JPS63109162A - イオンプレ−テイング方法とその装置 - Google Patents
イオンプレ−テイング方法とその装置Info
- Publication number
- JPS63109162A JPS63109162A JP25314486A JP25314486A JPS63109162A JP S63109162 A JPS63109162 A JP S63109162A JP 25314486 A JP25314486 A JP 25314486A JP 25314486 A JP25314486 A JP 25314486A JP S63109162 A JPS63109162 A JP S63109162A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- evaporation source
- base plate
- ion plating
- vapor
- deposited
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims abstract description 31
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims abstract description 30
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 9
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 22
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 239000010409 thin film Substances 0.000 abstract description 13
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 abstract description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 abstract description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 abstract description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 abstract description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 abstract description 2
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 abstract description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 abstract 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 abstract 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 abstract 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 TIO2 Substances 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
この発明は、高性能イオンプレーティング方法とその装
置に関するものである。さらに詳しくは、この発明は、
高周波励起イオンプレーティングにおいて蒸発粒子のイ
オン化を増大さぜ、高品質の薄膜を効率的に製造するた
めの改良された高性能イオンプレーティング方法とその
装置に関する。
置に関するものである。さらに詳しくは、この発明は、
高周波励起イオンプレーティングにおいて蒸発粒子のイ
オン化を増大さぜ、高品質の薄膜を効率的に製造するた
めの改良された高性能イオンプレーティング方法とその
装置に関する。
(背景技術)
金属、ガラス、セラミックス、プラスチック等の基板の
表面に、金属、41!!機物、あるいは有機ポリ、マー
などのX着薄膜を形成し、絶縁膜、光学膜。
表面に、金属、41!!機物、あるいは有機ポリ、マー
などのX着薄膜を形成し、絶縁膜、光学膜。
表示素子、電子デバイスなどに用いることはこれまでに
も広く行われてきている。そのための形成方法として、
真空蒸着、スパッタリング、CVDなどと共に、イオン
プレーティング方法が知られてもいる。
も広く行われてきている。そのための形成方法として、
真空蒸着、スパッタリング、CVDなどと共に、イオン
プレーティング方法が知られてもいる。
このイオンプレーティングの方法としては、ホロカソー
ド型のものと、高周波励起型のものがあるが、生成する
薄膜の基板への密着強度、薄膜の品質とその均一性にお
いて、後者の高周波励起方式によるイオンプレーティン
グは優れたものであリ、すでに様々な用途の薄膜製造に
実用化されている。
ド型のものと、高周波励起型のものがあるが、生成する
薄膜の基板への密着強度、薄膜の品質とその均一性にお
いて、後者の高周波励起方式によるイオンプレーティン
グは優れたものであリ、すでに様々な用途の薄膜製造に
実用化されている。
しかしながら、この高周波励起方式によるイオンプレー
ティングは、その優れた特徴にもかかわらず、R膜の生
成効率の点で改善すべき課題を有している。特に、薄膜
の生成効率については、薄膜生成時のイオン化率を向上
させることが、この高周波励起イオンプレーティングに
とって大きな課題であった。
ティングは、その優れた特徴にもかかわらず、R膜の生
成効率の点で改善すべき課題を有している。特に、薄膜
の生成効率については、薄膜生成時のイオン化率を向上
させることが、この高周波励起イオンプレーティングに
とって大きな課題であった。
(発明の目的)
この発明は、以上のような事情を鑑みてなされたもので
あり、従来法の弱点を克服したイオン化率、薄膜生成速
度がともに大きく、しかも高周波励起による優れた特長
を合わせ持った改良された高周波励起高性能イオンプレ
ーティング方法とそのための装置を提供することを目的
としている。
あり、従来法の弱点を克服したイオン化率、薄膜生成速
度がともに大きく、しかも高周波励起による優れた特長
を合わせ持った改良された高周波励起高性能イオンプレ
ーティング方法とそのための装置を提供することを目的
としている。
(発明の開示)
この発明は、上記目的を実現するために、高周波励起に
よるイオンプレーティング方法において、蒸発源と基板
との間に複数の高周波励起手段を設け、蒸発源近傍に位
置する励起手段と蒸発源とを覆うようにシールドを設け
て蒸発粒子のイオン化を増大させることを特徴としてい
る。
よるイオンプレーティング方法において、蒸発源と基板
との間に複数の高周波励起手段を設け、蒸発源近傍に位
置する励起手段と蒸発源とを覆うようにシールドを設け
て蒸発粒子のイオン化を増大させることを特徴としてい
る。
また、この発明のイオンプレーティング装置は、このた
め、蒸発源と基板との間の空間に複数の高周波励起手段
を設け、蒸発源近傍の励起手段と蒸発源とをシールドに
よって覆い、蒸発粒子のイオン化を増大させるようにし
たことを特徴としている。
め、蒸発源と基板との間の空間に複数の高周波励起手段
を設け、蒸発源近傍の励起手段と蒸発源とをシールドに
よって覆い、蒸発粒子のイオン化を増大させるようにし
たことを特徴としている。
この発明の方法および装置に関して特に重要なことは、
従来の高周波励起イオンプレーティングにおいても導入
ガスのイオン化は極めて効率よく行うことができるが、
この発明によってさらに、蒸発源物質の蒸発よって生成
した蒸発粒子のイオン化が増大されることにある。真空
室内に設ける高周波励起手段、たとえばコイルと、蒸発
源とをシールドすることは、そのための方策である。
従来の高周波励起イオンプレーティングにおいても導入
ガスのイオン化は極めて効率よく行うことができるが、
この発明によってさらに、蒸発源物質の蒸発よって生成
した蒸発粒子のイオン化が増大されることにある。真空
室内に設ける高周波励起手段、たとえばコイルと、蒸発
源とをシールドすることは、そのための方策である。
添附した図面に沿ってさらに詳しくこの発明を説明する
。
。
第1図は、この発明の方法と装置の例を示した概念図で
ある。
ある。
真空室(1)はベルジャ(2)によって形成されている
。ベルジャ(2)には、真空排気系(3)、ガス導入系
(4)を設けている。ベルジャ(2)内には、蒸発源(
5)を設けている。この蒸発源(5)については、抵抗
加熱、高周波誘導加熱。
。ベルジャ(2)には、真空排気系(3)、ガス導入系
(4)を設けている。ベルジャ(2)内には、蒸発源(
5)を設けている。この蒸発源(5)については、抵抗
加熱、高周波誘導加熱。
電子ビーム、イオンビーム等の適宜な手段によって蒸発
源物質を蒸発させるようにする。蒸発ハースおよび手段
にも限定はない、蒸発源は複数であってもよい。
源物質を蒸発させるようにする。蒸発ハースおよび手段
にも限定はない、蒸発源は複数であってもよい。
またベルジャ(2)内には、基板(6)とそれを保持す
るホルダー(7)を設ける。この場合、基板(6)には
、電界を印加することができるようにしてもよい、さら
に基板(6)の加熱手段を設けてもよいし、また、基板
をyi続的にベルジャ(2)内に導入し、かつ外部へ連
続的に1股出できるようにしている。
るホルダー(7)を設ける。この場合、基板(6)には
、電界を印加することができるようにしてもよい、さら
に基板(6)の加熱手段を設けてもよいし、また、基板
をyi続的にベルジャ(2)内に導入し、かつ外部へ連
続的に1股出できるようにしている。
この発明においては、以上のほかに、ベルジャ(2)内
に、高周波励起手段を複数設ける。第1図の一次コイル
(8)と二次コイル(9)とがこの手段に該当する。励
起手段は、この例のように2個に限定されるものではな
い。
に、高周波励起手段を複数設ける。第1図の一次コイル
(8)と二次コイル(9)とがこの手段に該当する。励
起手段は、この例のように2個に限定されるものではな
い。
この励起手段のうち、蒸発源近傍のもの、第1図の場合
には二次コイル(9)の上から、蒸発源(5)をも覆う
ように、シールド(10)を設ける。
には二次コイル(9)の上から、蒸発源(5)をも覆う
ように、シールド(10)を設ける。
このシールド(10)は、プラズマ放電の担い手である
二次電子の増殖を促すものであり、多くの二次電子を高
周波励起手段、第1図の二次コイル(9)によって十分
に作用させ、蒸発粒子の散逸を防ぎ、そのイオン化を増
大させる。
二次電子の増殖を促すものであり、多くの二次電子を高
周波励起手段、第1図の二次コイル(9)によって十分
に作用させ、蒸発粒子の散逸を防ぎ、そのイオン化を増
大させる。
シールド(10)は、円筒形、角筒形、その他いずれの
形状でもよく、板体あるいはメツシュ状の網状体によっ
て形成してもよい、また誘電性の材料によって形成して
もよいし、水冷手段を備えていてもよい。
形状でもよく、板体あるいはメツシュ状の網状体によっ
て形成してもよい、また誘電性の材料によって形成して
もよいし、水冷手段を備えていてもよい。
もちろん、高周波励起手段は、第1図に示したようなコ
イルに限定されるものではない、様々な形状のコイル、
あるいはプローブであってもよい。
イルに限定されるものではない、様々な形状のコイル、
あるいはプローブであってもよい。
励起手段の放電のための高周波電源は、複数の励起手段
について別のものとしてもよいし、あるいは同一の1個
のものを用いてもよい。同一のものであっても、同調し
て放電しないということはない。
について別のものとしてもよいし、あるいは同一の1個
のものを用いてもよい。同一のものであっても、同調し
て放電しないということはない。
イオンプレーティングの繰作条件は、これまでに普通に
採用されている範囲とすることができる。
採用されている範囲とすることができる。
たとえば、真空室内のガス圧はlXl0’〜1×10
’Torr、基板温度は常温〜300℃、放電電力10
0〜500Wなどの条件とすることができる。薄膜形成
材料も広い範囲のものを用いることができる。Ti、A
I、Zn、Snなどの金属、その化合物、あるいはポリ
マーなどを用いることができる。
’Torr、基板温度は常温〜300℃、放電電力10
0〜500Wなどの条件とすることができる。薄膜形成
材料も広い範囲のものを用いることができる。Ti、A
I、Zn、Snなどの金属、その化合物、あるいはポリ
マーなどを用いることができる。
反応系へは、アルゴン、水素、窒素、酸素、炭化水素な
どの不活性ガス、反応性ガスの適宜なものを1種または
28以上の混合で導入することができる。もちろんガス
を導入しなくともよい。
どの不活性ガス、反応性ガスの適宜なものを1種または
28以上の混合で導入することができる。もちろんガス
を導入しなくともよい。
この発明の方法、および装置による場合には、たとえば
、T I O2、T iNなどの反応性薄膜の形成の場
合にも、通常の繰作条件下において、薄膜の生成速度は
従来の盲周洩励起イオンプレーティングに比べて1,5
〜5倍も増大する。蒸発粒子のイオン化率は、従来の数
倍に増大している。
、T I O2、T iNなどの反応性薄膜の形成の場
合にも、通常の繰作条件下において、薄膜の生成速度は
従来の盲周洩励起イオンプレーティングに比べて1,5
〜5倍も増大する。蒸発粒子のイオン化率は、従来の数
倍に増大している。
シールドによる二次電子の増殖とその作用向上が大きく
寄り、している。
寄り、している。
(発明の効果)
この発明は、以上のように、薄膜生成速度の向上と、か
つ優れた均一品質の薄膜形成を実現するものである。高
周波励起イオンプレーティングの特徴を最大限に生かし
、しかも生産性に優れたプロセスと装置を実現する。
つ優れた均一品質の薄膜形成を実現するものである。高
周波励起イオンプレーティングの特徴を最大限に生かし
、しかも生産性に優れたプロセスと装置を実現する。
第1図は、この発明の方法と装置の一例を示した概念図
である。 図中の番号は次のものを示している。 1・・・真空室、2・・・ベルジャ、3・・・真空排気
系、4・・・ガス導入系、5・・・蒸発源、6・・・基
板、7・・・ホルダー、8・・・−次コイル、9・・・
二次コイル、10・・・シールド。
である。 図中の番号は次のものを示している。 1・・・真空室、2・・・ベルジャ、3・・・真空排気
系、4・・・ガス導入系、5・・・蒸発源、6・・・基
板、7・・・ホルダー、8・・・−次コイル、9・・・
二次コイル、10・・・シールド。
Claims (1)
- (1)高周波励起によるイオンプレーティング方法にお
いて、蒸発源と基板との間に複数の高周波励起手段を設
け、蒸発源近傍の励起手段と蒸発源とを覆うようにシー
ルドを設けて蒸発粒子のイオン化を増大させることを特
徴とする高性能イオンプレーティング方法。(2)高周
波励起イオンプレーティング装置において、蒸発源と基
板との間の空間に複数の高周波励起手段を設け、蒸発源
近傍の励起手段と蒸発源とをシールドによって覆い、蒸
発粒子のイオン化を増大させるようにしたことを特徴と
するイオンプレーティング装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25314486A JPS63109162A (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | イオンプレ−テイング方法とその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25314486A JPS63109162A (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | イオンプレ−テイング方法とその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63109162A true JPS63109162A (ja) | 1988-05-13 |
JPH0445580B2 JPH0445580B2 (ja) | 1992-07-27 |
Family
ID=17247127
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25314486A Granted JPS63109162A (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | イオンプレ−テイング方法とその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63109162A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003012160A1 (fr) * | 2001-07-31 | 2003-02-13 | Asahi Optronics, Ltd. | Systeme de galvanoplastie haute frequence par depot par evaporation sous vide |
EP1325969A2 (en) * | 2001-12-17 | 2003-07-09 | Shinmaywa Industries, Ltd. | Ion plating method and system for forming a wiring on a semiconductor device |
WO2016198394A1 (en) * | 2015-06-08 | 2016-12-15 | Te Connectivity Germany Gmbh | Electrical contact element and method for altering mechanical and/or electrical properties of at least one area of such |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3717575B2 (ja) * | 1996-02-08 | 2005-11-16 | 株式会社リコー | 薄膜形成装置 |
JP3717579B2 (ja) * | 1996-02-23 | 2005-11-16 | 株式会社リコー | 巻き取り式成膜装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5084472A (ja) * | 1973-11-30 | 1975-07-08 | ||
JPS5311175A (en) * | 1976-07-19 | 1978-02-01 | Ulvac Corp | High frequency ion plating apparatus |
-
1986
- 1986-10-24 JP JP25314486A patent/JPS63109162A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5084472A (ja) * | 1973-11-30 | 1975-07-08 | ||
JPS5311175A (en) * | 1976-07-19 | 1978-02-01 | Ulvac Corp | High frequency ion plating apparatus |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003012160A1 (fr) * | 2001-07-31 | 2003-02-13 | Asahi Optronics, Ltd. | Systeme de galvanoplastie haute frequence par depot par evaporation sous vide |
EP1325969A2 (en) * | 2001-12-17 | 2003-07-09 | Shinmaywa Industries, Ltd. | Ion plating method and system for forming a wiring on a semiconductor device |
EP1325969A3 (en) * | 2001-12-17 | 2003-08-06 | Shinmaywa Industries, Ltd. | Ion plating method and system for forming a wiring on a semiconductor device |
WO2016198394A1 (en) * | 2015-06-08 | 2016-12-15 | Te Connectivity Germany Gmbh | Electrical contact element and method for altering mechanical and/or electrical properties of at least one area of such |
US10777912B2 (en) | 2015-06-08 | 2020-09-15 | Te Connectivity Germany Gmbh | Electrical contact element and method for altering mechanical and/or electrical properties of at least one area of such |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0445580B2 (ja) | 1992-07-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0428358B1 (en) | Geometries and configurations for magnetron sputtering apparatus | |
JPS63210275A (ja) | プラズマ反応装置内を清浄にする方法 | |
US4224897A (en) | Methods of depositing materials on substrates | |
JPH0660412B2 (ja) | 薄膜形成法 | |
Xu et al. | Characterization of CNx films prepared by twinned ECR plasma source enhanced DC magnetron sputtering | |
JP2003041371A (ja) | 電子サイクロトロン共鳴を利用した常温化学蒸着システム及びこれを利用した複合金属膜の製造方法 | |
JPS63109162A (ja) | イオンプレ−テイング方法とその装置 | |
US5631050A (en) | Process of depositing thin film coatings | |
JPS63121667A (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPH03122266A (ja) | 窒化物薄膜の製造方法 | |
JPS644591B2 (ja) | ||
JPS5935092A (ja) | ダイヤモンドの気相合成法 | |
US4966095A (en) | Apparatus for forming a thin film | |
JPH0417669A (ja) | プラズマを用いた成膜方法およびrfイオンプレーティング装置 | |
JP2617539B2 (ja) | 立方晶窒化ほう素膜の製造装置 | |
JP3100403B2 (ja) | 高周波励起イオンプレーティング装置 | |
JPH02157123A (ja) | チタン酸バリウム薄膜の製造方法 | |
JPH01246357A (ja) | 立方晶窒化ホウ素膜の製造方法 | |
JPH02214701A (ja) | プラズマ重合反応装置 | |
JP2951564B2 (ja) | 薄膜形成方法 | |
JPH06158274A (ja) | 表面波素子とその製造方法 | |
JP2687468B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JPS63213664A (ja) | イオンプレ−テイング装置 | |
JPH05320895A (ja) | ダイアモンド薄膜の形成装置および形成方法 | |
JPH06184734A (ja) | 透明導電性薄膜の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |