JPS63142597A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS63142597A JPS63142597A JP61288781A JP28878186A JPS63142597A JP S63142597 A JPS63142597 A JP S63142597A JP 61288781 A JP61288781 A JP 61288781A JP 28878186 A JP28878186 A JP 28878186A JP S63142597 A JPS63142597 A JP S63142597A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- voltage
- turned
- mis
- high voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電気的に書込消去が可能な不揮発性記憶装置を
含む半導体装置に係シ、特に情報の誤書込・誤消去に対
する耐性を強めた半導体装置に関する。
含む半導体装置に係シ、特に情報の誤書込・誤消去に対
する耐性を強めた半導体装置に関する。
電気的書込消去が可能な半導体不揮発性記憶装置(gE
paoM)はマイクロコンピュータを中心としたシステ
ムにおいて広く用いられる様になってきている。現在、
主流の製品の多くは単一電源電圧動作であシ、記憶素子
への書込・消去に用いる高電圧はチップ内部で発生する
ようになっている。
paoM)はマイクロコンピュータを中心としたシステ
ムにおいて広く用いられる様になってきている。現在、
主流の製品の多くは単一電源電圧動作であシ、記憶素子
への書込・消去に用いる高電圧はチップ内部で発生する
ようになっている。
しかし、その反面、紫外線消去形の不揮発性記憶装置(
8280M )と比べて情報の誤書込・誤消去の危険が
増している。この対策としては日経エレクトロニクス1
985年10月21日号第146ページに述べられてい
るように書込制御パルスが短い場合、電源電圧が所定の
電圧より低い場合、各種の制御信号がいくつかの特定の
組合わせの場合に書込消去を禁止するのが一般的である
。また内蔵のレジスタと入力信号が一致した時のみ高電
圧を発生し、書込消去を可能とする方法もある。
8280M )と比べて情報の誤書込・誤消去の危険が
増している。この対策としては日経エレクトロニクス1
985年10月21日号第146ページに述べられてい
るように書込制御パルスが短い場合、電源電圧が所定の
電圧より低い場合、各種の制御信号がいくつかの特定の
組合わせの場合に書込消去を禁止するのが一般的である
。また内蔵のレジスタと入力信号が一致した時のみ高電
圧を発生し、書込消去を可能とする方法もある。
前者は簡便で一定の効果をもっている。後者はより有効
であるが、実現するにはやや複雑な回路を必要とする。
であるが、実現するにはやや複雑な回路を必要とする。
上記従来技術は誤書込・誤消去に対して一定の効果はあ
るが、さらに簡便で有効な技術が望まれていた。
るが、さらに簡便で有効な技術が望まれていた。
本′発明の目的は簡便かつ有効な誤書込・誤消去防止を
可能にした半導体装置を提供する事にある。
可能にした半導体装置を提供する事にある。
上記目的は外部から電源電圧より高い電圧が特定の入力
端子に印加された時のみ、内部の昇圧回路の動作を可能
とする事により達成される。
端子に印加された時のみ、内部の昇圧回路の動作を可能
とする事により達成される。
特定の端子に高電圧が印加された時のみ、昇圧回路が動
作するので通常の5V系の信号が誤って書込消去モード
に設定されても昇圧回路は動作しないので誤書込・娯消
去される事はない。
作するので通常の5V系の信号が誤って書込消去モード
に設定されても昇圧回路は動作しないので誤書込・娯消
去される事はない。
以下、本発明の一実施例を図を用いて説明する。
第1図は書込消去系の構成である。入力端子lは通常の
電源電圧(5■)の信号レベルには低レベルの出力(あ
るいは高レベルの出力)を示す。電源電圧に対しである
マージンを持った値VHv(例えば7V)以上に対して
高レベルあるいは(低レベル)の出力を示す。即ち、高
電圧の検出回路2を接続されている。この出力を受けて
昇圧回路3はVHv以上の入力レベルの時のみ動作する
ようになされている。
電源電圧(5■)の信号レベルには低レベルの出力(あ
るいは高レベルの出力)を示す。電源電圧に対しである
マージンを持った値VHv(例えば7V)以上に対して
高レベルあるいは(低レベル)の出力を示す。即ち、高
電圧の検出回路2を接続されている。この出力を受けて
昇圧回路3はVHv以上の入力レベルの時のみ動作する
ようになされている。
第2図は具体的な回路の1例を示す図である。
第2図は第1図の具体的な回路例である。
入力端子1はpチャンネル型M OS (Metal
−Qxide−8ilicon) )ランジスタT21
のソース電極に結線する。MOSトランジスタT21の
ゲート電極は主電源VC+C%またソース電極はnチャ
ンネル型MO8)ランジスタ’I’22のドレイン電極
に接続され、T21およびT22により、入力端子1に
加えられる電圧の検出回路2を構成する。
−Qxide−8ilicon) )ランジスタT21
のソース電極に結線する。MOSトランジスタT21の
ゲート電極は主電源VC+C%またソース電極はnチャ
ンネル型MO8)ランジスタ’I’22のドレイン電極
に接続され、T21およびT22により、入力端子1に
加えられる電圧の検出回路2を構成する。
なお検出波形はMO,S)ランジスタT23およびT0
nで構成されるインバータ回路により波形整形を行ない
、昇圧回路3の制御信号とする。昇圧回路3はMO8)
ランジスタ対T31.T32〜T35.Ta2からなる
奇数段のインバータによ多構成されるリングオシレータ
31と、リングオシレータ31の発振を制御するMO8
)ランジスタT37.T38および発振波形整形用のM
OSトランジスタ対T39.T2Oと、その波形を反転
するためMO8)ランジスタ対’I’41.T42から
成るインバータで構成される。MO8)ランジスタ対T
39.T40およびT41.T42の出力φおよび1は
コンデンサ01〜CBおよびダイオード結線したMOS
トランジスタD1〜D。
nで構成されるインバータ回路により波形整形を行ない
、昇圧回路3の制御信号とする。昇圧回路3はMO8)
ランジスタ対T31.T32〜T35.Ta2からなる
奇数段のインバータによ多構成されるリングオシレータ
31と、リングオシレータ31の発振を制御するMO8
)ランジスタT37.T38および発振波形整形用のM
OSトランジスタ対T39.T2Oと、その波形を反転
するためMO8)ランジスタ対’I’41.T42から
成るインバータで構成される。MO8)ランジスタ対T
39.T40およびT41.T42の出力φおよび1は
コンデンサ01〜CBおよびダイオード結線したMOS
トランジスタD1〜D。
で構成されるチャージポンプと呼ばれる昇圧回路32に
入力され、不揮発性記憶素子の消去、書込みに必要な高
電圧Vpを発生する。なお昇圧回路32のダイオード結
線のMO8)ランジスタD0およびDBはそれぞれ、基
準電位決定用およびVpの安定化用として機能する。
入力され、不揮発性記憶素子の消去、書込みに必要な高
電圧Vpを発生する。なお昇圧回路32のダイオード結
線のMO8)ランジスタD0およびDBはそれぞれ、基
準電位決定用およびVpの安定化用として機能する。
次に動作を説明する。
入力端子1に入力電圧Vr)fを印加するとVtw<v
c c +V HV (VHvはMOSトランジスタT
21のしきい値電圧)の場会、すなわちVIN<7Vの
ときは高電圧判定回路2の出力にはVacK等しい電圧
が出力される。昇圧回路3のリングオシレータ制御用ト
ランジスタT37.Ta2にVccレベルの信号が印加
されるとTa2はオフ、Ta2はオンとなシリングオシ
レータ31は発振停止状態になる。すなわちφ= Vc
cレベル、 16=グランドレベルを出力した状態
で停止している。この状態ではチャージポンプ回路32
は作動せず、従って消去、書込みに必要な高電圧VPを
得ることはできない。
c c +V HV (VHvはMOSトランジスタT
21のしきい値電圧)の場会、すなわちVIN<7Vの
ときは高電圧判定回路2の出力にはVacK等しい電圧
が出力される。昇圧回路3のリングオシレータ制御用ト
ランジスタT37.Ta2にVccレベルの信号が印加
されるとTa2はオフ、Ta2はオンとなシリングオシ
レータ31は発振停止状態になる。すなわちφ= Vc
cレベル、 16=グランドレベルを出力した状態
で停止している。この状態ではチャージポンプ回路32
は作動せず、従って消去、書込みに必要な高電圧VPを
得ることはできない。
一方、入力端子1にVt N > Vc c +VHv
となるVxyを印加すると高電圧発生回路2の出力
としてグランドレベルの信号を得、リングオシレータ制
御用MO8)ランジスタT37がオン、Ta2がオフと
なシ、リングオシレータ回路31は発振を開始する。す
なわちφ、jは発振周波数に等しいクロック信号として
チャージポンプ回路32に供給され、書込み、消去に必
要な高電圧Vpを得ることができる。
となるVxyを印加すると高電圧発生回路2の出力
としてグランドレベルの信号を得、リングオシレータ制
御用MO8)ランジスタT37がオン、Ta2がオフと
なシ、リングオシレータ回路31は発振を開始する。す
なわちφ、jは発振周波数に等しいクロック信号として
チャージポンプ回路32に供給され、書込み、消去に必
要な高電圧Vpを得ることができる。
もちろん、本回路にとどまる事なく、上記第1図の如き
、構成の回路であれば良い事はいうまでもない。
、構成の回路であれば良い事はいうまでもない。
なお、印加される高電圧はあくまでも信号として扱われ
るので、紫外線消去形電気的書込可能読出し専用メモリ
(EPR,OM)のように外部から印加される高電圧(
いわゆるVp p )を電源として用いて電流を供給す
るのとは異なる。
るので、紫外線消去形電気的書込可能読出し専用メモリ
(EPR,OM)のように外部から印加される高電圧(
いわゆるVp p )を電源として用いて電流を供給す
るのとは異なる。
本発明によれば外部から会高電圧が印加された時のみ書
込消去が行なわれ得るので誤書込・誤消去を防止するこ
とができる。
込消去が行なわれ得るので誤書込・誤消去を防止するこ
とができる。
第1図は本発明の一実施例を示す図、第2図は本発明の
一実施例の具体的回路の1例を示す図。
一実施例の具体的回路の1例を示す図。
Claims (1)
- 1、電源電圧より高い電圧を内部で発生し、これを用い
て情報の書込・消去を行なう半導体不揮発性記憶素子を
有し、外部から電源電圧より高い信号が印加された時の
み、内部の高電圧発生回路を動作させる事を特徴とする
半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61288781A JPS63142597A (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61288781A JPS63142597A (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63142597A true JPS63142597A (ja) | 1988-06-14 |
Family
ID=17734634
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61288781A Pending JPS63142597A (ja) | 1986-12-05 | 1986-12-05 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63142597A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100300243B1 (ko) * | 1996-12-27 | 2001-09-03 | 아끼구사 나오유끼 | 승압회로및이것을이용한반도체장치 |
KR100304952B1 (ko) * | 1998-06-05 | 2001-09-24 | 김영환 | 반도체 메모리장치 |
-
1986
- 1986-12-05 JP JP61288781A patent/JPS63142597A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100300243B1 (ko) * | 1996-12-27 | 2001-09-03 | 아끼구사 나오유끼 | 승압회로및이것을이용한반도체장치 |
KR100304952B1 (ko) * | 1998-06-05 | 2001-09-24 | 김영환 | 반도체 메모리장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5313429A (en) | Memory circuit with pumped voltage for erase and program operations | |
JP2697412B2 (ja) | ダイナミックram | |
JP2568442B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
KR19990083335A (ko) | 승압회로 | |
JPH0793022B2 (ja) | 半導体メモリ集積回路 | |
JPH0216057B2 (ja) | ||
JP3735824B2 (ja) | 昇圧回路を備えた半導体メモリ装置 | |
JP3392497B2 (ja) | テスト電位転送回路およびこれを用いた半導体記憶装置 | |
JPH0748310B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPH1145978A (ja) | 半導体記憶装置及び電圧発生回路 | |
JP3272982B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2923985B2 (ja) | Eeprom装置 | |
JPS63142597A (ja) | 半導体装置 | |
US6198319B1 (en) | Power-on circuit built in IC | |
JP3221929B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPH08138375A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH09503880A (ja) | 改良型電源電圧検出回路 | |
JP3162214B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP3043696B2 (ja) | センスアンプ回路 | |
JP3145753B2 (ja) | 中間電位発生回路 | |
JP3087289B2 (ja) | 半導体集積回路 | |
JPS63204596A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
JP2578818B2 (ja) | 切換え回路 | |
JPH0620474A (ja) | 半導体メモリ回路 | |
JPS63292497A (ja) | 不揮発性半導体メモリ装置 |