JPS62149097A - 半導体メモリ装置 - Google Patents

半導体メモリ装置

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JPS62149097A
JPS62149097A JP61297066A JP29706686A JPS62149097A JP S62149097 A JPS62149097 A JP S62149097A JP 61297066 A JP61297066 A JP 61297066A JP 29706686 A JP29706686 A JP 29706686A JP S62149097 A JPS62149097 A JP S62149097A
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JP
Japan
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memory cell
word line
group
line
cell group
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JP61297066A
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JPH0413798B2 (ja
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Kenji Anami
穴見 健治
Masahiko Yoshimoto
雅彦 吉本
Hiroshi Shinohara
尋史 篠原
Osamu Tomizawa
富沢 治
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野〕 本発明はアクセスタイムの向上および消費電力の低減が
可能な半導体メモリ装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は従来の半導体メモリ装置を示すブロック図であ
る。同図において、lはマトリクス状に配列し、その詳
細な回路を第2図に示すメモリセル、2aおよび2bは
相補的な関係にある一対のビット線、3は選択時に同一
行上にあるメモリセル1を活性化するワード線、4は行
アドレス情報を解読する行デコーダ、5は行アドレス信
号線、6aおよび6bは前記ピント線2aおよび2bに
それぞれ接続するビット線負荷、7は電源端子である。
なお、第3図に示すメモリセル1において、8aおよび
8bはMOSトランジスタ、抵抗などで構成する負荷素
子、9aおよび9bはインバータトランジスタ、10a
および10bはアクセスl−ランジメタ、llaおよび
llbはメモリセル1のストアノードである。
次に、上記構成による半導体メモリセル装置の動作につ
いて、−例として、ストアノードllaおよびllbが
それぞれ“H”レベルおよび”L”レベルに書き込まれ
ている場合について説明する。まず、読み出しの場合に
は読み出そうとするセルのアドレス情報をアドレス信号
線5に入力すると、行デコーダ4を通し、所望のワード
線3を活性化する。そして、このワード線3が活性化さ
れると、“L”レベルをストアしているアクセストラン
ジスタ10bが導通する。このため、電源端子7からビ
ット線負荷6b、 ビット線2b、アクセストランジス
タ10 b、 インバータトランジスタ9bの経路を電
流が流れ、読み出すことができる。
この構成による半導体メモリセル装置は同一行上のすべ
てのメモリセルが活性化されるので、全列に電源からメ
モリセルに電流が流れ込み、コラム数の多い大容量スタ
ティックRAMを構成する場合、消費電流が大きくなる
。そこで、消費電流を少なくするため、従来、第4図に
示す半導体メモリ装置が提案されている。この場合、行
デコーダ4をメモリセルプレーンの中央に配し、ワード
線を左側ワード線3aおよび右側ワード線3bに分割し
、左右のメモリセル群の選択された方のメモリセル群の
ワード線のみ活性化することにより、全列の内、半数の
列にだけ電流バスを生じさせるものである。なお、12
aおよび12bはそれぞれ左側ワード線3aあるいは右
側ワード線3bを選択するアンドゲート、13aおよび
13bはそれぞれこのアンドゲート12aおよび12b
を開状態にするゲート信号線である。
次に、第5図は第4図の思想に基づいて構成した従来の
半導体メモリ装置を示す配置図である。
この場合、行デコーダ4aおよび4bを複数列配置し、
ワード線3a〜3dをその倍数だけ分割し、直流電流路
のできる数を減少させるものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、従来の半導体メモリ装置は数多くの行デ
コーダを設ける必要がある。このため、チップ面積の増
大を招き、速度性能や歩留まりを損なうなどの欠点があ
った。
従って、本発明の目的は、高速で、しかも低消費電力の
大容量の半導体メモリ装置を提供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
このような目的を達成するために本発明は、メモリセル
をマトリクス状に配置したメモリセルアレイを列方向に
分割して配列した複数のメモリセル群と、この複数のメ
モリセル群の各々に対応して設けられ各メモリセル群の
うちの特定のものを選択するメモリセル群選択線と、複
数のメモリセル群の配列方向の中間に設けられアクセス
すべきメモリセル群の行アドレス情報を解読する行デコ
ーダと、この行デコーダの出力端子に接続され複数のメ
モリセル群に亘って配置された前置ワード線と、複数の
メモリセル群の各)fに対応して設けられメモリセル群
選択線の選択(1客号と前置ワード線の出力信号とに基
づいて活性化される分割ワード線とを設けるようにした
ものである。
〔作用] 本発明に係る半導体メモリ装置は高速で、しかも低消費
電力である。
〔実施例〕
第1図は、本発明に係わる半導体メモリ装置の一実施例
を示すブロック図であり、−例として、列方向に3個に
分割したメモリセル群1a、lbおよびICを配置した
場合を示す。同図において、14a、14bおよび14
cはこのメモリセル群1a〜ICを選択するメモリセル
群選択線、15は分割ワード線としてのワード線3a〜
3cと同一方向に並行して配置した前置ワード線、16
a、16bおよび16cは入力端子がそれぞれ前置ワー
ド線15とメモリセル群選択線143〜14Cに接続し
、出力端子がそれぞれワード線3a〜3cに接続するア
ンドゲートである。行デコーダ4はメモリセル群の配列
方向の中間に配置されている。
次に、上記構成による半導体メモリ装置の動作について
説明する。まず、例えばメモリセル群la内のメモリセ
ルを選択する場合、アクセスずべきメモリセル群1aの
行アドレ51情報を行デコーダ4で解読し、前置ワード
線1)の1本を活性化する。そして、メモリセル群選択
線14aにiff択信号を加えると、アンドゲート16
aが開き、ワード線3aを活性化する。したがって、図
示せぬ電源から図示せぬビット線を経°=、メモリセル
群1aへ流れ込むコラム電流が流れるのはi1択された
メモリセル群la内にあるコラムのみである。
なお、以上はメモリセル群IHI内のメモリセルの選択
について説明したが、他のメモリセル群1bおよびIC
についても同様にできることはもちろんである。さらに
、メモリセル群を3個に分割した場合について説明した
がN個(Na3)に分割しても同様にできることはもち
ろんである。また、前置ワード線15のみを低抵抗材料
で構成しておけば、ワード線は抵抗が多少大きくても長
さが短いため容量が小さく、高速にメモリセルをアクセ
スすることができる。また、アンドゲート16a〜16
Gは入力端子が2個、出力端子カ月個のため、回路構成
がN単になるので、チップ面積の増大を無視することが
できる。
以上詳細に説明したように、本発明に係わる半導体メモ
リ装置によれば、メモリセルの選択を前置ワード線とワ
ード線の2段階に分けて行なうように、行選択を階層的
に行なうため、列の直流電流路のある列数を減少するこ
とができるので、高速で、しかも低消費電力の大容量の
半導体メモリ装置を構成することができる効果がある。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、メモリセルの選択を前置
ワード線と分割ワード線の2段階に分けて行なうように
したことにより、直流電流路のある列数を減少すること
ができるので、高速で且つ低消費電力の大容量の半導体
メモリ装置を得ることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係わる半導体メモリ装置の一実施例を
示すブロック図、第2図は従来の半導体メモリ装置を示
すブロック図、第3図は第2図のメモリセルの詳細な回
路図、第4図は従来の他の半導体メモリ装置を示すブロ
ック図、第5図は従来の他の半導体メモリ装置を示す配
置図である。 1a〜IC・・・メモリセル群、3a〜3C・・・ワー
ド線、4・・・行デコーダ、14a−・14C・・・メ
モリセル選択線、15・・・前置ワード線、16a〜1
6C・・・アンドゲート。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. メモリセルをマトリクス状に配置したメモリセルアレイ
    を列方向に分割して配列した複数のメモリセル群と、こ
    の複数のメモリセル群の各々に対応して設けられ各メモ
    リセル群のうちの特定のものを選択するメモリセル群選
    択線と、前記複数のメモリセル群の配列方向の中間に設
    けられアクセスすべきメモリセル群の行アドレス情報を
    解読する行デコーダと、この行デコーダの出力端子に接
    続され前記複数のメモリセル群に亘って配置された前置
    ワード線と、前記複数のメモリセル群の各々に対応して
    設けられ前記メモリセル群選択線の選択信号と前記前置
    ワード線の出力信号とに基づいて活性化される分割ワー
    ド線とを備えたことを特徴とする半導体メモリ装置。
JP61297066A 1986-12-12 1986-12-12 半導体メモリ装置 Granted JPS62149097A (ja)

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JP61297066A JPS62149097A (ja) 1986-12-12 1986-12-12 半導体メモリ装置

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JP57095932A Division JPS58211393A (ja) 1982-06-02 1982-06-02 半導体メモリ装置

Publications (2)

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JPS62149097A true JPS62149097A (ja) 1987-07-03
JPH0413798B2 JPH0413798B2 (ja) 1992-03-10

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JPH0413798B2 (ja) 1992-03-10

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