JPS6243277B2 - - Google Patents
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- JPS6243277B2 JPS6243277B2 JP54035712A JP3571279A JPS6243277B2 JP S6243277 B2 JPS6243277 B2 JP S6243277B2 JP 54035712 A JP54035712 A JP 54035712A JP 3571279 A JP3571279 A JP 3571279A JP S6243277 B2 JPS6243277 B2 JP S6243277B2
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- Japan
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- power supply
- memory
- circuit
- memory device
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
- G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
- G06F13/42—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation
- G06F13/4204—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a parallel bus
- G06F13/4234—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a parallel bus being a memory bus
- G06F13/4243—Bus transfer protocol, e.g. handshake; Synchronisation on a parallel bus being a memory bus with synchronous protocol
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/06—Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
- G11C5/066—Means for reducing external access-lines for a semiconductor memory clip, e.g. by multiplexing at least address and data signals
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明はメモリー装置の外部ピン又は外部端
子の数を最少にする回路に関し、特に詳しくは外
部の電源及び接地ピンの作用を他のピン又は端子
の作用に併合させたメモリー装置に関する。
子の数を最少にする回路に関し、特に詳しくは外
部の電源及び接地ピンの作用を他のピン又は端子
の作用に併合させたメモリー装置に関する。
コンピユータのメモリーに設けられ、一定領域
内に装着し得るメモリー装置の数を増加すること
を目的として、ピンの数を減少するようにした方
式は係属中の米国特許出願第812290号(特願昭53
−76599号)「A Minimum Pin Memory
Device」及びともに出願中の米国特許出願第
895328号(特願昭54−500640号「Memory
Device Having A Reduced Number of
Pins」にも記述されており、両出願ともこの出願
の譲受人と同一人に譲渡されたものである。
内に装着し得るメモリー装置の数を増加すること
を目的として、ピンの数を減少するようにした方
式は係属中の米国特許出願第812290号(特願昭53
−76599号)「A Minimum Pin Memory
Device」及びともに出願中の米国特許出願第
895328号(特願昭54−500640号「Memory
Device Having A Reduced Number of
Pins」にも記述されており、両出願ともこの出願
の譲受人と同一人に譲渡されたものである。
前述の出願第812290号では、ピン数の減少はそ
れぞれのピンを通して送受信する信号の持つ作用
を併合することによつて達成された。すなわち、
第1の端子はクロツク及びメモリー選択の両作用
を提供し、第2の端子は2方向性であり、メモリ
ー・モードの選択作用とアドレス及びデータの入
出力作用とを提供する。
れぞれのピンを通して送受信する信号の持つ作用
を併合することによつて達成された。すなわち、
第1の端子はクロツク及びメモリー選択の両作用
を提供し、第2の端子は2方向性であり、メモリ
ー・モードの選択作用とアドレス及びデータの入
出力作用とを提供する。
ピン数の減少は前述の第2の米国特許願第
895328号にも記載されている。その出願では、メ
モリー装置になる回路が設けられ、2本の外部ピ
ンに供給された信号を受信する。その回路のしき
い値検出器は信号の電圧値の差異を検出し、その
差異が所定の値に達したときにそのメモリー装置
内の内部電源の電圧及び接地端子に対して信号が
供給されるようにした。従つて、メモリー装置の
外部電源及び接地端子の必要性はなくなつた。
895328号にも記載されている。その出願では、メ
モリー装置になる回路が設けられ、2本の外部ピ
ンに供給された信号を受信する。その回路のしき
い値検出器は信号の電圧値の差異を検出し、その
差異が所定の値に達したときにそのメモリー装置
内の内部電源の電圧及び接地端子に対して信号が
供給されるようにした。従つて、メモリー装置の
外部電源及び接地端子の必要性はなくなつた。
一方、この発明は、他の方法、すなわち、メモ
リー装置の外部電源及び接地端子を、他の作用を
行わせる外部端子に併合し、同一ピン又は端子を
使用して電源電圧と作用信号とを供給するように
したことにより、外部接続端子を最少に減少する
方法を提供するものである。
リー装置の外部電源及び接地端子を、他の作用を
行わせる外部端子に併合し、同一ピン又は端子を
使用して電源電圧と作用信号とを供給するように
したことにより、外部接続端子を最少に減少する
方法を提供するものである。
この発明によるメモリー装置はクロツク、メモ
リー選択、モード選択、アドレス、データ入力及
び(又は)データ出力等を併合形式で供給する2
本の外部ピンを有する。1本のピンに対する信号
は周期的に動作電圧値となり、他方のそのピンに
対する信号は周期的に接地レベルとなる。整流回
路のような信号処理装置が2本の外部ピンに接続
され、メモリー装置内の内部電源端子に比較的一
定の電圧信号及び接地レベル信号を供給する。
リー選択、モード選択、アドレス、データ入力及
び(又は)データ出力等を併合形式で供給する2
本の外部ピンを有する。1本のピンに対する信号
は周期的に動作電圧値となり、他方のそのピンに
対する信号は周期的に接地レベルとなる。整流回
路のような信号処理装置が2本の外部ピンに接続
され、メモリー装置内の内部電源端子に比較的一
定の電圧信号及び接地レベル信号を供給する。
ここに開示する実施例では、外部ピンの1本は
メモリー装置のメモリー選択信号と同期信号との
両信号を供給する符号化クロツク信号を受信す
る。もう一方の外部ピンはメモリーのモード選
択、アドレス、データ入力、及びデータ出力等を
表わす信号を受信する。カウンタ回路装置が設け
られ、前述の第1(最初)の外部ピンに受信した
クロツク信号の周期またはパルスのカウントを行
い、所定数のパルスを受信したときに、第1の外
部ピンを内部電源の電源端子に接続し、接地また
は基準電圧レベルにある第2の外部端子を内部電
源の接地または基準端子に接続するスイツチ装置
を作動するようにした。
メモリー装置のメモリー選択信号と同期信号との
両信号を供給する符号化クロツク信号を受信す
る。もう一方の外部ピンはメモリーのモード選
択、アドレス、データ入力、及びデータ出力等を
表わす信号を受信する。カウンタ回路装置が設け
られ、前述の第1(最初)の外部ピンに受信した
クロツク信号の周期またはパルスのカウントを行
い、所定数のパルスを受信したときに、第1の外
部ピンを内部電源の電源端子に接続し、接地また
は基準電圧レベルにある第2の外部端子を内部電
源の接地または基準端子に接続するスイツチ装置
を作動するようにした。
従つて、この発明によるメモリー装置はわずか
2本の外部ピンを持つ装置とすることができ、そ
のうちの1本のピンは同期、メモリー選択、及び
電源の各作用を提供する信号を受信し、第2の外
部ピンはメモリー・モード選択、アドレス、デー
タ入力、データ出力、及び接地の各作用を提供す
る信号を受信するようにした。
2本の外部ピンを持つ装置とすることができ、そ
のうちの1本のピンは同期、メモリー選択、及び
電源の各作用を提供する信号を受信し、第2の外
部ピンはメモリー・モード選択、アドレス、デー
タ入力、データ出力、及び接地の各作用を提供す
る信号を受信するようにした。
従つて、この発明の目的は外部ピン若しくは外
部端子の数が最も少くするため、専用の外部電圧
端子及び接地端子を持たないメモリー装置を提供
することである。
部端子の数が最も少くするため、専用の外部電圧
端子及び接地端子を持たないメモリー装置を提供
することである。
更にこの発明の目的はクロツク信号を使用して
メモリー装置に対する電圧信号を供給し、他の機
能を持つ第2の信号を使用して接地を供給するこ
とである。
メモリー装置に対する電圧信号を供給し、他の機
能を持つ第2の信号を使用して接地を供給するこ
とである。
更にこの発明の目的はわずか2本の外部ピンを
使用して電源電圧及び接地電位、メモリー装置選
択、メモリー・モード選択、メモリー・アドレス
及びデータ入出力の各作用を供給するようにした
メモリー装置を提供することである。
使用して電源電圧及び接地電位、メモリー装置選
択、メモリー・モード選択、メモリー・アドレス
及びデータ入出力の各作用を供給するようにした
メモリー装置を提供することである。
次に、この発明をその実施例に従い添付図面と
ともに詳細に説明する。
ともに詳細に説明する。
第1図において、モノリシツク集積回路の形式
のメモリー装置10はC0,F0とラベルされた2
本の外部ピン若しくは外部端子を持つ。すなわ
ち、そのメモリー装置10には電荷結合素子
(CCD)のようなメモリー要素40と、メモリー
装置10及びそのメモリー要素40に対する必要
な外部入出力のすべてを供給するピンC0,F0と
が含まれている。
のメモリー装置10はC0,F0とラベルされた2
本の外部ピン若しくは外部端子を持つ。すなわ
ち、そのメモリー装置10には電荷結合素子
(CCD)のようなメモリー要素40と、メモリー
装置10及びそのメモリー要素40に対する必要
な外部入出力のすべてを供給するピンC0,F0と
が含まれている。
第2A図、第2B図にはメモリー装置10がブ
ロツク図の形式で例示してある。C0ピンは電界
効果トランジスタ12と結合コンデンサ14を介
してクロツク発生回路16とデコーダ回路18へ
選択的に接続され、電界効果トランジスタ24と
ダイオード26によつて内部電源20の電圧入力
端子Vにも選択的に接続される。F0ピンは電界
効果トランジスタ30を通して内部電源20の接
地入力端子GNDに選択的に接続され、又電界効
果トランジスタ32、結合コンデンサ34を介し
てナンド・ゲート60の出力及び該メモリー装置
内の種々のデータ受信成分の入力へ、特にD型フ
リツプ・フロツプ36のD入力、アドレス・シフ
ト・レジスタ38のD入力、前述したような
CCDもしくは他の型のメモリー要素から成るメ
モリー要素40のデータ入力端子等に対して選択
的に接続される。コンデンサ42は内部電源20
の電源端子Vと接地端子GNDそれぞれの両リー
ド線に跨がつて接続され、所定の期間、内部電源
20に対する電圧を維持するように作用する。
ロツク図の形式で例示してある。C0ピンは電界
効果トランジスタ12と結合コンデンサ14を介
してクロツク発生回路16とデコーダ回路18へ
選択的に接続され、電界効果トランジスタ24と
ダイオード26によつて内部電源20の電圧入力
端子Vにも選択的に接続される。F0ピンは電界
効果トランジスタ30を通して内部電源20の接
地入力端子GNDに選択的に接続され、又電界効
果トランジスタ32、結合コンデンサ34を介し
てナンド・ゲート60の出力及び該メモリー装置
内の種々のデータ受信成分の入力へ、特にD型フ
リツプ・フロツプ36のD入力、アドレス・シフ
ト・レジスタ38のD入力、前述したような
CCDもしくは他の型のメモリー要素から成るメ
モリー要素40のデータ入力端子等に対して選択
的に接続される。コンデンサ42は内部電源20
の電源端子Vと接地端子GNDそれぞれの両リー
ド線に跨がつて接続され、所定の期間、内部電源
20に対する電圧を維持するように作用する。
トランジスタ12,24,30,32は初期設
定回路50、及びカウンタ回路52を含む回路に
よつて周期的に作動される。初期設定回路50は
C0端子に接続されている入力を持ち、その出力
はカウンタ回路52のリセツト入力へ接続され
る。カウンタ回路52の他方の入力DはC0端子
へ直接接続される。
定回路50、及びカウンタ回路52を含む回路に
よつて周期的に作動される。初期設定回路50は
C0端子に接続されている入力を持ち、その出力
はカウンタ回路52のリセツト入力へ接続され
る。カウンタ回路52の他方の入力DはC0端子
へ直接接続される。
初期設定回路50は該メモリー装置の動作開始
の際に、ピンC0に幅の広いクロツク・パルスを
受信することにより、カウンタ52のリセツト入
力へ信号を送出する。そしてカウンタ52はC0
端子のクロツク・パルスのカウントを開始する。
一方、内部電源20の電圧端子Vと接地端子
GNDとの間には初期電圧が発生する。
の際に、ピンC0に幅の広いクロツク・パルスを
受信することにより、カウンタ52のリセツト入
力へ信号を送出する。そしてカウンタ52はC0
端子のクロツク・パルスのカウントを開始する。
一方、内部電源20の電圧端子Vと接地端子
GNDとの間には初期電圧が発生する。
パルス幅の変化を感知する回路は公知のもので
あり、一般に遅延回路とフリツプ・フロツプとで
構成することもできる。そのような回路は前述の
デコーダ回路18にも使用することができる。
又、後程明らかにする理由から、初期設定回路5
0はデコーダ回路18で感知されるパルス幅の変
化より広いパルス幅の変化のみを感知するように
しなけらばならない。デコーダ回路18及び初期
設定回路50に使用することができる型の回路の
例は前述の米国特許出願第812290号に記載してあ
る。
あり、一般に遅延回路とフリツプ・フロツプとで
構成することもできる。そのような回路は前述の
デコーダ回路18にも使用することができる。
又、後程明らかにする理由から、初期設定回路5
0はデコーダ回路18で感知されるパルス幅の変
化より広いパルス幅の変化のみを感知するように
しなけらばならない。デコーダ回路18及び初期
設定回路50に使用することができる型の回路の
例は前述の米国特許出願第812290号に記載してあ
る。
カウンタ回路52も当業者間に公知の回路であ
り、リセツト入力に信号を受信することによりリ
セツトされ、又は初期設定される。そしてそのD
入力に受信した正パルスをカウントする。カウン
タ52はそのD入力に受信した所定数のパルスを
カウントするたびごとにその出力にエネーブル信
号を発生し、又リセツト入力に信号を受信して初
期設定されたときにも発生する。
り、リセツト入力に信号を受信することによりリ
セツトされ、又は初期設定される。そしてそのD
入力に受信した正パルスをカウントする。カウン
タ52はそのD入力に受信した所定数のパルスを
カウントするたびごとにその出力にエネーブル信
号を発生し、又リセツト入力に信号を受信して初
期設定されたときにも発生する。
カウンタ回路52の出力は電界効果トランジス
タ24,30のゲートG及びインバータ56の入
力にも接続される。インバータ56の出力は電界
効果トランジスタ12,32のゲートGに接続さ
れる。
タ24,30のゲートG及びインバータ56の入
力にも接続される。インバータ56の出力は電界
効果トランジスタ12,32のゲートGに接続さ
れる。
内部電源20は必要な動作電圧V0〜Vo及び接
地信号GNDを、初期設定回路50、カウンタ回
路52、及びインバータ56等を含むメモリー装
置10内の種々のアクテイブ回路成分に供給す
る。
地信号GNDを、初期設定回路50、カウンタ回
路52、及びインバータ56等を含むメモリー装
置10内の種々のアクテイブ回路成分に供給す
る。
第2A図、第2B図のメモリー装置の点線70
で囲まれた部分は本来前述の米国特許願第812290
号に表わされ、説明されている回路構成である。
従つて、点線70内の回路の動作及び個々の成分
の詳細な説明に関してはその米国出願を参照する
とよい。しかし、注意するべきことは点線70内
の回路は4つの信号、クロツク、電源、接地及び
作用信号等を受信する入力を持ち、このメモリー
装置10ではこれら4信号は2本のピンC0,F0
に供給された信号から引き出される。
で囲まれた部分は本来前述の米国特許願第812290
号に表わされ、説明されている回路構成である。
従つて、点線70内の回路の動作及び個々の成分
の詳細な説明に関してはその米国出願を参照する
とよい。しかし、注意するべきことは点線70内
の回路は4つの信号、クロツク、電源、接地及び
作用信号等を受信する入力を持ち、このメモリー
装置10ではこれら4信号は2本のピンC0,F0
に供給された信号から引き出される。
後程詳細に説明するように、C0ピンとF0ピン
に供給された信号は点線70の外に設けられてい
る回路によつて処理または整流され、点線70の
回路に電源信号及び接地信号として供給される。
更に、クロツク信号はC0ピンからクロツク発生
器16及びデコーダ回路18へ送られる。作用信
号はF0ピンからフリツプ・フロツプ36、アド
レス・シフト・レジスタ38及びメモリー要素4
0へ供給される。
に供給された信号は点線70の外に設けられてい
る回路によつて処理または整流され、点線70の
回路に電源信号及び接地信号として供給される。
更に、クロツク信号はC0ピンからクロツク発生
器16及びデコーダ回路18へ送られる。作用信
号はF0ピンからフリツプ・フロツプ36、アド
レス・シフト・レジスタ38及びメモリー要素4
0へ供給される。
ここで注意すべきことは、クロツク発生器16
及びデコーダ回路18へ送られるクロツク信号
“クロツク”はクロツク及び同期信号のほか、メ
モリー選択信号などを併合して符号化した作用信
号である。F0端子に供給され、フリツプフロツ
プ36、アドレス・シフトレジスタ38及びメモ
リー要素40へ送られる作用信号もクロツク信号
とともにモード選択、メモリー・アドレス、デー
タ入力及びデータ出力の各作用を供給するよう適
当な符号化方式で併合された作用信号である。
及びデコーダ回路18へ送られるクロツク信号
“クロツク”はクロツク及び同期信号のほか、メ
モリー選択信号などを併合して符号化した作用信
号である。F0端子に供給され、フリツプフロツ
プ36、アドレス・シフトレジスタ38及びメモ
リー要素40へ送られる作用信号もクロツク信号
とともにモード選択、メモリー・アドレス、デー
タ入力及びデータ出力の各作用を供給するよう適
当な符号化方式で併合された作用信号である。
第3A図及び第3B図を参照しながら動作方法
を説明する。同図はピンC0とピンF0に供給され
た信号を表わす波形を表示するものである。まず
第3A図を見ると、そこに描かれている波形は再
循環モードを表わす。すなわち、メモリー装置1
0はデータの受信又は供給のために選択されてお
らず、メモリー要素40内のデータが使用待状態
のときのように再循環している状態を例示してい
る。この状態では、適当にデータ再循環を行うた
め、ほぼ周期的且つ一様な間隔のクロツク・パル
スがC0ピンに送信され、そこからφ0乃至φoと
指定したクロツク信号をメモリー要素40へ供給
するクロツク発生回路16と、クロツク信号を要
求するメモリー装置10内の他の構成成分とに送
られる。
を説明する。同図はピンC0とピンF0に供給され
た信号を表わす波形を表示するものである。まず
第3A図を見ると、そこに描かれている波形は再
循環モードを表わす。すなわち、メモリー装置1
0はデータの受信又は供給のために選択されてお
らず、メモリー要素40内のデータが使用待状態
のときのように再循環している状態を例示してい
る。この状態では、適当にデータ再循環を行うた
め、ほぼ周期的且つ一様な間隔のクロツク・パル
スがC0ピンに送信され、そこからφ0乃至φoと
指定したクロツク信号をメモリー要素40へ供給
するクロツク発生回路16と、クロツク信号を要
求するメモリー装置10内の他の構成成分とに送
られる。
ここで注意を要することは、最初、メモリー装
置10を使用するときは、第3A図の左側に表わ
すパルスのような長い“初期設定”パルスをまず
ピンC0に送信しなければならないということで
ある。この初期設定期間中、初期設定回路50が
信号を発生し、それをカウンタ52が受信する
と、カウンタ52はエネーブル信号を発生してト
ランジスタ24,30を作動する。そこで、ピン
C0の正電圧とピンF0の接地信号とがコンデンサ
42に供給され、その電圧が電源20の入力端子
に印加される。この初期設定期間は、後述するよ
う、初期設定後、再びV及びGND端子に電圧が
供給される(周期的に)まで、電源20のV及び
接地両端子間にほぼ一定の電圧が入力されるほ
ど、コンデンサ42を十分充電しうる程度の十分
長い期間が必要である。初期設定後、2つ目以後
のパルスのパルス幅は、コンデンサ42がまだ完
全に放電されていないので、短い期間でも十分所
定の値までに再充電することができる。
置10を使用するときは、第3A図の左側に表わ
すパルスのような長い“初期設定”パルスをまず
ピンC0に送信しなければならないということで
ある。この初期設定期間中、初期設定回路50が
信号を発生し、それをカウンタ52が受信する
と、カウンタ52はエネーブル信号を発生してト
ランジスタ24,30を作動する。そこで、ピン
C0の正電圧とピンF0の接地信号とがコンデンサ
42に供給され、その電圧が電源20の入力端子
に印加される。この初期設定期間は、後述するよ
う、初期設定後、再びV及びGND端子に電圧が
供給される(周期的に)まで、電源20のV及び
接地両端子間にほぼ一定の電圧が入力されるほ
ど、コンデンサ42を十分充電しうる程度の十分
長い期間が必要である。初期設定後、2つ目以後
のパルスのパルス幅は、コンデンサ42がまだ完
全に放電されていないので、短い期間でも十分所
定の値までに再充電することができる。
初期設定パルスの受信及び初期設定回路の出力
に発生した信号はメモリー装置10のカウンタ5
2のリセツトをも行う。初期設定後カウンタ52
はC0ピンに受信した信号の正パルスをカウンタ
し、所定数のパルスを受信した後に、その出力か
らエネーブル信号を発生し、トランジスタ24,
30を導通する。トランジスタ24,30が導通
している期間中(一般に「電源サイクル」として
第3A図及び第3B図に見ることができる)、C0
の正パルスは内部電源20のV端子に供給され、
接地電位にあるF0端子の信号は内部電源20の
接地端子に供給される。最初の電源サイクルの
後、カウンタ回路52は再びC0に受信したパル
スをカウントし、適当数を受信した後にトランジ
スタ24,30を再び導通させる。電源端子Vに
対する正パルスと接地端子GNDに対する接地信
号とは周期的に送信されるため、コンデンサ42
は両端子間の電圧をほぼ一定に維持することがで
きる。第3A図及び第3B図に例示した波形で
は、電源サイクルはピンC0は3パルスを受信す
るごと発生するように表わしてあるが、実際は、
電源サイクルの周期は電源の入力端子間に希望す
る電圧の入力を維持しうるに必要なものによつて
定めることができる。
に発生した信号はメモリー装置10のカウンタ5
2のリセツトをも行う。初期設定後カウンタ52
はC0ピンに受信した信号の正パルスをカウンタ
し、所定数のパルスを受信した後に、その出力か
らエネーブル信号を発生し、トランジスタ24,
30を導通する。トランジスタ24,30が導通
している期間中(一般に「電源サイクル」として
第3A図及び第3B図に見ることができる)、C0
の正パルスは内部電源20のV端子に供給され、
接地電位にあるF0端子の信号は内部電源20の
接地端子に供給される。最初の電源サイクルの
後、カウンタ回路52は再びC0に受信したパル
スをカウントし、適当数を受信した後にトランジ
スタ24,30を再び導通させる。電源端子Vに
対する正パルスと接地端子GNDに対する接地信
号とは周期的に送信されるため、コンデンサ42
は両端子間の電圧をほぼ一定に維持することがで
きる。第3A図及び第3B図に例示した波形で
は、電源サイクルはピンC0は3パルスを受信す
るごと発生するように表わしてあるが、実際は、
電源サイクルの周期は電源の入力端子間に希望す
る電圧の入力を維持しうるに必要なものによつて
定めることができる。
電源サイクル以外のときは、インバータ56は
トランジスタ12,33を導通し、C0ピンに受
信したパルスはコンデンサ14を介してクロツク
発生器16及びデコード回路18に供給される。
F0ピンに供給された信号はコンデンサ34を介
してフリツプ・フロツプ36、アドレス・シフ
ト・レジスタ38及びメモリー要素40に供給さ
れる。しかし、メモリー装置は再循環モード中で
あるため、F0ピンの信号レベルは斜線で表わさ
れているように、「無関係」状態にある。
トランジスタ12,33を導通し、C0ピンに受
信したパルスはコンデンサ14を介してクロツク
発生器16及びデコード回路18に供給される。
F0ピンに供給された信号はコンデンサ34を介
してフリツプ・フロツプ36、アドレス・シフ
ト・レジスタ38及びメモリー要素40に供給さ
れる。しかし、メモリー装置は再循環モード中で
あるため、F0ピンの信号レベルは斜線で表わさ
れているように、「無関係」状態にある。
ついでながら、結合コンデンサ14,34は
C0及びF0ピンに供給され、メモリー装置10の
各回路成分に送信されるかもしれない直流電圧成
分を除去するために設けられる。これらコンデン
サは、内部電源の接地端子GNDは接地信号を周
期的にのみ受信し、内部電源20の出力に供給さ
れる接地信号は、入力の接地信号が電源20の接
地入力端子GNDに供給されていないときには
「真の接地」から浮かす(導通していない)よう
にするために必要である。
C0及びF0ピンに供給され、メモリー装置10の
各回路成分に送信されるかもしれない直流電圧成
分を除去するために設けられる。これらコンデン
サは、内部電源の接地端子GNDは接地信号を周
期的にのみ受信し、内部電源20の出力に供給さ
れる接地信号は、入力の接地信号が電源20の接
地入力端子GNDに供給されていないときには
「真の接地」から浮かす(導通していない)よう
にするために必要である。
第3B図は再循環モードの後にメモリー装置1
0及びそのメモリー要素40がデータの読出しま
たは書込みのために選択されたときの状態を例示
する。メモリー要素40はC0ピンに供給される
正クロツク・パルスの幅を狭くすることによつて
選択される。データは再循環モード中にシフトさ
れる周波数よりも相当高い周波数で書込または読
出しされるから、第3B図の正クロツク・パルス
の周波数も増加する。第3B図のクロツク周波数
は第3A図のクロツク周波数の約2倍に増加して
描かれているが、書込または読出モードの周波数
は更に再循環モードの周波数より高い倍数であつ
て良いということに注意すべきである。ここに例
示してあるメモリー装置では、F0ピンに対する
外部データ・ラインは他のメモリー装置に対する
外部データ・ラインと共通であるものと思われる
から、データ・パルスは再循環モード中でもF0
ピンに供給されるであろう。その際、そのデー
タ・パルスは言うまでもなく書込及び読出モード
におけるクロツク周波数と同一周波数を有する。
再循環モードの各電源サイクルにおける正クロツ
ク・パルスはF0ピンが接地電位にあるときに発
生するということを保証するために、書込または
読出モードの各電源サイクルを定めるに際し、第
3B図のクロツク周波数は第3A図のクロツク周
波数の倍数であることが好ましい。しかし、F0
ピンに対する外部データ・ラインが他のメモリー
装置のそれと共通でない場合、第3A図と第3B
図の各クロツク周波数は互いに独立でよい。
0及びそのメモリー要素40がデータの読出しま
たは書込みのために選択されたときの状態を例示
する。メモリー要素40はC0ピンに供給される
正クロツク・パルスの幅を狭くすることによつて
選択される。データは再循環モード中にシフトさ
れる周波数よりも相当高い周波数で書込または読
出しされるから、第3B図の正クロツク・パルス
の周波数も増加する。第3B図のクロツク周波数
は第3A図のクロツク周波数の約2倍に増加して
描かれているが、書込または読出モードの周波数
は更に再循環モードの周波数より高い倍数であつ
て良いということに注意すべきである。ここに例
示してあるメモリー装置では、F0ピンに対する
外部データ・ラインは他のメモリー装置に対する
外部データ・ラインと共通であるものと思われる
から、データ・パルスは再循環モード中でもF0
ピンに供給されるであろう。その際、そのデー
タ・パルスは言うまでもなく書込及び読出モード
におけるクロツク周波数と同一周波数を有する。
再循環モードの各電源サイクルにおける正クロツ
ク・パルスはF0ピンが接地電位にあるときに発
生するということを保証するために、書込または
読出モードの各電源サイクルを定めるに際し、第
3B図のクロツク周波数は第3A図のクロツク周
波数の倍数であることが好ましい。しかし、F0
ピンに対する外部データ・ラインが他のメモリー
装置のそれと共通でない場合、第3A図と第3B
図の各クロツク周波数は互いに独立でよい。
デコーダ回路18は初期設定で発生するパルス
幅の大きなクロツク・パルスに対してではなく、
メモリー選択用のパルス幅を有するクロツク・パ
ルスに対してのみ感知し得るものであるというこ
とに注目すべきである。それは、例えば、前述し
たようなフリツプ・フロツプと遅延回路を持つパ
ルス幅感知回路を使用した場合、初期設定回路5
0の遅延回路の遅延時間をデコーダ回路18によ
る遅延時間より長くするようにすればよい。
幅の大きなクロツク・パルスに対してではなく、
メモリー選択用のパルス幅を有するクロツク・パ
ルスに対してのみ感知し得るものであるというこ
とに注目すべきである。それは、例えば、前述し
たようなフリツプ・フロツプと遅延回路を持つパ
ルス幅感知回路を使用した場合、初期設定回路5
0の遅延回路の遅延時間をデコーダ回路18によ
る遅延時間より長くするようにすればよい。
第3Bにおいて、「メモリー及びモード選択」
を指定している期間中は狭くされたC0ピンに対
する正クロツク・パルスはデコーダ回路18に入
力され、そこでパルス幅の変化が感知され、メモ
リー要素40、ナンド・ゲート60の1入力、フ
リツプ・フロツプ36のCK ENB端子、アドレ
ス・シフト・レジスタ38のCK ENB1端子、シ
フト・レジスタまたはカウンタ62のD及びセツ
ト入力にそれぞれメモリー選択(MS)信号(論
理レベル「1」)を供給する。
を指定している期間中は狭くされたC0ピンに対
する正クロツク・パルスはデコーダ回路18に入
力され、そこでパルス幅の変化が感知され、メモ
リー要素40、ナンド・ゲート60の1入力、フ
リツプ・フロツプ36のCK ENB端子、アドレ
ス・シフト・レジスタ38のCK ENB1端子、シ
フト・レジスタまたはカウンタ62のD及びセツ
ト入力にそれぞれメモリー選択(MS)信号(論
理レベル「1」)を供給する。
「メモリー及びモード選択」期間中、F0ピン
はメモリー・モードの選択を表わすため、すなわ
ちメモリー要素40が読出のために選ばれる
(「0」論理レベルの場合)か、書込のために選ば
れる(「1」論理レベルの場合)かを表わすため
に、「0」論理レベルか「1」論理レベルのどち
らかにセツトされる。「メモリー及びモード選
択」期間中のF0ピンに対するモード選択信号は
フリツプ・フロツプ36のD入力に供給されると
ともに、デコーダ回路18からメモリー選択
(MS)信号を発生させ、それを該フリツプ・フロ
ツプ36のCK ENB(クロツク・エネーブル)
端子に供給させる。モード選択信号(「0」また
は「1」レベルのどちらか)はクロツク・パルス
がCK(クロツク)端子に受信されたときに、フ
リツプ・フロツプ36にラツチされその出力に
現われる。
はメモリー・モードの選択を表わすため、すなわ
ちメモリー要素40が読出のために選ばれる
(「0」論理レベルの場合)か、書込のために選ば
れる(「1」論理レベルの場合)かを表わすため
に、「0」論理レベルか「1」論理レベルのどち
らかにセツトされる。「メモリー及びモード選
択」期間中のF0ピンに対するモード選択信号は
フリツプ・フロツプ36のD入力に供給されると
ともに、デコーダ回路18からメモリー選択
(MS)信号を発生させ、それを該フリツプ・フロ
ツプ36のCK ENB(クロツク・エネーブル)
端子に供給させる。モード選択信号(「0」また
は「1」レベルのどちらか)はクロツク・パルス
がCK(クロツク)端子に受信されたときに、フ
リツプ・フロツプ36にラツチされその出力に
現われる。
MS信号がシフト・レジスタ62のセツト端子
及びD入力にも供給され、F0ピンに直列に受信
したメモリー要素40の選ぶべきアドレス位置を
表わすビツトA0乃至Ao(第3B図)の数の方に
カウントし始める。シフト・レジスタ62によつ
て所定数のビツトがカウントされたときに、シフ
ト・レジスタ62のQo出力からエネーブル信号
(論理レベル「0」)がアドレス・シフト・レジス
タ38のCK ENB2端子とオア・ゲート64の1
入力とに供給される。そのとき、オア・ゲート6
4はフリツプ・フロツプ36の出力からメモリ
ー要素40の読出/書込(R/W)モード入力に
対してモード選択信号を送信し、アドレス・シフ
ト・レジスタ38のD入力に受信した適切なアド
レス・データ・ビツト(A0〜Ao)をメモリー要
素40のアドレス入力0〜Nに供給する。
及びD入力にも供給され、F0ピンに直列に受信
したメモリー要素40の選ぶべきアドレス位置を
表わすビツトA0乃至Ao(第3B図)の数の方に
カウントし始める。シフト・レジスタ62によつ
て所定数のビツトがカウントされたときに、シフ
ト・レジスタ62のQo出力からエネーブル信号
(論理レベル「0」)がアドレス・シフト・レジス
タ38のCK ENB2端子とオア・ゲート64の1
入力とに供給される。そのとき、オア・ゲート6
4はフリツプ・フロツプ36の出力からメモリ
ー要素40の読出/書込(R/W)モード入力に
対してモード選択信号を送信し、アドレス・シフ
ト・レジスタ38のD入力に受信した適切なアド
レス・データ・ビツト(A0〜Ao)をメモリー要
素40のアドレス入力0〜Nに供給する。
F0ピンのデータ・ビツト(D0〜Do)メモリー
要素に書込む場合、そのデータはメモリー要素4
0のデータ入力端子に直列方式で供給される。デ
ータがメモリー要素から読出される場合、アドレ
ス入力0〜Nで指定されたメモリー要素40のア
ドレスに記憶されているデータ・ビツト(D0〜
Do)はメモリー要素40のデータ出力端子に直
列方式で供給され、ナンド・ゲート60を介して
ピンF0に送出される。
要素に書込む場合、そのデータはメモリー要素4
0のデータ入力端子に直列方式で供給される。デ
ータがメモリー要素から読出される場合、アドレ
ス入力0〜Nで指定されたメモリー要素40のア
ドレスに記憶されているデータ・ビツト(D0〜
Do)はメモリー要素40のデータ出力端子に直
列方式で供給され、ナンド・ゲート60を介して
ピンF0に送出される。
以上、点線70内の各回路成分の動作を説明し
たが、前述したように、より詳細な説明は前述の
米国特許願第812290号を参照するとよい。
たが、前述したように、より詳細な説明は前述の
米国特許願第812290号を参照するとよい。
以上説明したところから、メモリー要素を含む
集積回路形式のメモリー装置は、2本の外部ピン
又は端子のみを持つように作ることができるとい
うことがわかつた。2本の外部ピンに供給される
信号は符号化され、同期、メモリー選択、モード
選択、メモリー・アドレス、データ入力及びデー
タ出力の各作用を提出し、そしてそれら信号は整
流されて集積回路構造内の内部電源に必要な電源
及び接地信号を供給する。勿論、前述したもの以
外の信号符号化方式も、その信号が整流されて電
源及び接地信号を供給するに十分な電圧差を発生
することができるものであれば、メモリー選択、
モード選択、メモリー・アドレス・データ入力及
びデータ出力等の各作用を供給するために使用す
ることができることは容易に理解し得るところで
ある。
集積回路形式のメモリー装置は、2本の外部ピン
又は端子のみを持つように作ることができるとい
うことがわかつた。2本の外部ピンに供給される
信号は符号化され、同期、メモリー選択、モード
選択、メモリー・アドレス、データ入力及びデー
タ出力の各作用を提出し、そしてそれら信号は整
流されて集積回路構造内の内部電源に必要な電源
及び接地信号を供給する。勿論、前述したもの以
外の信号符号化方式も、その信号が整流されて電
源及び接地信号を供給するに十分な電圧差を発生
することができるものであれば、メモリー選択、
モード選択、メモリー・アドレス・データ入力及
びデータ出力等の各作用を供給するために使用す
ることができることは容易に理解し得るところで
ある。
以上、この発明の特定の実施例を詳細に説明し
たが、この発明の範囲から離れることなく種々変
更して実施し得ることは当然であり、すべてこの
発明の所期の効果を十分発揮し得るものである。
たが、この発明の範囲から離れることなく種々変
更して実施し得ることは当然であり、すべてこの
発明の所期の効果を十分発揮し得るものである。
第1図はこの発明に従つて作られた集積回路構
造の形のメモリー装置の斜視図、第2A図、第2
B図は結合されて第1図のメモリー装置の回路を
構成するブロツク図、第3A図、第3B図は第2
A図と第2B図の回路の動作を例示する波形図で
ある。 10……メモリー装置、12,24,30,3
2……トランジスタ、14,34,42……コン
デンサ、16……クロツク発生回路、18……デ
コーダ回路、20……内部電源、36……D型フ
リツプ・フロツプ、38……アドレス・シフト・
レジスタ、40……メモリー要素、50……初期
設定回路、52……カウンタ、56……インバー
タ、60……ナンド・ゲート、62……カウン
タ、64……オア・ゲート。
造の形のメモリー装置の斜視図、第2A図、第2
B図は結合されて第1図のメモリー装置の回路を
構成するブロツク図、第3A図、第3B図は第2
A図と第2B図の回路の動作を例示する波形図で
ある。 10……メモリー装置、12,24,30,3
2……トランジスタ、14,34,42……コン
デンサ、16……クロツク発生回路、18……デ
コーダ回路、20……内部電源、36……D型フ
リツプ・フロツプ、38……アドレス・シフト・
レジスタ、40……メモリー要素、50……初期
設定回路、52……カウンタ、56……インバー
タ、60……ナンド・ゲート、62……カウン
タ、64……オア・ゲート。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 電源信号及び接地電位信号を必要とするメモ
リー装置であつて、 メモリー要素と、 電源作用及び他の作用を供給する第1の信号
と、接地電位作用及び更に他の作用を供給する第
2の信号とを夫々受信し供給する2本の外部端子
と、 前記第1及び第2の信号を受信し処理して前記
電源信号及び前記接地電位信号を供給するように
した信号処理装置とを含むことを特徴とするメモ
リー装置。 2 電源信号及び接地電位信号を必要とするメモ
リー装置において、 電源作用及び他の作用を供給する第1の信号
と、接地電位作用及び更に他の作用を供給する第
2の信号とを夫々供給する2本の外部ピンと、 前記2本の外部ピンを通して受信した前記第1
及び第2の信号を整流して前記電源信号及び前記
接地電位信号を供給する整流手段とを含むことを
特徴とするメモリー装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/895,329 US4148099A (en) | 1978-04-11 | 1978-04-11 | Memory device having a minimum number of pins |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54134935A JPS54134935A (en) | 1979-10-19 |
JPS6243277B2 true JPS6243277B2 (ja) | 1987-09-12 |
Family
ID=25404345
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3571279A Granted JPS54134935A (en) | 1978-04-11 | 1979-03-28 | System for reducing number of pins in memory device |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4148099A (ja) |
EP (1) | EP0015940A1 (ja) |
JP (1) | JPS54134935A (ja) |
DE (1) | DE2857457C2 (ja) |
GB (1) | GB2037520B (ja) |
WO (1) | WO1979000912A1 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4148099A (en) * | 1978-04-11 | 1979-04-03 | Ncr Corporation | Memory device having a minimum number of pins |
US4145760A (en) * | 1978-04-11 | 1979-03-20 | Ncr Corporation | Memory device having a reduced number of pins |
US4330842A (en) * | 1978-09-05 | 1982-05-18 | Daniels R Gary | Valid memory address pin elimination |
US4432049A (en) * | 1978-09-05 | 1984-02-14 | Pern Shaw | Programmable mode select by reset |
JPS55115729A (en) * | 1979-02-28 | 1980-09-05 | Toshiba Corp | Mos transistor circuit |
JPS5619676A (en) * | 1979-07-26 | 1981-02-24 | Fujitsu Ltd | Semiconductor device |
US4288865A (en) * | 1980-02-06 | 1981-09-08 | Mostek Corporation | Low-power battery backup circuit for semiconductor memory |
US4503491A (en) * | 1981-06-29 | 1985-03-05 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Computer with expanded addressing capability |
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US4677548A (en) * | 1984-09-26 | 1987-06-30 | Honeywell Information Systems Inc. | LSI microprocessor chip with backward pin compatibility and forward expandable functionality |
FR2571870B1 (fr) * | 1984-10-15 | 1987-02-20 | Sagem | Dispositif de sauvegarde de memoire de microprocesseur. |
DE3518827A1 (de) * | 1985-05-24 | 1986-11-27 | Wilhelm Ruf KG, 8000 München | Verfahren zum selektiven ansteuern von elektrischen schaltkreisen sowie schaltungsanordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
GB2177825B (en) * | 1985-07-12 | 1989-07-26 | Anamartic Ltd | Control system for chained circuit modules |
JPH01100788A (ja) * | 1987-10-13 | 1989-04-19 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置 |
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IT1232973B (it) * | 1987-12-01 | 1992-03-11 | Sgs Microelettronica Spa | Dispositivo di commutazione dell'alimentazione di tensione per memorie non volatili in tecnologia mos |
GB8819647D0 (en) * | 1988-08-18 | 1988-09-21 | Alcatel Business Systems | Franking machine |
GB8903181D0 (en) * | 1989-02-13 | 1989-03-30 | Anamartic Ltd | Improvements relating to control systems for chained circuit modules |
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EP0475588B1 (en) * | 1990-08-17 | 1996-06-26 | STMicroelectronics, Inc. | A semiconductor memory with inhibited test mode entry during power-up |
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US5881121A (en) * | 1997-02-13 | 1999-03-09 | Cypress Semiconductor Corp. | One-pin shift register interface |
WO1998045787A1 (en) * | 1997-04-10 | 1998-10-15 | Advanced Micro Devices, Inc. | Pin count reduction through serialization techniques |
KR100280481B1 (ko) * | 1998-05-13 | 2001-02-01 | 김영환 | 엠씨유의테스트모드설정회로 |
BR112015019459B1 (pt) | 2013-03-15 | 2021-10-19 | Intel Corporation | Dispositivo para uso em um módulo de memória e método realizado em um módulo de memória |
US10163508B2 (en) | 2016-02-26 | 2018-12-25 | Intel Corporation | Supporting multiple memory types in a memory slot |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US3851221A (en) * | 1972-11-30 | 1974-11-26 | P Beaulieu | Integrated circuit package |
DE2364254B2 (de) * | 1973-12-22 | 1976-03-18 | Schaltungsanordnung fuer datenverarbeitende geraete | |
US4007452A (en) * | 1975-07-28 | 1977-02-08 | Intel Corporation | Wafer scale integration system |
US4044339A (en) * | 1975-12-15 | 1977-08-23 | Honeywell Inc. | Block oriented random access memory |
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US4145760A (en) * | 1978-04-11 | 1979-03-20 | Ncr Corporation | Memory device having a reduced number of pins |
US4148099A (en) * | 1978-04-11 | 1979-04-03 | Ncr Corporation | Memory device having a minimum number of pins |
-
1978
- 1978-04-11 US US05/895,329 patent/US4148099A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-09-19 WO PCT/US1978/000084 patent/WO1979000912A1/en unknown
- 1978-09-19 GB GB7940975A patent/GB2037520B/en not_active Expired
- 1978-09-19 DE DE2857457T patent/DE2857457C2/de not_active Expired
-
1979
- 1979-03-28 JP JP3571279A patent/JPS54134935A/ja active Granted
- 1979-11-19 EP EP79900358A patent/EP0015940A1/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0015940A1 (en) | 1980-10-01 |
WO1979000912A1 (en) | 1979-11-15 |
US4148099A (en) | 1979-04-03 |
DE2857457T1 (de) | 1982-01-28 |
DE2857457C2 (de) | 1984-07-26 |
JPS54134935A (en) | 1979-10-19 |
GB2037520B (en) | 1983-01-26 |
GB2037520A (en) | 1980-07-09 |
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