に、粒子計測器のプロー
ブを同じ姿勢で保持するのに大きな苦痛を伴うという問
題があった。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、その目
的は防塵フィルタの防塵性能を自動的に高1にで類時間
のうちに検査することができるクリーンルームの防塵フ
ィルタ検査装置を提供することにある。
的は防塵フィルタの防塵性能を自動的に高1にで類時間
のうちに検査することができるクリーンルームの防塵フ
ィルタ検査装置を提供することにある。
本発明は、クリーンルーム内を予め設定された経路に沿
って走行する無人走行車と、この無人走行車に搭載され
、アーム先端に取付けたプローブを走査して指定の防塵
フィルタから空気を吸入するマニピュレータと、前記プ
ローブの外周面の一部に取付けられ、防塵フィルタの取
付枠位賃を検出するセンサと、このセンサで検出した取
付枠位置情報に基づいて検査対象の防塵フィルタの位置
および走査範囲を検出し、当該防塵フィルタ面を前記マ
ニピュレータに走査させる無人走行車搭載のフィルタ位
置探査手段と、無人走行車を1つの防塵フィルタの検査
が終了するたびに次の検査対象の防塵フィルタのINま
で走行させる走行コントローラと、前記プローブから吸
入した空気中に含まれる塵の粒子数を計測する無人走行
車搭載の粒子計測器と、計測された粒子数を防塵フィル
タ別に記憶し、表示装置または印字装置に出力する記憶
装置とから構成したものである。
って走行する無人走行車と、この無人走行車に搭載され
、アーム先端に取付けたプローブを走査して指定の防塵
フィルタから空気を吸入するマニピュレータと、前記プ
ローブの外周面の一部に取付けられ、防塵フィルタの取
付枠位賃を検出するセンサと、このセンサで検出した取
付枠位置情報に基づいて検査対象の防塵フィルタの位置
および走査範囲を検出し、当該防塵フィルタ面を前記マ
ニピュレータに走査させる無人走行車搭載のフィルタ位
置探査手段と、無人走行車を1つの防塵フィルタの検査
が終了するたびに次の検査対象の防塵フィルタのINま
で走行させる走行コントローラと、前記プローブから吸
入した空気中に含まれる塵の粒子数を計測する無人走行
車搭載の粒子計測器と、計測された粒子数を防塵フィル
タ別に記憶し、表示装置または印字装置に出力する記憶
装置とから構成したものである。
〔作用]
無人走行車は防塵フィルタの1枚相当分の距離ずつ予め
設定された経路で走行し、この走行途中で防塵フィルタ
の位置と走査範囲を防塵フィルタ別に検出しながらマニ
ピュレータに取付けたプローブを走査し、防塵フィルタ
からの粒子数を計測する。
設定された経路で走行し、この走行途中で防塵フィルタ
の位置と走査範囲を防塵フィルタ別に検出しながらマニ
ピュレータに取付けたプローブを走査し、防塵フィルタ
からの粒子数を計測する。
〔実施例)
第1図は本発明の一実施例を示すクリーンルームと無人
走行車の斜視図であり、クリーンルーム1の天井には長
方形状の多数の防塵フィルタ2が取付枠3に整然と取付
けられており、この防塵フィルタ2はその下方において
無人走行車4の上部に取付けたマニピュレータ5を走査
することにより、マニピュレータ先端のプローブ6によ
ってその吐出空気が吸入されて塵の粒子数が計測される
。
走行車の斜視図であり、クリーンルーム1の天井には長
方形状の多数の防塵フィルタ2が取付枠3に整然と取付
けられており、この防塵フィルタ2はその下方において
無人走行車4の上部に取付けたマニピュレータ5を走査
することにより、マニピュレータ先端のプローブ6によ
ってその吐出空気が吸入されて塵の粒子数が計測される
。
第2図はマニピュレータ5の拡大図であり、第1アーム
50.第2アーム51.第3アーム52を有し、さらに
第1アーム50および第2アーム51を駆動する第1ア
ームモータ53および第2アームモータ54を有してい
る。第3アーム52は防塵フィルタ面に対して常に垂直
方向になるようにその姿勢が保たれており、この第3ア
ーム52の先端にはプローブ6と、防塵フィルタ面を検
出する上方センサ7と、取付枠3を検出する周囲センサ
8とが取付けられている。上方センサ7および周囲セン
サ8は防塵フィルタ面および取付枠3に接触してその存
在位置を検出するタッチセンサ、あるいは近接スイッチ
等のセンサで構成される。また、第1アーム50を指示
する基台は防lyフィルタ面と平行な面で旋回モータ5
5によって旋回可能に構成されている。
50.第2アーム51.第3アーム52を有し、さらに
第1アーム50および第2アーム51を駆動する第1ア
ームモータ53および第2アームモータ54を有してい
る。第3アーム52は防塵フィルタ面に対して常に垂直
方向になるようにその姿勢が保たれており、この第3ア
ーム52の先端にはプローブ6と、防塵フィルタ面を検
出する上方センサ7と、取付枠3を検出する周囲センサ
8とが取付けられている。上方センサ7および周囲セン
サ8は防塵フィルタ面および取付枠3に接触してその存
在位置を検出するタッチセンサ、あるいは近接スイッチ
等のセンサで構成される。また、第1アーム50を指示
する基台は防lyフィルタ面と平行な面で旋回モータ5
5によって旋回可能に構成されている。
第3図は無人走行車4の走行握溝を車体底面から見た時
の図であり、無駆動の4個のキャスタ40が車体の前後
左右に取付けられており、さらに、モータ41,42に
よって独立に駆動される駆動輪43.44が車体中央の
左右に取付けられ、駆動輪43.44の速度に偏差を持
たせることにより、操舵と旋回が可能なようになってい
る。なお、駆動輪43.44のそれぞれにはエンコーダ
(図示せず)が取付けられ、このエンコーダの出力によ
って走行距離および旋回角度を検出可能なようになって
いる。
の図であり、無駆動の4個のキャスタ40が車体の前後
左右に取付けられており、さらに、モータ41,42に
よって独立に駆動される駆動輪43.44が車体中央の
左右に取付けられ、駆動輪43.44の速度に偏差を持
たせることにより、操舵と旋回が可能なようになってい
る。なお、駆動輪43.44のそれぞれにはエンコーダ
(図示せず)が取付けられ、このエンコーダの出力によ
って走行距離および旋回角度を検出可能なようになって
いる。
第4図は、装置全体の構成を示したブロック図であり、
大別すると、塵の粒子数を計測する計測系と、マニピュ
レータの制御系および無人走行車の走行制御系に区別さ
れるが、計測系はプローブ6からの吸入空気中に含まれ
る塵の粒子数を計測する粒子計測器9と、その計測結果
を防塵フィルタ別に記憶するメモリ10とを備えている
。また、マニピュレータの制御系は、第1アーム50.
第2アーム51.基台の角度θ2.θ3.θ1をそれぞ
れ制御するマニピュレータコントローラ11と、モータ
53.54.55の回転量を指令角度θ2.θ3.θ1
に応じて制御するサーボコントローラ12.13.14
および現在角度を検出するためのエンコーダ15.16
.17とを備えている。
大別すると、塵の粒子数を計測する計測系と、マニピュ
レータの制御系および無人走行車の走行制御系に区別さ
れるが、計測系はプローブ6からの吸入空気中に含まれ
る塵の粒子数を計測する粒子計測器9と、その計測結果
を防塵フィルタ別に記憶するメモリ10とを備えている
。また、マニピュレータの制御系は、第1アーム50.
第2アーム51.基台の角度θ2.θ3.θ1をそれぞ
れ制御するマニピュレータコントローラ11と、モータ
53.54.55の回転量を指令角度θ2.θ3.θ1
に応じて制御するサーボコントローラ12.13.14
および現在角度を検出するためのエンコーダ15.16
.17とを備えている。
一方、走行制御系は無人走行車4を目標位置までの走行
させる走行コントローラ20と、この走行コントローラ
20から出力される右車輪回転角指令および左回転角指
令に応じて左右の駆動輪43.44の回転量を制御しつ
つ走行させる駆動装置21と、無人走行車4を予め定め
た走行路に沿って誘導する誘導装置22とを備えている
。
させる走行コントローラ20と、この走行コントローラ
20から出力される右車輪回転角指令および左回転角指
令に応じて左右の駆動輪43.44の回転量を制御しつ
つ走行させる駆動装置21と、無人走行車4を予め定め
た走行路に沿って誘導する誘導装置22とを備えている
。
走行コントローラ20には、クリーンルーム1の大きさ
、防塵フィルタ2の寸法およびその枚数が既知データと
して予め与えれており、走行開始に伴ってクリーンルー
ム全体の防塵フィルタ2を検査するうえで必要な走行ア
ルゴリズムを内部で発生する。そして、無人走行車4が
指令の防塵フィルタ取付枠の下方の目標停止位置で停止
すると、走行方向に向って左側または右側の防塵フィル
タの検査開始指令をマニピュレータコントローラ11に
与える。これを受けたマニピュレータコントローラ11
は左側および右側の防塵フィルタ2を走査し、プローブ
6によって吐出空気を吸入させ、粒子計測器9に粒子数
を計測させる。
、防塵フィルタ2の寸法およびその枚数が既知データと
して予め与えれており、走行開始に伴ってクリーンルー
ム全体の防塵フィルタ2を検査するうえで必要な走行ア
ルゴリズムを内部で発生する。そして、無人走行車4が
指令の防塵フィルタ取付枠の下方の目標停止位置で停止
すると、走行方向に向って左側または右側の防塵フィル
タの検査開始指令をマニピュレータコントローラ11に
与える。これを受けたマニピュレータコントローラ11
は左側および右側の防塵フィルタ2を走査し、プローブ
6によって吐出空気を吸入させ、粒子計測器9に粒子数
を計測させる。
1つの防塵フィルタ2の計測が終了すると、マニピュレ
ータコントローラ11は検査終了信号を走行コントロー
ラ20に転送する。走行コントローラ20は検査終了信
号を受けて次の目標停止位置まで無人走行車4を走行さ
せる。
ータコントローラ11は検査終了信号を走行コントロー
ラ20に転送する。走行コントローラ20は検査終了信
号を受けて次の目標停止位置まで無人走行車4を走行さ
せる。
第5図(a)は防塵フィルタ取付枠の側面図であり、同
図(b)は防塵フィルタ2の平面図である。
図(b)は防塵フィルタ2の平面図である。
マニピュレータ5は第5図(b)の矢印で示すような方
向で防塵フィルタ2を走査する。この時、無人走行車4
は取付枠3のほぼ中央に停止しており、周囲センサ8に
よって取付枠3を検出した後、フィルタ面を一方の隅か
ら矢印方向に走査させる。
向で防塵フィルタ2を走査する。この時、無人走行車4
は取付枠3のほぼ中央に停止しており、周囲センサ8に
よって取付枠3を検出した後、フィルタ面を一方の隅か
ら矢印方向に走査させる。
第6図は、防塵フィルタ1枚当たりの検査手順を示すフ
ローチャートであり、無人走行車4が停止したならば、
最初に、検査対象となる防塵フィルタの位置と走査範囲
を周囲センサ8によって実測する。これは、無人走行車
4を所定走行路に沿って防塵フィルタの寸法相当分だけ
走行させて新たな検査位置まで誘導したとしても、車輪
のスリップ等があるため、その実際の停止位置は予め定
めた停止位置とずれている場合があり、そのずれた位置
でマニピュレータ5を防塵フィルタの寸法相当分だけ走
査すると未走査部分が光生したりするからである。
ローチャートであり、無人走行車4が停止したならば、
最初に、検査対象となる防塵フィルタの位置と走査範囲
を周囲センサ8によって実測する。これは、無人走行車
4を所定走行路に沿って防塵フィルタの寸法相当分だけ
走行させて新たな検査位置まで誘導したとしても、車輪
のスリップ等があるため、その実際の停止位置は予め定
めた停止位置とずれている場合があり、そのずれた位置
でマニピュレータ5を防塵フィルタの寸法相当分だけ走
査すると未走査部分が光生したりするからである。
次に、防塵フィルタの位置とその走査範囲が判別したな
らばマニピュレータ5を動かしてプローブ6によってフ
ィルタ面を走査させ、吐出空気をプローブ6に吸入させ
、その中に含まれる塵の粒子数を粒子計測器9に計測さ
せる。これによって、1枚の防塵フィルタの検査が終了
する。
らばマニピュレータ5を動かしてプローブ6によってフ
ィルタ面を走査させ、吐出空気をプローブ6に吸入させ
、その中に含まれる塵の粒子数を粒子計測器9に計測さ
せる。これによって、1枚の防塵フィルタの検査が終了
する。
第7図は粒子計測器9の動作を示すフローチャートであ
り、走査開始に先立ってカウント(ダウンカウント)す
るダウンカウンタをリセットする。
り、走査開始に先立ってカウント(ダウンカウント)す
るダウンカウンタをリセットする。
次にプローブ6の操作開始に伴って叩の粒子の計測を開
始し、塵の粒子が検出される毎にダウンカウンタをカウ
ントダウンさせ、予め定めた単位時間が終了したらそれ
までの粒子数のカウント値が設定値を越えているか否か
を判定し、越えているならばその値をメモリ10に防塵
フィルタ番号および現在の走査位置情報(マニピュレー
タのアーム位置)と共に記憶させる。この動作をフィル
タ面がすべて走査されるまで繰返す。従って、1ケ所で
も単位時間当たりの粒子数が設定値を越えたものは、そ
の位置まで確認することが可能である。
始し、塵の粒子が検出される毎にダウンカウンタをカウ
ントダウンさせ、予め定めた単位時間が終了したらそれ
までの粒子数のカウント値が設定値を越えているか否か
を判定し、越えているならばその値をメモリ10に防塵
フィルタ番号および現在の走査位置情報(マニピュレー
タのアーム位置)と共に記憶させる。この動作をフィル
タ面がすべて走査されるまで繰返す。従って、1ケ所で
も単位時間当たりの粒子数が設定値を越えたものは、そ
の位置まで確認することが可能である。
第8図は防塵フィルタの位置とその走査範囲を探査する
方法の説明図であり、無人走行車4は目標停止位置Oを
目積して走行するが、スリップや誘導の誤差によって実
際には点Oからずれた点0′に停止する。そこで、02
点を基準として検査対象の防塵フィルタがどのような位
置にあるかを探査する。具体的には、まず、プローブ6
を取付枠3のX軸方向の辺を探査するための目安位置P
1に移動させ、この位[1ffP1で上方センサ7によ
ってフィルタ面が検出できたならばプローブ6を−y力
方向移動させ、その結果として周囲センサ8が取付枠3
のX軸方向の辺を検出したならばその時の位置P1’
を記憶しておく。次に、プローブ6をX軸方向の目安点
P2に移動させ、位置P1′の検出と同様にしてX軸方
向の辺が存在する位置P2’を検出して記憶しておく。
方法の説明図であり、無人走行車4は目標停止位置Oを
目積して走行するが、スリップや誘導の誤差によって実
際には点Oからずれた点0′に停止する。そこで、02
点を基準として検査対象の防塵フィルタがどのような位
置にあるかを探査する。具体的には、まず、プローブ6
を取付枠3のX軸方向の辺を探査するための目安位置P
1に移動させ、この位[1ffP1で上方センサ7によ
ってフィルタ面が検出できたならばプローブ6を−y力
方向移動させ、その結果として周囲センサ8が取付枠3
のX軸方向の辺を検出したならばその時の位置P1’
を記憶しておく。次に、プローブ6をX軸方向の目安点
P2に移動させ、位置P1′の検出と同様にしてX軸方
向の辺が存在する位置P2’を検出して記憶しておく。
次に位置P1’、P2’の延長方向にプローブ6を移動
させ、X軸方向の辺に交叉するy軸方向の辺の位置P3
を検出し、次いでプローブ6をy軸方向の目安点P4に
移動させ、ここでブロープロを+X方向辷移動させ、y
軸方向の辺が存在する位112P4′を検出する。さら
に、位置P3とP4’の延長方向にプローブ6を移動さ
せ、y軸方向の辺に交叉するもう1つのX軸方向の辺の
位置P5を検出する。 これによって、取付枠3のX軸
方向の辺の方向ベクトルDxを位[Pl ’ とP2’
の座標値から求めることができる。同様にy軸方向の辺
の方向ベクトルDyを位[PSとPSの座標値から求め
ることができる。そして、位tMP3とPSの座標値か
ら防塵フィルタ1枚当たりの取付枠3のy軸方向の実際
の長さ1yを求めることができる。換言すれば、防塵フ
ィルタのy軸方向の外縁部の長さを求めることができる
。
させ、X軸方向の辺に交叉するy軸方向の辺の位置P3
を検出し、次いでプローブ6をy軸方向の目安点P4に
移動させ、ここでブロープロを+X方向辷移動させ、y
軸方向の辺が存在する位112P4′を検出する。さら
に、位置P3とP4’の延長方向にプローブ6を移動さ
せ、y軸方向の辺に交叉するもう1つのX軸方向の辺の
位置P5を検出する。 これによって、取付枠3のX軸
方向の辺の方向ベクトルDxを位[Pl ’ とP2’
の座標値から求めることができる。同様にy軸方向の辺
の方向ベクトルDyを位[PSとPSの座標値から求め
ることができる。そして、位tMP3とPSの座標値か
ら防塵フィルタ1枚当たりの取付枠3のy軸方向の実際
の長さ1yを求めることができる。換言すれば、防塵フ
ィルタのy軸方向の外縁部の長さを求めることができる
。
第9図にこの場合のアルゴリズムをフローチャートで示
している。なお、このフローチャートにおいて、Lxは
取付枠3のX軸方向の幅であり、Lyはy軸方向の幅、
kはフィルタ面の高さ、αは無人走行車の停止精度を考
慮して定めた探査の幅を示すものである。また、例えば
r (0,0゜1)方向にプローブを移動」という場合
の(0゜o、1)とは(x、y、z)軸における位置の
変位量を表わし、(0,0,1>方向に移動とは2方向
に1ステツプだけ上昇させることを意味している。
している。なお、このフローチャートにおいて、Lxは
取付枠3のX軸方向の幅であり、Lyはy軸方向の幅、
kはフィルタ面の高さ、αは無人走行車の停止精度を考
慮して定めた探査の幅を示すものである。また、例えば
r (0,0゜1)方向にプローブを移動」という場合
の(0゜o、1)とは(x、y、z)軸における位置の
変位量を表わし、(0,0,1>方向に移動とは2方向
に1ステツプだけ上昇させることを意味している。
第10図はプローブ6の走査方法を説明するための説明
図であって、前述の取付枠探査によって冑られだ方向ベ
クトル[]x、oyとY軸方向の長さ1yに基づき、位
ti2P5を走査開始点としてプローブ6が矢印のよう
に往復移動される。具体的には、プローブ6を位置P5
から−Dy方向に移動させ、その距離が1yになったら
−Dx方向にIXだけ移動し、今度は+Dy方向に移動
させる。
図であって、前述の取付枠探査によって冑られだ方向ベ
クトル[]x、oyとY軸方向の長さ1yに基づき、位
ti2P5を走査開始点としてプローブ6が矢印のよう
に往復移動される。具体的には、プローブ6を位置P5
から−Dy方向に移動させ、その距離が1yになったら
−Dx方向にIXだけ移動し、今度は+Dy方向に移動
させる。
そして、その移動距離が1yになったら再び−DX方向
に1×だけ移動し、再度−Dy方向に移動させる。これ
を最初に走査したy軸方向の辺と平行な辺が検出される
まで繰返す。
に1×だけ移動し、再度−Dy方向に移動させる。これ
を最初に走査したy軸方向の辺と平行な辺が検出される
まで繰返す。
これによって、フィルタ面がすき間なく走査される。
第11図はこの走査アルゴリズムのフローチャートを示
している。なお、このフローチャートにおいて用いてい
る変数は次のような情報である。
している。なお、このフローチャートにおいて用いてい
る変数は次のような情報である。
■=ニブローブの移動速度
Δt=プローブ6の速度制御時間間隔
Dy’=y軸方向のプローブ移動方向を規定する一時記
憶変数 ps=直線移動の始点 P[l=直線移動の現在地点 I PS PD I =PsからPDtr−17)2[
R[lTIME=時間計測用タイマ値 〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように本R明によれば防塵フィ
ルタの防塵性能を自動的に類時間のうちに検査すること
ができたうえ、実際のフィルタ位置とその走査範囲を実
測してプローブを走査するため、無人走行車の誘導制御
にある程度の誤差があっても未検査部分を残すことなく
完璧に検査することができる。
憶変数 ps=直線移動の始点 P[l=直線移動の現在地点 I PS PD I =PsからPDtr−17)2[
R[lTIME=時間計測用タイマ値 〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように本R明によれば防塵フィ
ルタの防塵性能を自動的に類時間のうちに検査すること
ができたうえ、実際のフィルタ位置とその走査範囲を実
測してプローブを走査するため、無人走行車の誘導制御
にある程度の誤差があっても未検査部分を残すことなく
完璧に検査することができる。
第1図は本発明の一実施例を示すクリーンルームと無人
走行車の斜視図、第2図はマニピュレータの拡大図、第
3図は無人走行車の走行掘構を底面から見た平面図、第
4図は検査装置全体の構成を示すブロック図、第5図は
防塵フィルタの走査方法を説明するための側面図と平面
図、第6図は防塵フィルタ1枚当たりの検査手順を示す
フローチャート、第7図は粒子計測器の動作を示すフロ
ーチャート、第8図はフィルタ取付枠位置の探査方法を
説明するための説明図、第9図は探査方法のアルゴリズ
ムを示すフローチャート、第10図はフィルタ走査方法
を説明するための説明図、第11図はフィルタ走査アル
ゴリズムを示すフローチャートである。 1・・・クリーンルーム、2・・・防塵フィルタ、3・
・・取付枠、4・・・無人走行車、5・・・マニピュレ
ータ、6・・・プローブ、7・・・上方センサ、8・・
・周囲センサ、9・・・粒子計測器、10・・・メモリ
、11・・・マニピュレータコントローラ、20・・・
走行コントローラ。 第2図 第4図 第5図 第8図 P5 第10図
走行車の斜視図、第2図はマニピュレータの拡大図、第
3図は無人走行車の走行掘構を底面から見た平面図、第
4図は検査装置全体の構成を示すブロック図、第5図は
防塵フィルタの走査方法を説明するための側面図と平面
図、第6図は防塵フィルタ1枚当たりの検査手順を示す
フローチャート、第7図は粒子計測器の動作を示すフロ
ーチャート、第8図はフィルタ取付枠位置の探査方法を
説明するための説明図、第9図は探査方法のアルゴリズ
ムを示すフローチャート、第10図はフィルタ走査方法
を説明するための説明図、第11図はフィルタ走査アル
ゴリズムを示すフローチャートである。 1・・・クリーンルーム、2・・・防塵フィルタ、3・
・・取付枠、4・・・無人走行車、5・・・マニピュレ
ータ、6・・・プローブ、7・・・上方センサ、8・・
・周囲センサ、9・・・粒子計測器、10・・・メモリ
、11・・・マニピュレータコントローラ、20・・・
走行コントローラ。 第2図 第4図 第5図 第8図 P5 第10図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 クリーンルームに敷設された複数の防塵フィルタの防塵
性能を検査する装置であって、 クリーンルーム内を予め設定された経路に沿って走行す
る無人走行車と、 この無人走行車に搭載され、アーム先端に取付けたプロ
ーブを走査して指定の防塵フィルタから空気を吸入する
マニピュレータと、 前記プローブの外周面の一部に取付けられ、防塵フィル
タの取付枠位置を検出するセンサと、このセンサで検出
した取付枠位置情報に基づいて検査対象の防塵フィルタ
の位置および走査範囲を検出し、当該防塵フィルタ面を
前記マニピュレータに走査させる無人走行車搭載のフィ
ルタ位置探査手段と、 無人走行車を1つの防塵フィルタの検査が終了するたび
に次の検査対象の防塵フィルタの位置まで走行させる走
行コントローラと、 前記プローブから吸入した空気中に含まれる塵の粒子数
を計測する無人走行車搭載の粒子計測器と、 計測された粒子数を防塵フィルタ別に記憶し、表示装置
または印字装置に出力する記憶装置とを備えて成るクリ
ーンルームの防塵フィルタ検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61257826A JPS63111508A (ja) | 1986-10-29 | 1986-10-29 | クリ−ンル−ムの防塵フイルタ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61257826A JPS63111508A (ja) | 1986-10-29 | 1986-10-29 | クリ−ンル−ムの防塵フイルタ検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63111508A true JPS63111508A (ja) | 1988-05-16 |
Family
ID=17311662
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61257826A Pending JPS63111508A (ja) | 1986-10-29 | 1986-10-29 | クリ−ンル−ムの防塵フイルタ検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63111508A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7252304B2 (en) * | 2005-02-25 | 2007-08-07 | Bam | Positioning vehicle for positioning a test probe |
-
1986
- 1986-10-29 JP JP61257826A patent/JPS63111508A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7252304B2 (en) * | 2005-02-25 | 2007-08-07 | Bam | Positioning vehicle for positioning a test probe |
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