JPS6272159A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS6272159A
JPS6272159A JP60211608A JP21160885A JPS6272159A JP S6272159 A JPS6272159 A JP S6272159A JP 60211608 A JP60211608 A JP 60211608A JP 21160885 A JP21160885 A JP 21160885A JP S6272159 A JPS6272159 A JP S6272159A
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JP
Japan
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along
memory cells
bit lines
increase
memory
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JP60211608A
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Minoru Sasaki
稔 佐々木
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B10/00Static random access memory [SRAM] devices

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分すt〕 本発明は、ビット線をy方向に配列し、前記ビット線を
短かくすることにより、アクセスタイムの縮少を計った
SRAMに関する。
〔従来の技術〕
以下、第二図を用いて説明する。
従来、スタティック型ランダムアクセスメモリのビット
線はX方向に配列されており、記憶容、遥か増すほどビ
ット線が長くなり寄生容着が増すとイウことになる。例
えば64にビットのスタティック型ランダムアクセスメ
モリは従来、X方向に256コ、y方向に256コのメ
モリセルがマトリックス状に配列されている。記憶8b
kが2倍0128にビットになったらどうか。y方向に
はパッケージの制約からマトリックスのRMを増すこと
はできないので、まだ余裕があるX方向のマトリックス
の1固孜を21固にするしか方法がない。当然X方向が
2倍になれば、ビットラインの長さも2倍になり寄生容
赦も2倍になゆアクセスタイムの縮少を計ることができ
ないという欠点がある。
〔発明が4決しようとする問題点及び目的〕しかし、従
来のSRAMは記憶容量が増えるほどビット線が長くな
り、寄生容量が増し、高速化が雌しいという問題点を有
していた。そこで、本発明は従来のこのような問題点を
解決するために、記憶容量が増えてもビット四を長くせ
ずにアクセスタイムの高速(ヒを計ることを有するSR
AMのレイアウト構成を提供することを目的とする。
〔間湧点紫解決するための手段〕
本発明のスタティック型ランダムアクセスメモリは、複
数のメモリセルをマトリックス状に配し、前記メモリセ
ルの情報を書き込むため、あるいは前記メモリセルの情
報を読み出すための入力端子及び出力端子を有するスタ
ティック型ランダムアクセスメモリに於いて、前記メモ
リセルアレイの構成を前記N×nNとし、N個配列した
前記y方向に前記メモリセルの情報が出力されるビット
線を配し、前記nN個配列した前記X方向に前記メモリ
セルの選択、非選択を制御するワード線を配し、さらに
前記入力端子及び前記出力端子を前記y方向に配列した
ことを特徴とする。
〔実施例〕
第1図は本発明の実施例におけるチップ内レイアウト構
成図である。以下、本発明について図1に基づいて説明
する。
y方向に配列された40入出力端子に対して5のビット
線は平行に配列されており、6のワード線は前記入出力
端子と直行するように配列されている。記憶容量が増え
ても、パンケージの制約上y方向にはメモリセルのマト
リックスの個数tmすことは出来ない。そこでX方向に
マトリックスの個数を増やす。前記X方向はメモリセル
の個数を増しても、ひとつのビット線の長さは変わらず
寄生容量も増えない。逆にワード線の抵抗は増えてし筐
うが、これは低抵抗材量の使用や、行デコーダを2分割
にすることによっておさえることができる。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明は@記メモリセル了レイを前記
X方向に増していくようにしたため、ビット線の寄生d
址が増えなくなり従って、記憶谷htが増しても丁り七
スタイムの向上が計れ、かつチップ面積比ではチ゛lブ
サイズの縮少ができるという効果が得1.−14する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のキップ内レイアウト図である。 12図は従来のチップ内しイアウト図である。 1・・・メモリセルアレイ 2・・・行デコーダ 5・・・周辺回路 4・・・入出力端子 5・・・ビット線 6・・・ワード線 7・・・メモリセルアレイ 8・・・行デコーダ 9・・・周辺回路 10・・・入出力端子 11・・・ビット線 12・・・ワード線 以   上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のメモリセルをマトリックス状に配し、前記メモリ
    セルの情報を書き込むため、あるいは前記メモリセルの
    情報を読み出すための入力端子及び出力端子を有するス
    タティック型ランダムアクセスメモリ(以後SRAMと
    いう)に於いて、前記メモリセルアレイの構成をN×n
    Nとし、N個配列した方向(以後y方向という)に前記
    メモリセルの情報が出力されるビット線を配し、nN個
    配列した方向(以後x方向という)に前記メモリセルの
    選択、非選択を制御するワード線を配し、さらに前記入
    力端子及び前記出力端子をy方向に配列したことを特徴
    とするスタティック型ランダムアクセスメモリ。
JP60211608A 1985-09-25 1985-09-25 半導体記憶装置 Expired - Lifetime JPH0740602B2 (ja)

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58211393A (ja) * 1982-06-02 1983-12-08 Mitsubishi Electric Corp 半導体メモリ装置
JPS59229787A (ja) * 1975-12-29 1984-12-24 モステク,コーポレーシヨン Mosfet集積回路チツプ
JPS60134460A (ja) * 1983-12-23 1985-07-17 Hitachi Ltd 半導体記憶装置とそのレイアウト方法
JPS60161658A (ja) * 1984-02-01 1985-08-23 Hitachi Micro Comput Eng Ltd 半導体集積回路装置
JPS60165756A (ja) * 1984-02-08 1985-08-28 Mitsubishi Electric Corp ダイナミツク・ランダム・アクセス・メモリ装置

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JPH0740602B2 (ja) 1995-05-01

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