KR0142706B1 - 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓 - Google Patents

Abstract

본 발명은 반도체소자를 수작업으로 검사할 경우 반도체소자가 손쉽게 메뉴얼소켓에 탈착될 수 있게 하여 리드휨 등 반도체소자의 손상을 방지할 수 있도록 함과 동시에 작업성을 향상시킨 것이다.

이를 위해, 본 발명은 반도체소자(1)가 회로기판(6)에 대해 수직방향으로 세워져 삽입되도록 삽입홈(4)이 형성된 전방프레임(5)과, 상기 전방프레임(5)의 소자 삽입측 반대쪽으로 소켓리드(7)가 인출된 후방프레임(9)과, 상기 반도체소자(1)의 검사 종료 후 반도체소자(1)가 소켓(9) 전방으로 탈거되도록 후방프레임(8)에 탄력설치되는 푸셔(10)로 구성되어 반도체소자(1) 장착면이 수평면에 대해 수직한 방향을 향하도록 회로기판(6)에 설치되는 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓이다.

Description

반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓

제1도는 일반적인 SOP형 반도체소자를 나타낸 사시도

제2도는 종래의 반도체소자 검사용 메뉴얼소켓을 나타낸 요부 종단면도로서, (a)는 상부 프레임에 누름력이 가해졌을 때의 상태도

(b)는 상부 프레임에 가한 누름력을 제거한 후의 상태도

제3도는 본 발명의 회로기판에 장착된 상태를 나타낸 사시도

제4도는 제3도의 소켓이 결합되는 상태를 나타낸 횡단면도

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1:반도체소자 4:삽입홈

5:전방프레임 6:회로기판

7:소켓리드 8:후방프레임

9:소켓 10:푸셔

11:스톱퍼

본 발명은 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓에 관한 것으로서, 더욱 상세게는 SOP형 반도체소자를 수작업에 의한 전기적 특성 검사시 리드휨 등의 손상없이 메뉴얼소켓에 손쉽게 착탈 및 정렬시킬 수 있도록 한 것이다.

종래에는 SOP(Small Outine Package)형 또는 SSOP(Shrink Small Outline Package)형 반도체소자(이하, ‘반도체소자’라고 한다)의 전기적 특성을 수작업에 의해 검사할 경우 제1도 내지 제2도에 나타낸 바와같이 검사하고자 하는 반도체소자(1)를 메뉴얼소켓(9a)에 장착하여 검사하게 되는데, 이를 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 소켓(9a)의 상부 프레임(5a)을 누르면 상부 프레임(5a)의 저면에 하부 프레임(8a)에 고정된 접촉편(3)과 일체로 형성된 지렛대(12)를 누르게 된다.

이에 따라, 양측 접촉편(3)은 하부 접촉편이 가만히 있는 상태에서 지렛대(12)에 가해지는 누름력에 의해 상부 접촉편은 제4도에 가상선으로 나타낸 바와같이 회동하게 되므로써 접촉편(3)사이의 간격이 벌어지게 된다.

이와같이 된 상태에서, 반도체소자(1)를 화살표로 나타낸 바와같이 소켓(9a) 상부에서 하부로 삽입하여 반도체소자(1)의 리드(2)가 하부 접촉편에 접촉되도록 안착시킨 후 상부 프레임(5a)을 누르고 있던 힘을 제거하면 탄성력에 의해 상부 접촉편이 원위치 하게 되어 상, 하부 접촉편 사이에 반도체소자(1)의 리드(2)가 물려 고정된다. 이때, 상기 소켓(9a)의 상부 프레임(5a)에는 반도체소자(1)의 규격에 따라 소자의 삽입위치를 지시해주는 인디케이터가 설치된다.

한편, 상기 메뉴얼소켓(9a)에 장착하여 검사를 끝낸 후 반도체소자(1)를 소켓(9a)에서 탈거시킬 때에는 상부 프레임(5a)을 다시 누른 상태에서 핀셋(Pincers) 등을 이용하여 검사완료된 반도체소자를 집어내게 된다.

그러나, 이와같은 종래의 메뉴얼소켓(9a)은 검사하고자 하는 반도체소자의 크기가 작아 접촉편(3)에 정확히 안착시키기가 어려워 정렬(Align)이 잘되지 않을 뿐만 아니라, 검사가 끝난 후 소켓(9a)에서 반도체소자(1)를 탈거시킬 경우 핀셋으로 집어내어야 하므로 작업성이 좋지 않았다.

또한, 반도체소자(1)의 탈거시 리드(2)가 접촉편(3) 또는 소켓(9a)의 다른 부분과 부딪쳐 휘게되어 기판에 실장시 리드의 접촉불량을 유발시키게 되는 등의 많은 문제점이 있었다.

본 발명은 상기한 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 반도체소자의 수작업에 의한 검사시 반도체소자가 정확하고 용이하게 메뉴얼소켓에 장착 및 탈거될 수 있도록 하여 반도체소자의 수작업 검사의 작업성을 향상시킴과 동시에 리드휨 등의 소자손상을 방지할 수 있는 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓을 제공하는데 그 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명은 반도체소자가 회로기판에 대해 수직방향으로 세워져 삽입되도록 삽입홈이 형성된 전방프레임과, 상기 전방프레임의 소자 삽입측 반대측으로 소켓리드가 인출된 후방프레임과, 상기 반도체소자의 검사 종료 후 반도체소자가 소켓전방으로 탈거되도록 후방프레임에 탄력설치되는 푸셔로 구성되어 반도체소자 장착면이 수평면에 대해 수직한 방향을 향하도록 기판에 설치되는 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓이다.

이하, 본 발명의 일실시예를 첨부도면 제3도 및 제4도를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

제3도는 본 발명이 회로기판에 장착된 상태를 나타낸 사시도이고, 제4도는 제3도의 소켓이 결합되는 상태를 나타낸 횡단면도로서, 반도체소자(1)의 리드(2)가 접촉편(3)에 물려 전기적으로 접촉되게 반도체소자(1)를 수직으로 세워 삽입하도록 삽입홈(4)이 형성된 전방프레임(5)에 반도체소자(1)의 삽입측 반대쪽으로 인출되어 회로기판(6)에 삽입되는 소켓리드(7)를 가지는 후방프레임(8)이 결합되어 구성된다.

이때, 상기 후방프레임(8)에는 반도체소자(1)의 검사 종료 후 반도체소자(1)를 소켓(9)전방으로 탈거시키기 위한 푸셔(10)가 탄력설치된다.

또한, 상기 후방프레임(8)에는 반도체소자(1) 삽입시 반도체소자(1)의 규격에 맞춰 삽입위치를 한정하는 스톱퍼(Stopper)(11)가 설치되어 구성된다.

이와같이 구성된 본 발명은 제3도 및 제4도에 나타낸 바와같이, 반도체소자(1)를 수작업으로 검사하고자 하는 경우 먼저 소켓(9)의 후방프레임(8)일측으로 인출된 소켓리드(7)를 회로기판(6)에 삽입하여 소켓(9)이 회로기판(6)에 대해 수직방향으로 세워져 고정된 상태에서 전방프레임(5)을 후방으로 누른다.

이에 따라, 후방프레임(8)의 소켓리드(7)와 연결된 접촉편(3)의 전방 접촉편이 일체로 형성된 지렛대(12)의 누름력에 의해 회동하여 두 전방 접촉편 사이의 간격이 벌어지게 되며, 이때 반도체소자(1)를 수직으로 세워 제3도에 화살표로 나타낸 바와같이 전방프레임(5)의 삽입홈(4)을 통해 위에서 아래로 삽입하게 된다.

또한, 상기한 바와같이 삽입되는 반도체소자(1)는 후방프레임(8) 중앙에 설치된 스톱퍼(11)에 걸려 더이상 내려가지 못하고 정지하게 된다.

이때, 상기 스톱퍼(11)는 반도체소자(1)의 규격에 알맞게 삽입되는 위치를 변경하여 반도체소자(1)의 접촉위치를 한정할 수 있게 된다.

상기한 바와같이, 반도체소자(1)가 스톱퍼(11)에 걸려 더이상 내려가지 않고 정지할 때 전방프레임(5)을 누르고 있던 힘을 제거하면 반도체소자(1)의 리드(2)가 소켓(9)의 접촉편(3) 사이에 물려 전기적으로 접속된다.

한편, 반도체소자(1)의 검사가 완료된 후 반도체소자(1)를 소켓(9)에서 탈거시킬 때에는 전방프레임(5)을 눌러 반도체소자(1)의 리드(2)를 접촉편(3) 사이의 물림 상태로 해서 해제시킨 후 후방프레임(8)에 탄력설치된 푸셔(10)를 누른 후 놓는다.

이에 따라, 반도체소자(1)는 푸셔(10)의 푸싱(Pushing)작용에 의해 회로기판(6)에 장착된 소켓(9)의 전방으로 밀려나 소켓(9)으로 부터 탈거되고 푸셔(10)는 탄성부재(13)의 복원력에 의해 원위치 하게 된다.

따라서, 소켓(9)에 반도체소자(1)를 삽입할 경우 반도체소자의 규격에 따라 설치위치를 이동시킬 수 있는 스톱퍼(11)에 걸려 더이상 하강이 불가능해지면 그 위치가 바로 접촉편(3)과 반도체소자(1)의 리드(2)와의 접속위치가 되므로 손쉽게 반도체소자(1)의 정렬이 이루어질 수 있게 된다.

또한, 반도체소자(1)의 검사가 끝난 후 푸셔(10)만 눌러주면 반도체소자(1)가 소켓(9)으로 부터 안전하게 탈거되므로 핀셋 등으로 집어내어야 하는 불편함을 겪을 필요가 없을 뿐만 아니라 반도체소자(1)의 리드(2)가 소켓(9)에 부딪혀 휘는등의 손상을 방지할 수 있는 효과가 발생하게 된다.

이상에서와 같이, 본 발명은 반도체소자(1)를 수작업으로 검사할 경우 반도체소자(1)가 손쉽게 메뉴얼소켓(9)에 탈착될 수 있게 되어 있으므로 리드(2)휨등 반도체소자(1)의 손상을 방지하게 되는 매우 유용한 발명이다.

Claims (2)

1. 반도체소자가 회로기판에 대해 수직방향으로 세워져 삽입되도록 삽입홈이 형성된 전방프레임과, 상기 전방프레임의 소자 삽입측 반대쪽으로 소켓리드가 인출된 후방프레임과, 상기 반도체소자의 검사 종료 후 반도체소자가 소켓 전방으로 탈거되도록 후방프레임에 탄력설치되는 푸셔로 구성되어 반도체소자 장착면이 수평면에 대해 수직한 방향을 향하도록 회로기판에 설치되는 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓.
2. 제1항에 있어서, 상기 후방프레임에는 반도체소자 삽입시 반도체소자의 규격에 맞워 삽입위치를 한정하도록 설치위치를 가변시킬 수 있는 스톱퍼가 설치되는 반도체소자의 전기특성 검사용 메뉴얼소켓.