JPS6293964A - Ｉｃ検査用ソケツト - Google Patents

Ｉｃ検査用ソケツト

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JPS6293964A
JPS6293964A JP60235054A JP23505485A JPS6293964A JP S6293964 A JPS6293964 A JP S6293964A JP 60235054 A JP60235054 A JP 60235054A JP 23505485 A JP23505485 A JP 23505485A JP S6293964 A JPS6293964 A JP S6293964A
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Masami Fukunaga
正美 福永
Tomoyoshi Yamaguchi
山口　智義
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Dai Ichi Seiko Co Ltd
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00—Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02—Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1007—Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets with means for increasing contact pressure at the end of engagement of coupling parts

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野］ 本発明は、Ｉｃの検査測定に用いるＩＣ検査用ソケット
に関する。
〔従来の技術〕
近年、ＩＣの生産量は増大しており、いかにして多くの
ＩＣを迅速に検査するかが問題となっている。
従来よりこのＩＣを検査測定する装置として、Ｉｃ検査
用ソケットが用いられている。
−Ｓに、このＩＣ検査用ソケットのうち、例えば、Ｉｃ
バ、・ケージのリード・端子がＩＣパノノ＞−−ジの側
方で外部回路と接Ｆとするように配設されているフラッ
トタイプのものに用いるＩＣＩ！ｉ！査用ソケノトは、
前記リード端子と接続するコンタクトピンを内部に配置
したソケット本体と、咳ソケ。
ト本体に載置されるＩｃパッケージを押圧してリード端
子とコンタクトピンとの接触を保持する蓋体とから構成
されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかるに、上記構成のＩｃ検査用ソケットは、蓋体に加
えて、該蓋体の四ツク機構（実開昭６０−８１６５１１
号公報参照）を必要としている。
このため、ＩＣパッケージの大きさに対し、ソケット全
体が大きくなり、例えば恒温槽にＩＣ検査用ソケットを
入れて検査する場合、多くのＩＣ検査用ソケットを入れ
ることができず、多数のＩＣを一度に検査できないとい
う欠点があった。
また、ＩＣパッケージをソケット本体に着脱する場合、
着脱する度毎に上記蓋体の開閉作業とロック機構のロッ
ク及び解除作業をしなければならず、その作業が面倒と
なっていた。更に、ソケット自体の製造においても、蓋
体のロック機構のソケット本体への取り付は作業等が煩
雑となっていた。加えて、コンタクトピンがリード端子
の下面に一箇所で接触するようになっているので、多数
のコンタクトピンが全てのリード端子に均一に接触する
ということが必ずしも保証されず、接触抵抗が高い部分
を生してしまう場合もあるという欠点があった。
本発明の口約は、上記した問題点に泪み、ソケット全体
を小型にすることができるとともに、ＩＣパッケージの
ソケット本体への着脱作業が容易であり、また、ソケッ
トの成形１組立が簡単で、しかもＩＣパッケージのリー
ド・端子とコンタクトピンの接触を確実にした接触抵抗
の小さいＩＣ検査用ソケットを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕本発明のＩｃ
検査用ソケ・７トは、リード端子の折曲部を確実に挾持
して接触を良くすると共に、Ｉｃパッケージをソケット
本体に確実に係止せしめるような一対の挟持片で各コン
タクトピンを形成してなるものである。
これにより、コンタクトピンとＩＣパッケージのリード
端子の接触は確実となると共に、ＩＣパッケージを押さ
える蓋体と該蓋体のロック機構は不要となり、従って、
蓋体、ロック機構の開閉作業や製造工程に置いての取付
作業等をすることなく、多数のＩＣを同時かつ迅速に検
査することができる。
〔実施例〕
以下、第１図乃至第５図に示した一実施例に基づいて本
発明のＩＣ検査用ソケットを説明する。
第１図はＩＣパッケージを装着した状態を示すＩＣ検査
用ソケットの縦断面図、第２図はＩＣ検査用ソケットの
平面図、第３図はコンタクトピンの拡大斜視図、第４図
は解除体の斜視図である。
図中、１は略箱状に形成されたソケット本体であって、
該本体１の内部には、左右に列設されていて夫々の内部
に後述のコンタクトピンが配置される凹部１ｄと、中央
に突出形成された壁状の突部１ａと、後述する解除体の
上下動をガイドするよう垂設されたガイド孔１ｂとが設
けられ、該本体ｌの前側面及び後側面には、解除体がソ
ケット本体１から難脱しないように係合する四角形の突
起ＩＣが形成されている。
２は板材の打ら抜き加工により成形されたコンタクトピ
ンであって、上記ソケット本体ｌの凹部１ｄの内底面に
配置される基部２ａと、該基部２ａから下方向に垂設さ
れ、上記ソケット本体ｌの下面から突出する端子部２ｂ
と、前記基部２ａから斜め上方に突出形成され、ＩＣパ
ッケージ４のリード端子４ａを挾持しつつＩＣパッケー
ジ４をソケット本体１に係止せしめる一対の挟持片２ｃ
。
２ｄ等が設けられている。
この−月の１火持片２ｃ、２ｄは、第３図で詳細に示さ
れているように上記リード端子４ａを先端で挾持するよ
う夫々が左右方向に撓みうるようになっているとともに
、リード端子の形状に対応して、一方の挟持片２Ｃの先
端には斜めのカント部２Ｃ’が、また、他方の挟持片２
ｄの先端には半円形状のフック２ｄ’が設けられている
。
又、２Ｃ″は上記一方の挟持片２Ｃの略中央外側方に設
けられた弾発力発生用の突出部であり、上記ソｒ７・ト
本体ｌの突部１ａの側ｉＴｉに当接し７て、上記力／［
一部２Ｃ’をリード端子４ａに弾性的に圧接し５める作
用をなす。さらに２ｄ″は一上記他方の挟持片２（ｊ′
の略中央外側方に設けられた挟持屑除用の受爪であり、
下方向の力が上面乙こ加わると反発力が生じるよう形成
されている。
３は一１ニジ己コンタクトビン２に１夾持されたＩＣパ
ッケージ４のリード端子４ａの挟持を解除する附勢性合
成樹脂で形成された解除体であって、上記ソケット本体
１のガイド孔１ｂに対応して、この場合左右夫々に４本
ずつ列設され、−に記挟持片２ｄ′の受爪２ｄ″を押動
する押動片３ａ“と、該各４木の押動片３ａ″が同時に
動くよう一体に形成された押動部３ａと、該人台の押動
部３ａ、３ａをＦＤ　涜する連結部３ｂとからなってい
る。
この連結部３ｂは、弾性を有する例えばステンレス板等
を素材としており、前後に垂設されたコの字状の保持部
３ｂ′、３ｂ’が上記ソケット本体１の突起１ｃと嵌合
して、解除体３をソケット本体ｌから離脱させないよう
になっていると共に、ソケット本体ｌ・＼の着脱も容易
どなっている。なお、４ユ記解除部材３己、１、Ｘｉポ
リマー、ＰＥＳ等耐等外熱性５係故及びクリープ′１＋
ｆ性（、こ優ねた材＋１を素子オとして全体全一体成形
することも可能である。
次に上記したＩＣ検査用ソ’７’　！）の作用乙こつい
て説明する。
本発明による’　Ｃ検ｉ”Ｅ用ソケノト二よ１−述の如
く構成されているかぁＩＣを装青する場ａ、まず、解除
体３を下方に押・助すり、ば、押動片３ａ″がガイド孔
１ｂに沿ってＪＪｏ玉し、その尤・瑞斜Ｉｈｉの受爪２
ｄ″の上側斜面への押−工作用により、挟持ｌ′１２ｄ
が第１図一点鎖線図示の如くソ！ｒ　））本体１の側壁
側に撓ませられ、挾持片２Ｃのカッ１一部２Ｃ’と挾持
片２ｄバフク部２ｄ’との間が開かれる。
そこで、ＩＣＣソノージ１１ヲ−Ｌ方から下降せし２め
てそのリード端子４ａをカット部：２ｃ　とフック部２
ｄ’との間に挿入し、続いて解除体３に灯する押圧を解
除すれば、挟持片２ｄは自らの弾力により解除体３を押
し上げつつ、第１図実線図示の如く、突部１ａ側に戻り
、カット部２　Ｃ’とフ。
りΔＢ２ｄ’とによりリード端子４ａを挾持し、且つフ
ック部２ｄ’により該リード端子４ａを押え、ＩＣパッ
ケージ４を係止する。
又、ＩＣバ、ケージ４を離脱せしめる場合は上記と同様
に解除体３を押圧すれば一方の挾持片２Ｃのカット部２
ｃ’と他方の挟持片２ｄのフック部２ｄ’との間が開か
れるので、ＩＣパッケージ４を上界せしめてそのリード
端子４ａをカット部２Ｃとフック部２ｄ’との間から抜
き取り、その後、解除体３に対する押圧を解除してやれ
ば良い。
かくして、本発明１ｃ検査用ソゲ７　ｌ□に対するＩＣ
パッケージ４の着脱が行われるが、本発明ＩＣ検査用ソ
ケットは、コンタクトビン２自身がＩＣパッケージの保
持機能を有していて、ＩＣパッケージ４を押えるための
蓋体や該蓋体のロック機構等が不要となるので、ソケッ
ト全体の容積が小さくて済み、その結果、例えば恒温槽
等の一定の占有スペースにおいて多数のＩｃパッケージ
４を一度に検査することができる。又、Ｉｃパッケージ
４の着脱は、解除体３の押ＩＦ支び押１］゛解除だけで
行えるので、該着脱作災が極めて容易である。
又、一方の挟持片２ｄのフック部２ｄ’がＩＣパッケー
ジ４のリート′端一？　４　ａに対して挟持作用のみな
らず係止作用も発揮するので、ｌ　Ｃパッケージ４の装
若が確実に行われると共に、解除体３により一方の挟持
片２ｄを積極的に！８′！ませて斜めカット部２Ｃ’と
フック部２ｄ′との間を開くようにしているのでＩＣバ
フ・ケージの離脱も簡「１に行われうる。又、、ｌＣバ
ノリ・−ン４のリード・端子４ａとコンタクトビン２と
の接触が一幻の挟持片２ｃ、２ｔｉによる挟持により両
面接触となるので、接触抵抗が小さいという利点がある
。又、コンタクトビン２が打ち抜き加工により形成され
、Ｒつソノ丁、７ト本体１の突部１ａにより−ｒ、１の
挟持片２ｃ、２ｄをその板面方向？、こ（）だよ−Ｕつ
つ、ソケット本体に固定することによってハネ性を（電
！与するようにしているので、コンタク１−ビン２の１
ｌｆｊび方向の幅（仮べ）が狭くても（例えば０２〜０
．３１ｍ　）所要のハネ圧が（１られ、その拮果挟いリ
−１′ピノ千のＩＣの検査測定にも使用可能である。
ｒ発明の効果〕 上述の如く、本発明によるｒｃ検査用ソケ、トによれば
、一定の占有スペースにおいて多数のＩＣを一度に検査
することができ、しかも、ＩＣパッケージ着脱作業が容
易であり、又ＩＣパッケージのリード端子とコンタクト
ビンとの接触抵抗が小さく、狭いリードピンチのＩＣの
検査測定にも使用可能である等の利点を存する。
【図面の簡単な説明】
第１図乃至第４図は本発明によるＩＣ検査用ソケットの
一実施例を示し、第１図はＩＣパンケージを装着した状
態を示すｒｃ検査用ソケットの縦断面図、第２図は［Ｃ
ＩＱ査用ソケットの平面図、第３図はコンタクトビンの
拡大斜視図、第４図は解除体の斜視図である。 １・・・・ソケット本体、１ａ・・・・突部、１ｂ・・
・・ガイド孔、ｌｃ・・・・突起、２・・・・コンタク
トビン、２ａ・・・・基部、２ｂ・・・・端子部、２Ｃ
・・・・一方の挾持片、２ｄ・・・・他方の挟持片、３
　、、、、解除体、３ａ・・・・押動部、３ｂ・・・・
連結部、４・・・・ＩＣパッケージ、４ａ００．、リー
ド端子。 １鴎− に ？３図 才４図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. （１）ＩＣパッケージを載置するためのソケット本体と
    、該ソケット本体内に配置されていて上記ＩＣパッケー
    ジから突出したリード端子を挾持してＩＣパッケージを
    ソケット本体に係止せしめる一対の挟持片を有するコン
    タクトピンと、上下動するように上記ソケット本体に装
    着されていて下方向へ押動された時に上記コンタクトピ
    ンの挾持片を撓ませて上記リード端子の挟持を解除する
    押動片を備えた解除体とからなることを特徴とするＩＣ
    検査用ソケット。
  2. （２）上記コンタクトピンの挟持片は上記リード端子に
    弾発的に当接するように上記ソケット本体内に配置され
    、一方の挾持片には上記弾発力を生ぜしめるように該挾
    持片を偏倚させる上記ソケット本体の壁面と当接する突
    起が設けられており、他方の挾持片には上記解除部材の
    押動片により押動されて該挾持片を撓ませるための受爪
    が設けられていることを特徴とする特許請求の範囲第１
    項に記載のＩＣ検査用ソケット。
  3. （３）上記他方の挾持片は先端がフック状に形成されて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第２項に記載のＩ
    Ｃ検査用ソケット。
JP60235054A 1985-10-21 1985-10-21 Ｉｃ検査用ソケツト Granted JPS6293964A (ja)

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