JPS627670A - 半導体拡散炉の構成部材の製造方法 - Google Patents

半導体拡散炉の構成部材の製造方法

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JPS627670A
JPS627670A JP60142498A JP14249885A JPS627670A JP S627670 A JPS627670 A JP S627670A JP 60142498 A JP60142498 A JP 60142498A JP 14249885 A JP14249885 A JP 14249885A JP S627670 A JPS627670 A JP S627670A
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JP
Japan
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powder
particle size
average particle
diffusion furnace
parts
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JP60142498A
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JPH0248511B2 (ja
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玉水 照康
幸文 酒井
広志 田代
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Coorstek KK
Original Assignee
Toshiba Ceramics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産   の 1 本発明は半導体拡散炉の構成部材に関する。
支股仄L1 特公昭54−10825号公報は半導体拡散炉の構成部
材を示している。この従来例にあっては、0.1〜8μ
の平均粒径を有する微粒と、30〜170μの平均粒径
を有する粗粒からなるSiC粉末の焼結体によって焼結
SiCマトリックスが形成されている。
が °しよ とする【 1、 前述の半導体拡散炉の構成部材にあっては、特に微粒の
SiC粉末が0,1〜8μの平均粒径を有するため、粉
末全体としてみたときSiC粉末の表面積が非常に大き
くなり、その結果として、不純物が混入しやすい。通常
は、粗粒のSiC粉末を粉砕するのであるが、そのよう
な粉砕工程において不純物が入りやすいのである。この
時、不純物の混入を避けるためには、特別な処理操作が
必要であり、生産コストを高くする欠点がある。
11L1乱 この発明は前述のような従来技術の欠点を解消して、処
理操作が比較的容易で、しかも物理特性の優れた半導体
拡散炉構成部材を提供することを目的としている。
立」L列JLL この目的を達成するために、この発明は30〜170μ
の平均粒径を有するSiC粉末50〜90重量部と、0
.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3〜15型針部と
、0.1〜8μの平均粒径を有するSi粉粉末7〜3童 構成部材を要旨としている。
「」 −を °するための ゛ この発明による半導体拡散炉の構成部材においては、S
iC粉末は粗粒のみを使用し、微粒は使用しない。すな
わち、30〜170ftの平均粒径を有するSiC粉末
を50〜90重量部使用するのである。このSiC粉末
に0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3〜15重量
部と0.1〜8μの平均粒径を有するSii末7〜35
重量部を添加する。
C粉末が3@最部よりも少ないと、SiCの結合力が小
さく、強度が低下する。また、C粉末が15槍量部より
も大きいと、Siの合浸前に変形をおこしやすくなり、
強度が低下する。
Si粉末が7重量部よりも少ないと、SiCの結合力が
弱まり、強度が下がる。また、Si粉末の含有量が35
重量%よりも多いと、Siの含浸が困難となり、材質の
均一性に欠けやすくなる。
C粉末とSi粉末の全体量が多すぎると、焼成時に体積
の減少が生じ変形の問題が起る。
前述のようなSiC粉末、C粉末およびS1粉末に有機
バインダーを加えて混練造粒し、ラバープレスにより成
型してから焼成し、Siを含浸してケイ化するのが一般
的な製造方法である。また、HCQによりパージをして
純化を行なうと、より高品質のものがえられる。
ズ」11 30〜170μの平均粒径を有するSiC粉末70!最
部と、0.1〜8μの平均粒径を右するC粉末9重量部
と、0.1〜8μの平均粒径を有するSii末21重量
部と、有機バインダーとしてアルコール10型fi部を
配合゛混線し、周知のやり方で造粒する。このような造
粒物を乾燥させてからラバープレスにより半導体炉芯管
の形状に成型する。しかるのち1200℃の温度で焼成
し、塩酸ガスと少量の水蒸気とにより1000℃の温度
でパージを行なって純化させてからSiを1700℃の
温度で含浸してケイ化させる。最後に必要に応じて研磨
等の最終仕上げを行なう。
以上の方法で製造された半導体拡散炉の構成部材の物理
特性を測定したところ、嵩密度が3.08で、強度が2
50MPaであった。
立」LΔ力」L SiC粉末は粗粒のみを使用し、従来のように微粒のも
のを使用しなC・)ので、処理操作が極めて容易になる
ばかりでなく、不純物の混入を防ぎやすくなる。C粉末
とSi粉末は微粒のものを使用するが、このようなC粉
末やSi粉末は、SiC粉末に比較して粉砕が容易であ
り、製造コストの低減をはかれるばかりでなく、不純物
の混入を効果的に防止できるのである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 30〜170μの平均粒径を有するSiC粉末50〜9
    0重量部と、0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3
    〜15重量部と、0.1〜8μの平均粒径を有するSi
    粉末7〜35重量部とを混合焼成してなる半導体拡散炉
    の構成部材。
JP60142498A 1985-07-01 1985-07-01 半導体拡散炉の構成部材の製造方法 Granted JPS627670A (ja)

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US06/877,918 US4771021A (en) 1985-07-01 1986-06-24 Semi-conductor diffusion furnace components

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WO2017217378A1 (ja) * 2016-06-13 2017-12-21 帝人株式会社 炭化ケイ素の製造方法及び炭化ケイ素複合材料

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