JPS6258049B2 - - Google Patents
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- JPS6258049B2 JPS6258049B2 JP56204729A JP20472981A JPS6258049B2 JP S6258049 B2 JPS6258049 B2 JP S6258049B2 JP 56204729 A JP56204729 A JP 56204729A JP 20472981 A JP20472981 A JP 20472981A JP S6258049 B2 JPS6258049 B2 JP S6258049B2
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- semiconductor laser
- metal cantilever
- metal
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/02—Structural details or components not essential to laser action
- H01S5/022—Mountings; Housings
- H01S5/023—Mount members, e.g. sub-mount members
- H01S5/02325—Mechanically integrated components on mount members or optical micro-benches
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はビデオデイスク等に使用されるデイ
スク状記録媒体の情報を読みとる光ピツクアツプ
に関する。ここに記載する光ピツクアツプとは、
回転するデイスク状記録媒体上にスポツト状に集
光された光束(以下では集光スポツトと呼称す
る。)が反射される際に、前記デイスク状記録媒
体の回転中心を中心とする円弧に沿つて刻まれた
一定深さのピツト列によつて受ける強度変調を検
出することにより、前記デイスク状記録媒体の情
報を読みとるものをいう。前記強度変調の検出を
確実に行うためには、周知の如く、前記集光スポ
ツトが常に前記ピツト列の上にあるようにトラツ
キングを行う必要がある。これに伴い、トラツキ
ング誤差検出が必要不可欠となるが、公知の一手
法としてウオブリング(Wobbling)法がある。
これは前記集光スポツトを前記ピツト列とは垂直
な方向に、一定周波数にて全振幅0.1μmないし
0.2μm程度微小変動させ、反射光の前記周波数
における位相を検出することによりトラツキング
誤差検出を行う方法である。
スク状記録媒体の情報を読みとる光ピツクアツプ
に関する。ここに記載する光ピツクアツプとは、
回転するデイスク状記録媒体上にスポツト状に集
光された光束(以下では集光スポツトと呼称す
る。)が反射される際に、前記デイスク状記録媒
体の回転中心を中心とする円弧に沿つて刻まれた
一定深さのピツト列によつて受ける強度変調を検
出することにより、前記デイスク状記録媒体の情
報を読みとるものをいう。前記強度変調の検出を
確実に行うためには、周知の如く、前記集光スポ
ツトが常に前記ピツト列の上にあるようにトラツ
キングを行う必要がある。これに伴い、トラツキ
ング誤差検出が必要不可欠となるが、公知の一手
法としてウオブリング(Wobbling)法がある。
これは前記集光スポツトを前記ピツト列とは垂直
な方向に、一定周波数にて全振幅0.1μmないし
0.2μm程度微小変動させ、反射光の前記周波数
における位相を検出することによりトラツキング
誤差検出を行う方法である。
従来、ウオブリングの手段としては、専ら、振
動鏡の如きウオブリングに専用の光学素子が使用
されていた。このために従来の光ピツクアツプに
は、構造、光路が複雑になるという欠点があつ
た。一方光ピツクアツプの光源としては、長寿命
化、小形化、のために、従来のHe−Neレーザに
代り、半導体レーザが用いられつつあるが、従来
のウオブリングの手段を踏襲する限り、半導体レ
ーザの小形・軽量性という長所を十分に生かすこ
とができない。以上の事情を図について説明す
る。
動鏡の如きウオブリングに専用の光学素子が使用
されていた。このために従来の光ピツクアツプに
は、構造、光路が複雑になるという欠点があつ
た。一方光ピツクアツプの光源としては、長寿命
化、小形化、のために、従来のHe−Neレーザに
代り、半導体レーザが用いられつつあるが、従来
のウオブリングの手段を踏襲する限り、半導体レ
ーザの小形・軽量性という長所を十分に生かすこ
とができない。以上の事情を図について説明す
る。
第1図は、従来のHe−Neレーザを半導体レー
ザに置きかえて設計された光ピツクアツプの例を
示す図である。図において半導体レーザ10より
出射する、直線偏光をなすレーザ光束20は偏光
ピームスプリツタ30によつて反射され、コリメ
ートレンズ40によりコリメートされた後、λ/
4波長板50を透過して円偏光となり、ウオブリ
ング用振動鏡60、トラツキング誤差補正鏡7
0、ジツタ補正鏡80を経て、集光レンズ90に
て、回転するデイスク状記録媒体100(以下で
はデイスクと呼称する)に集光される。デイスク
面の円周に沿うピツト列によつて強度変調された
デイスクからの反射光束は前述の光路を逆行し、
前記λ/4波長板50を透過した後、往路の偏光
方向とは直交する方向に偏つた直線偏向となり、
コリメートレンズ40、偏光ビームスプリツタ3
0を透過し、更に円筒レンズ110を透過した後
非点光束となり、通常4象限検出器とよばれる4
分割光検出器120にて検出される。以上第1図
について述べた各部の、光ピツクアツプにおける
機能は周知であるが、なお補足すれば、円筒鏡1
10とコリメートレンズ40とにより形成される
非点光束の断面形状は4分割検知器120上で、
デイスク面における合焦の程度に対応して変化、
これによりフオーカス誤差を検出できる。なお第
1図の如き光ピツクアツプでは、トラツキング誤
差補正鏡70、ジツタ補正鏡80を別個に駆動す
る1対のアクチユエータ、集光レンズ90を駆動
して合焦を行なうボイスコイル形アクチユエータ
などが常設されるが、図においては省略してあ
る。さて第1図に示した光ピツクアツプの光学系
では、ウオブリング用振動鏡60が独自の空間を
占有すること、同振動鏡により光路が複雑化する
等の事情によつて光ピツクアツプの構造が複雑と
なり、小形化には限界がある。
ザに置きかえて設計された光ピツクアツプの例を
示す図である。図において半導体レーザ10より
出射する、直線偏光をなすレーザ光束20は偏光
ピームスプリツタ30によつて反射され、コリメ
ートレンズ40によりコリメートされた後、λ/
4波長板50を透過して円偏光となり、ウオブリ
ング用振動鏡60、トラツキング誤差補正鏡7
0、ジツタ補正鏡80を経て、集光レンズ90に
て、回転するデイスク状記録媒体100(以下で
はデイスクと呼称する)に集光される。デイスク
面の円周に沿うピツト列によつて強度変調された
デイスクからの反射光束は前述の光路を逆行し、
前記λ/4波長板50を透過した後、往路の偏光
方向とは直交する方向に偏つた直線偏向となり、
コリメートレンズ40、偏光ビームスプリツタ3
0を透過し、更に円筒レンズ110を透過した後
非点光束となり、通常4象限検出器とよばれる4
分割光検出器120にて検出される。以上第1図
について述べた各部の、光ピツクアツプにおける
機能は周知であるが、なお補足すれば、円筒鏡1
10とコリメートレンズ40とにより形成される
非点光束の断面形状は4分割検知器120上で、
デイスク面における合焦の程度に対応して変化、
これによりフオーカス誤差を検出できる。なお第
1図の如き光ピツクアツプでは、トラツキング誤
差補正鏡70、ジツタ補正鏡80を別個に駆動す
る1対のアクチユエータ、集光レンズ90を駆動
して合焦を行なうボイスコイル形アクチユエータ
などが常設されるが、図においては省略してあ
る。さて第1図に示した光ピツクアツプの光学系
では、ウオブリング用振動鏡60が独自の空間を
占有すること、同振動鏡により光路が複雑化する
等の事情によつて光ピツクアツプの構造が複雑と
なり、小形化には限界がある。
この発明は以上の欠点を除去するためになされ
たもので、その特徴は振動鏡の如き、ウオブリン
グに専用の光学素子を設けることなしに、半導体
レーザの小形・軽量性という特徴を生かすべく、
小形かつ単純構造のカンチレバーの先端近傍に半
導体レーザを装着し、前記カンチレバーを励振す
る半導体レーザ加振装置を設け、集光レンズによ
つてデイスク上に集光された集光スポツトを一定
周波数にて振動させることにある。また他の特徴
は、前記カンチレバー、およびそのクランパの材
料として金属を採用し、前記金属の良好な熱伝導
性によつて前記半導体レーザの放熱を確実に行わ
しめ、前記半導体レーザの安定な発振を持続させ
ることにある。更に他の特徴は、前記金属製カン
チレバーの両面に電歪素子を張りつけ、これらを
帯域増幅器、移相器を含む電気信号増幅装置に接
続して前記金属製カンチレバーの自励発振を行わ
しめ、もつて一定振幅、一定周波数の安定な機械
的振動を半導体レーザに加えることにより、前記
デイスク上の集光スポツトを一定周波数、一定振
幅にて振動させることにある。以下図面について
説明する。
たもので、その特徴は振動鏡の如き、ウオブリン
グに専用の光学素子を設けることなしに、半導体
レーザの小形・軽量性という特徴を生かすべく、
小形かつ単純構造のカンチレバーの先端近傍に半
導体レーザを装着し、前記カンチレバーを励振す
る半導体レーザ加振装置を設け、集光レンズによ
つてデイスク上に集光された集光スポツトを一定
周波数にて振動させることにある。また他の特徴
は、前記カンチレバー、およびそのクランパの材
料として金属を採用し、前記金属の良好な熱伝導
性によつて前記半導体レーザの放熱を確実に行わ
しめ、前記半導体レーザの安定な発振を持続させ
ることにある。更に他の特徴は、前記金属製カン
チレバーの両面に電歪素子を張りつけ、これらを
帯域増幅器、移相器を含む電気信号増幅装置に接
続して前記金属製カンチレバーの自励発振を行わ
しめ、もつて一定振幅、一定周波数の安定な機械
的振動を半導体レーザに加えることにより、前記
デイスク上の集光スポツトを一定周波数、一定振
幅にて振動させることにある。以下図面について
説明する。
第2図はこの発明の実施例を示す図である。図
において、半導体レーザ10は、補助のヒートシ
ンク130を介して、両面に電歪素子板140
a,140bを張りつけた金属製カンチレバー1
50の先端近傍に、ろう付け等の手段により、前
記金属製カンチレバー150と熱的接触を保ちつ
つ装着されている。前記半導体レーザ10より出
射されるレーザ光束20は一般に直線偏光であ
り、コリメートレンズ40によつてコリメートさ
れたレーザ光束は、前記レーザ光束を透過するよ
うに配置された偏光ビームスプリツタ30を透過
した後、前記偏光ビームスプリツタ30に固定さ
れた第1のλ/4波長板50aを透過し、更に集
光レンズ90によつてデイスク100上に集光さ
れる。デイスク100により反射されたレーザ光
束は前記集光レンズ90を通過した後、前記第1
のλ/4波長板50aを透過して、前述往路のレ
ーザ光束とは垂直方向に偏つた直線偏向となり、
偏光ビームスプリツタ30により反射されて、前
記偏光ビームスプリツタ30に固定された第2の
λ/4波長板50bを通過し、第1の反射鏡16
0aで反射されて前記第2のλ/4波長板50b
を透過し、再び偏光方向が90゜変化し、前記偏光
ビームスプリツタ30を透過する。以下レーザ光
束は同様にして、第3のλ/4波長板50cを透
過した後、傾けて設けられた円筒鏡である第2の
反射鏡160bで反射され前記第3のλ/4波長
板50cを透過し、前記偏光ビームスプリツタ3
0で反射され、前記コリメートレンズ40を通過
して、前記半導体レーザ10と近接して設けられ
た4分割光検出器120にて受光される。前記4
分割光検出器120で受光されるレーザ光束は、
前記円筒鏡である第2の反射鏡160bと前記コ
リメートレンズ40とによつて非点光束となつて
いるため、先の第1図について説明したようにデ
イスク100上で合焦の程度が検出される。一方
前記半導体レーザ10には、前記金属製カンチレ
バー150、同カンチレバーのクランパ170お
よび電歪素子板140a,140bよりなる半導
体レーザ加振部と電気信号増幅装置180から構
成される半導体レーザ加振装置とによつて以下説
明するように一定周波数、一定振幅の微小な機械
的振動が与えられ、このためにデイスク100に
集光されるレーザ光束は前記一定周波数にて振動
し、ウオブリングが行われる。半導体レーザ10
が発生する熱は、前記補助のヒートシンク13
0、前記金属性カンチレバー150、前記クラン
パ170、前記クランパに熱的接触を保ちつつ固
定された金属筒190、更に前記金属筒190に
外接する金属製枠体200を順次伝いつつ放熱が
なされる。なお、図には示さなかつたが、半導体
レーザ10のリード線、電歪素子板140a,1
40bのリード線は、前記クランパに固定された
磁器製端子板210を中継して光ピツクアツプの
外部に引き出すことができる。
において、半導体レーザ10は、補助のヒートシ
ンク130を介して、両面に電歪素子板140
a,140bを張りつけた金属製カンチレバー1
50の先端近傍に、ろう付け等の手段により、前
記金属製カンチレバー150と熱的接触を保ちつ
つ装着されている。前記半導体レーザ10より出
射されるレーザ光束20は一般に直線偏光であ
り、コリメートレンズ40によつてコリメートさ
れたレーザ光束は、前記レーザ光束を透過するよ
うに配置された偏光ビームスプリツタ30を透過
した後、前記偏光ビームスプリツタ30に固定さ
れた第1のλ/4波長板50aを透過し、更に集
光レンズ90によつてデイスク100上に集光さ
れる。デイスク100により反射されたレーザ光
束は前記集光レンズ90を通過した後、前記第1
のλ/4波長板50aを透過して、前述往路のレ
ーザ光束とは垂直方向に偏つた直線偏向となり、
偏光ビームスプリツタ30により反射されて、前
記偏光ビームスプリツタ30に固定された第2の
λ/4波長板50bを通過し、第1の反射鏡16
0aで反射されて前記第2のλ/4波長板50b
を透過し、再び偏光方向が90゜変化し、前記偏光
ビームスプリツタ30を透過する。以下レーザ光
束は同様にして、第3のλ/4波長板50cを透
過した後、傾けて設けられた円筒鏡である第2の
反射鏡160bで反射され前記第3のλ/4波長
板50cを透過し、前記偏光ビームスプリツタ3
0で反射され、前記コリメートレンズ40を通過
して、前記半導体レーザ10と近接して設けられ
た4分割光検出器120にて受光される。前記4
分割光検出器120で受光されるレーザ光束は、
前記円筒鏡である第2の反射鏡160bと前記コ
リメートレンズ40とによつて非点光束となつて
いるため、先の第1図について説明したようにデ
イスク100上で合焦の程度が検出される。一方
前記半導体レーザ10には、前記金属製カンチレ
バー150、同カンチレバーのクランパ170お
よび電歪素子板140a,140bよりなる半導
体レーザ加振部と電気信号増幅装置180から構
成される半導体レーザ加振装置とによつて以下説
明するように一定周波数、一定振幅の微小な機械
的振動が与えられ、このためにデイスク100に
集光されるレーザ光束は前記一定周波数にて振動
し、ウオブリングが行われる。半導体レーザ10
が発生する熱は、前記補助のヒートシンク13
0、前記金属性カンチレバー150、前記クラン
パ170、前記クランパに熱的接触を保ちつつ固
定された金属筒190、更に前記金属筒190に
外接する金属製枠体200を順次伝いつつ放熱が
なされる。なお、図には示さなかつたが、半導体
レーザ10のリード線、電歪素子板140a,1
40bのリード線は、前記クランパに固定された
磁器製端子板210を中継して光ピツクアツプの
外部に引き出すことができる。
第3図は半導体レーザ加振部の斜視図である。
図において半導体レーザ10は、補助ヒートシン
ク130を介して、直方体状金属製カンチレバー
150の先端近傍にろう付け等により装着されて
いる。前記金属製カンチレバー150は、同一金
属材料あるいは別途加工された金属よりなるクラ
ンパ170によつて一方が固定されている。前記
金属製カンチレバー150には、前記半導体レー
ザ10とは異なる位置に、前記金属製カンチレバ
ー150の長さ方向220に電歪効果によつて伸
縮可能な、各々の両面に電極を備えた、1対の電
歪素子板140a,140bが各々張りつけられ
ている。但し図には前記電歪素子板140bは示
されていない。各電歪素子板140a,140b
の、前記金属製カンチレバー150に接していな
い電極からは、リード線230a,230bが引
き出されており、電極電圧のとり出し、あるいは
電極への電圧印加が可能となるようになされてい
る。
図において半導体レーザ10は、補助ヒートシン
ク130を介して、直方体状金属製カンチレバー
150の先端近傍にろう付け等により装着されて
いる。前記金属製カンチレバー150は、同一金
属材料あるいは別途加工された金属よりなるクラ
ンパ170によつて一方が固定されている。前記
金属製カンチレバー150には、前記半導体レー
ザ10とは異なる位置に、前記金属製カンチレバ
ー150の長さ方向220に電歪効果によつて伸
縮可能な、各々の両面に電極を備えた、1対の電
歪素子板140a,140bが各々張りつけられ
ている。但し図には前記電歪素子板140bは示
されていない。各電歪素子板140a,140b
の、前記金属製カンチレバー150に接していな
い電極からは、リード線230a,230bが引
き出されており、電極電圧のとり出し、あるいは
電極への電圧印加が可能となるようになされてい
る。
第4図は半導体レーザ加振装置の動作説明図で
ある。金属製カンチレバー150に張り付けられ
た電歪素子板140bより引き出されたリード線
230bにより、前記電歪素子板140bの電極
電圧が電気信号増幅装置180に入力される。電
気信号増幅装置180は、帯域フイルタ240、
増幅器250および移相器260を含み、その出
力電圧をリード線230aを介して、電歪素子板
140aに印加する。増幅器250の利得、移相
器240による移相量は、前記金属製カンチレバ
ー150の先端が、自励発振によつて一定振幅で
安定に振れるように調整される。帯域フイルタ2
40は、前記金属製カンチレバー150の1つの
固有振動数に合わせられており、当振動数にて自
励発振が行われるように設けられている。
ある。金属製カンチレバー150に張り付けられ
た電歪素子板140bより引き出されたリード線
230bにより、前記電歪素子板140bの電極
電圧が電気信号増幅装置180に入力される。電
気信号増幅装置180は、帯域フイルタ240、
増幅器250および移相器260を含み、その出
力電圧をリード線230aを介して、電歪素子板
140aに印加する。増幅器250の利得、移相
器240による移相量は、前記金属製カンチレバ
ー150の先端が、自励発振によつて一定振幅で
安定に振れるように調整される。帯域フイルタ2
40は、前記金属製カンチレバー150の1つの
固有振動数に合わせられており、当振動数にて自
励発振が行われるように設けられている。
以上で述べたように、半導体レーザ加振装置を
用いた本発明による光ピツクアツプによれば、半
導体レーザは小形かつ単純構造の金属製カンチレ
バーに熱的接触を保つよう装着され、前記金属製
カンチレバーはその両面に張り付けられた1対の
電歪素子板と、別途設けられた、帯域増幅器と移
相器を含む電気信号増幅装置とにより自励発振を
行つて前記半導体レーザを一定周波数、一定振幅
で加振するため、従来使用されていた振動鏡の如
きウオブリングに専用の光学素子を使用すること
なくウオブリングがなされるとともに、半導体レ
ーザの小形・軽量性という特長を損うことなしに
良好な放熱がなされ、安定したレーザ発振が維持
されるので、小形な光ピツクアツプが実現でき
る。
用いた本発明による光ピツクアツプによれば、半
導体レーザは小形かつ単純構造の金属製カンチレ
バーに熱的接触を保つよう装着され、前記金属製
カンチレバーはその両面に張り付けられた1対の
電歪素子板と、別途設けられた、帯域増幅器と移
相器を含む電気信号増幅装置とにより自励発振を
行つて前記半導体レーザを一定周波数、一定振幅
で加振するため、従来使用されていた振動鏡の如
きウオブリングに専用の光学素子を使用すること
なくウオブリングがなされるとともに、半導体レ
ーザの小形・軽量性という特長を損うことなしに
良好な放熱がなされ、安定したレーザ発振が維持
されるので、小形な光ピツクアツプが実現でき
る。
なお本発明に係る光ピツクアツプの説明におい
ては、光ピツクアツプに必要な、合焦、トラツキ
ング、あるいはジツタ補正のためのアクチユエー
タについて説明を省略した。これは、アクチユエ
ータがとくに本発明にとつて主要な要素でないた
めであるが、本発明によつて光ピツクアツプの小
形化が実現されるので、従来のものと異なり、ア
クチユエータを光ピツクアツプ内の光学系部品に
組込まず、光ピツクアツプ全体を動かすアクチユ
エータに本発明に係る光ピツクアツプを装着する
ことも可能となり、第2図における取付部280
は以上のことを考慮して設けてある。
ては、光ピツクアツプに必要な、合焦、トラツキ
ング、あるいはジツタ補正のためのアクチユエー
タについて説明を省略した。これは、アクチユエ
ータがとくに本発明にとつて主要な要素でないた
めであるが、本発明によつて光ピツクアツプの小
形化が実現されるので、従来のものと異なり、ア
クチユエータを光ピツクアツプ内の光学系部品に
組込まず、光ピツクアツプ全体を動かすアクチユ
エータに本発明に係る光ピツクアツプを装着する
ことも可能となり、第2図における取付部280
は以上のことを考慮して設けてある。
更に本発明に第2図に示した光ピツクアツプの
みならず、トラツキング誤差信号にウオブリング
を採用した光ピツクであればどのようなものにも
適用でき、例えば第1図における半導体レーザ1
0の位置に半導体レーザ加振装置を設けるととも
に同図におけるウオブリング用振動鏡60を除去
して光路を簡素化した光ピツクアツプも実現でき
ることはいうまでもない。
みならず、トラツキング誤差信号にウオブリング
を採用した光ピツクであればどのようなものにも
適用でき、例えば第1図における半導体レーザ1
0の位置に半導体レーザ加振装置を設けるととも
に同図におけるウオブリング用振動鏡60を除去
して光路を簡素化した光ピツクアツプも実現でき
ることはいうまでもない。
第1図は従来のHe−Neレーザを半導体レーザ
に置きかけて設計された光ピツクアツプの例を示
す図、第2図は本発明の実施例を示す図、第3図
は半導体レーザ加振部の斜視図、第4図は半導体
レーザ加振装置の動作説明図である。 図中10は半導体レーザ、30は偏光ビームス
プリツタ、50はλ/4波長板、90は集光レン
ズ、100はデイスク、120は4分割光検出
器、140は電歪素子板、150は金属製カンチ
レバー、160は反射鏡、170はクランパ、1
80は電気信号増幅装置、240は帯域フイル
タ、250は増幅器、260は移相器である。な
お、図中同一または相当部分には同一符号を付し
て示してある。
に置きかけて設計された光ピツクアツプの例を示
す図、第2図は本発明の実施例を示す図、第3図
は半導体レーザ加振部の斜視図、第4図は半導体
レーザ加振装置の動作説明図である。 図中10は半導体レーザ、30は偏光ビームス
プリツタ、50はλ/4波長板、90は集光レン
ズ、100はデイスク、120は4分割光検出
器、140は電歪素子板、150は金属製カンチ
レバー、160は反射鏡、170はクランパ、1
80は電気信号増幅装置、240は帯域フイル
タ、250は増幅器、260は移相器である。な
お、図中同一または相当部分には同一符号を付し
て示してある。
Claims (1)
- 1 回転するデイスク状記録媒体のピツト列によ
る反射光強度変調を利用して前記記録媒体の情報
を読みとるべく、光源として半導体レーザを用い
た光ピツクアツプにおいて、一端を固定するクラ
ンパと共に同一金属材料より加工されて成るか、
もしくは別金属部材にて別途加工されたクランパ
に熱的接触を保ちつつ固定されてなる大略直方体
状の金属製カンチレバーと、前記金属製カンチレ
バー先端近傍にろう付け等の手段をもつて、熱的
接触を保ちつつ装着された光源である半導体レー
ザと、前記金属製カンチレバーの相対向する2面
に、前記半導体レーザとは異なる位置に各々張り
付けられ、かつ前記金属製カンチレバーの長さ方
向に電歪効果によつて伸縮可能な、各々の両面に
電極を設けた1対の電歪素子板と、前記1対の電
歪素子板のうち第1の電歪素子板の、前記金属製
カンチレバーに接していない側の電極に生ずる電
圧を増幅する少くとも帯域通過フイルタ付増幅器
と位相変化部を設けた電気信号増幅部とを有し、
前記電気信号増幅部の出力を前記1対の電歪素子
板のうち第2の電歪素子板の、前記金属製カンチ
レバーに接していない側の電極に印加することに
より前記金属製カンチレバーの自動発振を誘起
し、この自励発振による前記金属製カンチレバー
先端の振動を前記半導体レーザに伝達する半導体
レーザ加振装置を備えたことを特徴とする光ピツ
クアツプ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56204729A JPS58108037A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56204729A JPS58108037A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 光ピツクアツプ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58108037A JPS58108037A (ja) | 1983-06-28 |
JPS6258049B2 true JPS6258049B2 (ja) | 1987-12-03 |
Family
ID=16495340
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56204729A Granted JPS58108037A (ja) | 1981-12-18 | 1981-12-18 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58108037A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0519856Y2 (ja) * | 1985-07-23 | 1993-05-25 | ||
JP2990038B2 (ja) * | 1995-03-30 | 1999-12-13 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド |
-
1981
- 1981-12-18 JP JP56204729A patent/JPS58108037A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58108037A (ja) | 1983-06-28 |
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