JPS6212668A - 半導体拡散炉の構成部材 - Google Patents
半導体拡散炉の構成部材Info
- Publication number
- JPS6212668A JPS6212668A JP60149347A JP14934785A JPS6212668A JP S6212668 A JPS6212668 A JP S6212668A JP 60149347 A JP60149347 A JP 60149347A JP 14934785 A JP14934785 A JP 14934785A JP S6212668 A JPS6212668 A JP S6212668A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- powder
- weight
- sic
- semiconductor diffusion
- particle size
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
m41皿1艷
本発明は半導体拡散炉の構成部材に関する。
支り弘1L
特公昭54−10825号公報は半導体拡散炉の構成部
材を示している。この従来例にあっては、0.1〜8μ
の平均粒径を有する微粒と、30〜170μの平均粒径
を有する粗粒からなるSiC粉末の焼結体によって焼結
SiCマトリックスが形成されている。
材を示している。この従来例にあっては、0.1〜8μ
の平均粒径を有する微粒と、30〜170μの平均粒径
を有する粗粒からなるSiC粉末の焼結体によって焼結
SiCマトリックスが形成されている。
が ′しよ−とする。 。
前述の半導体拡散炉の構成部材にあっては、特に微粒の
SiC粉末が0.1〜8μの平均粒径を有するため、粉
末全体としてみたときSiC粉末の表面積が非常に大き
くなり、その結果として、不純物が混入しやづい。通常
は、粗粒のSiC粉末を粉砕するのであるが、周知のと
おりSiCは非常に硬くて粉砕が困難であるばかりでな
く、そのような粉砕工程において不純物が入りやすいの
である。この時、不純物の混入を避けるためには、特別
な処理操作が必要であり、生産コストを高くする欠点が
ある。
SiC粉末が0.1〜8μの平均粒径を有するため、粉
末全体としてみたときSiC粉末の表面積が非常に大き
くなり、その結果として、不純物が混入しやづい。通常
は、粗粒のSiC粉末を粉砕するのであるが、周知のと
おりSiCは非常に硬くて粉砕が困難であるばかりでな
く、そのような粉砕工程において不純物が入りやすいの
である。この時、不純物の混入を避けるためには、特別
な処理操作が必要であり、生産コストを高くする欠点が
ある。
11列1江
この発明は前述のような従来技術の欠点を解消して、処
理操作が比較的容易で、しかも物理特性の優れた半導体
拡散炉構成部材を提供することを目的としている。
理操作が比較的容易で、しかも物理特性の優れた半導体
拡散炉構成部材を提供することを目的としている。
l1仄LL
この目的を達成するために、この発明は平均粒径10μ
〜平均粒径200μのSiC粉末85〜97重量部と、
3iによってSiCに転化せしめる平均粒径0.1μ〜
平均粒径8μのC微粉末3〜15重量部とを混合焼成し
て生ずる空隙にSiを充填してなることを特徴とする高
密度でかつ高強度の半導体拡散炉の構成部材を要旨とし
ている。
〜平均粒径200μのSiC粉末85〜97重量部と、
3iによってSiCに転化せしめる平均粒径0.1μ〜
平均粒径8μのC微粉末3〜15重量部とを混合焼成し
て生ずる空隙にSiを充填してなることを特徴とする高
密度でかつ高強度の半導体拡散炉の構成部材を要旨とし
ている。
を °するため’7)IJL
この発明による半導体拡散炉の構成部材においては、S
iC粉末は粗粒のみを使用し、微粒は使用しない。すな
わち、10〜200μの平均粒径を有するSiC粉末を
85〜97重量部使用するのである。このような粗粒の
SiC粉末に0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3
〜15重量部を添加して混合焼成する。その焼成体の空
隙に0.1〜8μの平均粒径をイjする3i粉末7〜3
5重M部を添加する。その際、気孔率を1%以下にし、
かつSiCを10〜25重量%含有する3iCにするの
が望ましい。
iC粉末は粗粒のみを使用し、微粒は使用しない。すな
わち、10〜200μの平均粒径を有するSiC粉末を
85〜97重量部使用するのである。このような粗粒の
SiC粉末に0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末3
〜15重量部を添加して混合焼成する。その焼成体の空
隙に0.1〜8μの平均粒径をイjする3i粉末7〜3
5重M部を添加する。その際、気孔率を1%以下にし、
かつSiCを10〜25重量%含有する3iCにするの
が望ましい。
C粉末が3重量部よりも少ないと、SiC化した結合力
が小さく、強度が低下する。また、C粉末が15重量部
よりも大きいと、Siの含浸が困難となることから残留
Cが残りやすくなり、強度が低下する。
が小さく、強度が低下する。また、C粉末が15重量部
よりも大きいと、Siの含浸が困難となることから残留
Cが残りやすくなり、強度が低下する。
前述のようなSiC粉末とC粉末に有機バインダーを加
えて混練造粒し、ラバープレスにより成形してから焼成
し、Siを充填してケイ化するのが一般的な製造方法で
ある。また、HCQによりパージをして純化を行なうと
、より高品質のものがえられる。
えて混練造粒し、ラバープレスにより成形してから焼成
し、Siを充填してケイ化するのが一般的な製造方法で
ある。また、HCQによりパージをして純化を行なうと
、より高品質のものがえられる。
1i九
30〜170μの平均粒径を有するSiC粉末70重量
部と、0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末9重量部
と、有機バインダーとしてフェノールレジン10!量部
を配合混練し、周知のやり方で造粒する。このような造
粒物を乾燥させてからラバープレスにより半導体炉芯管
の形状に成形する。しがるのち1200℃の温度で焼成
したのち、塩酸ガスと少量の水蒸気とによりi ooo
℃の温度でパージを行なって純化させてからSiを17
00℃の温度で含浸してC微粉末をケイ化させる。最後
に必要に応じて研磨等の最終仕上げを行なう。
部と、0.1〜8μの平均粒径を有するC粉末9重量部
と、有機バインダーとしてフェノールレジン10!量部
を配合混練し、周知のやり方で造粒する。このような造
粒物を乾燥させてからラバープレスにより半導体炉芯管
の形状に成形する。しがるのち1200℃の温度で焼成
したのち、塩酸ガスと少量の水蒸気とによりi ooo
℃の温度でパージを行なって純化させてからSiを17
00℃の温度で含浸してC微粉末をケイ化させる。最後
に必要に応じて研磨等の最終仕上げを行なう。
以上の方法で製造された半導体拡散炉の構成部材の物理
特性を測定したところ、嵩密度が2,9で、強度が19
0MPaであった。
特性を測定したところ、嵩密度が2,9で、強度が19
0MPaであった。
11悲11
SiC粉末は粗粒のみを使用し、従来のように微粒のも
のを使用しないので、処理操作が極めて容易になるばか
りでなく、不純物の混入を防ぎやすくなる。C粉末は微
粒のものを使用するが、このようなC粉末は、SiC粉
末に比較して粉砕が容易であり、製造コストの低減をは
かれるばかりでなく、不純物の混入を効果的に防止でき
るのである。
のを使用しないので、処理操作が極めて容易になるばか
りでなく、不純物の混入を防ぎやすくなる。C粉末は微
粒のものを使用するが、このようなC粉末は、SiC粉
末に比較して粉砕が容易であり、製造コストの低減をは
かれるばかりでなく、不純物の混入を効果的に防止でき
るのである。
手続ネ市正書 (自発)
昭和61年z月10日
Claims (2)
- (1)平均粒径10μ〜平均粒径200μのSiC粉末
85〜97重量部と、SiによってSiCに転化せしめ
る平均粒径0.1μ〜平均粒径8μのC微粉末3〜15
重量部とを混合焼成して生ずる空隙にSiを充填してな
ることを特徴とする高密度でかつ高強度の半導体拡散炉
の構成部材。 - (2)気孔率が1%以下でかつSiを10〜25重量%
含有するSiCである特許請求の範囲第1項に記載の半
導体拡散炉の構成部材。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60149347A JPS6212668A (ja) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | 半導体拡散炉の構成部材 |
US06/877,918 US4771021A (en) | 1985-07-01 | 1986-06-24 | Semi-conductor diffusion furnace components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60149347A JPS6212668A (ja) | 1985-07-09 | 1985-07-09 | 半導体拡散炉の構成部材 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6212668A true JPS6212668A (ja) | 1987-01-21 |
Family
ID=15473133
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60149347A Pending JPS6212668A (ja) | 1985-07-01 | 1985-07-09 | 半導体拡散炉の構成部材 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6212668A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63257218A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-25 | ノートン カンパニー | 拡散炉構成要素 |
JP2007022914A (ja) * | 2006-10-31 | 2007-02-01 | Toshiba Corp | シリコン/炭化ケイ素複合材料の製造方法 |
US8568650B2 (en) | 2002-06-18 | 2013-10-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Silicon carbide matrix composite material, process for producing the same and process for producing part of silicon carbide matrix composite material |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4837404A (ja) * | 1971-09-14 | 1973-06-02 | ||
JPS5585471A (en) * | 1978-07-03 | 1980-06-27 | Coors Porcelain Co | Manufacture of silicon carbide body |
-
1985
- 1985-07-09 JP JP60149347A patent/JPS6212668A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4837404A (ja) * | 1971-09-14 | 1973-06-02 | ||
JPS5585471A (en) * | 1978-07-03 | 1980-06-27 | Coors Porcelain Co | Manufacture of silicon carbide body |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63257218A (ja) * | 1987-03-30 | 1988-10-25 | ノートン カンパニー | 拡散炉構成要素 |
US8568650B2 (en) | 2002-06-18 | 2013-10-29 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Silicon carbide matrix composite material, process for producing the same and process for producing part of silicon carbide matrix composite material |
JP2007022914A (ja) * | 2006-10-31 | 2007-02-01 | Toshiba Corp | シリコン/炭化ケイ素複合材料の製造方法 |
JP4612608B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2011-01-12 | 株式会社東芝 | シリコン/炭化ケイ素複合材料の製造方法 |
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