JPH07202080A - Icソケットへのicパッケージの装着装置 - Google Patents

Icソケットへのicパッケージの装着装置

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JPH07202080A
JPH07202080A JP33748593A JP33748593A JPH07202080A JP H07202080 A JPH07202080 A JP H07202080A JP 33748593 A JP33748593 A JP 33748593A JP 33748593 A JP33748593 A JP 33748593A JP H07202080 A JPH07202080 A JP H07202080A
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JP
Japan
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socket
piece
contact
package
wiring board
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Withdrawn
Application number
JP33748593A
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English (en)
Inventor
Jun Matsuyama
純 松山
Toshiyuki Suzuki
俊之 鈴木
Kunji Nakajima
勲二 中嶋
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 大きさの異なるICパッケージに対して同じ
ソケット基台を用いることができ、またソケットの全体
の厚みを薄く形成することができると共に熱こもりが発
生することなくICパッケージを装着することができる
ようにする。 【構成】 ソケット基台1に接触挟持片2と接触挟持片
2を開閉させるよう屈曲する屈曲片3とを具備して形成
されるコンタクトピン4を設ける。配線基板5に複数の
ソケット基台1を所定間隔を隔てて取り付けてICソケ
ット6を形成する。コンタクトピン4を押圧することに
よって屈曲片3を屈曲させて接触挟持片2を開き、且つ
この押圧を解除することによって接触挟持片2を閉じ
て、ソケット基台1間に配設したICパッケージ7のリ
ード8を各ソケット基台1の接触挟持片2に挟持させる
装着治具9を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICパッケージの性能
試験等に用いられるICソケットへのICパッケージの
装着装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICパッケージの性能試験は、プリント
配線板などの配線基板に取り付けたICソケットにIC
パッケージを装着することによっておこなわれるが、I
CソケットへのICパッケージの装着や取り外しを迅速
におこなえるようにする必要がある。
【0003】例えば特開昭64−65782号公報で提
供されているものでは、ICソケットをソケット本体と
ソケット本体の上に上下動可能に取り付けたカバーとで
形成し、カバーを押し下げることによってソケット本体
に取着したコンタクトピンを屈曲させてICパッケージ
をソケット本体にセットできるようにすると共に、カバ
ーの押し下げを解除することによってコンタクトピンの
屈曲を戻してICパッケージの装着がおこなえるように
してある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし上記の特開昭6
4−65782号公報のものでは、ICパッケージのリ
ードのピン数やピッチが同じでも幅等の大きさが異なれ
ばICソケットに装着することができず、ICパッケー
ジに合わせてICソケットを作成する必要があるという
問題があり、またICパッケージの装着や取り出しのた
めにコンタクトピンを屈曲操作するカバーがソケット本
体の上に一体的に取り付けてあるために、ICソケット
の全体の厚みが厚くなって、炉などのテスト器への配線
基板の収容枚数が少なくなると共に、ICソケットに装
着したICパッケージの上にカバーが存在して熱のこも
りが発生し易いという問題があった。
【0005】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、大きさの異なるICパッケージに対して同じソケ
ット基台を用いることができ、またソケットの全体の厚
みを薄く形成することができると共に熱こもりが発生す
ることなくICパッケージを装着することができるIC
ソケットへのICパッケージの装着装置を提供すること
を目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るICソケッ
トへのICパッケージの装着装置は、ソケット基台1に
接触挟持片2と接触挟持片2を開閉させるよう屈曲する
屈曲片3とを具備して形成されるコンタクトピン4を設
けると共に配線基板5に複数のソケット基台1を所定間
隔を隔てて取り付けてICソケット6を形成し、コンタ
クトピン4を押圧することによって屈曲片3を屈曲させ
て接触挟持片2を開き、且つこの押圧を解除することに
よって接触挟持片2を閉じて、ソケット基台1間に配設
したICパッケージ7のリード8を各ソケット基台1の
接触挟持片2に挟持させる装着治具9を具備して成るこ
とを特徴とするものである。
【0007】また本発明にあって、配線基板5に複数の
ICソケット6を設け、各ICソケット6に挿着治具9
を共用するようにすることができる。
【0008】
【作用】配線基板5に複数のソケット基台1を所定間隔
を隔てて取り付けてICソケット6を形成するようにし
ているために、配線基板5へのソケット基台1の取付間
隔をICソケット6の幅に合わせることによって、大き
さの異なるICパッケージ6に対して同じソケット基台
1を用いることができる。またICソケット6とは独立
した装着治具9を用いてコンタクトピン4の押圧の操作
をおこなうようにしているために、一体化したカバーを
用いる従来のような問題がなくなる。
【0009】
【実施例】以下本発明を実施例によって詳述する。ソケ
ット基台1は樹脂成形品など電気絶縁材料で縦片1aと
横片1bからなる断面L字形に形成されるものであり、
縦片1aの後部から横片1bにかけて上下に開口する細
いスリット状の挿着溝10が設けてある。この挿着溝1
0はソケット基台1の長手方向に平行に多数本設けるよ
うにしてある。
【0010】コンタクトピン4は金属材で作成されるも
のであり、固定片14の先端に受け片15を一体に上方
へ延設し、受け片15の基部に円弧状の屈曲片3を一体
に延設し、屈曲片3の先端に受動片16を上方へ一体に
延設し、さらに受動片16の基部に接触挟持片2を一体
に延設して形成してある。接触挟持片2の先端は受け片
15の上端に屈曲片3の弾性力で弾接するように対向さ
せてあり、受動片16の上端を下方へ押圧して屈曲片3
を弾性的に下方へ屈曲させるようにすると、接触挟持片
2の先端は上方へ回動するように変位して受け片15の
上端から接触挟持片2が離れて開くようにしてある。ま
た固定片14の下面には係合突部17が突設してある。
【0011】このコンタクトピン4は上記ソケット基台
1に設けた各挿着溝13に差し込んで取り付けてあり、
各コンタクトピン4は受け片15の上端、接触挟持片2
の先端、受動片16の上端をそれぞれソケット基台1の
上面よりも上方に突出させてある。配線基板5はプリン
ト配線板などで形成されるものであり、試験用の回路パ
ターン等が設けてある。そして、ICパッケージ7とし
て両側の一対の辺にそれぞれ多数本のリード8を設けて
形成されるSOPの試験をおこなう場合は、二個のソケ
ット基台1を一組として用い、各ソケット基台1をその
縦片1a同士を対向させて平行に配置し、各ソケット基
台1を配線基板5の上に半田付け等して取り付けるもの
であり、この二個一組のソケット基台1でICソケット
6が構成されるものである。配線基板5とソケット基台
1に設けたコンタクトピン4との電気接続は、コンタク
トピン4の係合突部17を配線基板5に設けたスルーホ
ール18等に差込み係合することによっておこなうこと
ができる。またこの二個一組のソケット基台1は図3に
示すように、配線基板5に複数取り付けるようにしてあ
り、多数のICパッケージ7を同時に試験できるように
してある。
【0012】装着治具9は平面形状を四角枠状に形成し
てあり、両側の押さえ枠片20,20にはそれぞれ下面
が開口する細いスリット状のスリット状溝21が設けて
ある。このスリット状溝21は上記ソケット基台1のコ
ンタクトピン4に対応するように多数設けてある。しか
して、図3のように配線基板5に取り付けたICソケッ
ト6に両側にリード8を設けたSOPのICパッケージ
7を装着するにあたっては、まず図1(a)のようにI
Cソケット6の上方に装着治具9を配置してICソケッ
ト6の上に装着治具9を被せる。このように装着治具9
を被せると、ICソケット6の各ソケット基台1のコン
タクトピン4の受動片16の上端部は、装着治具9の各
押さえ枠片20のスリット状溝21に被挿される。そし
てこの状態で図1(b)の矢印のように装着治具9の各
押さえ枠片20を下方へ押さえると、スリット状溝21
の上底面で受動片16が押圧され、屈曲片3が弾性的に
下方へ屈曲すると共にこれに伴って接触挟持片2の先端
が上方へ回動するように変位し、受け片15の上端から
接触挟持片2の先端が離れて接触挟持片2が開かれる。
【0013】このように装着治具9を押さえて接触挟持
片2を開いた状態で、装着治具9の内方において、IC
ソケット6の各ソケット基台1の上にICパッケージ7
を配置する。ICパッケージ7はその両側のリード8が
各ソケット基台1のコンタクトピン4の受け片15の上
端に載置されるよう位置決めされるようになっており、
図2(c)の矢印のように装着治具9の押圧を解除して
引き上げると、コンタクトピン4は受動片16の押圧力
が解除されるために屈曲片3の屈曲が元に戻ると共にこ
れに伴って接触挟持片2の先端が下方へ回動するように
変位し、接触挟持片2が閉じて受け片15の上のリード
8の上に接触挟持片2の先端が圧接して、リード8を接
触挟持片2で挟持させることができる。このように、各
ソケット基台1のコンタクトピン4の接触挟持片2でリ
ード8を挟持させることによって、ICパッケージ7を
コンタクトピン4に接続した状態でICソケット6に装
着することができるものである。ICソケット6からI
Cパッケージ7を外す場合には、図1(b)のように装
着治具9をICソケット6に被せてコンタクトピン4を
押さえることによっておこなうことができる。
【0014】上記のように装着治具9を用いてICソケ
ット6にICパッケージ7を装着した後、図2のように
配線基板5上の他のICソケット6へのICパッケージ
7の装着にこの装着治具9を用いることができるもので
あり、1種類のICパッケージ7については、複数のI
Cソケット6に装着治具9を共用することができる。従
って部材点数を少なくしてコスト減が可能になるもので
ある。
【0015】上記のようにしてICパッケージ7を装着
した配線基板5を炉などのテスト器へ収容して試験をお
こなうが、ICパッケージ7をICソケット6に装着さ
せるための装着治具9はICソケット6とは別部材であ
るために、ICソケット6の厚みは薄くなり、この結果
一枚の配線基板5のボード全体の厚みが薄くなり、テス
ト器への配線基板5の収容枚数を増やすことができるも
のである。また、ICソケット6はICパッケージ7の
リード8を接続するに必要なソケット基台1だけで形成
されているものであり、ICソケット6の全体の大きさ
を小さくして、配線基板5上の占有面積を小さくするこ
とができ、配線基板5へのICソケット6の取付個数を
増やして配線基板5の一枚当たりのICパッケージ7の
搭載個数を増やすことができるものである。
【0016】そして、ICソケット6は複数のソケット
基台1を配線基板5に所定間隔を隔てて取り付けて形成
するようにしているために、ソケット基台1の間隔は自
由に設定することができるものであり、ソケット基台1
の取付間隔をICソケット6の幅に合わせることによっ
て、リード8のピン数やピッチが同じであれば大きさの
異なるICパッケージ6に対して同じソケット基台1を
用いることができるものである。また、上記のように装
着治具9はICソケット6と別部材に形成されているた
めに、ICソケット6に装着されたICパッケージ7が
装着治具9で覆われるようなことがなく、熱こもりが発
生するおそれがないものである。
【0017】上記実施例では、両側にリード8を設けた
SOPのICパッケージ7を装着するICソケット6に
ついて説明したが、QFPのように4辺にリード8を設
けたICパッケージ7を装着する場合には、図4に示す
ように、ソケット基台1を四個一組で用い、各ソケット
基台1をその垂直片1aが内側を向くように四角形に配
置して配線基板5に取り付けることによって、ICソケ
ット6を形成するものである。そしてこの場合には、装
着治具9として押さえ枠片20を四辺に設けて四角枠状
に形成したものを用いて、ICソケット6へのICパッ
ケージ7の装着をおこなうものである。
【0018】
【発明の効果】上記のように本発明は、ソケット基台に
接触挟持片と接触挟持片を開閉させるよう屈曲する屈曲
片とを具備して形成されるコンタクトピンを設けると共
に配線基板に複数のソケット基台を所定間隔を隔てて取
り付けてICソケットを形成し、コンタクトピンを押圧
することによって屈曲片を屈曲させて接触挟持片を開
き、且つこの押圧を解除することによって接触挟持片を
閉じて、ソケット基台間に配設したICパッケージのリ
ードを各ソケット基台の接触挟持片に挟持させる装着治
具を具備したので、配線基板へのソケット基台の取付間
隔をICソケットの幅に合わせることによって、大きさ
の異なるパッケージに対して同じソケット基台を用いる
ことができるものであり、またコンタクトピンの押圧の
操作をおこなう装着治具はICソケットとは独立した部
材であり、ソケット基台に一体化したカバーを用いる従
来のような問題がなくなって、ソケットの全体の厚みを
薄く形成することができると共に熱こもりが発生するこ
となくICパッケージを装着することができるものであ
る。
【0019】また、配線基板に複数のICソケットを設
け、各ICソケットに挿着治具を共用するようにしたの
で、部材点数を少なくしてコストダウンを図ることがで
きるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示すものであり、(a),
(b),(c)はICパッケージの装着手順を示す断面
図である。
【図2】同上の実施例の正面図である。
【図3】同上の実施例の概略の平面図である。
【図4】本発明の他の実施例の概略の平面図である。
【符号の説明】
1 ソケット基台 2 接触挟持片 3 屈曲片 4 コンタクトピン 5 配線基板 6 ICソケット 7 ICパッケージ 8 リード 9 装着治具

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ソケット基台に接触挟持片と接触挟持片
    を開閉させるよう屈曲する屈曲片とを具備して形成され
    るコンタクトピンを設けると共に配線基板に複数のソケ
    ット基台を所定間隔を隔てて取り付けてICソケットを
    形成し、コンタクトピンを押圧することによって屈曲片
    を屈曲させて接触挟持片を開き、且つこの押圧を解除す
    ることによって接触挟持片を閉じて、ソケット基台間に
    配設したICパッケージのリードを各ソケット基台の接
    触挟持片に挟持させる装着治具を具備して成ることを特
    徴とするICソケットへのICパッケージの装着装置。
  2. 【請求項2】 配線基板に複数のICソケットを設け、
    各ICソケットに挿着治具を共用して成ることを特徴と
    する請求項1に記載のICソケットへのICパッケージ
    の装着装置。
JP33748593A 1993-12-28 1993-12-28 Icソケットへのicパッケージの装着装置 Withdrawn JPH07202080A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP33748593A JPH07202080A (ja) 1993-12-28 1993-12-28 Icソケットへのicパッケージの装着装置

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JP33748593A JPH07202080A (ja) 1993-12-28 1993-12-28 Icソケットへのicパッケージの装着装置

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JPH07202080A true JPH07202080A (ja) 1995-08-04

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ID=18309097

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JP33748593A Withdrawn JPH07202080A (ja) 1993-12-28 1993-12-28 Icソケットへのicパッケージの装着装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100236302B1 (ko) * 1996-12-20 1999-12-15 윤종용 복수개의 리드 접속부를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓
KR100435209B1 (ko) * 1997-07-21 2004-07-16 삼성전자주식회사 소켓 누름판이 설치된 반도체 칩 패키지의 로딩/언로딩 장치

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KR100236302B1 (ko) * 1996-12-20 1999-12-15 윤종용 복수개의 리드 접속부를 갖는 반도체 칩 패키지 검사용 소켓
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Legal Events

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A300 Withdrawal of application because of no request for examination

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Effective date: 20010306