JPH0636314B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPH0636314B2
JPH0636314B2 JP60288718A JP28871885A JPH0636314B2 JP H0636314 B2 JPH0636314 B2 JP H0636314B2 JP 60288718 A JP60288718 A JP 60288718A JP 28871885 A JP28871885 A JP 28871885A JP H0636314 B2 JPH0636314 B2 JP H0636314B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
read
write
column
data
pair
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP60288718A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62146483A (ja
Inventor
雅彦 樫村
俊明 星
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP60288718A priority Critical patent/JPH0636314B2/ja
Publication of JPS62146483A publication Critical patent/JPS62146483A/ja
Publication of JPH0636314B2 publication Critical patent/JPH0636314B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、半導体記憶装置、特に、ランダムアクセス型
の半導体記憶装置に関する。
<従来の技術> 第2図は従来のランダムアクセス型半導体記憶装置を表
わすブロック図であり、図中X,X,−−は行デコ
ーダに接続された行線であり、YとY′,Y
Y′,−−とはそれぞれ列線対を示している。行線
X1,2−−と列線対YとY′,YとY′,−−−
との各交点には、フリップフロップ回路で構成された記
憶セルC11,C12,C21,C22−−が配設されており、
記憶セルC11,C12−−は行線X,X−−と列線対
とY′,YとY′,−−とにそれぞれ接続さ
れている。記憶セルC11,C12,−−の第2図中下方に
は読み出し回路1と書き込み回路2とが互に隣設して形
成されており、記憶セルC11,C12,−−と読み出し回
路1および書き込み回路2との間の列線対Y
Y′,−−−にはそれぞれMOSトランジスタ3,
4,5,6−−が介装されており、これらMOSトラン
ジスタ3,4,5,6−−のゲートは列選択線7,8−
−を介して列デコーダに接続されている。さらに、これ
ら列選択線7,8,−−と読み出し回路1および書き込
み回路2との間には、列線対の一方Y,Y,−−を
接続する接続線9と列線対の他方Y′,Y′−−を
接続する接続線10、さらには読み出しモード線11と
書き込みモード線12とが延在しており、読み出しモー
ド線11と書き込みモード線12とは、読み出し回路1
と書き込み回路2との入力部に設けられたMOSトラン
ジスタ13,14,15,16のゲートにそれぞれ接続
されている。
かかる構成の従来例の作用を述べれば、行デコーダによ
りいずれかの行線X,X,−−が選択され、該選択
された行線X,X,−−に接続されている記憶セル
11,C12,−−が活性化し、列デコーダによって選択
された列選択線7,8−−−がMOSトランジスタ3,
4,5,6−−をオン状態にすると、選択された行線X
,X,−−−と選択された列線対YとY′,Y
とY′との交点に配置された記憶セルC11,C12
−−のみ読み出し回路1、および書き込み回路2に接続
可能になる。ここで、読み出しモード線11に選択信号
が現われMOSトランジスタ13,14がオン状態にな
っていると、活性化された記憶セルC11,C12,−−の
うち選択された列線対に接続されているものが記憶して
いたデータが1対の列線対に出力され、読み出し回路1
で判別された後、外部に出力される一方、書き込みモー
ド線12に選択信号が現われているときには、MOSト
ランジスタ15,16がオン状態になっているので、外
部から印加されたデータは書き込み回路2から選択され
た列線対に印加され、活性化されている記憶セルに記憶
される。
<発明の解決しようとする問題点> 上記構成に係わる従来の半導体記憶装置にあっては、読
み出し回路と書き込み回路とが互に隣接して設けられて
いたので、データを構成するビット数が多いにもかかわ
らず、各ビットに対応する記憶セルが少い列線対に接続
されていると、わずかな間隔に読み出し回路1と書き込
み回路2とを形成しなければならず、これら回路1,2
の列線対方向の寸法が増大し、半導体基板上に集積化し
にくいという問題点があった。
<問題点を解決するための手段> 本発明は上記従来技術におけるレイアウト上の問題点に
鑑み、読み出し回路と書き込み回路とを記憶セルの配列
本の両側にそれぞれ配設したことを要旨とする。
<実施例> 第1図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、図
中、従来例と同一構成部分には、同一符号のみ付し、詳
細な説明は省略する。記憶セルC11,C12,C21,C22
の配列体20の両側には、読み出し回路21と書き込み
回路22とがそれぞれ配設されており、記憶セルの配列
本20と読み出し回路21との間では、第1列選択線群
を構成する列選択線23,24−−が列線対YとY′
,YとY′にそれぞれ介在するMOSトランジス
タ25,26,27,28−−のゲートに接続されてい
る。記憶セルの配列本20と書き込み回路22との間で
は、第2列選択線群を構成する列選択線29,30が列
線対YとY′,YとY′にそれぞれ介在するM
OSトランジスタ31,32,33,34のゲートに接
続されており、第1列選択線群と第2列選択線群とは共
に列デコーダに接続されている。この列デコーダは第1
列選択線群と第2列選択線群とに同じ列線対YとY′
,YとY′−−を選択させることもできるが、そ
れぞれの列選択線群に異なる列線対YとY′,Y
とY′を選択させることもできる。各列線対の一方Y
,Yは互に接続線35で接続されており、しかも、
接続線35は配列本20の両側において同一の列線
,Yを接続する。同様に、列線対の他方Y′
Y′も配列本20の両側で互に接続線36により接続さ
れている。
37,38は読み出しモード線と書き込みモード線であ
り、それぞれ読み出し回路21の入力部と書き込み回路
22の入力部とに設けられたMOSトランジスタ39,
40,41,42のゲートに接続されている。第3図は
各記憶セルを構成するMOSトランジスタから成るフリ
ップフロップである。
次に、一実施例の作用を説明する。通常の単なる読み出
しモードと単なる書き込みモードとは従来例と同様なの
で省略し、記憶セルC21からデータを読み出し、かつ、
記憶セルC22にデータを書き込む同時動作モードについ
て説明する。
まず、行デコーダにより行線Xに活性信号が印加され
ると、該行線Xに接続されている記憶セルC21,C22
が活性化し、続いて、列デコーダが列選択線24と列選
択線29とに選択信号を印加すると、MOSトランジス
タ25,26,33,34がオン状態になる。このと
き、同時動作モードなので、読み出しモード線37と書
き込みモード線38とに選択信号が印加され、MOSト
ランジスタ39,40,41,42が全てオン状態にな
るので、記憶セルC21のデータは読み出し回路21で判
別され、外部に出力されると共に、書き込み回路22か
ら記憶セルC22に新たなデータが付与される。
<効果> 以上説明してきたように、本発明によれば、記憶セルの
配列本の両側にそれぞれ読み出し回路と書き込み回路を
設けたので、それぞれの回路を行線の延在方向に拡張す
ることができ、半導体基板上にレイアウトし易くなると
いう効果を得られる。
さらに一実施例では、2組の列選択手段を設けたので、
異なる記憶セルにデータの読み出しと書き込みとを同時
に行なえるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
従来例を示すブロック図、第3図は第1図の記憶セルの
回路図である。 X,X……行線、Y,Y′,Y,Y′……
列線対、C11,C12,C21,C22……記憶セル、20……
配列体、21……読み出し回路、22……書き込み回
路、23,24,25,26,27,28……第1列選
択手段、29,30,31,32,33,34……第2
列選択手段。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の行線と、複数の列線対と、前記複数
    の行線と前記複数の列線対との各交叉部に配置されそれ
    ぞれが1対の列線と1本の行線とに接続された複数の記
    憶セルからなる記憶セル配列体と、書き込むべくデータ
    に基づくデータ信号を選択された列線対に書き込み信号
    に応答して印加する書き込み回路と、選択された列線対
    に現われる記憶セルからのデータ信号を読み出し信号に
    応答して判読し出力する読み出し回路とを含む半導体記
    憶装置において、前記書き込み回路と読み出し回路とを
    前記記憶セル配列体の両側にそれぞれ設け、さらに、前
    記書き込み回路に接続され前記書き込むべくデータに基
    づくデータ信号が供給されるデータ書き込み線対と、一
    端が前記データ書き込み線対に接続され前記書き込み信
    号により活性化される書き込みトランスファゲート対
    と、夫々の一端が前記書き込みトランスファゲート対の
    他端に接続されそれぞれの他端が前記複数の列線対にそ
    れぞれ接続された複数の第1列選択スイッチと、前記読
    み出し回路に接続され前記記憶セルからのデータ信号が
    転送されるデータ読み出し線対と、一端が前記データ読
    み出し線対に接続され前記読み出し信号により活性化さ
    れる読み出しトランスファゲート対と、夫々の一端が前
    記読み出しトランスファゲート対の他端に接続されそれ
    ぞれの他端が前記複数の列線対にそれぞれ接続された複
    数の第2列選択スイッチとを設け、前記書き込み信号お
    よび前記読み出し信号が両方とも発生されている状態で
    前記第1および第2列選択スイッチにより互いに異なる
    2つの列線対を選択できるようにしたことを特徴とする
    半導体記憶装置。
JP60288718A 1985-12-20 1985-12-20 半導体記憶装置 Expired - Lifetime JPH0636314B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60288718A JPH0636314B2 (ja) 1985-12-20 1985-12-20 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60288718A JPH0636314B2 (ja) 1985-12-20 1985-12-20 半導体記憶装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62146483A JPS62146483A (ja) 1987-06-30
JPH0636314B2 true JPH0636314B2 (ja) 1994-05-11

Family

ID=17733781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60288718A Expired - Lifetime JPH0636314B2 (ja) 1985-12-20 1985-12-20 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0636314B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01178193A (ja) * 1988-01-07 1989-07-14 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPH0772992B2 (ja) * 1988-09-16 1995-08-02 日本電信電話株式会社 半導体メモリ

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4623990A (en) * 1984-10-31 1986-11-18 Advanced Micro Devices, Inc. Dual-port read/write RAM with single array

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62146483A (ja) 1987-06-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4675845A (en) Semiconductor memory
KR910009444B1 (ko) 반도체 메모리 장치
US4581720A (en) Semiconductor memory device
JPH054757B2 (ja)
JPH03235290A (ja) 階層的な行選択線を有する半導体記憶装置
US4590588A (en) Monolithic semiconductor memory
JPH06302189A (ja) 半導体記憶装置
US6574128B1 (en) Mid array isolate circuit layout
JPS62137843A (ja) ゲ−トアレ−デバイス
JPS5877091A (ja) メモリ装置
JPH04351789A (ja) 半導体記憶装置
JPH01294295A (ja) パーシャル・ランダム・アクセス・メモリ
JPS63247992A (ja) 集積メモリ回路
JPH0636314B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0419710B2 (ja)
US6278647B1 (en) Semiconductor memory device having multi-bank and global data bus
JPH036596B2 (ja)
JP3579068B2 (ja) 論理回路
JP3198584B2 (ja) スタティック型半導体記憶装置
JPS6047669B2 (ja) 半導体メモリ
JP2590701B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2908095B2 (ja) 半導体記憶装置
JP2991399B2 (ja) ゲートアレイ半導体装置
JPS5818715B2 (ja) メモリ
JPH0715791B2 (ja) 半導体記憶装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term