JPH0413798B2 - - Google Patents
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- JPH0413798B2 JPH0413798B2 JP61297066A JP29706686A JPH0413798B2 JP H0413798 B2 JPH0413798 B2 JP H0413798B2 JP 61297066 A JP61297066 A JP 61297066A JP 29706686 A JP29706686 A JP 29706686A JP H0413798 B2 JPH0413798 B2 JP H0413798B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory cell
- word line
- cell group
- selection
- line
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 19
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はアクセスタイムの向上および消費電力
の低減が可能な半導体メモリ装置に関するもので
ある。
の低減が可能な半導体メモリ装置に関するもので
ある。
第2図は従来の半導体メモリ装置を示すブロツ
ク図である。同図において、1はマトリクス状に
配列し、その詳細な回路を第3図に示すメモリセ
ル、2aおよび2bは相補的な関係にある一対の
ビツト線、3は選択時に同一行上にあるメモリセ
ル1を活性化するワード線、4は行アドレス情報
を解読する行デコーダ、5は行アドレス信号線、
6aおよび6bは前記ビツト線2aおよび2bに
それぞれ接続するビツト線負荷、7は電源端子で
ある。
ク図である。同図において、1はマトリクス状に
配列し、その詳細な回路を第3図に示すメモリセ
ル、2aおよび2bは相補的な関係にある一対の
ビツト線、3は選択時に同一行上にあるメモリセ
ル1を活性化するワード線、4は行アドレス情報
を解読する行デコーダ、5は行アドレス信号線、
6aおよび6bは前記ビツト線2aおよび2bに
それぞれ接続するビツト線負荷、7は電源端子で
ある。
なお、第3図に示すメモリセル1において、8
aおよび8bはMOSトランジスタ、抵抗などで
構成する負荷素子、9aおよび9bはインバータ
トランジスタ、10aおよび10bはアクセスト
ランジスタ、11aおよび11bはメモリセル1
のストアノードである。
aおよび8bはMOSトランジスタ、抵抗などで
構成する負荷素子、9aおよび9bはインバータ
トランジスタ、10aおよび10bはアクセスト
ランジスタ、11aおよび11bはメモリセル1
のストアノードである。
次に、上記構成による半導体メモリセル装置の
動作について、一例として、ストアノード11a
および11bがそれぞれ“H”レベルおよび
“L”レベルに書き込まれている場合について説
明する。まず、読み出しの場合には読み出そうと
するセルのアドレス情報をアドレス信号線5に入
力すると、行デコーダ4を通し、所望のワード線
3を活性化する。そして、このワード線3が活性
化されると、“L”レベルをストアしているアク
セストランジスタ10bが導通する。このため、
電源端子7からビツト線負荷6b、ビツト線2
b、アクセストランジスタ10b、インバータト
ランジスタ9bの経路を電流が流れ、読み出すこ
とができる。
動作について、一例として、ストアノード11a
および11bがそれぞれ“H”レベルおよび
“L”レベルに書き込まれている場合について説
明する。まず、読み出しの場合には読み出そうと
するセルのアドレス情報をアドレス信号線5に入
力すると、行デコーダ4を通し、所望のワード線
3を活性化する。そして、このワード線3が活性
化されると、“L”レベルをストアしているアク
セストランジスタ10bが導通する。このため、
電源端子7からビツト線負荷6b、ビツト線2
b、アクセストランジスタ10b、インバータト
ランジスタ9bの経路を電流が流れ、読み出すこ
とができる。
この構成による半導体メモリセル装置は同一行
上のすべてのメモリセルが活性化されるので、全
列に電源からメモリセルに電流が流れ込み、コラ
ム数の多い大容量スタテイツクRAMを構成する
場合、消費電流が大きくなる。そこで、消費電流
を少なくするため、従来、第4図に示す半導体メ
モリ装置が提案されている。この場合、行デコー
ダ4をメモリセルプレーンの中央に配し、ワード
線を左側ワード線3aおよび右側ワード線3bに
分割し、左右のメモリセル群の選択された方のメ
モリセル群のワード線のみ活性化することによ
り、全列の内、半数の列にだけ電流パスを生じさ
せるものである。なお、12aおよび12bはそ
れぞれ左側ワード線3aあるいは右側ワード線3
bを選択するアンドゲート、13aおよび13b
はそれぞれこのアンドゲート12aおよび12b
を開状態にするゲート信号線である。
上のすべてのメモリセルが活性化されるので、全
列に電源からメモリセルに電流が流れ込み、コラ
ム数の多い大容量スタテイツクRAMを構成する
場合、消費電流が大きくなる。そこで、消費電流
を少なくするため、従来、第4図に示す半導体メ
モリ装置が提案されている。この場合、行デコー
ダ4をメモリセルプレーンの中央に配し、ワード
線を左側ワード線3aおよび右側ワード線3bに
分割し、左右のメモリセル群の選択された方のメ
モリセル群のワード線のみ活性化することによ
り、全列の内、半数の列にだけ電流パスを生じさ
せるものである。なお、12aおよび12bはそ
れぞれ左側ワード線3aあるいは右側ワード線3
bを選択するアンドゲート、13aおよび13b
はそれぞれこのアンドゲート12aおよび12b
を開状態にするゲート信号線である。
次に、第5図は第4図の思想に基づいて構成し
た従来の半導体メモリ装置を示す配置図である。
この場合、行デコーダ4aおよび4bを複数列配
置し、ワード線3a〜3bをその倍数だけ分割
し、直流電流路のできる数を減少させるものであ
る。
た従来の半導体メモリ装置を示す配置図である。
この場合、行デコーダ4aおよび4bを複数列配
置し、ワード線3a〜3bをその倍数だけ分割
し、直流電流路のできる数を減少させるものであ
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、従来の半導体メモリ装置は数多
くの行デコーダを設ける必要がある。このため、
チツプ面積の増大を招き、速度性能や歩留まりを
損なうなどの欠点があつた。
くの行デコーダを設ける必要がある。このため、
チツプ面積の増大を招き、速度性能や歩留まりを
損なうなどの欠点があつた。
従つて、本発明の目的は、高速で、しかも低消
費電力の大容量の半導体メモリ装置を提供するも
のである。
費電力の大容量の半導体メモリ装置を提供するも
のである。
このような目的を達成するために本発明は、メ
モリセルをマトリクス状に配置したメモリセルア
レイを列方向に分割して配列した複数のメモリセ
ル群と、この複数のメモリセル群の各々に対応し
て設けられ各メモリセル群のうちの特定のものを
選択するメモリセル群選択線と、複数のメモリセ
ル群の配列方向の中間に設けられアクセスすべき
メモリセル群の行アドレス情報を解読する行デコ
ーダと、この行デコーダの出力端子に接続され複
数のメモリセル群に亘つて配置された前置ワード
線と、複数のメモリセル群の各々に対応して設け
られメモリセル群選択線の選択信号と前置ワード
線の選択信号とに基づいて活性化される分割ワー
ド線とを設けるようにしたものである。
モリセルをマトリクス状に配置したメモリセルア
レイを列方向に分割して配列した複数のメモリセ
ル群と、この複数のメモリセル群の各々に対応し
て設けられ各メモリセル群のうちの特定のものを
選択するメモリセル群選択線と、複数のメモリセ
ル群の配列方向の中間に設けられアクセスすべき
メモリセル群の行アドレス情報を解読する行デコ
ーダと、この行デコーダの出力端子に接続され複
数のメモリセル群に亘つて配置された前置ワード
線と、複数のメモリセル群の各々に対応して設け
られメモリセル群選択線の選択信号と前置ワード
線の選択信号とに基づいて活性化される分割ワー
ド線とを設けるようにしたものである。
本発明に係る半導体メモリ装置は高速で、しか
も低消費電力である。
も低消費電力である。
第1図は、本発明に係わる半導体メモリ装置の
一実施例を示すブロツク図であり、一例として、
列方向に3個に分割したメモリセル群1a,1b
および1cを配置した場合を示す。同図におい
て、14a,14bおよび14cはこのメモリセ
ル群1a〜1cを選択するメモリセル群選択線、
15は分割ワード線としてのワード線3a〜3c
と同一方向に並行して配置した前置ワード線、1
6a,16bおよび16cは入力端子がそれぞれ
前置ワード線15とメモリセル群選択線14a〜
14cに接続し、出力端子がそれぞれワード線3
a〜3cに接続するアンドゲートである。行デコ
ーダ4はメモリセル群の配列方向の中間に配置さ
れている。
一実施例を示すブロツク図であり、一例として、
列方向に3個に分割したメモリセル群1a,1b
および1cを配置した場合を示す。同図におい
て、14a,14bおよび14cはこのメモリセ
ル群1a〜1cを選択するメモリセル群選択線、
15は分割ワード線としてのワード線3a〜3c
と同一方向に並行して配置した前置ワード線、1
6a,16bおよび16cは入力端子がそれぞれ
前置ワード線15とメモリセル群選択線14a〜
14cに接続し、出力端子がそれぞれワード線3
a〜3cに接続するアンドゲートである。行デコ
ーダ4はメモリセル群の配列方向の中間に配置さ
れている。
次に、上記構成による半導体メモリ装置の動作
について説明する。まず、例えばメモリセル群1
a内のメモリセルを選択する場合、アクセスすべ
きメモリセル群1aの行アドレス情報を行デコー
ダ4で解読し、前置ワード線15の1本を活性化
する。そして、メモリセル群選択線14aに選択
信号を加えると、アンドゲート16aが開き、ワ
ード線3aを活性化する。したがつて、図示せぬ
電源から図示せぬビツト線を経て、メモリセル群
1aへ流れ込むコラム電流が流れるのは選択され
たメモリセル群1a内にあるコラムのみである。
について説明する。まず、例えばメモリセル群1
a内のメモリセルを選択する場合、アクセスすべ
きメモリセル群1aの行アドレス情報を行デコー
ダ4で解読し、前置ワード線15の1本を活性化
する。そして、メモリセル群選択線14aに選択
信号を加えると、アンドゲート16aが開き、ワ
ード線3aを活性化する。したがつて、図示せぬ
電源から図示せぬビツト線を経て、メモリセル群
1aへ流れ込むコラム電流が流れるのは選択され
たメモリセル群1a内にあるコラムのみである。
なお、以上はメモリセル群1a内のメモリセル
の選択について説明したが、他のメモリセル群1
bおよび1cについても同様にできることはもち
ろんである。さらに、メモリセル群を3個に分割
した場合について説明したがN個(N≧2)に分
割しても同様にできることはもちろんである。ま
た、前置ワード線15のみを低抵抗材料で構成し
ておけば、ワード線は抵抗が多少大きくても長さ
が短いため容量が小さく、高速にメモリセルをア
クセスすることができる。また、アンドゲート1
6a〜16cは入力端子が2個、出力端子が1個
のため、回路構成が簡単になるので、チツプ面積
の増大を無視することができる。
の選択について説明したが、他のメモリセル群1
bおよび1cについても同様にできることはもち
ろんである。さらに、メモリセル群を3個に分割
した場合について説明したがN個(N≧2)に分
割しても同様にできることはもちろんである。ま
た、前置ワード線15のみを低抵抗材料で構成し
ておけば、ワード線は抵抗が多少大きくても長さ
が短いため容量が小さく、高速にメモリセルをア
クセスすることができる。また、アンドゲート1
6a〜16cは入力端子が2個、出力端子が1個
のため、回路構成が簡単になるので、チツプ面積
の増大を無視することができる。
以上詳細に説明したように、本発明に係わる半
導体メモリ装置によれば、メモリセルの選択を前
置ワード線とワード線の2段階に分けて行なうよ
うに、行選択を階層的に行なうため、列の直流電
流路のある列数を減少することができるので、高
速で、しかも低消費電力の大容量の半導体メモリ
装置を構成することができる効果がある。
導体メモリ装置によれば、メモリセルの選択を前
置ワード線とワード線の2段階に分けて行なうよ
うに、行選択を階層的に行なうため、列の直流電
流路のある列数を減少することができるので、高
速で、しかも低消費電力の大容量の半導体メモリ
装置を構成することができる効果がある。
以上説明したように本発明は、メモリセルの選
択を前置ワード線と分割ワード線の2段階に分け
て行なうと共に、行デコーダをメモリセル群の配
列方向の中間に設けたことにより、直流電流路の
ある列数を減少することができ、かつ前置ワード
線と分割ワード線を短くできるので、低消費電力
でかつ高速の大容量の半導体メモリ装置を得るこ
とができる効果がある。更に、複数のメモリセル
群の配列方向の中間に行デコーダを設けたことと
したので、行デコーダを端に設けた場合と較べ、
前置ワード線の信号経路が短くなり、高速、低消
費電力がはかれる。
択を前置ワード線と分割ワード線の2段階に分け
て行なうと共に、行デコーダをメモリセル群の配
列方向の中間に設けたことにより、直流電流路の
ある列数を減少することができ、かつ前置ワード
線と分割ワード線を短くできるので、低消費電力
でかつ高速の大容量の半導体メモリ装置を得るこ
とができる効果がある。更に、複数のメモリセル
群の配列方向の中間に行デコーダを設けたことと
したので、行デコーダを端に設けた場合と較べ、
前置ワード線の信号経路が短くなり、高速、低消
費電力がはかれる。
第1図は本発明に係わる半導体メモリ装置の一
実施例を示すブロツク図、第2図は従来の半導体
メモリ装置を示すブロツク図、第3図は第2図の
メモリセルの詳細な回路図、第4図は従来の他の
半導体メモリ装置を示すブロツク図、第5図は従
来の他の半導体メモリ装置を示す配置図である。 1a〜1c……メモリセル群、3a〜3c……
ワード線、4……行デコーダ、14a〜14c…
…メモリセル選択線、15……前置ワード線、1
6a〜16c……アンドゲート。
実施例を示すブロツク図、第2図は従来の半導体
メモリ装置を示すブロツク図、第3図は第2図の
メモリセルの詳細な回路図、第4図は従来の他の
半導体メモリ装置を示すブロツク図、第5図は従
来の他の半導体メモリ装置を示す配置図である。 1a〜1c……メモリセル群、3a〜3c……
ワード線、4……行デコーダ、14a〜14c…
…メモリセル選択線、15……前置ワード線、1
6a〜16c……アンドゲート。
Claims (1)
- 1 メモリセルをマトリクス状に配置したメモリ
セルアレイを列方向に分割して配置した複数のメ
モリセル群と、この複数のメモリセル群の各々に
対応して設けられ各メモリセル群のうちの特定の
ものを選択するメモリセル群選択線と、前記複数
のメモリセル群の配列方向の中間に設けられアク
セスすべきメモリセル群の行アドレス情報を解読
する行デコーダと、この行デコーダの出力端子に
接続され前記複数のメモリセル群に亘つて配置さ
れた前置ワード線と、前記複数のメモリセル群の
各々に対応して設けられ前記メモリセル群選択線
の選択信号と前記前置ワード線の選択信号とに基
づいて活性化される分割ワード線とを備えたこと
を特徴とする半導体メモリ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61297066A JPS62149097A (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 半導体メモリ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61297066A JPS62149097A (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 半導体メモリ装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57095932A Division JPS58211393A (ja) | 1982-06-02 | 1982-06-02 | 半導体メモリ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62149097A JPS62149097A (ja) | 1987-07-03 |
JPH0413798B2 true JPH0413798B2 (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=17841775
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61297066A Granted JPS62149097A (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 半導体メモリ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62149097A (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0824265B2 (ja) * | 1988-10-13 | 1996-03-06 | 松下電器産業株式会社 | D/a変換装置 |
JP2519593B2 (ja) * | 1990-10-24 | 1996-07-31 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4191827B2 (ja) | 1998-10-14 | 2008-12-03 | 株式会社東芝 | 半導体記憶装置 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3533089A (en) * | 1969-05-16 | 1970-10-06 | Shell Oil Co | Single-rail mosfet memory with capacitive storage |
JPS5619585A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-24 | Toshiba Corp | Semiconductor memory unit |
JPS5694576A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-31 | Fujitsu Ltd | Word decoder circuit |
JPS5766587A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Fujitsu Ltd | Static semiconductor storage device |
JPS57105884A (en) * | 1980-12-24 | 1982-07-01 | Fujitsu Ltd | Cmos memory decoder circuit |
-
1986
- 1986-12-12 JP JP61297066A patent/JPS62149097A/ja active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3533089A (en) * | 1969-05-16 | 1970-10-06 | Shell Oil Co | Single-rail mosfet memory with capacitive storage |
JPS5619585A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-24 | Toshiba Corp | Semiconductor memory unit |
JPS5694576A (en) * | 1979-12-28 | 1981-07-31 | Fujitsu Ltd | Word decoder circuit |
JPS5766587A (en) * | 1980-10-09 | 1982-04-22 | Fujitsu Ltd | Static semiconductor storage device |
JPS57105884A (en) * | 1980-12-24 | 1982-07-01 | Fujitsu Ltd | Cmos memory decoder circuit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62149097A (ja) | 1987-07-03 |
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